JPH0210174A - プリント板試験装置用アダプタ装置 - Google Patents
プリント板試験装置用アダプタ装置Info
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- JPH0210174A JPH0210174A JP1045071A JP4507189A JPH0210174A JP H0210174 A JPH0210174 A JP H0210174A JP 1045071 A JP1045071 A JP 1045071A JP 4507189 A JP4507189 A JP 4507189A JP H0210174 A JPH0210174 A JP H0210174A
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 60
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 10
- 239000000047 product Substances 0.000 description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
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- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R31/00—Coupling parts supported only by co-operation with counterpart
- H01R31/06—Intermediate parts for linking two coupling parts, e.g. adapter
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- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、評価装置に接続された電気的接点バンクを備
え、ごの電気的接点バンクにはアダプタ装置を介して被
試験プリント板を接続可能であり、その場合アダプタ装
置は並置されて被試験プリント板の表面に対して直角に
配置された複数個のプリント板によって構成されかつ被
試験プリン(−板側のアダプタ装置入力部に列状に配置
された接触子を有し、これらの接触子は入力部とは反対
側に位置するアダプタ装置出力部の接点バンク側の接触
要素に導体路によって接続されるプリント板試験装置用
アダプタ装置に関する。
え、ごの電気的接点バンクにはアダプタ装置を介して被
試験プリント板を接続可能であり、その場合アダプタ装
置は並置されて被試験プリント板の表面に対して直角に
配置された複数個のプリント板によって構成されかつ被
試験プリン(−板側のアダプタ装置入力部に列状に配置
された接触子を有し、これらの接触子は入力部とは反対
側に位置するアダプタ装置出力部の接点バンク側の接触
要素に導体路によって接続されるプリント板試験装置用
アダプタ装置に関する。
この種の公知のアダプタ装置(ヨーロッパ特許第014
2119号公報)においては、アダプタ装置を構成する
プリント板は被試験プリント板側の入力部ならびにこれ
とは反対側に位置する出力部に接触面が備えられ、この
接触面が導体路を介して互いに接続されている。その際
、プリント板の入力部において被試験プリント板のため
の接触子を形成する接触面は例えば標準格子寸法の半分
と同じ間隔で互いに位置しており、一方プリント板の出
力部において電気的接点バンクのための接触要素を形成
する接触面は標準格子寸法と同じ間隔で配置されている
。従って、公知のアダプタ装置のプリント板は変換板を
構成している。交差状態に2セン)・のプリント板を上
下に配置することによって、半分の格子寸法の試験点を
存する被試験プリント板は標準格子寸法の電気的接点バ
ンクに結合することができ、それゆえこの種のプリント
板も標準格子寸法を有する電気的接点バンクを備えた装
置によって試験可能となる。
2119号公報)においては、アダプタ装置を構成する
プリント板は被試験プリント板側の入力部ならびにこれ
とは反対側に位置する出力部に接触面が備えられ、この
接触面が導体路を介して互いに接続されている。その際
、プリント板の入力部において被試験プリント板のため
の接触子を形成する接触面は例えば標準格子寸法の半分
と同じ間隔で互いに位置しており、一方プリント板の出
力部において電気的接点バンクのための接触要素を形成
する接触面は標準格子寸法と同じ間隔で配置されている
。従って、公知のアダプタ装置のプリント板は変換板を
構成している。交差状態に2セン)・のプリント板を上
下に配置することによって、半分の格子寸法の試験点を
存する被試験プリント板は標準格子寸法の電気的接点バ
ンクに結合することができ、それゆえこの種のプリント
板も標準格子寸法を有する電気的接点バンクを備えた装
置によって試験可能となる。
〔課題を解決するだめの手段]
本発明によれば、冒頭で述べた種類のアダプタ装置にお
いて、アダプタ装置は一対の結合されたプリント板から
成るアダプタ基本要素を含み、各アダプタ基本要素は接
触子の幾つかの列を有し、かつ各接触子の下にはスルー
ホール導体を設けられた貫通穴を存し、接触子はスルー
ホール導体にまでそれぞれ達しており、アダプタ基本要
素のプリント板においてそれぞれ2つの連続する貫通穴
の下には、互いに絶縁されたスルーホール導体を有する
別の貫通穴が両プリント板の領域にそれぞれ配設され、
プリント板上の導体路を介して前記別の貫通穴の両スル
ーホール導体は前記2つの連続する貫通穴のスルーホー
ル導体に接続され、接触要素は前記側の貫通穴のスルー
ホール導体にまで達している。
いて、アダプタ装置は一対の結合されたプリント板から
成るアダプタ基本要素を含み、各アダプタ基本要素は接
触子の幾つかの列を有し、かつ各接触子の下にはスルー
ホール導体を設けられた貫通穴を存し、接触子はスルー
ホール導体にまでそれぞれ達しており、アダプタ基本要
素のプリント板においてそれぞれ2つの連続する貫通穴
の下には、互いに絶縁されたスルーホール導体を有する
別の貫通穴が両プリント板の領域にそれぞれ配設され、
プリント板上の導体路を介して前記別の貫通穴の両スル
ーホール導体は前記2つの連続する貫通穴のスルーホー
ル導体に接続され、接触要素は前記側の貫通穴のスルー
ホール導体にまで達している。
本発明によるアダプタ装置の主要な利点は、このアダプ
タ装置が一対の結合されたプリント板から成るアダプタ
基本要素によってモジュール形式に構成され、それゆえ
アダプタ基本要素によって被試験プリント板上の試験点
配置に対応するアダプタ装置を構成することが出来るこ
とである。アダプタ基本要素は、一方の貫通穴の領域に
設けられたスルーホール導体と他方の貫通穴の領域に設
けられた他方のスルーホール導体とを備えて絶縁膜を介
在して結合された2つのプリント板によって構成された
゛メートル売り製品パから有利に製作することが出来る
。かかる半製品を適宜の長さに切断して分離することに
よって、入力部には適宜の個数の接触子を備えかつ出力
部には適宜の個数の接触要素を備えたアダプタ基本要素
を構成することが出来る。それによって、アダプタ基本
要素、従って本発明によるアダプタ装置の製作が相当簡
単になる。
タ装置が一対の結合されたプリント板から成るアダプタ
基本要素によってモジュール形式に構成され、それゆえ
アダプタ基本要素によって被試験プリント板上の試験点
配置に対応するアダプタ装置を構成することが出来るこ
とである。アダプタ基本要素は、一方の貫通穴の領域に
設けられたスルーホール導体と他方の貫通穴の領域に設
けられた他方のスルーホール導体とを備えて絶縁膜を介
在して結合された2つのプリント板によって構成された
゛メートル売り製品パから有利に製作することが出来る
。かかる半製品を適宜の長さに切断して分離することに
よって、入力部には適宜の個数の接触子を備えかつ出力
部には適宜の個数の接触要素を備えたアダプタ基本要素
を構成することが出来る。それによって、アダプタ基本
要素、従って本発明によるアダプタ装置の製作が相当簡
単になる。
その際、複数個のアダプタ基本要素が並設されそして入
力部の接触子が入力部の長手方向に対して直角の方向に
横方向へずらして配置されるようにすることによって、
被試験プリント板上に標準格子寸法以外の格子寸法にて
存在する試験点を標準格子寸法の電気的接点バンクに結
合することが可能になる。
力部の接触子が入力部の長手方向に対して直角の方向に
横方向へずらして配置されるようにすることによって、
被試験プリント板上に標準格子寸法以外の格子寸法にて
存在する試験点を標準格子寸法の電気的接点バンクに結
合することが可能になる。
本発明によるアダプタ装置は集積モジュールに対応した
試験点を有するプリント板を試験するために使用するこ
とが出来るという特別な利点を有する。なおかかる集積
モジュールにおいては、(1985年7月、JEDEC
MS−013−AD、A版に基づいて国際的に規格化し
た)SMDデバイス用SO規格によれば、ろう付は点は
集積モジュールの下側の並行な列に配置され、その場合
には対応する試験点が被試験プリント板上に位置する。
試験点を有するプリント板を試験するために使用するこ
とが出来るという特別な利点を有する。なおかかる集積
モジュールにおいては、(1985年7月、JEDEC
MS−013−AD、A版に基づいて国際的に規格化し
た)SMDデバイス用SO規格によれば、ろう付は点は
集積モジュールの下側の並行な列に配置され、その場合
には対応する試験点が被試験プリント板上に位置する。
この種のプリント板を試験するためには、2個のアダプ
タ基本要素が並設され、入力部における接触子列の間隔
は接触子列が被試験プリント板上の試験点列の間隔にて
位置するように選定される。それゆえ、入力部における
接触子の位置を貫通穴の方向へつまり貫通穴に平行にず
らずことが可能になる。何故ならば、一方の貫通穴はそ
の全長に亘ってスルーホール導体を有しており、それゆ
え入力部から一方の貫通穴に達する接触子は各アダプタ
基本要素の入力部の全幅に亘ってこの一方の貫通穴のス
ルーホール導体に接触し得るからである。
タ基本要素が並設され、入力部における接触子列の間隔
は接触子列が被試験プリント板上の試験点列の間隔にて
位置するように選定される。それゆえ、入力部における
接触子の位置を貫通穴の方向へつまり貫通穴に平行にず
らずことが可能になる。何故ならば、一方の貫通穴はそ
の全長に亘ってスルーホール導体を有しており、それゆ
え入力部から一方の貫通穴に達する接触子は各アダプタ
基本要素の入力部の全幅に亘ってこの一方の貫通穴のス
ルーホール導体に接触し得るからである。
本発明によるアダプタ装置においては、接触子は種々異
なった形態で形成することが出来る。しかしながら、接
触子が接触ピンであり、この接触ピンがアダプタ基本要
素の入力部から貫通穴に到るまで穿てられた袋穴内に配
置されているようにすると、アダプタ装置を比較的簡単
に製作することが出来るという利点がある。
なった形態で形成することが出来る。しかしながら、接
触子が接触ピンであり、この接触ピンがアダプタ基本要
素の入力部から貫通穴に到るまで穿てられた袋穴内に配
置されているようにすると、アダプタ装置を比較的簡単
に製作することが出来るという利点がある。
アダプタ装置、つまりアダプタ基本要素の出力部におけ
る接触要素を、アダプタ基本要素の出力部から各プリン
ト板内に別の貫通穴に到るまで穿てられた袋穴内に挿入
されている剛性またはハネ性接触針によって形成するこ
とは有利である。
る接触要素を、アダプタ基本要素の出力部から各プリン
ト板内に別の貫通穴に到るまで穿てられた袋穴内に挿入
されている剛性またはハネ性接触針によって形成するこ
とは有利である。
本発明によるアダプタ装置においては、アダプタ装置の
出力部に挿入された接触要素は標準格子寸法にて並置さ
れ、かつ同一格子寸法にて互いに離間している貫通穴の
ためにアダプタ基本要素の出力部に連続的に位置し、そ
れゆえこのアダプタ基本要素は電気的接点バンクの接点
部材の配置に整合する。
出力部に挿入された接触要素は標準格子寸法にて並置さ
れ、かつ同一格子寸法にて互いに離間している貫通穴の
ためにアダプタ基本要素の出力部に連続的に位置し、そ
れゆえこのアダプタ基本要素は電気的接点バンクの接点
部材の配置に整合する。
アダプタ基本要素の入力部における接触子は被試験プリ
ント板の試験点の位置に対して種々異なって配置するこ
とが出来る。アダプタ基本要素の入力部における接触子
を標準格子寸法の半分と同じ間隔にて配置することは特
に有利である。何故ならば、この種のアダプタ基本要素
を用いて、大抵は国際的に規格化されている集積SMD
モジュールのための試験点を備えたプリント板を試験す
ることが出来るからである。
ント板の試験点の位置に対して種々異なって配置するこ
とが出来る。アダプタ基本要素の入力部における接触子
を標準格子寸法の半分と同じ間隔にて配置することは特
に有利である。何故ならば、この種のアダプタ基本要素
を用いて、大抵は国際的に規格化されている集積SMD
モジュールのための試験点を備えたプリント板を試験す
ることが出来るからである。
アダプタ基本要素は本発明によるアダプタ装置を構成す
るために種々異なった形態で結合することが出来る。ア
ダプタ基本要素を並設することが有利であることは上述
した通りである。同様に、アダプタ基本要素が枠体を形
成するために結合されることは有利である。アダプタ基
本要素から成るこの種の枠体を形成することは、被試験
プリント板がPLCC規格(国際規格JEDECMO0
47−AA、A版、1984年)に基づいた配置または
類催の配置のろう付は端子点を備えた集積モジュールに
対応した試験点を有する場合には有利である。この種の
集積モジュールにおいてはろう付は端子は四角形の列に
配置されている。
るために種々異なった形態で結合することが出来る。ア
ダプタ基本要素を並設することが有利であることは上述
した通りである。同様に、アダプタ基本要素が枠体を形
成するために結合されることは有利である。アダプタ基
本要素から成るこの種の枠体を形成することは、被試験
プリント板がPLCC規格(国際規格JEDECMO0
47−AA、A版、1984年)に基づいた配置または
類催の配置のろう付は端子点を備えた集積モジュールに
対応した試験点を有する場合には有利である。この種の
集積モジュールにおいてはろう付は端子は四角形の列に
配置されている。
稀なケースでありまた非常に偶然ではあるが、プリント
板を試験する際、アダプタ装置の接触子が被試験プリン
ト板の全試験点に接触するように、アダプタ装置に対し
て被試験プリント板が位置することがある。しかしなが
ら、実際には、しばしば試験を行う前に、被試験プリン
ト板に対してアダプタ装置を位置合わせするこ七が必要
である。
板を試験する際、アダプタ装置の接触子が被試験プリン
ト板の全試験点に接触するように、アダプタ装置に対し
て被試験プリント板が位置することがある。しかしなが
ら、実際には、しばしば試験を行う前に、被試験プリン
ト板に対してアダプタ装置を位置合わせするこ七が必要
である。
このことを簡単にするために、本発明の他の実施態様に
よれば、アダプタ基本要素の接触子の個数と接触要素の
個数とは、それぞれ被試験プリント板上に列状に配置さ
れている試験点の個数よりも1つだけ多く設定される。
よれば、アダプタ基本要素の接触子の個数と接触要素の
個数とは、それぞれ被試験プリント板上に列状に配置さ
れている試験点の個数よりも1つだけ多く設定される。
例えば、被試験プリント仮においては1つの列における
試験点は1/20″の間隔を有しており、電気的接点バ
ンクにおいては接点部材は1/10″の格子寸法にて配
置され、その場合には被試験プリント板に対するアダプ
タ装置のずれは、1/20”すれると接触要素が接点バ
ンクの絶縁隙間に落ち込むように制限される。過剰な接
触子ならびに接触要素を使用することによって、l/2
0″のオーダでずれが住じると補助接触子および補助接
触要素が荷動になる。
試験点は1/20″の間隔を有しており、電気的接点バ
ンクにおいては接点部材は1/10″の格子寸法にて配
置され、その場合には被試験プリント板に対するアダプ
タ装置のずれは、1/20”すれると接触要素が接点バ
ンクの絶縁隙間に落ち込むように制限される。過剰な接
触子ならびに接触要素を使用することによって、l/2
0″のオーダでずれが住じると補助接触子および補助接
触要素が荷動になる。
被試験プリント板に対して、枠体形状に構成されたアダ
プタ装置を位置合わせすることは、接触子が枠体の長手
軸線に関する点対称配置に比べて電気的接点バンクの標
準格子寸法の1/4だけ少なくとも一方の方向へずらさ
れることによって行うことが出来る。
プタ装置を位置合わせすることは、接触子が枠体の長手
軸線に関する点対称配置に比べて電気的接点バンクの標
準格子寸法の1/4だけ少なくとも一方の方向へずらさ
れることによって行うことが出来る。
次に、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第1図に示されたアダプタ基本要素1はプリント板2と
別のプリント板3とを含んでいる。プリント板2.3は
絶縁膜4を介在して結合されている。このよう番こして
構成されたアダプタ基本要素1はその入力部に、袋穴7
に挿入された接触子6を備えている。接触子6は接触ピ
ンによって構成されている。接触子6を収容する袋穴7
はアダプタ基本要素1の貫通穴8にまで導かれている。
別のプリント板3とを含んでいる。プリント板2.3は
絶縁膜4を介在して結合されている。このよう番こして
構成されたアダプタ基本要素1はその入力部に、袋穴7
に挿入された接触子6を備えている。接触子6は接触ピ
ンによって構成されている。接触子6を収容する袋穴7
はアダプタ基本要素1の貫通穴8にまで導かれている。
この貫通穴8は接触子6の列に対して直角に延在し、そ
して貫通穴8が接触子6の下に位置するようにそれぞれ
形成されている。全ての貫通穴8にはスルーホール導体
が設けられており、これは例えば、アダプタ基本要素1
の前部9から後部10に達する金属スリーブをスルーホ
ール導体11として貫通穴8内に挿入することによって
形成することができる。貫通穴8のスルーホール導体1
1は、接触子6がスルーホール導体11に達するように
することによって接触子6に電気的に接続される。
して貫通穴8が接触子6の下に位置するようにそれぞれ
形成されている。全ての貫通穴8にはスルーホール導体
が設けられており、これは例えば、アダプタ基本要素1
の前部9から後部10に達する金属スリーブをスルーホ
ール導体11として貫通穴8内に挿入することによって
形成することができる。貫通穴8のスルーホール導体1
1は、接触子6がスルーホール導体11に達するように
することによって接触子6に電気的に接続される。
従って、アダプタ基本要素1内では各接触子6の〜 1
2 下側は貫通穴8内のスルーホール導体11に接続されて
いる。
2 下側は貫通穴8内のスルーホール導体11に接続されて
いる。
アダプタ基本要素1の前部9上には、貫通穴8のスルー
ホール導体11からアダプタ基本要素1内の別の貫通穴
14のスルーホール導体13に到る導体路12が形成さ
れている。このスルーホール導体13はそれぞれプリン
ト板2の領域に設けられている。プリント板3の領域で
は別の貫通穴14内にスルーホール導体15が設けられ
ている。
ホール導体11からアダプタ基本要素1内の別の貫通穴
14のスルーホール導体13に到る導体路12が形成さ
れている。このスルーホール導体13はそれぞれプリン
ト板2の領域に設けられている。プリント板3の領域で
は別の貫通穴14内にスルーホール導体15が設けられ
ている。
スルーホール導体13.15は絶縁膜4によって電気的
には互いに絶縁されている。
には互いに絶縁されている。
アダプタ基本要素1の別の貫通穴14は、1つの別の貫
通穴が2つの連続する貫通穴8の下に位置するように配
設されている。それゆえ、第1図において一番左側に位
置する貫通穴8のスルーホール導体11は導体路12を
介して一番左側に位置する別の貫通穴14のスルーホー
ル導体13に接続され、第1図において左側から2番目
に位置する貫通穴8はプリント板3上の別の導体路16
を介して別の貫通穴14のスルーホール導体15に接続
されている。同じようにして、2つの連続する別の貫通
穴8のスルーホール導体11はそれぞれ別の貫通穴14
内のスルーホール導体13または15に接続される。
通穴が2つの連続する貫通穴8の下に位置するように配
設されている。それゆえ、第1図において一番左側に位
置する貫通穴8のスルーホール導体11は導体路12を
介して一番左側に位置する別の貫通穴14のスルーホー
ル導体13に接続され、第1図において左側から2番目
に位置する貫通穴8はプリント板3上の別の導体路16
を介して別の貫通穴14のスルーホール導体15に接続
されている。同じようにして、2つの連続する別の貫通
穴8のスルーホール導体11はそれぞれ別の貫通穴14
内のスルーホール導体13または15に接続される。
この場合には、接触子6が被試験プリント板の試験点の
標準格子寸法の半分すなわち1/20″と同じ間隔で連
続することが前提となっている。
標準格子寸法の半分すなわち1/20″と同じ間隔で連
続することが前提となっている。
さらに、アダプタ基本要素1の出力部17には第1図に
示されていない電気的接点バンクが結合されねばならず
、その接点部材は標準格子寸法1/10“にて互いに離
間して配置されることが基本となっている。それゆえ、
図示された実施例においては別の貫通穴14は1/10
“の間隔にて互いに離間されており、そして出力部17
から穿てられた孔18内には、別の貫通穴14のスルー
ホール導体13に達する接触要素19が設けられている
。それゆえ、接触要素19は標準格子寸法と同じ間隔に
てアダプタ基本要素1の出力部17に連続的に位置して
いる。
示されていない電気的接点バンクが結合されねばならず
、その接点部材は標準格子寸法1/10“にて互いに離
間して配置されることが基本となっている。それゆえ、
図示された実施例においては別の貫通穴14は1/10
“の間隔にて互いに離間されており、そして出力部17
から穿てられた孔18内には、別の貫通穴14のスルー
ホール導体13に達する接触要素19が設けられている
。それゆえ、接触要素19は標準格子寸法と同じ間隔に
てアダプタ基本要素1の出力部17に連続的に位置して
いる。
アダプタ基本要素1のプリント板3内の接触要素20は
、この接触要素20がスルーホール導体15に達する孔
21内に挿入されることによって、接触要素19と同じ
ように配置されている。その際、孔18.21は標準格
子寸法の間隔を有している。これにより、第1図に示さ
れたアダプタ基本要素1を用いて、接触子6、従ってこ
の接触子6に接続される図示されていないプリント板上
の試験点はアダプタ基本要素1の下方に存在する図示さ
れていない接点バンクの接点部材に電気的に接続するこ
とが出来る。なお、かかる接点部材は接点バンク上に標
準格子寸法にて配置されている。
、この接触要素20がスルーホール導体15に達する孔
21内に挿入されることによって、接触要素19と同じ
ように配置されている。その際、孔18.21は標準格
子寸法の間隔を有している。これにより、第1図に示さ
れたアダプタ基本要素1を用いて、接触子6、従ってこ
の接触子6に接続される図示されていないプリント板上
の試験点はアダプタ基本要素1の下方に存在する図示さ
れていない接点バンクの接点部材に電気的に接続するこ
とが出来る。なお、かかる接点部材は接点バンク上に標
準格子寸法にて配置されている。
第1図に示されたアダプタ基本要素1は、絶縁膜4を備
えたプリント板2.3から成るブロックを既製の大形プ
リント板ユニットから切り出す、すなわちそのブロック
を購入したメートル売り製品から切り取ることによって
比較的簡単に製作することが出来る。
えたプリント板2.3から成るブロックを既製の大形プ
リント板ユニットから切り出す、すなわちそのブロック
を購入したメートル売り製品から切り取ることによって
比較的簡単に製作することが出来る。
第2図には、詳細については第1図において説明した2
つのアダプタ基本要素1から成るアダプタ装置30が示
されている。アダプタ装置30は、第1図に示されたア
ダプタ基本要素1の後部10が別のアダプタ基本要素1
の前部9に結合される、例えば接着されることによって
構成されている。
つのアダプタ基本要素1から成るアダプタ装置30が示
されている。アダプタ装置30は、第1図に示されたア
ダプタ基本要素1の後部10が別のアダプタ基本要素1
の前部9に結合される、例えば接着されることによって
構成されている。
両アダプタ基本要素1は、アダプタ装置30の出力部3
1に接触要素19.20が標準格子寸法にて離間されて
配置されるように結合される。この場合には接触要素1
9.20は電気的接点バンク33の接点部材32の中心
部上に位置する。電気的接点バンク33は図示されてい
ない方法によってリード線を介して電気的評価装置に接
続されている。図示されたアダプタ装置30の上方では
、その接触子6が同様に図示されていない被試験プリン
ト板上にSO規格で配置されている試験点に結合される
。
1に接触要素19.20が標準格子寸法にて離間されて
配置されるように結合される。この場合には接触要素1
9.20は電気的接点バンク33の接点部材32の中心
部上に位置する。電気的接点バンク33は図示されてい
ない方法によってリード線を介して電気的評価装置に接
続されている。図示されたアダプタ装置30の上方では
、その接触子6が同様に図示されていない被試験プリン
ト板上にSO規格で配置されている試験点に結合される
。
第3図に示された実施例においては、4つのアダプタ基
本要素1の各端部が斜めに切断されて互いに接着される
ことによって、4つのアダプタ基本要素1が1つの枠体
に纏められている。それによって、四角形に配置された
試験点の列を有するプリント板を試験するのに適するア
ダプタ装W40が得られる。このような試験点の配置は
、PLCC規格によるろう付は端子を有する集積モジュ
ールが被試験プリント板上に取付けられねばならない場
合に生じる。図示された例では、それぞれ7個の試験点
が四角形を形成して図示されていない被試験プリント板
上に位置しており、それゆえアダプタ装置40において
は各アダプタ基本要素1に7個の接触子6が設けられて
いる。さらに、被試験プリント板上において対向する試
験点は標準格子寸法にて互いに離間して対向しているの
ではない。互いに対向する接触子6の列間の間隔をそれ
ぞれ互いに対向する試験点間の間隔Aに等しくするため
に、第3図においては右側のアダプタ基本要素1におけ
る接触子6が中間膜4の面よりも左側へずらされて設け
られている。このようなことは、特に第1図に示すよう
に、貫通穴8に沿って接触子6をずらす場合には接触子
6と貫通穴8のスルーホール導体11との接触が可能で
あるので、アダプタ基本要素1では容易に実施すること
が出来る。それによって、アダプタ装240の出力部に
おける接触要素19.20の位置は変えなくてもよくな
る。同様に、第3図に示された実施例においては、アダ
プタ基本要素1の上側における接触子6は中間膜4から
下側へ同様にずらされており、それゆえ上側アダプタ基
本要素1における接触子6の列と下側アダプタ基本要素
1における接触子6の列とは同様に間隔Aを有している
。
本要素1の各端部が斜めに切断されて互いに接着される
ことによって、4つのアダプタ基本要素1が1つの枠体
に纏められている。それによって、四角形に配置された
試験点の列を有するプリント板を試験するのに適するア
ダプタ装W40が得られる。このような試験点の配置は
、PLCC規格によるろう付は端子を有する集積モジュ
ールが被試験プリント板上に取付けられねばならない場
合に生じる。図示された例では、それぞれ7個の試験点
が四角形を形成して図示されていない被試験プリント板
上に位置しており、それゆえアダプタ装置40において
は各アダプタ基本要素1に7個の接触子6が設けられて
いる。さらに、被試験プリント板上において対向する試
験点は標準格子寸法にて互いに離間して対向しているの
ではない。互いに対向する接触子6の列間の間隔をそれ
ぞれ互いに対向する試験点間の間隔Aに等しくするため
に、第3図においては右側のアダプタ基本要素1におけ
る接触子6が中間膜4の面よりも左側へずらされて設け
られている。このようなことは、特に第1図に示すよう
に、貫通穴8に沿って接触子6をずらす場合には接触子
6と貫通穴8のスルーホール導体11との接触が可能で
あるので、アダプタ基本要素1では容易に実施すること
が出来る。それによって、アダプタ装240の出力部に
おける接触要素19.20の位置は変えなくてもよくな
る。同様に、第3図に示された実施例においては、アダ
プタ基本要素1の上側における接触子6は中間膜4から
下側へ同様にずらされており、それゆえ上側アダプタ基
本要素1における接触子6の列と下側アダプタ基本要素
1における接触子6の列とは同様に間隔Aを有している
。
第3図におけるIV−IV線に沿った断面図を示す第4
図には、第3図に示した上側アダプタ基本要素1のプリ
ント板2内の袋穴7が位置ずれをもって形成されている
様子が明示されている。さらに、第4図には、図示され
たアダプタ基本要素1の袋穴8内のスルーホール導体1
1が明示されている。
図には、第3図に示した上側アダプタ基本要素1のプリ
ント板2内の袋穴7が位置ずれをもって形成されている
様子が明示されている。さらに、第4図には、図示され
たアダプタ基本要素1の袋穴8内のスルーホール導体1
1が明示されている。
なおこのスルーホール導体11は場合によっては金属膜
によっても形成することが出来る。接触子6は第4図に
は示されていないが、この接触子6はスルーホール導体
11の領域にまで達し、それによって接触子6とスルー
ホール導体11との電気的接続が生じる。第4図の下側
には、別の貫通穴14のスルーホール導体13.15が
絶縁中間膜4によって互いに絶縁されて配設されている
ことが明示されている。さら番こ、袋穴18.21はス
ルーホール導体13.15を越えてプリント板2.3内
に穿てられており、それゆえ下部17に挿入された接触
要素はスルーホール導体13.15に電気的に接触する
ことが出来る。導体路12を介してスルーホール導体1
3はスルーホール導体11に電気的に接続される。第4
図においてアダプタ基本要素の左側に設けられている導
体路16は紙面上では図示された貫通穴8の背後に位置
している貫通穴8のスルーホール導体11へ導がれてい
る。
によっても形成することが出来る。接触子6は第4図に
は示されていないが、この接触子6はスルーホール導体
11の領域にまで達し、それによって接触子6とスルー
ホール導体11との電気的接続が生じる。第4図の下側
には、別の貫通穴14のスルーホール導体13.15が
絶縁中間膜4によって互いに絶縁されて配設されている
ことが明示されている。さら番こ、袋穴18.21はス
ルーホール導体13.15を越えてプリント板2.3内
に穿てられており、それゆえ下部17に挿入された接触
要素はスルーホール導体13.15に電気的に接触する
ことが出来る。導体路12を介してスルーホール導体1
3はスルーホール導体11に電気的に接続される。第4
図においてアダプタ基本要素の左側に設けられている導
体路16は紙面上では図示された貫通穴8の背後に位置
している貫通穴8のスルーホール導体11へ導がれてい
る。
格子寸法の半分の間隔で配置された試験点を有するプリ
ント板の試験は、本発明によるアダプタ装置によれば、
アダプタ装置を電気的接点バンク上において両方向へ格
子寸法の半分だけずらすことによって被試験プリンNf
f1への位置合わせを行うことにより容易に実施するこ
とが出来る。しがしながら、ちょうど格子寸法の半分だ
けずらずことは、この場合には接触要素がちょうど電気
的接点バンクの接点部材の中心部に載置するように位置
合わせすることが基本になっており、そのために接触要
素が電気的接点バンクの絶縁隙間に当たるようになるの
で、難点がある。如何なる場合にもアダプタ装置を被試
験プリント板に対して適切に位置合わせすることによっ
て試験を可能にするために、第5図の実施例によれば、
各アダプタ基本要素50は入力部の接触子6の列に1個
の補助接触子が付加され、かつ出力部に1個の補助接触
子が付加されている。それゆえ、各アダプタ基本要素5
0は、図示されたケースでは被試験プリント板上の7個
のろう付は端子点用に備えられた7個の接触子6の他に
、補助的な第8番目の接触子を有しており、同様に8個
の接触要素19.20を有している。さらに第5図に示
されているように、接触子6は全て絶縁中間膜4の領域
から内側へ、被試験プリント板上の試験点の対向する列
の間隔に整合するために必要な距離だけずらされている
。
ント板の試験は、本発明によるアダプタ装置によれば、
アダプタ装置を電気的接点バンク上において両方向へ格
子寸法の半分だけずらすことによって被試験プリンNf
f1への位置合わせを行うことにより容易に実施するこ
とが出来る。しがしながら、ちょうど格子寸法の半分だ
けずらずことは、この場合には接触要素がちょうど電気
的接点バンクの接点部材の中心部に載置するように位置
合わせすることが基本になっており、そのために接触要
素が電気的接点バンクの絶縁隙間に当たるようになるの
で、難点がある。如何なる場合にもアダプタ装置を被試
験プリント板に対して適切に位置合わせすることによっ
て試験を可能にするために、第5図の実施例によれば、
各アダプタ基本要素50は入力部の接触子6の列に1個
の補助接触子が付加され、かつ出力部に1個の補助接触
子が付加されている。それゆえ、各アダプタ基本要素5
0は、図示されたケースでは被試験プリント板上の7個
のろう付は端子点用に備えられた7個の接触子6の他に
、補助的な第8番目の接触子を有しており、同様に8個
の接触要素19.20を有している。さらに第5図に示
されているように、接触子6は全て絶縁中間膜4の領域
から内側へ、被試験プリント板上の試験点の対向する列
の間隔に整合するために必要な距離だけずらされている
。
第5図に示された接触子6および接触要素19、20の
配置によれば、第6A図、第6B図および第6C図に示
されているような範囲で被試験プリント板に対してアダ
プタ装置を位置合わせすることが出来る。第6A図は詳
細には図示されていない第5図のアダプタ装置の接触子
6が同様に図示されていない被試験プリント板のろう付
は端子52に対して位置合わせされた状態を示している
。
配置によれば、第6A図、第6B図および第6C図に示
されているような範囲で被試験プリント板に対してアダ
プタ装置を位置合わせすることが出来る。第6A図は詳
細には図示されていない第5図のアダプタ装置の接触子
6が同様に図示されていない被試験プリント板のろう付
は端子52に対して位置合わせされた状態を示している
。
その場合、ろう付は端子はPLCC規格に基づいて配置
されている。水平に図示された接触子列においてそれぞ
れ左側に位置する接触子6と、垂直に図示された接触子
列においてそれぞれ上側に位置する接触子6とは利用さ
れていない。第6B図においては、被試験プリント板上
の被試験ろう付は端子の位置は電気的接点バンクに対し
て1/20″だけ左側へずらされている。この場合には
、ろう付は端子との接触のために、アダプタ装置の接触
子6の上側列と下側列との左側接触子は利用されており
、接触子6の上側列と下側列との右側接触子は解放され
ている。第6B図において、アダプタ装置の接触子6の
左側列は相変わらず被試験プリント板上のろう付は端子
52に接触している。何故ならば、これらのろう付は端
子52は比較的長い長さを有するからである。同じごと
が第6B図における右側接触子列の接触子6についても
言える。従って、被試験プリント板上の試験点配置が1
/10”の標準格子寸法を有する電気的接点バンクに対
して1/20″だけ左側へずらされている場合に対して
も、被試験プリント板のろう付は端子52を本発明によ
るアダプタ装置を介して電気的接点バンクに結合させる
ことが可能になる。
されている。水平に図示された接触子列においてそれぞ
れ左側に位置する接触子6と、垂直に図示された接触子
列においてそれぞれ上側に位置する接触子6とは利用さ
れていない。第6B図においては、被試験プリント板上
の被試験ろう付は端子の位置は電気的接点バンクに対し
て1/20″だけ左側へずらされている。この場合には
、ろう付は端子との接触のために、アダプタ装置の接触
子6の上側列と下側列との左側接触子は利用されており
、接触子6の上側列と下側列との右側接触子は解放され
ている。第6B図において、アダプタ装置の接触子6の
左側列は相変わらず被試験プリント板上のろう付は端子
52に接触している。何故ならば、これらのろう付は端
子52は比較的長い長さを有するからである。同じごと
が第6B図における右側接触子列の接触子6についても
言える。従って、被試験プリント板上の試験点配置が1
/10”の標準格子寸法を有する電気的接点バンクに対
して1/20″だけ左側へずらされている場合に対して
も、被試験プリント板のろう付は端子52を本発明によ
るアダプタ装置を介して電気的接点バンクに結合させる
ことが可能になる。
第6C図によれば、ろう付は端子52を備えた被試験プ
リント板は電気的接点バンクに対して標準格子寸法の半
分(1/20’lだけ他の方向へずらされている。その
場合、被試験プリン1反のろう付は端子との接触に関す
る接触子6の上側列と下側列との様子は第6B図と同じ
である。しかしながら、接触子6の左側列および右側列
は第6B図とは異なっている。何故ならば、第6c図に
おいてはそれぞれの下側接触子6が解放され、それぞれ
の上側接触子6が被試験プリント板のろう付は端子52
と接触することによって、被試験プリント板上のろう付
は端子52に対する接触子6の左側列および右側列の状
態が変わっているからである。
リント板は電気的接点バンクに対して標準格子寸法の半
分(1/20’lだけ他の方向へずらされている。その
場合、被試験プリン1反のろう付は端子との接触に関す
る接触子6の上側列と下側列との様子は第6B図と同じ
である。しかしながら、接触子6の左側列および右側列
は第6B図とは異なっている。何故ならば、第6c図に
おいてはそれぞれの下側接触子6が解放され、それぞれ
の上側接触子6が被試験プリント板のろう付は端子52
と接触することによって、被試験プリント板上のろう付
は端子52に対する接触子6の左側列および右側列の状
態が変わっているからである。
従って、本発明によるアダプタ装置を被試験プリント板
に位置合わせすることは容易に可能になる。
に位置合わせすることは容易に可能になる。
第1図は本発明によるアダプタ装置の一実施例における
アダプタ基本要素の一例を示す外観図、第2図は2つの
アダプタ基本要素が並設されている本発明によるアダプ
タ装置の他の実施例を示す外観図、第3図はアダプタ基
本要素が枠体を構成している本発明によるアダプタ装置
の更に他の実施例を示す平面図、第4図は第3図におけ
る■■断面図、第5図は補助接触子と補助接触要素とを
備えたアダプタ基本要素が枠体を構成している本発明に
よるアダプタ装置の異なる実施例を示す平面図、第6A
図、第6B図および第6C図はそれぞれ被試験プリント
板に対して第5図に示したアダプタ装置を位置合わせす
るための説明図である。 1・・・アダプタ基本要素 2.3・・・プリント板 5・・・入力部 6・・・接触子 7.18・・・袋穴 8.14・・・貫通穴 12.16・・・導体路 11.13.15・・・スルーホール導体I7・・・出
力部 19.20・・・接触要素 33・・・接点バンク G− 〇− 〇− 一 一 〇− 〇− 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 IG 6A IG 6B −〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 IG 6C
アダプタ基本要素の一例を示す外観図、第2図は2つの
アダプタ基本要素が並設されている本発明によるアダプ
タ装置の他の実施例を示す外観図、第3図はアダプタ基
本要素が枠体を構成している本発明によるアダプタ装置
の更に他の実施例を示す平面図、第4図は第3図におけ
る■■断面図、第5図は補助接触子と補助接触要素とを
備えたアダプタ基本要素が枠体を構成している本発明に
よるアダプタ装置の異なる実施例を示す平面図、第6A
図、第6B図および第6C図はそれぞれ被試験プリント
板に対して第5図に示したアダプタ装置を位置合わせす
るための説明図である。 1・・・アダプタ基本要素 2.3・・・プリント板 5・・・入力部 6・・・接触子 7.18・・・袋穴 8.14・・・貫通穴 12.16・・・導体路 11.13.15・・・スルーホール導体I7・・・出
力部 19.20・・・接触要素 33・・・接点バンク G− 〇− 〇− 一 一 〇− 〇− 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 IG 6A IG 6B −〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 一〇 IG 6C
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)評価装置に接続された電気的接点バンクを備え、こ
の電気的接点バンクにはアダプタ装置を介して被試験プ
リント板を接続可能であり、その場合前記アダプタ装置
は並置されて前記被試験プリント板の表面に対して直角
に配置された複数個のプリント板によって構成され、か
つ前記被試験プリント板側のアダプタ装置入力部に列状
に配置された接触子を有し、これらの接触子は前記入力
部とは反対側に位置するアダプタ装置出力部の前記接点
バンク側の接触要素に導体路によって接続されるプリン
ト板試験装置用アダプタ装置において、アダプタ装置(
30)は一対の結合されたプリント板(2、3)から成
るアダプタ基本要素(1)を含み、各アダプタ基本要素
(1)は接触子(6)の幾つかの列を有し、かつ各接触
子(6)の下にはスルーホール導体(11)を設けられ
た貫通穴(8)を有し、前記接触子(6)は前記スルー
ホール導体(11)にまでそれぞれ達しており、前記ア
ダプタ基本要素(1)のプリント板(2、3)において
それぞれ2つの連続する貫通穴(8)の下には、互いに
絶縁されたスルーホール導体(13、15)を有する別
の貫通穴(14)が両プリント板(2、3)の領域にそ
れぞれ配設され、前記プリント板(2、3)上の導体路
(12、16)を介して前記別の貫通穴(14)の両ス
ルーホール導体(13、15)は前記2つの連続する貫
通穴(8)のスルーホール導体(11)に接続され、前
記接触要素(19、20)は前記別の貫通穴(14)の
スルーホール導体(13、15)にまで達していること
を特徴とするプリント板試験装置用アダプタ装置。 2)接触子(6)は接触ピンであり、この接触ピンはア
ダプタ基本要素(1)の入力部(5)から貫通穴(8)
に到るまで穿てられた袋穴(7)内に配置されているこ
とを特徴とする請求項1記載のアダプタ装置。 3)接触要素(19、20)は接触針であり、この接触
針はアダプタ基本要素(1)の出力部(17)から各プ
リント板(2、3)内に別の貫通穴(14)に到るまで
穿てられた袋穴(18)内に挿入されていることを特徴
とする請求項1または2記載のアダプタ装置。 4)アダプタ装置の出力部(17)に挿入された接触要
素(19、20)は標準格子寸法にて並置され、かつ同
一格子寸法にて互いに離間している貫通穴(14)のた
めにアダプタ基本要素(1)の出力部(17)に連続的
に位置することを特徴とする請求項1ないし3の1つに
記載のアダプタ装置。 5)接触子(6)は標準格子寸法の半分と同じ間隔にて
アダプタ基本要素(1)の入力部(5)に位置すること
を特徴とする請求項1ないし4の1つに記載のアダプタ
装置。 6)アダプタ基本要素(1)は枠体を形成するために結
合されることを特徴とする請求項5記載のアダプタ装置
。 7)アダプタ基本要素(1)の接触子(6)の個数と接
触要素(19、20)の個数とは、それぞれ被試験プリ
ント板上に列状に配置されている試験点の個数よりも1
つだけ多く設定されていることを特徴とする請求項1な
いし6の1つに記載のアダプタ装置。 8)接触子は枠体の長手軸線に関する点対称配置に比べ
て標準格子寸法の1/4だけ少なくとも一方の方向へず
らされていることを特徴とする請求項6記載のアダプタ
装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3806793A DE3806793A1 (de) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | Adaptereinrichtung fuer eine vorrichtung zum pruefen von leiterplatten |
| DE3806793.5 | 1988-02-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0210174A true JPH0210174A (ja) | 1990-01-12 |
Family
ID=6348653
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1045071A Pending JPH0210174A (ja) | 1988-02-29 | 1989-02-23 | プリント板試験装置用アダプタ装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4922190A (ja) |
| EP (1) | EP0331614A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0210174A (ja) |
| DE (1) | DE3806793A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2648916B1 (fr) * | 1989-06-27 | 1991-09-06 | Cit Alcatel | Agencement de test de cartes a circuit imprime et son application au test de cartes a circuit imprime formant un equipement de multiplexage-demultiplexage de signaux numeriques |
| FR2666693A1 (fr) * | 1990-09-11 | 1992-03-13 | Option | Dispositif pour la connexion a un circuit electrique ou electronique, d'une multiplicite d'elements conducteurs repartis sur une surface de dimensions restreintes. |
| DE4323276A1 (de) * | 1993-07-12 | 1995-01-19 | Mania Gmbh | Vollmaterialadapter |
| JPH07244116A (ja) * | 1994-03-07 | 1995-09-19 | Hitachi Chem Co Ltd | 半導体特性測定用治具とその製造法並びにその使用方法 |
| DE19943388B4 (de) * | 1999-09-10 | 2010-04-08 | Atg Luther & Maelzer Gmbh | Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten |
| US9618564B2 (en) * | 2014-01-27 | 2017-04-11 | Apple Inc. | Printed circuits with sacrificial test structures |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR530039A (fr) * | 1920-10-26 | 1921-12-12 | Prise de courant à branchements multiples | |
| DE3340179C1 (de) * | 1983-11-07 | 1985-05-09 | MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH | Anordnung an einem Leiterplattenpruefgeraet zur Anpassung der Abstaende von Kontakten |
| FR2563948B1 (fr) * | 1984-05-07 | 1987-07-17 | Bonhomme F R | Perfectionnements aux connecteurs electriques et aux procedes de fabrication de ceux-ci |
| DK291184D0 (da) * | 1984-06-13 | 1984-06-13 | Boeegh Petersen Allan | Fremgangsmaade og indretning til test af kredsloebsplader |
-
1988
- 1988-02-29 DE DE3806793A patent/DE3806793A1/de not_active Withdrawn
-
1989
- 1989-02-20 EP EP89730036A patent/EP0331614A1/de not_active Withdrawn
- 1989-02-23 JP JP1045071A patent/JPH0210174A/ja active Pending
- 1989-02-28 US US07/317,012 patent/US4922190A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3806793A1 (de) | 1989-09-07 |
| EP0331614A1 (de) | 1989-09-06 |
| US4922190A (en) | 1990-05-01 |
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