JPS645174U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS645174U JPS645174U JP9896787U JP9896787U JPS645174U JP S645174 U JPS645174 U JP S645174U JP 9896787 U JP9896787 U JP 9896787U JP 9896787 U JP9896787 U JP 9896787U JP S645174 U JPS645174 U JP S645174U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- mounting member
- notch
- semiconductor
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例の平面図であり、第
２図は第１図の―線断面図であり、第３図は
リード押え用部材の全体斜視図であり、第４図は
第２図の―線断面図であり、第５図は載置部
材と測定ピンとの関係図である。第６図は従来の
ソケツトによる測定状態図であり、第７図は第６
図の―線断面図であり、第８図は従来の問題
点を示す図である。 １……半導体ＩＣ、２……リード押え用部材、
３……リード、４……載置部材、５……測定ピン
、６……切欠。
２図は第１図の―線断面図であり、第３図は
リード押え用部材の全体斜視図であり、第４図は
第２図の―線断面図であり、第５図は載置部
材と測定ピンとの関係図である。第６図は従来の
ソケツトによる測定状態図であり、第７図は第６
図の―線断面図であり、第８図は従来の問題
点を示す図である。 １……半導体ＩＣ、２……リード押え用部材、
３……リード、４……載置部材、５……測定ピン
、６……切欠。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 半導体ＩＣの特性測定用ソケツトにおいて、 リード押え用部材とリードの載置部材の間で半
導体ＩＣのリードを挾持させ、 上記載置部材には、該載置部材に対してリード
と対峙する位置にある測定ピンをガイドする切欠
を設け、 上記載置部材はリードを挾持した状態で可動に
支持され、 該載置部材を移動させて切欠を介してリードと
測定ピンとを接触させることを特徴とするソケツ
ト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9896787U JPS645174U (ja) | 1987-06-27 | 1987-06-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9896787U JPS645174U (ja) | 1987-06-27 | 1987-06-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS645174U true JPS645174U (ja) | 1989-01-12 |
Family
ID=31325696
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9896787U Pending JPS645174U (ja) | 1987-06-27 | 1987-06-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS645174U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05126851A (ja) * | 1991-05-22 | 1993-05-21 | Tokyo Electron Yamanashi Kk | 半導体デバイスの検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4947568B1 (ja) * | 1970-02-23 | 1974-12-17 | ||
| JPS6258779B2 (ja) * | 1986-03-27 | 1987-12-08 | Satake Eng Co Ltd |
-
1987
- 1987-06-27 JP JP9896787U patent/JPS645174U/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4947568B1 (ja) * | 1970-02-23 | 1974-12-17 | ||
| JPS6258779B2 (ja) * | 1986-03-27 | 1987-12-08 | Satake Eng Co Ltd |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05126851A (ja) * | 1991-05-22 | 1993-05-21 | Tokyo Electron Yamanashi Kk | 半導体デバイスの検査装置 |