JPH0197176U - - Google Patents

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JPH0197176U
JPH0197176U JP19198587U JP19198587U JPH0197176U JP H0197176 U JPH0197176 U JP H0197176U JP 19198587 U JP19198587 U JP 19198587U JP 19198587 U JP19198587 U JP 19198587U JP H0197176 U JPH0197176 U JP H0197176U
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JP
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bag
low
testing
temperature
cooling bag
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JP19198587U
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の第1実施例にかかるクーリン
グバツグとその使用状態を示す断面図、第2図は
同部分拡大斜視図、第3図は本考案の第2実施例
にかかるクーリングバツグとその使用状態を示す
概略断面図、第4図は第3図―線断面図であ
る。 1……ICデバイス、5,14……クーリング
バツグ、6,15……クーリングバツグの袋体、
7,16……冷却剤。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 性能試験される被験体としてのICデバイスに
    接触してICデバイスを冷却するICデバイスの
    低温試験用クーリングバツグであつて、少なくと
    も上記ICデバイスに接触する面がICデバイス
    に密着しうるように可撓性を備えた袋体内に、液
    体窒素等の冷却剤が封入されて成ることを特徴と
    するICデバイスの低温試験用クーリングバツグ
JP19198587U 1987-12-17 1987-12-17 Pending JPH0197176U (ja)

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JP19198587U JPH0197176U (ja) 1987-12-17 1987-12-17
US07/284,547 US4918928A (en) 1987-12-17 1988-12-15 Apparatus for testing IC devices at low temperature and cooling bag for use in testing IC devices at low temperature

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19198587U JPH0197176U (ja) 1987-12-17 1987-12-17

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JPH0197176U true JPH0197176U (ja) 1989-06-28

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ID=31482867

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JP19198587U Pending JPH0197176U (ja) 1987-12-17 1987-12-17

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JP (1) JPH0197176U (ja)

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