JPH01946A - 放射線画像読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、放射線の被写体透過情報を蓄積記憶する輝尽
性蛍光体シート（イメージングプレート：ＩＰと略記す
る）より放射線画像情報を読み取る放射線画像読取装置
に関する。

（従来の技術） 輝尽性蛍光体を含んで成るＩＰに、人体等の被写体を通
過した放射線を吸収させて、被写体の放射線画縁を蓄積
記録し、後でこれ−にレーザ光等の励起光を照射して、
その時発光した輝尽光を適当な光検出器で読み取り、そ
の読み取った信号を電気信号に変換してから再び写真フ
ィルムやＣＲＴ等に放射線画像として記録再生する装置
が知られている（米国特許第３．８５９．５２７号）。

第５図のシステム構成図でこれを説明すると以下のよう
になる。Ｘ線管１から出た放射線は、被写体２を透過し
てＩＰ３に記録される。記録された放射線情報は、放射
線画像読取装置４により読み出され、データ処理装置５
で診断適性の優れた画像になるようデータ処理がなされ
た後、画像記録装置６で供給されたフィルム７に焼き込
まれ、自動現像機８を通してＸ線写真９が形成される。

第６図に従来の放射線画像読取装置の構成を示す。図示
しないレーザ発振器から出たレーザ光１０はレンズ１１
で集束され、１００μｍＰｉ！！Ｉｉの細いビームに絞
られて、ガルバノメータ１２によりＩＰａ上に照射され
る。ＩＰ３はローラ１３ａ。

１３ｂにより走行するベルト１４上に載買され、レーザ
光１０の走査と同期して矢印１７の方向に移動する。こ
のようにして、ＩＰ３の全面が一様に走査されることに
なる。

レーザ光の照射により生じた輝尽光は集光器１５で集光
された侵、光電子増倍管１６で光電変換され、第５図の
データ処理装置５に送られる。

しかしながら、従来装置においては、レーザ光をガルバ
ノメータで反射させることによりＩＰａ上をスキャンし
ていたため、わずかな振動により位置ずれを生じ、読み
取り精度が低下するという欠点がおる。また、スキャン
スピードを上げると、各画素の励起時間が短くなり、輝
尽光の発光量減少により画像のＳ／Ｎ比が悪化するため
、スキャンスピードを上げられない。このため、読み取
り時間の短縮が困難になっている。

そこで本願出願人は先に、放射線画像の読取精度及びＳ
／Ｎ比の向上を図ると共に、読取時間の短縮化を図った
放射線画像読取装置を提供している（特願昭６１−２９
４６４６＞。

この装置は、輝尽性蛍光体を含んで成り且つ放射線画像
情報を記憶するＩＰの１ライン同時に励起光を照射する
励起光照射手段と、この励起光照射によって該ＩＰより
生ずる１ライン分の輝尽光をそれぞれ検出する複数の輝
尽光検出手段と、各輝尽光検出手段の検出出力を処理し
て該１ライン分の画像データを得るデータ処理手段とを
有することを特徴とするものであり、以下、この装置に
ついて第７図乃至第１５図を参照しながら具体的に説明
する。

第７図に示すようにこの装置は、励起光照射手段２０．
′ｆＮ尽光検光検出手段２１Ａ２１Ｂ、データ処理手段
２９．メモリ３２２表示部３３を有する。

励起光照射手段２０はＩＰ３の１ライン同時に励起光を
照射するものであり、輝尽光検出手段２１Ａ、２１Ｂは
この励起光照射によってＩＰ３より生ずる輝尽光を検出
するものである。この輝尽光検出手段２１Ａ、２１Ｂは
励起光照射手段２０を挟むように配置されており、それ
ぞれライトガイド２２Ａ、２２Ｂ、フィルタ２３Ａ。

２３Ｂ、ラインセンサ２４Ａ、２４Ｂを有して成る。ラ
イトガイド２２Ａ、２２ＢはＩＰ３よりの輝尽光を案内
するもので、後に詳述するように光ファイバを複数本配
列して成る。フィルタ２３Ａ。

２３Ｂは所定波長域の光のみを通過させるものであり、
ラインセンサ２４Ａ、２４Ｂはそれぞれこのフィルタ２
３Ａ、２３Ｂを介して取り込まれた光を電気信号に変換
するものである。

データ処理手段２９は、輝尽光検出手段２１Ａ。

２１Ｂの検出出力を処理してＩＰ３の１ライン分の画像
データを得るものであり、ラインセンサ２４Ａ、２４Ｂ
の出力をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ　（アナログ
・ディジタル）変換器２５Ａ。

２５Ｂと、このＡ／Ｄ変換出力信号の伝達経路を断続す
るスイッチ２６Ａ、２６Ｂと、このスイッチ２６Ａ、２
６Ｂのオン期間中に取り込まれるデータを加算する加算
器２７Ａ、２７Ｂと、その出力を記憶するメモリ２８Ａ
、２８Ｂと、このメモリ２８Ａ、２８Ｂのアドレス制御
を行うアドレスコントローラ３０と、メモリ２８Ａ、２
８Ｂより読み出されたデータを加算する加算器３１とを
有して成る。そしてこの加算器３１の加算出力は、後段
に配置されたメモリ３２に送出され、このメモリ３２内
に、ＩＰ３より読み出された放射線画像が形成されるよ
うに成っている。このメモリ３２内に形成された画像は
、表示部３３で可視化される。

第８図は励起光照射手段２０の断面図であり、第９図は
第８図の主要部を矢印３９方向より見た説明図である。

同図に示すようにこの励起光照射手段２０は、点光源４
０と、この点光源光を平行光に変換する光学系（レンズ
）４１と、この平行光をＩＰａ上にまで導いてライン状
に出射するライトガイド３５と、この出射光を集束する
光学系（レンズ）３６とを有する。点光源４０としては
ハロゲンランプを適用している。ライトガイド３５は、
複数の光ファイバを配列して成る。即ち、複数の光ファ
イバは、平行光入射側で端面円形に束ねられ、出射側で
ライン状に配列されている。

そしてこのライトガイド３５の端部より出射された光は
光学系３６を透過した侵に２００μｍ幅のスリット３７
を介して励起光としてＩＰ３に照射されるようになって
いる。

また、ライトガイド３５を構成する各光ファイバ４５は
、開口数（ＮＡと略記する）の異なるファイバを直列接
続したものを適用している。即ち、第９図及び第１０図
において４２で示す部分にＮＡの大きなファイバを適用
することにより、光学系４１よりの平行光の受光効率向
上を図ると共に、屈曲部分での光伝達効率の低下防止を
図っている。

また、４３で示す部分にＮＡの小ざなファイバを適用す
ることにより出射光の鮮鋭度を向上させている。

上記構成の励起光照射手段２０による励起光照射域は第
１１図に示すように２００μｍ幅のライン状となる。

又、前記輝尽光検出手段２１Ａ（２１Ｂ）におけるライ
トガイド２２Ａ　（２２Ｂ）は第１２図に示すように、
ａｘｂの長方形端面を有する複数の光ファイバ４６を配
列して成る。例えば第１３図に示すようにＩＰａ上の１
ピクセルを２００μｍＸ２００μｍとした場合に、スキ
ャン方向と直交する方向（Ｙ方向）の分解能を向上させ
るためファイバ４５の辺ａの長さを２００μｍ以下とし
、他方ＩＰ３よりの輝尽光の集光効率を向上させるため
辺すの長さを２００μｍ以上とする。

次に、上記構成の作用について説明する。

第９図の点光源４０よりの点光源光は光学系４１により
平行光に変換され、ライトガイド３５によりライン光に
変換された後に、光学系３６及びスリット３７を順に介
してＩＰ３の１ライン上の全画素に同時に照射される。

ここで、ＩＰの吸光特性と励起光スペクトラムとの関係
は、第１４図に示すようになる。最も効率の高い波長（
例えば６００ｎｍ）近傍の励起光照射により該波長に応
じた効率で輝尽光を生ずる。

本装置では波長６８０１ｍの励起光を適用している。

この励起光照射によりＩＰ３より１ライン分の輝尽光が
生じ、この輝尽光がライトガイド２２Ａ。

２２Ｂによって収集され、フィルタ２３Ａ。

２３Ｂを介してラインセンサ２４Ａ、２４Ｂに伝達され
る。ここで、第１５図にこのラインセンサ２４Ａ、２４
Ｂの感度特性、励起光スペクトラム。

輝尽光スペクトラムの関係を示すように、ラインセンサ
２４Ａ、２４方向体の感度からして励起光をも検出する
虞れがある。そこで、同図においてαで示す特性を有す
るフィルタ２３Ａ、２３Ｂをそれぞれラインセンサ２４
Ａ、２４Ｂの前段に配置することで、励起光検出の防止
を図っている。

そしてラインセンサ２４Ａ、２４Ｂの検出出力はそれぞ
れＡ／Ｄ変換器２５Ａ、２５Ｂによってディジタル信号
に変換された後、スイッチ２６Ａ。

２６Ｂのオン期間中において加算器２７Ａ。

２７Ｂにそれぞれ送出される。この加算器２７Ａ。

２７Ｂにより同一ラインにおけるデータが次々と加算さ
れ、メモリ２８Ａ、２８Ｂの記憶内容が更新されること
になる。メモリ２８Ａ、２８Ｂのアドレス制御はアドレ
スコントローラ３０によって制御される。そしてメモリ
２８Ａ、２８Ｂの記憶内容は加算器３１によって加算さ
れ、その加算結果が、ＩＰ３の１ライン分の読取画像デ
ータとしてメモリ３２内に書き込まれる。ＩＰ３の矢印
３４方向への１ライン毎の間欠的搬送毎に上記動作が繰
り返され、メモリ３２内に読み取り画像が形成される。

この画像は表示部３３により可視化される。

上記の加算器３１の加算処理において、加算ざれるデー
タ同士はＩＰ３における同一画素のものでなければなら
ない。このため、輝尽光検出手段２１Ａ、２１Ｂの相対
的位置ずれがおる場合には前記アドレスコントローラ３
０のアドレス制御により当該位置ずれをデータ上で修正
するようにしている。

（発明が解決しようとする問題点） ところが、第７図の装置においては、励起光照射手段２
０より照射された励起光がＩＰ３の表面で反射されて散
乱光となり、この散乱光によって再びＩＰ３が励起され
、これによってノイズが発生するという新たな問題点を
生ずるに至った。

すなわち、第４図に示すように、ＩＰ３に照射された励
起光の全てがＩＰ３に吸収される訳ではなく、ＩＰ３の
表面性状によりある程度の表面反射は避けられない。こ
の反射成分が輝尽光検出手段２２Ａ、２２Ｂの端部等で
再び反射され、ＩＰ３に入射されることになる。この励
起光散乱成分（散乱光）の入射位置が、励起光照射手段
２０よりの励起光照射位置と異なった場合に、ＩＰａ上
の無関係画素からの輝尽光発生となり、これが読み取り
画像におけるノイズ発生の原因となる。

そこで本発明は上記の欠点を除去するもので、励起光散
乱成分に起因するノイズ発生の防止を図った放射線画像
読取装置の提供を目的としている。

［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） 本発明は、放射線画像情報を記憶するＩＰに励起光を照
射する励起光照射手段と、この励起光照射により該ＩＰ
より生ずる輝尽光を検出する輝尽光検出手段とを有する
放射線画像読取装置において、前記ＩＰへの励起光散乱
成分の入射を阻止する散乱成分遮蔽部材を設けたもので
おる。

（作　用） 上記構成によれば、ＩＰへの励起光散乱成分の入射を防
止することができるので、読み取り画像上でのノイズ発
生を抑えることができる。

（実施例） 以下、本発明を実施例により具体的に説明する。

尚、本実施例は第７図乃至第１５図を基に説明した装置
を改良したものであり、該装置と構成上相違する点のみ
について説明し、その他の部分についてはその説明を省
略する。

第１図は本発明一実施例装置の主要部を示すものである
。同図に示すように本実施例装置においては、輝尽光検
出手段２２Ａ、２２Ｂの先端部に散乱成分１１蔽部材３
５Ａ、３５Ｂを設けている。

この散乱成分遮蔽部材３５Ａ、３５Ｂは、ＩＰ３への励
起光散乱成分（散乱光）の入射を阻止するものであり、
励起光照射手段２０より照射された励起光（直接光）を
遮蔽しないように所定の間隔（この間隔は励起光幅にほ
ぼ等しい）を有して配置される。第２図は散乱成分遮蔽
部材３５Ａの取り付は状態を示す斜視図でおる。散乱成
分遮蔽部材３５Ａは断面に「り」字状に屈曲形成され、
その長手方向の長さはＩＰ３の横幅に等しい。又、ＩＰ
３面に対して平行となる部分はＩＰ３に対して接触状態
となってあり、放射線画像情報読み出しの際にＩＰａ上
を相対的に摺動するようになっている。散乱成分遮蔽部
材３５Ｂも同様でおる。

散乱成分遮蔽部材３５Ａ、３５Ｂの材質に特に制約はな
いが、その表面には散乱光（励起光散乱成分であり、そ
の波長は励起光に等しい）を良く吸収する材料例えば黒
色塗料が塗布され、あるいは同性質を有するものが貼付
されている。

上記の構成によれば、励起光散乱成分は散乱成分遮蔽部
材３５Ａ又は３５Ｂによって遮蔽されてＩＰ３面に再び
照射されることない。それ故に、読み取り画像における
ノイズ発生を抑えることができる。

尚、ＩＰ３よりの画像情報読み取り動作及びその情報の
処理等については第７図に示す装置と同様である。

以上本発明の一実施例について説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、種々の変形実施が
可能であるのは言うまでもない。

散乱成分除去効果を高めるには散乱成分遮蔽部材３５Ａ
、３５ＢをできるだけＩＰ３面に近づける必要がある。

しかも散乱成分遮蔽部材３５Ａ。

３５ＢとＩＰ３との相対移動が円滑に行われなければ読
み取り動作に支障を来たす。そこで、第３図に示すよう
に付勢部材例えばコイルスプリングを介して散乱成分遮
蔽部材３５Ａを取り付け、散乱成分遮蔽部材３５Ａの下
面（ＩＰ３と対向する面）に摩擦系数の小さな物質（例
えば四フッ化エチレンを重合して作られた合成樹脂など
）より成るフィルム３６Ａを取り付けるとよい。このよ
うに構成すれば、読み取り動作を円滑に行うことができ
ると共に、散乱成分除去効果を高めることができる。

又、第６図に示す従来装置に本発明を適用することもで
きる。この場合、集光器１５の先端部に散乱成分遮蔽部
材を取り付ければよい。ＩＰａ上に点状に励起光を照射
した場合、ＩＰ３の移動方向（矢印１７方向）と直交す
る方向の散乱成分も問題となる。しかしこれを除去する
のは困難でおる。この点、上記実施例の場合のように励
起光をライン状に照射する場合にはライン状の散乱光分
布はほぼ一様になり、これを考慮する必要がない。

このため、励起光を点状に照射する装置よりも上記実施
例のようにライン状に照射する装置へ適用した場合の方
が散乱成分除去効果は高くなる。

更に散乱成分遮蔽部材をＩＰ面に接触させずに僅かな間
隙（例えば５０μｍ）を設けるようにしてもよい。この
ようにすると、読み取り動作の円滑化及びＩＰ面のキズ
防止の点で有利となる。散乱成分遮蔽部材をＩＰ面より
僅かに浮かせる方法としては、例えば、散乱成分遮蔽部
材の下面に空気噴出孔を設け、眼孔よりＩＰ面に向けて
空気を一定速度で噴出させる方式（エアカーテン方式）
が挙げられる。

［発明の効果］ 以上詳述したように本発明によれば、励起光散乱成分に
起因するノイズ発生の防止を図った放射線画像読取装置
を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

＠１図は本発明一実施例装置の主要部説明図、第２図は
同上装置の主要部斜視図、第３図は他の実施例の説明図
、第４図は励起光散乱成分（散乱光）発生の説明図、第
５図及び第６図はそれぞれ従来例のブロック図及び構成
説明図、第７図乃至第１５図は本発明に先行する装置を
説明するためのもので、第７図は該装置のブロック図、
第８図乃至第１０図及び第１２図はその主要部の説明図
、第１１図はＩＰ上での励起光照射域の説明図、第１３
図はＩＰ上での１ピクセルの説明図、第１４図及び第１
５図は該装置の作用を説明するための特性図である。 ３・・・ＩＰ（イメージングプレート）、２０・・・励
起光照射手段、 ２ｍＡ、２１Ｂ・・・輝尽光検出手段、３５Ａ、３５Ｂ
・・・散乱成分遮蔽部材。 代理人　弁理士　則　　近　　憲　　借問　　　　　近
　　藤　　　　　　猛 第１図 ２１Ａ ５ＰＪ３図 第４図 を 第５図 第１１図 ２２Ａ（２２Ｂ） ／ 第１２図 弔１３図 屑力起止ズヘ゛クトラム 人φ− 弔１５図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）放射線画像情報を記憶するイメージングプレート
   に励起光を照射する励起光照射手段と、この励起光照射
   により該イメージングプレートより生ずる輝尽光を検出
   する輝尽光検出手段とを有する放射線画像読取装置にお
   いて、前記イメージングプレートへの励起光散乱成分の
   入射を阻止する散乱成分遮蔽部材を設けたことを特徴と
   する放射線画像読取装置。
2. （２）前記散乱成分遮蔽部材を前記輝尽光検出手段の先
   端部に設けた特許請求の範囲第１項に記載の放射線画像
   読取装置。
3. （３）前記励起光照射手段は、前記イメージングプレー
   トの１ライン同時に励起光を照射する特許請求の範囲第
   １項又は第２項に記載の放射線画像読取装置。
4. （４）前記輝尽光検出手段は、前記励起光照射手段によ
   る励起光照射によつて前記イメージングプレートより生
   ずる１ライン分の輝尽光を検出する特許請求の範囲第３
   項に記載の放射線画像読取装置。