JPH02103783A - 磁気ディスク欠陥検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ この発明は、磁気ディスク欠陥検査装置（以）゛サーテ
ィファ・イア）に関し、詳しくは、磁気ディスクの試験
トラックに２Ｆ周波数（最大周波数）の書込みクロック
仁弓゛をテストデータとして書込み、或いは書込みテス
トデータを消去してミッシングエラーや湧き出しエラー
（エキストラエラー）”９を欠陥として検出するサーテ
イファイアにおいて、欠陥検出回路の検出状態を確認で
きるようなサーティファイアに関スル。

［従来の技術］ コンピュータ／ステムに使用される磁気ディスク装置は
、その磁気媒体に不拘・な欠陥があるときは、１１）込
みデータの記録が不完全となり、ミソ／フグエラー又は
エキストラエラー等が発生する。

このような欠陥をなくして良好な品質を維持し、また、
ｌｉ＋ｊ　１．させるために、その生産過程ではサーテ
ィファイアにより各種の検査が行オ）れている。

そしてその１つに磁気媒体の欠陥検査がある。

磁気媒体の欠陥検査は、まず、試験トランクに書込みク
ロックイ７１号（１ビツトの連続するビットデータ、テ
ストパターンデータ等）のテストデータをＩ’Ｆ込み、
それを読出してその判定を行い、不良ビット（ミッシン
グ）の個数や長さを５　Ｗｔ　シてトラックの良否を判
定する。また、ｎ）込んだテストデータを消去してエキ
ストラエラーの判定を行う。さらに、全トラックにある
不良トラックの数によりその等級の判定を行う。そして
、このような判定に基づいて、磁気ディスクの評価を行
い、ある程瓜以−１−の欠陥があると不合格とする。ま
た、サーティファイアを内部に自するイニ／ヤライザに
あっては、サーティファイアにより検出した欠陥データ
に応じて使用できないセクタ或いはトラックに対して代
替セクタや代替トラックの割り当て処理、欠陥のスキッ
プ処理なとを行い、磁気ディスクのフォーマツチングを
して磁気ディスクを初期化（イニンヤライズ）スル。

ところで、磁気ディスクに記録されるデータの密度は、
年々向−１−シ、高密度化されてきており、それに応じ
て前述のサーティファ□イア或いはイニシャライザ（サ
ーティファイア＋フォーマツタを含む）が検出してデー
タ処理しなければならない欠陥数が従来より　−層増加
してきている。また、欠陥の長さについても種々のもの
が生じて、コレクトエラーやアンコレクトエラーについ
ても一様には決定できなくなって来ている。しかも、欠
陥の検出状態は、そのときどきの検査精度に関係して（
る。

［解決しようとする課題］ そこで、サーティファイアの検査精度がどの程度である
かが小我な問題となるが、サーティファイアのエラー検
出ｉ、１７度をチエ、りするには、通常、キャリプレー
ンリン装置をサーティファイアに接続してミッシングの
ある波形信号雪・を発生させ、それをサーティファイア
に加えてエラー検出の状態を測定することて行オ）れて
いる。

しかし、このようなチエツク方式では、キャリプレーン
リン装置を接続して行わなければならず、その接続と取
外しに手間がかかる問題がある。しかも、キャリブレー
ション装置は、エラー信号を磁気ディスクとの関係で発
生させるような実際の検出状態に近い状態の信号を生成
するものではないため、エラー検出精度か高くなるとこ
れらの間にずれが生じる。また、エラー検出精度が高い
欠陥検査てはその検査動作のチエツク回数も多くなる。

この発明の１−１的は、このような従来技術の問題点を
解決するものであって、簡１１ｉに回路のエラー検出状
態を検査することができるサーティファイアを提供する
ことにある。

［課題を解決するための手段］ この発明のサーティファイアの構成は、試験トランクに
テストデータを書込み、これを読＋１ＪＬ／、或いは消
去して読出して欠陥を検出する磁気ディスク欠陥検査装
置において、テストデータの−）込み回路と、この書込
み回路の出力信号を設定されたタイミングでレベル低下
させ、或いは無効にするミッシング仁号発生回路とを備
えるものである。

［作用コ このようにテストデータの書込み回路の出力信号を設定
されたタイミングで無効にするミッシング信弓発生回路
をサーティファイアに設けることにより被検査磁気ディ
スク」−の所定の位置にミッシングデータを書込むこと
が可能となり、このミッシングデータを読出すことによ
りサーティファイア自体でいつでもミッシング検査を行
うことができる。その結果、エラー検査回路系が正常に
動作しているか否かの確認が容易にてき、特別にキャリ
ブレーション装置をサーティファイアに接続しなくても
済む。

［実施例コ 以ド、この発明の一実施例について図面を参！ｔ（１し
て詳細に説明する。

第１図は、この発明によるサーティファイアのテストデ
ータのＪト込み／読出し制御回路を中心とする　・実施
例のブロック図、第２図は、その欠陥データ抽出回路部
分を中心とする全体的な／ステムのブロック図、第３図
は、そのミッンシングエラーの占込信ｐｆ及び読出信号
の説明図である。なお、これら各図において、同等の構
成要素は同一の行号で示し、その説明を割愛する。

第２図において、■は、磁気ディスクを１枚づつ駆動す
る磁気ディスク駆動装置であって、そのスピンドルモー
タ２に検査対象となる磁気ディスク３が装着され、磁気
ディスク３が磁気ヘッド４によりアクセスされてデータ
の書込み／読出しが行われる。スピンドルモータ２には
、その回転軸にエンコーダ５が装着されていて、回転位
置情報がエンコーダ５から回転位置検出回路６に入力さ
れ、回転位置検出回路６で磁気ディスク３の各トラック
に記憶されるデータの１ビツトに対応して発生するクロ
ック信号が生成される。回転位置検出回路６て生成され
たこのクロック信シ用よ、次に欠陥データ抽出回路７の
８ビツトで一巡する（８進）リングカウンタ８に人力さ
れる。

リングカウンタ８は、回転位置検出回路６からデータの
書込み位置に対応して発生するクロック信号を受けてこ
れをカウントし、８個カウントするごとにカウント完−
ｒ信弓を出力する。そして、これを１バイト分の検出信
号としてバイトカウンタ１１に加える。

バイトカウンタ１１は、この１バイト分の＠１１信号を
受けてそのカウント値が更新され、そのカウント値を欠
陥データメモリ部１２に書込みデータとして送出する。

このバイトカウンタ１１は、回転位置検出回路６がイン
デックスを検出したとき、そのインデックス検出信号を
受けてリセットされる。そこで、その各カウント値、０
〜ｎは、試験トラックをバイト９１位に分割してアドレ
ス付けした各アドレスを示す。そして、欠陥が発生した
ときに、その位置に対応するアドレス値が後述するよう
に欠陥データメモリ部１２に送出されて記憶される。

１！）込み／読出し制御回路９は、検査シーケンス制御
回路１３の制御に応じてヘッドキャリツノ（図示せず）
を制御して磁気ヘッド４を所定の試験トラックに位置決
めし、そのトラックに対するデータの；書ｔき込み／読
出しの制御を行い、読出信号をエラー検出回路１０に送
出する。この書込み／読出し制御回路９は、第１図に示
すように、テストデータ書込み回路９１と、テストデー
タ書込み回路９１からのＪ）込みデータ信りを受けて磁
気へノド４に、！ｉ′込み信号を出力する書込み／読出
しアンプ９２、磁気ヘッド４を介して磁気ディスク３の
トランクから読出された信号を書込み／読出しアンプ９
２を介して受ける読出し回路９３、テストデータ書込み
回路９１の出力側にその出力が接続されたミノ／フグ４
１１号発生回路９４とから構成されている。

ミッシング信号発生回路９４は、検査ンーケンス制御回
路１３からの制御信号で起動されて動作し、その内部に
プリセットカウンタ９４ａとドライバ９４ｂとを有して
いる。プリセットカウンタ９４ａには、検査シーケンス
制御回路１３からミッシングを発生するタイミングデー
タがあらかしめセットされ、プリセットカウンタ９４ａ
は、検査シーケンス制御回路１３からテストデータ書込
み回路９１に送出されるテストデータを受けて、その値
がカウントダウンされ、そのカウント値がゼロになった
ときにドライバ９４ｂに出力信号を発生する。この出力
信号によりテストデータ書込み回路９１の出力側に接続
されたドライバ９４ｂが１クロック信号期間だけＩＩ　
ＯＮ　＋１杖態となり、書込み／読出しアンプ９２に出
力される書込みデータ信号のレベルがゼロレベル付近ま
で低ドして、これが出力されないようにし、そのときの
１ビツトの書込み信号だけを無効にする。

第３図は、この場合の無効にされた書込みクロック信号
とＷＣＫ（第３図の（ａ）参照）とこのときの−）込み
信シシ″Ｗ１〕（第３図の（ｂ）参照）、そしてその読
出し信づＲＤ（第３図の（Ｃ）参照）とを示している。

このように、書込みデータを欠落させることでミン／ン
グ状態を発生させてテストブータラ書込むことができ、
その位置は、検査シーケンス制御回路■３からプリセッ
トカウンタ９４ａにタイミングデータをセットすること
で決定され、磁気ディスク３のトラック１−にミッシン
グ波形を持つデータを書込むことができる。しかも、こ
の場合、トラック１−、の任意の位置にミッシング波形
の設定をすることが可能である。

エラー検出回路１０は、前記の読出信号からエラーを検
出したときに、エラー検出信号Ｓｔ　とミソ／ングエラ
ー、ビークンフトエラー、モジュレーンヨンエラー、エ
キストラエラー等の検出エラーの種別を示す種別データ
Ｓ２とを発生して、これらの信号を欠陥データメモリ部
１２に送出する。

なお、エキストラエラーの検出の場合には、試験トラッ
クに書込まれたテストデータか一１１消去さ１〇− れてデータの読出しが行われるので、このとき検出され
るエラーはエキストラエラー１種類となる。

マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）１５は、プログラムで制
御され、バス１４を介して欠陥データ抽出回路７と検査
シーケンス制御回路１３とを制御する。検査シーケンス
制御回路１３は、ＭＰＵｌ５からの試験トラック香り等
を指定したテスト指令に応じて動作し、磁気ディスク駆
動装置１と欠陥データ抽出回路７の書込み／読出し制御
回路９とを制御する。

そこで、欠陥検査に際しては、まず、ＭＰＵ１５の制御
に応じて動作する検査シーケンス制御回路１３により磁
気ディスク駆動装置１と書込み／読出し制御回路９とが
制御され、２Ｆ周波数のｉ’ｆ込みクロック信弓（或い
はその他のテストパターン）のテストデータが磁気ヘッ
ド４により磁気ディスク３の指定された試験トラックに
占込まれる。

ついて、−）込まれたテストデータが磁気ヘッド４によ
り試験トラックから読出されて、占込み／読出し制御回
路９を絆でエラー検出回路１０に入力され、ここて、基
Ｈ／レベル才′、シ＜はウィンドパルス（、ｉ”ｙと読
出しイ１、弓名しくはそのパルス化４ｉ：弓とか比較さ
れて前記のミノン／″グエラー　ビークンフトエラー、
モノユレーンヨンエラー、エキストラエラー等の各種の
エラー検出が打われ、この検１エラーデータがその位置
情報とともに欠陥データ検出メモリ部１２に記憶される
ことになる。

ここで、ＭＰＵ１５が１試験トラツク対応に欠陥データ
を欠陥データメモ’）　１２　ｃから採取するものとす
ると、試験トラックの１周分のデータが欠陥データメモ
リ部１２に記憶される都度、検査シーケンス制御回路１
３の制御の応答信−ｌをＭＰＵ１５が受けて、これに応
じてＭＰＵ１５は、バス１４を介して欠陥データメモリ
１２の１トラック分の欠陥データを読出し、そのデータ
を内部メモリ１６に転送して試験トラック対応にそのデ
ータを記憶する。

その結果、検舎が終Ｙした時点では、磁気ディスク３の
すへてのトラックについての欠陥データが各試験トラッ
ク対応にかつパイ）　１１位のアドレスで管理されて内
部メモリ１６の所定の領域に記憶されていることになる
。

そこで、ＭＰＵ１５は、内部メモリ１６に記憶されたこ
の欠陥データを欠陥解析処理プロゲラｌ、に従って読出
し、このバイトｉ薯）’ｆ、にアドレス付けされて管理
された欠陥データの欠陥解析処理を行うことができる。

この場合、欠陥位置がパイ）　ｊｌｊ位のアドレスとな
っているので、セクタとがトラックについて代替セクタ
或いは代替トランクを割り当てて使用できるか否かの判
定、細部のビット単位での試験がさらに必要か否かの判
定が容易となる。使用不可のトラックでも、再度のビッ
ト単位の検査によっては、使用可能なトラックとなるよ
うなものについての判定も簡単にてきる。そして、この
ようなトラックについては、再度検査対象となるセクタ
或いはトラックについてのみピットリ１位の詳細な欠陥
検査をすることができる。このことで、歩留まりを向１
−させることができ、トータルな検査時間、欠陥データ
解析時間全体を短縮させることかできる。

このような処理を１ｊうサーティファイアおいててエラ
ー検出回路ＩＯがＩＦ常に動作しているか否かについて
判定する場合には、ミッシング信号発生回路９４を起動
させてミッシングを発生させたい位置でミノンング信号
発生回路９４が動作するように、そのプリセットカウン
タ９４ａにデータをセットし、エラー検出回路１０をミ
１．シングエラー検出状態に設定して磁気ディスク３の
検査をイ１えばよい。この場合、エラー検出回路１０又
は欠陥データ抽出回路７全体が正常に動作している限り
、設定した位置にミッシングエラーが検出され、そうで
ないときにはその位置にはミッシングエラーが検出され
ないはずである。なお、ドライバ９４ｂは、テストデー
タ書込み回路９１の出力のレベルを所定Ｍドげるような
動作をさせるこきができ、このレベルの設定についてそ
の値を記憶するレジスタ等を設けてこのレジスタの値に
従ってドライバの出力を調整するようにすることができ
る。

このようにミソ／フグ信号発生回路９４を設はることて
、サーティファイアの内部でいってもエラー検出回路１
０又は欠１（６１デ一タ抽１１１回路７全体が１Ｆ常に
動作しているか否かの検査ができる。しかも短時間で検
査するこ↓かｉｉＪ能古なる。特に、ミッシングについ
てドライバ９４ｂにより、））込みクロック信号の出力
レベルを調整するようにすれハ、ＦｉＴｔ々のレベルで
磁気ディスク３にミソンング波形の７’Ｊ込みか可能で
あり、種々のレベルでの検査精度の測定ができる。

以１−説明してきたが、実施例では、検出する欠陥に対
応して欠陥の種別を記憶するようにしているが、エラー
検出回路がエキストラエラーのように甲　・の指定され
た欠陥を検出するような場合には、検出回路で欠陥の種
別（ｉ−’　”’：を発生する２蟹はない。したがって
、実施例におけるエラー検出回路は、種別に応じた欠陥
を検出する機能かなくてもよい。

実施例では、欠トロ１の位置データとして試験トラック
を１バイトＩｌ１位で管理してアドレス付けして欠陥イ
１旨６としているが、この発明は、必ずしもバイト管理
で欠陥（ｉ“！置を管理するものに限定されるものでは
ない。

ところで、この発明は、ハードディスクに限らず、いわ
ゆるフレキシブルディスクについても適用もてきること
はもちろんである。

［発明の効果］ 以１−のように、この発明にあっては、テストデータの
書込み回路の出力漬しを設定されたタイミングで無効に
するミッシング信は発生回路をサーティファイアに設け
ることにより被検査磁気ディスク１．の所定の位置にミ
ッシングデータを−）込むことが可能となり、このミッ
シングデータを読出すことによりサーティファイア自体
でいつでもミノン／グ検杏を行うことができる。その結
果、エラー検査回路系か１１：、常に動作しているか否
かの確認が容易にてき、特別にキヤリプレーンヨン装置
をサーティファイアに接続しなくても済む。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明によるサーティファイアのテストデ
ータの１１１込み／読出し制御回路を中心とする　・実
施例のブロック図、第２図は、その欠陥データ抽出回路
部分を中心とする全体的なシステムのブロック図、第３
図は、そのミツンンングエラーの書込信号及び読出４３
　吋の説明図である。 ■・・・磁気ディスク駆動装置、２・・・スピンドルモ
ータ、３・・・磁気ディスク、４・・・磁気ヘッド、５
・・・エンコーダ、６・・・回転位置検出回路、７・・
・欠陥データ抽出回路、８・・・リングカウンタ、９・
・・書込み／読１１」シ制御回路、１０・・・エラー検
出回路、１１・・・バイトカウンタ、１２・・・欠陥デ
ータメモリ部、 １３・・・検査シーケンス制御回路、 １４・・・バス、１５・・・マイクロプロセッサ（ＭＰ
Ｕ）、１Ｂ・・・内部メモリ。 ９工・・・テストデータ書込み回路、 ９２・・・書込み／読出しアンプ、 ９３・・・読出し回路、９４・・・ミッシング信号発生
回路９４゜

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）試験トラックにテストデータを書込み、これを読
   出し、或いは消去して読出して欠陥を検出する磁気ディ
   スク欠陥検査装置において、前記テストデータの書込み
   回路と、この書込み回路の出力信号を設定されたタイミ
   ングでレベル低下させ、或いは無効にするミッシング信
   号発生回路とを備えることを特徴とする磁気ディスク欠
   陥検査装置。