JPH02102464A - 表面電位測定用プローブにおける電界入力絞り機構 - Google Patents

表面電位測定用プローブにおける電界入力絞り機構

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JPH02102464A
JPH02102464A JP25540388A JP25540388A JPH02102464A JP H02102464 A JPH02102464 A JP H02102464A JP 25540388 A JP25540388 A JP 25540388A JP 25540388 A JP25540388 A JP 25540388A JP H02102464 A JPH02102464 A JP H02102464A
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JP
Japan
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electric field
detection
probe
surface potential
potential
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JP25540388A
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English (en)
Inventor
Kenji Kinoshita
健二 木下
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Individual
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 物体、例えば複写機用感光ドラムの表面に分布する電位
の測定は、一般に表面電位計を用いて行なうが、本発明
はこの表面電位計のプローブに設ける電界入力孔を、小
さく調節できる機構に関するものである。
(従来の技術) 第4図に示すように、表面電位計aに用いる従来のプロ
ーブbは、一般に導電性器体Cの内部に表面電位センサ
dを、前置増幅器e等と共に設置し、センサdの検知部
fに対向する器体Cの部分には電界人力孔gを設けてい
る。
そして、実際の測定に際しては、まず表面電位が分布す
る測定対象物りの検知対象部iに、プローブbを近づけ
て、電界人力孔gをこの検知対象部iに対向させる。こ
うすると、器体Cは導電性なので、たとえ測定対象物り
の表面に電位が広く分布していても、電界人力孔gには
検知対象部jにのみ分布する電位に基づく電界jだけが
、プロ−ブbの内部に入り込み、センサdの検知部fに
至るので、したがって検知対象部jにおける電位を検知
することができる。
(発明が解決しようとする問題点) 前記のように、従来のプローブbにおいては、器体Cに
単に電界人力孔gを設けただけなので、この人力孔gの
大きさは容易に変えることができず、したがってこのよ
うなプローブbでは、測定対象物りの検知対象部iも入
力孔gに対応して、その大きさは、固定となる。このた
め、検知対象部iをより微小な範囲に絞りたい場合には
、このように小さな検知対象部iに対応する小さな入力
JLgを有するプローブbを別途用意しなければならず
、したがってコストがかかるという間U点がある。
本発明は、このような問題点を解決することを目的とす
るものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明の構成を実施例に対応する第1図〜第3図に基づ
いて説明すると、本発明の機構は、導電性器体1の内部
に表面電位センサ2を設置し、このセンサ2の検知部3
に対向する器体1の部分に電界人力孔4を設けた表面電
位測定用プローブ5において、電界人力孔4よりも小さ
な開口部6を有する導電性じゃへい板7を、この開口部
6が電界人力孔4を狭ばめるように、器体1に着脱自在
に構成したものである。
(作用および実施例) 本発明の作用を実施例と共に説明する。
第2図に示すように、プローブ5の器体1に設けた電界
人力孔4の大きさに対して充分小さな検知対象部8ごと
に測定対象物9の表面電位分布を計測したい場合には、
まずこの検知対象部8と同程度の大きさの開口部6を導
電性じゃへい板7に開けておき、これを第1図に示すよ
うに、開口部6が電界人力孔4を狭ばめるように、入力
孔4の前方からねじ10等で器体1に取り付けて、電気
的にも器体1に短絡した状態とする。
このような状態にしたプローブ5を、測定対象物9に近
づけて、その表面に開口部6を対向させると、表面に分
布する電位に基づく電界14のうち、プローブ5内のセ
ンサ2の検知部3に至るものは、開口部6に対応する小
さな検知対象部8にのみ分布する電位に基づくものだけ
で、検知対象部8以外の所に分布する電位に基づく電界
は、導電性じゃへい板7にさえぎられる等して、センサ
2の検知部3に至ることはなく、したがって検知対象部
8の電位検知への影響を除去することができる。
このように、しやへい板7を取り付けたプローブ5にお
いては、その検知対象部8の大きさは開口部6の大きさ
に対応するので、開口部6の大きさを電界人力孔4の大
きさよりも小さな範囲でいろいろ変えれば、これに対応
して検知対象部8の大きさも変えることができる。
しやへい板7は、第1図に示すように、開口部6を1個
だけ設けたものを、器体1に着脱自在としても良いし、
あるいは第3図に示すように、大きさの異なる開口部6
を複数、導電性の長尺部材11に設け、これを器体1に
着脱自在な構成としても良い。
(発明の効果) 以上のように、本発明の機構は、開口部を設けた導電性
じゃへい板を器体に取り付けるだけという極めて簡単な
手段で、検知対象部を所望の大きさに絞り込めるので、
検知対象部の大きさごとにプローブを用意する必要がな
く、したがって表面電位計全体のコストを低減し得ると
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は本発明の実施例に対応するもので、第
1図(a)は模式的全体斜視図、(b)は要部の模式的
縦断面図、第2図は作用説明的縦断面図、第3図は池実
施例の模式的斜視図、第4図は従来例の説明的縦断面図
である。 符号1・・・導電性器体、2・・・表面電位センサ、3
・・・検知部、4・・・電界入力孔、5・・・表面電位
測定用プローブ、6・・・開口部、7・・・導電性じゃ
へい板、8・・・検知対象部、9・・・測定対象物、1
0・・・ねじ、11・・・長尺部材、12・・・前置増
幅器、13・・・表面電位計本体、 14・・・電界。 第2図 (α) 図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 導電性器体の内部に表面電位センサを設置し、該センサ
    の検知部に対向する前記器体の部分には電界入力孔を設
    けた表面電位測定用プローブにおいて、前記電界入力孔
    よりも小さな開口部を有する導電性しやへい板を、該開
    口部が前記電界入力孔を狭ばめるように、前記器体に着
    脱自在に構成したことを特徴とする前記表面電位測定用
    プローブにおける電界入力絞り機構。
JP25540388A 1988-10-11 1988-10-11 表面電位測定用プローブにおける電界入力絞り機構 Pending JPH02102464A (ja)

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JP25540388A JPH02102464A (ja) 1988-10-11 1988-10-11 表面電位測定用プローブにおける電界入力絞り機構

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JP25540388A JPH02102464A (ja) 1988-10-11 1988-10-11 表面電位測定用プローブにおける電界入力絞り機構

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JPH02102464A true JPH02102464A (ja) 1990-04-16

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ID=17278282

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JP25540388A Pending JPH02102464A (ja) 1988-10-11 1988-10-11 表面電位測定用プローブにおける電界入力絞り機構

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JP (1) JPH02102464A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07260478A (ja) * 1994-03-24 1995-10-13 Asahi Seimitsu Kk 測量機
JP2010223934A (ja) * 2009-02-27 2010-10-07 Fujitsu Ltd 電界感知プローブ、電界の検出方法及び回路基板の製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07260478A (ja) * 1994-03-24 1995-10-13 Asahi Seimitsu Kk 測量機
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