JPH0210446Y2 - - Google Patents
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- JPH0210446Y2 JPH0210446Y2 JP15634581U JP15634581U JPH0210446Y2 JP H0210446 Y2 JPH0210446 Y2 JP H0210446Y2 JP 15634581 U JP15634581 U JP 15634581U JP 15634581 U JP15634581 U JP 15634581U JP H0210446 Y2 JPH0210446 Y2 JP H0210446Y2
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- Japan
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- temperature
- circuit
- diode
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- external electrode
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- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 16
- 235000013339 cereals Nutrition 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 description 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
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- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 1
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
穀物、例えば籾の水分を測定する水分計におい
ては、乾燥過程にある穀物を自動的にランダム抽
出して水分測定する一方、穀物を手動で抽出した
後未熟米等を除去して正粒のみを水分測定し、且
つ確認する事が行なわれている。
ては、乾燥過程にある穀物を自動的にランダム抽
出して水分測定する一方、穀物を手動で抽出した
後未熟米等を除去して正粒のみを水分測定し、且
つ確認する事が行なわれている。
この様な測定方法においては、自動測定用と手
動測定用とに夫々別個の水分計を要するから、測
定装置が高額になると云う不利益があり、このた
め自動水分計の回路中に、自動測定時における測
定値と、手動測定時における測定値との差を経験
的に求めた補正手段を組込み、これによつて測定
水分値の補正を行う事が提案されている。
動測定用とに夫々別個の水分計を要するから、測
定装置が高額になると云う不利益があり、このた
め自動水分計の回路中に、自動測定時における測
定値と、手動測定時における測定値との差を経験
的に求めた補正手段を組込み、これによつて測定
水分値の補正を行う事が提案されている。
しかしながら、この様に１箇の水分計を、自
動、手動両用に使用すると、自動測定用の電極と
手動測定用の電極とが受ける温度条件の相異か
ら、測定値に誤差が生じる事が避けられないと云
う問題がある。
動、手動両用に使用すると、自動測定用の電極と
手動測定用の電極とが受ける温度条件の相異か
ら、測定値に誤差が生じる事が避けられないと云
う問題がある。
即ち、此種水分計は穀物の水分を電気抵抗値に
よつて測定すると共に水分の変化に伴う電気抵抗
値の変化を、水分計回路中において、対数変換を
行いリニアな電圧変化に変換しているが、一方で
穀物の温度特性は、温度10℃当り大略１％のリニ
アな電気抵抗値変化を生じるから、この温度によ
る抵抗値の変動によつて水分計の測定値が影響さ
れるからである。
よつて測定すると共に水分の変化に伴う電気抵抗
値の変化を、水分計回路中において、対数変換を
行いリニアな電圧変化に変換しているが、一方で
穀物の温度特性は、温度10℃当り大略１％のリニ
アな電気抵抗値変化を生じるから、この温度によ
る抵抗値の変動によつて水分計の測定値が影響さ
れるからである。
このために、穀物の温度特性に起因する測定誤
差を除くため、例えば実開昭55−86951号公報に
示される様な温度補正回路が提案されているが、
この様な従来の補正回路は該回路が内蔵されてい
る当該水分計装置においては有効であるが、この
水分計装置の外部に独立して設けられた手動測定
用電極等の他の電極に関しては温度補正効果を期
待出来ない。
差を除くため、例えば実開昭55−86951号公報に
示される様な温度補正回路が提案されているが、
この様な従来の補正回路は該回路が内蔵されてい
る当該水分計装置においては有効であるが、この
水分計装置の外部に独立して設けられた手動測定
用電極等の他の電極に関しては温度補正効果を期
待出来ない。
勿論この様な補正回路においても、その温度補
正用トランジスタを外部電極に対設すれば、所期
効果を得られる事になるが、この補正回路は増幅
器の帰還回路系にトランジスタ又はダイオードを
挿入した構成であるため、該トランジスタ等を外
部電極用に増加さす事は回路構成上面倒な問題が
多く、実用化が困難であると云う不利益がある。
正用トランジスタを外部電極に対設すれば、所期
効果を得られる事になるが、この補正回路は増幅
器の帰還回路系にトランジスタ又はダイオードを
挿入した構成であるため、該トランジスタ等を外
部電極用に増加さす事は回路構成上面倒な問題が
多く、実用化が困難であると云う不利益がある。
本案はこの様な問題を解決し得る水分計用の温
度補償回路を提供せんとするものである。
度補償回路を提供せんとするものである。
以下に本案回路を添付図面につき説明すると、
第１図は本案回路に使用する温度差検出回路、第
２図は上記検出回路を温度補正回路に組合せた本
案温度補償回路を示すもので、第１図に示す回路
は水分計装置Ａに設けられた固有電極、例へば自
動測定用電極の近辺に配設される自動測定側の基
準ダイオードD1と、水分計装置の外部にある外
部電極、例へば手動測定用電極の近辺に配置され
る手動測定側の検出ダイオードD2と、上記両ダ
イオードD1，D2を並列に接続すると共に、ダイ
オードD1，D2の入力側に配置された固定抵抗R1
と、上記検出のダイオードD2の出力側に並列状
に設けられた調整用の可変抵抗器R2及び出力端
子Ｔとを備えており、上記ダイオードD1，D2は
同一特性のダイオードであり、又上記可変抵抗器
R2は、上記検出ダイオードD2に作用する温度条
件が基準ダイオードD1に作用する温度条件と同
一の時、出力電圧V0を所定値の基準電圧、例え
ば零にする様調整されている。
第１図は本案回路に使用する温度差検出回路、第
２図は上記検出回路を温度補正回路に組合せた本
案温度補償回路を示すもので、第１図に示す回路
は水分計装置Ａに設けられた固有電極、例へば自
動測定用電極の近辺に配設される自動測定側の基
準ダイオードD1と、水分計装置の外部にある外
部電極、例へば手動測定用電極の近辺に配置され
る手動測定側の検出ダイオードD2と、上記両ダ
イオードD1，D2を並列に接続すると共に、ダイ
オードD1，D2の入力側に配置された固定抵抗R1
と、上記検出のダイオードD2の出力側に並列状
に設けられた調整用の可変抵抗器R2及び出力端
子Ｔとを備えており、上記ダイオードD1，D2は
同一特性のダイオードであり、又上記可変抵抗器
R2は、上記検出ダイオードD2に作用する温度条
件が基準ダイオードD1に作用する温度条件と同
一の時、出力電圧V0を所定値の基準電圧、例え
ば零にする様調整されている。
この様な温度差検出回路において、両ダイオー
ドD1，D2に作用する温度条件が異ると、ダイオ
ードの温度特性、即ち温度の変化によつて順特性
が変る性質によつて出力電圧V0が異つてくる。
例へば、上記基準ダイオードD1に加はる温度が
検出ダイオードD2より高い場合には、基準ダイ
オードD1の順方向電圧降下が検出ダイオードD2
より低くなるから、出力電圧V0は負の方向に移
行するし、又反対に検出ダイオードD2に加はる
温度が高くなると、このダイオードD2の順方向
電圧降下が低くなつて出力電圧V0が正の方向に
移行する。
ドD1，D2に作用する温度条件が異ると、ダイオ
ードの温度特性、即ち温度の変化によつて順特性
が変る性質によつて出力電圧V0が異つてくる。
例へば、上記基準ダイオードD1に加はる温度が
検出ダイオードD2より高い場合には、基準ダイ
オードD1の順方向電圧降下が検出ダイオードD2
より低くなるから、出力電圧V0は負の方向に移
行するし、又反対に検出ダイオードD2に加はる
温度が高くなると、このダイオードD2の順方向
電圧降下が低くなつて出力電圧V0が正の方向に
移行する。
従つて本回路においては、両ダイオードD1，
D2の受ける温度差によつて出力電圧V0が加減算
される事になる。
D2の受ける温度差によつて出力電圧V0が加減算
される事になる。
次に上記検出回路を組込んだ本案回路を第２図
につき説明すると、この第２図において、１は温
度補正回路で、この回路は装置Ａ内に内包されて
おり、入力側には、第１の切替スイツチを介して
固有電極２と、１箇又は２箇以上の外部電極３と
を択一的に接続すると共に、出力側には抵抗R3
を介して温度再補正回路４を接続し、これら回路
１，４によつて温度補償部が構成されている。
につき説明すると、この第２図において、１は温
度補正回路で、この回路は装置Ａ内に内包されて
おり、入力側には、第１の切替スイツチを介して
固有電極２と、１箇又は２箇以上の外部電極３と
を択一的に接続すると共に、出力側には抵抗R3
を介して温度再補正回路４を接続し、これら回路
１，４によつて温度補償部が構成されている。
上記温度補正回路１は、上記固有電極２又は外
部電極３を流れる電流を入力電流として供給され
る増幅回路１１と、この増幅回路１１の帰還回路
中に挿入された温度補正用トランジスタ１２（又
はダイオード）及び高含水率補正用抵抗１３とを
備えており、又上記温度再補正回路４は増幅回路
４１とこの増幅回路の零レベル設定用の可変抵抗
器４２とスパン調整用の可変抵抗器４３とを有し
ている。此等温度補正回路１と温度再補正回路４
とは温度補償部を構成するものであれば良く、実
施例に限定されるものではないが、本実施例の回
路は、前記実開昭55−86951号公報所載の構成と
同一である。
部電極３を流れる電流を入力電流として供給され
る増幅回路１１と、この増幅回路１１の帰還回路
中に挿入された温度補正用トランジスタ１２（又
はダイオード）及び高含水率補正用抵抗１３とを
備えており、又上記温度再補正回路４は増幅回路
４１とこの増幅回路の零レベル設定用の可変抵抗
器４２とスパン調整用の可変抵抗器４３とを有し
ている。此等温度補正回路１と温度再補正回路４
とは温度補償部を構成するものであれば良く、実
施例に限定されるものではないが、本実施例の回
路は、前記実開昭55−86951号公報所載の構成と
同一である。
而してこの実施例においては、上記温度再補正
回路４の入力側にスイツチ手段、例へばFET５
と第２の切替スイツチS2とが接続され、このスイ
ツチ手段によつて上記第１の切替スイツチS1が外
部電極３を温度補正回路１に接続した時、上記検
出回路の出力電圧V0が温度再補正回路４に印加
される様構成されている。
回路４の入力側にスイツチ手段、例へばFET５
と第２の切替スイツチS2とが接続され、このスイ
ツチ手段によつて上記第１の切替スイツチS1が外
部電極３を温度補正回路１に接続した時、上記検
出回路の出力電圧V0が温度再補正回路４に印加
される様構成されている。
この検出回路からの出力電圧V0は補正電圧と
して、上記温度補正回路１から温度再補正回路４
に印加される電圧と重畳され、これによつて温度
再補正回路４からの出力は外部電極３の温度条件
を直接的に反映した値に補正される。
して、上記温度補正回路１から温度再補正回路４
に印加される電圧と重畳され、これによつて温度
再補正回路４からの出力は外部電極３の温度条件
を直接的に反映した値に補正される。
実施例では、上記スイツチ手段として切替スイ
ツチS2にアナログスイツチ回路、例へばFET５
を附設した構成が示されているが、このアナログ
スイツチ回路はアナログスイツチ用IC、電磁リ
レー等を用いても良く、或は又このアナログスイ
ツチ回路の代りに通常の機械的スイツチを使用し
ても良い。
ツチS2にアナログスイツチ回路、例へばFET５
を附設した構成が示されているが、このアナログ
スイツチ回路はアナログスイツチ用IC、電磁リ
レー等を用いても良く、或は又このアナログスイ
ツチ回路の代りに通常の機械的スイツチを使用し
ても良い。
この場合には上記第２の切替スイツチS2は不要
となり、外部電極３を使用する時に検出回路の出
力端子Ｔが温度再補正回路４に接続されるのみで
足りる。
となり、外部電極３を使用する時に検出回路の出
力端子Ｔが温度再補正回路４に接続されるのみで
足りる。
そして又本回路に使用する検出回路の検出ダイ
オードD2は外部電極毎に設ける事になるから、
例えば外部電極が２箇の場合には切替スイツチに
よつて検出ダイオードD2の１箇のみを基準ダイ
オードD1と並列に組合せる様構成する事が必要
である。
オードD2は外部電極毎に設ける事になるから、
例えば外部電極が２箇の場合には切替スイツチに
よつて検出ダイオードD2の１箇のみを基準ダイ
オードD1と並列に組合せる様構成する事が必要
である。
そして又上記実施例では、検出ダイオードD2
と基準ダイオードD1とが夫々１箇である場合を
説明しているが、本装置は外部電極を複数個設け
ても良く、この場合には第３図の如く、各外部電
極に夫々対設する様検出ダイオードD2，D2′，
D2″を配置し、此等ダイオードをスイツチＳによ
つて択一的に基準ダイオードD1と組合すように
構成すれば良い。
と基準ダイオードD1とが夫々１箇である場合を
説明しているが、本装置は外部電極を複数個設け
ても良く、この場合には第３図の如く、各外部電
極に夫々対設する様検出ダイオードD2，D2′，
D2″を配置し、此等ダイオードをスイツチＳによ
つて択一的に基準ダイオードD1と組合すように
構成すれば良い。
更に又上記基準ダイオードD1と検出ダイオー
ドD2とは、夫々が抵抗成分となつてブリツジ回
路を構成する様に組合せても良く、この場合には
基準ダイオードD1に対しても調整用可変抵抗を
附設する事が望ましい。
ドD2とは、夫々が抵抗成分となつてブリツジ回
路を構成する様に組合せても良く、この場合には
基準ダイオードD1に対しても調整用可変抵抗を
附設する事が望ましい。
本案回路においては、固有電極２と外部電極３
との温度差を第１のダイオードD1と第２のダイ
オードD2との順方向電圧降下の変化によつて検
出し、この検出信号によつて温度再補正回路４が
補正動作を行うものであるから、回路構成が簡単
であると共に安価なダイオードを利用出来る利益
があり、又温度差検出信号は直流出力電圧V0の
変化として得られるため外来ノイズの影響を受け
る事がなく、更に又ダイオードの温度特性は順方
向にリニアな電圧降下として表われるから、温度
差検出に適していると云う利点もある。
との温度差を第１のダイオードD1と第２のダイ
オードD2との順方向電圧降下の変化によつて検
出し、この検出信号によつて温度再補正回路４が
補正動作を行うものであるから、回路構成が簡単
であると共に安価なダイオードを利用出来る利益
があり、又温度差検出信号は直流出力電圧V0の
変化として得られるため外来ノイズの影響を受け
る事がなく、更に又ダイオードの温度特性は順方
向にリニアな電圧降下として表われるから、温度
差検出に適していると云う利点もある。
従つて本案回路は、これを使用すれば、簡単安
価な構成によつて１箇の水分計装置を複数個の電
極に共用出来ると云う効果がある。
価な構成によつて１箇の水分計装置を複数個の電
極に共用出来ると云う効果がある。
第１図は本案回路に使用する温度差検出回路の
構成図、第２図は本案回路の実施例を示す回路
図、第３図本案回路に使用する温度差検出回路の
他の実施例を示す構成図である。 図中１は温度補償部を構成する温度補正回路、
４は同温度再補正回路、２は固有電極としての自
動測定用電極、３は外部電極としての手動測定用
電極、D1は基準ダイオード、D2は検出ダイオー
ド、Ｔは出力端子、R2は可変抵抗器、S1は第１
の切替スイツチ、S2はスイツチ手段としての第２
の切替スイツチ、５は同FETを示す。
構成図、第２図は本案回路の実施例を示す回路
図、第３図本案回路に使用する温度差検出回路の
他の実施例を示す構成図である。 図中１は温度補償部を構成する温度補正回路、
４は同温度再補正回路、２は固有電極としての自
動測定用電極、３は外部電極としての手動測定用
電極、D1は基準ダイオード、D2は検出ダイオー
ド、Ｔは出力端子、R2は可変抵抗器、S1は第１
の切替スイツチ、S2はスイツチ手段としての第２
の切替スイツチ、５は同FETを示す。
Claims (1)
- 被測定穀物の乾燥過程中において被測定穀物の
試料を自動的に抽出してその水分を測定するため
の固有電極２と、上記被測定穀物の試料を手動で
抽出してその水分を測定するために設けられた少
なくとも１箇の外部電極３と、上記固有電極２と
上記外部電極３とを第１の切替スイツチS1を介し
て択一的に接続される温度補償部１，４と、この
温度補償部にスイツチ手段S2，５を介して接続さ
れる温度差検出回路とを有する水分計用の温度補
償回路であつて、上記温度差検出回路は、上記固
有電極２の近辺に設けられた基準ダイオードD1
と、上記外部電極の近辺に設けられた検出ダイオ
ードD2と、上記基準ダイオードD1と上記検出ダ
イオードD2とを順方向に並列接続した電源と、
上記検出ダイオードD2の出力側に接続された可
変抵抗器R2と、この可変抵抗器R2と並列に上記
検出ダイオードD2に接続された出力端子Ｔとで
構成され、上記スイツチ手段S2，５は、上記第１
の切替スイツチS1が外部電極３を上記温度補償部
１，４に接続した時に、当該外部電極３の近辺に
ある検出ダイオードD2からの出力電圧を上記出
力端子を介して上記温度補償部１，４へ補正信号
として印加するべく動作する様に構成され、上記
可変抵抗器R2は上記基準ダイオードD1と上記検
出ダイオードD2とが受ける温度条件が同一の時
において、上記出力端子Ｔに所定値の基準電圧を
発生せしめる様に設定された水分計用温度補償回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15634581U JPS5862255U (ja) | 1981-10-22 | 1981-10-22 | 水分計用温度補償回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15634581U JPS5862255U (ja) | 1981-10-22 | 1981-10-22 | 水分計用温度補償回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5862255U JPS5862255U (ja) | 1983-04-26 |
| JPH0210446Y2 true JPH0210446Y2 (ja) | 1990-03-15 |
Family
ID=29948889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15634581U Granted JPS5862255U (ja) | 1981-10-22 | 1981-10-22 | 水分計用温度補償回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5862255U (ja) |
-
1981
- 1981-10-22 JP JP15634581U patent/JPS5862255U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5862255U (ja) | 1983-04-26 |
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