JPH02105241A - メモリ故障検出回路 - Google Patents

メモリ故障検出回路

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JPH02105241A
JPH02105241A JP63258608A JP25860888A JPH02105241A JP H02105241 A JPH02105241 A JP H02105241A JP 63258608 A JP63258608 A JP 63258608A JP 25860888 A JP25860888 A JP 25860888A JP H02105241 A JPH02105241 A JP H02105241A
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JP
Japan
Prior art keywords
data
memory
addition
failure detection
circuits
Prior art date
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Pending
Application number
JP63258608A
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English (en)
Inventor
Hachiro Sawada
八郎 澤田
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH02105241A publication Critical patent/JPH02105241A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置などに用いら九るメモリの故障検
出回路に関し、特に大容量のメモリを短時間に調べるメ
モリ故障検出回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、メモリの故障検出は、メモリにデータを書き込み
、そのデータを読み出した時に書き込まれたデータと同
一かどうかを調べることにより行われているが、データ
の書き込み、読み出しおよび比較はすべて中央演算装置
(以下CPU)を介して行われていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上述のようにすべての処理をCPUによ
り行っていると、メモリ容量の増大に伴って故障検出に
必要な時間が長くなるという問題がある。特に、情報処
理装置の動作開始時にメモリの故障検出に割りあてられ
る時間は短かく、全部のメモリを調べられない場合も生
じ、情報処理装置の信頼性上問題となっていた。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の目的は前述した問題点を解決し、大容量のメモ
リを短時間で調べることの可能なメモリ故障検出回路を
提供することにある。
本発明では、上記目的達成のため、故障検出対象メモリ
に対する故障検出用データの書き込みおよび読み出しに
ダイレクト・メモリ・アクセス(DMA)を用いるとと
もに、比較時に任意の一定アドレス区間内のデータを加
算した結果と、あらかじめ用意しておいた加算結果の期
待値とを比較することにより、上記目的を達成している
。
〔実施例〕 次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。こ
こでは故障検出を行うメモリを2つのブロックに分けた
場合を示した。第1図において、CPU1はデータバス
18.アドレスバス19゜コントロールバス20を介し
て本発明のメモリ故障検出回路に必要なデータ等の設定
および動作開始などを制御している。
DMAコントロール2はDMAによるデータの読み書き
などの制御を行う。
第1のメモリブロック3は、アドレスバス19と直接接
続されているほかバス29.バッファ64およびバス3
0を介してデータバス18に接続されている。また、バ
ス29は加算回路7に、バス30は加算期待値レジスタ
9にそれぞれ接続されている。第2のメモリブロック4
も第1のメモリブロック3と同様な接続関係を有する。
本発明によるメモリ故障検出回路を用いる場合、故障検
出対象となるメモリを容量の小さなブロックに分割する
と故障検出に要する時間を短縮することができるが、そ
れに伴って回路のコストが増すため、メモリの分割数は
DMAコントローラ2の性能を考慮して決定することが
望ましい。
メモリコントロール回路14は、メモリ選択レジスタ1
3内のデータにより選択されたメモリブロックに対し書
き込み許可あるいは読み出し許可(リード/ライト信号
)21および22を与える。
どのメモリブロックを選択するか、書き込み、読み出し
許可の種別はメモリへのデータ書き込み時および読み出
し時にCPUIによって設定される。
故障検出用データ発生回路16はメモリブロックに書き
込む故障検出用データを出力する回路で、バス33.バ
ッファ15およびバス34を通じてデータバス18に接
続されている。
2つの加算回路7および8は、メモリブロック3および
4から読み出されたデータを1定数ずつ加算し、その結
果を出力するとともに、期待値判定回路11および12
0制御信号60および61を出力する。
2つの期待値判定回路11および12は、加算回路7お
よび8の加算結果と加算期待値レジスタ9および10の
値を加算回路7および8からの制御信号60および61
に従って比較し、異なっている場合に信号を出力する。
不良判定回路17は、2つの期待値判定回路11および
12の出力を受けて、どのメモリブロックに故障がある
かを示すデータを作成、保持する。
また、故障検出用データ発生回路16は第2図に示すよ
うに、データ列選択レジスタ40.アドレスカウンタ4
1.データROM42から構成されている。データRO
M42には故障検出率を上げるため数種類の故障検出用
データ列が書き込まれていて、その選択はデータ列選択
レジスタ40に設定するデータによって行う。データ列
選択レジスタ40は、メモリ故障検出実行前にCPU 
1から与えられるデータ列選択データ44を受け、内部
に持つテーブルを参照して選択されたデータ列の開始ア
ドレスを出力する。アドレスカウンタ41はこの開始ア
ドレスを受け、このアドレスにDMAコントローラ2か
ら与えられるアクノリッジ信号43の数を加算してデー
タROM42のリードアドレスを発生する。後述するア
クノリッジ信号43を計数するアドレスカウンタは、デ
ータ列がn個のデータから構成されているとすれば、n
進カウンタで構成されアクノリッジ信号43の数がnを
越えると0にもどる。一方、加算回路7は、第3図に示
すように、メモリブロックから読み出されたデータ56
をDMAコントローラ2からの書き込み信号55により
取り込む被加数レジスタ50と、■タイミング前の加算
結果を保持する加数レジスタ51と、この加数レジスタ
51と被加数レジスタ50の値を加算して出力する加算
器52と、CPUIからの加算データ数58を保持する
加算データ数レジスタ53と、DMAコントローラ2か
らのDMAアクノリッジ信号57をカウントし、加算デ
ータ数レジスタ53の値と比較して、一致した時に加数
しレジスタ50のリセット信号59および期待値判定回
路11の制御信号60を出力する加算コントロール回路
54とから構成されている。
次に、第1図のメモリ故障検出回路の動作を説明する。
本発明によるメモリ故障検出回路を含んだ情報処理装置
の電源が投入されると、CPU 1はメモリ故障検出処
理を含んだスタートアップ用プログラムを実行する。そ
のプログラムの中で、メモリ故障検出回路の初期設定が
行われるが、この初期設定はデータの設定と状態の設定
の2つに大別される。データ設定が行われるのはDMA
コントローラ2.メモリ選択レジスタ13および故障検
出用データ発生回路16中のデータ列選択レジスタ40
.加算回路7および8の加算データ数レジスタ53.加
算期待値レジスタ9および10でそれぞれ故障検出を行
うメモリブロックの番号、メモリブロックに書き込むデ
ータの個数、書き込む故障検出用データの種類、何番地
ごとに期待値の判定を行うか、データの加算期待値が設
定される。
また状態設定が行われるのは、バッファ64゜65およ
び15とメモリコントロール回路14で、バッファは全
てイネーブル状態に、メモリコントロール回路14は書
き込み許可出力状態にそれぞれ設定される。この初期設
定に必要なデータはCPUI外部の不揮発性メモリ(図
示せず)に保存されているが、書き換え可能でCPUI
がアクセス可能であればこれに限定されない。
初期設定が終了すると、CPUIはDMAコントローラ
2に対してメモリ故障検出の開始を指示する。この要求
を受けてDMAコントローラ2はCPU1に対してデー
タバス18.アドレスバス19、およびコントロールバ
ス20の占有要求をし、CPUIはその承認を与えると
DMAコントローラ2からバス使用権が返還されるまで
バスから切り離された状態となる。またメモリコントロ
ール回路14はメモリ選択レジスタ13からのメモリプ
ロ、り指定データに基づき、選択されたメモリブロック
に対して書き込み許可信号21および22を与える。本
実施例ではメモリブロック3および4を選択した場合を
示す。
バスの占有が許可されるとDMAコントローラ2は故障
検出用データ発生回路16中のデータROM42へ読み
出し信号45を与える。アドレスカウンタ41はデータ
列選択レジスタ40から与えられるデータ列の先頭アド
レスに、データROM42からデータが1つ読み出され
るごとにDMAコントローラ2から与えられるDMAア
クノリッジ信号43の数を加算して作ったアドレスをデ
ータROM42へ与える。
データROM42はアドレスおよび読み出し信号45を
受けて、故障検出用データを出力する。
この出力データはイネーブル状態のバッファ15を介し
てデータバス18へ送られ、バス30および32.イネ
ーブル状態のバッファ64および65゜バス29および
31を通じてメモリプロ、り3および4の同一アドレス
に同時に書き込まれる。このメモリアドレスはDMAコ
ントローラ2の内部にあるカウンタで作られ、アドレス
バス19を通じて各メモリブロック3および4に与えら
れる。
このような動作を、初期設定された回数繰り返し行うと
、DMAコントローラ2はバスの占有権をCPU1にも
どす。この時、メモリブロックにまだデータの書かれて
いない領域が存在する場合は、前述した書き込み動作を
繰り返し行う。この場合、書き込みアドレスは前回行っ
た書き込みの最終アドレスの次のアドレスから開始する
ようDMAコントローラ2にCPU1から設定を行う必
要がある。
DMAによる故障検出用データの書き込みが終了すると
、CPU1はバッファ64および65をディスイネーブ
ル状態に、メモリコントロール回路14を読み出し許可
信号出力状態にし、メモリ選択レジスタ13に読み出し
するメモリブロックを示すデータを設定した後、再びD
MAコントローラ2にDMAの開始を指示する。
メモリコントロール回路14は書き込み時に選択された
メモリブロックに対し、読み出し許可信号21および2
2を与える。故障検出用データ発生回路16にはデータ
書き込み時と同様、DMAコントローラ2から読み出し
信号45およびDMAアクノリッジ信号43が与えられ
、故障検出用データを出力する。故障検出用データの出
力と同時に各メモリブロック3および4からはデータが
読み出されるが、バッファ64および65がディスイネ
ーブル状態のため、メモリブロック3および4からのデ
ータは加算回路7および8へ入力される。加算回路7お
よび8は、メモリブロック3および4から読み出したデ
ータを加算データ数レジスタ53に設定された個数加算
し、その結果を期待値判定タイミング信号60とともに
出力する。
期待値判定回路11および12は、加算回路7および8
からの加算結果を、制御信号60および61により加算
期待値レジスタ9および10の値と比較し、一致しない
場合は不良判定回路17へ不一致信号25および26を
出力する。不良判定回路17はこれら不一致信号25お
よび26を受けて、故障のあったメモリブロック番号を
表わすデータを保持する。このデータは故障検出終了後
、CPU1の読み出し要求信号49によりデータバス1
8を通じてCPU1に与えられる。
第4図に示す表は、メモリ読み出しデータと加算回路の
出力結果による期待値判定回路における判定結果を示し
た表である。
第4図に示す例では、加算期待値レジスタ9にはFFF
Ehが、加算データ数設定レジスタ53には4h(=n
)が設定されている。期待値判定回路11によってメモ
リの不良判定が行われるのは、加算データ数設定レジス
タ53に設定された値ごとのメモリ・リード動作時であ
る。従って、第4図に示す場合、故障判定は、メモリブ
ロックのリード・アドレスが、0003h、0007h
。
000Bh・・・・・・の時打われる。
例としてメモリ・アドレス0005hにおいてメモリに
不良があるとする。この時加算器52の出力は、アドレ
スがoooohから0003hまでの読み出しデータの
加算値が期待値と等しいため、この領域の判定は正常と
なる。しかし、アドレス0004hから0007hにお
いては、0005hにおいてメモリ不良があるため加算
結果と期待値が一致せず期待値判定回路11によるメモ
リ故障判定は、不良となる。また、故障検出率向上のた
めに、故障検出用データの種類を変えて複数回メモリの
故障検出を行うことも可能である。
第5図は本発明の他の実施例を示すブロック図である。
第1図に示した実施例がメモリブロックと同数の加算回
路、加算期待値レジスタおよび期待値判定回路を使用し
、故障検出用データの書き込みの他、書き込んだデータ
と加算期待値との比較も、選択された全てのメモリブロ
ックに対して同時に行われるのに対し、この実施例では
、故障検出用データの書き込みは選択された全てのメモ
リプロ、りに対し同時に行うが、読み出しデータの加算
および加算結果と加算期待値との比較は、1つの加算回
路7.加算期待値レジスタ9および期待値判定回路11
を用いてメモリブロックごとに行っている。読み出し比
較は各メモリブロックごとに行うため、メモリ選択レジ
スタ13の値を比較処理ごとに設定しなおす必要がある
。また、本実施例においては第1図における不良判定回
路17を設けず、期待値判定回路11の不一致信号を直
接CPU1へ返す方法を採っているが、第1図と同様に
不良判定回路を設けてもよいことは明らかである。
さらに、本実施例において、メモリブロックの一種とし
て、ROM5が接続されている。ROM5の不良判定は
読み出し比較の処理のみで行うことができる他は、他の
メモリプロ、り3および4と同様に扱うことができるが
、ROM5内のデータは一定パターンを有するわけでは
ないので、加。
算期待値にはROM5内の全データの加算結果を設定し
、加算結果との比較は1回のみ行われる。
〔発明の効果〕
以上の様に、本発明のメモリ故障検出回路は、DMAコ
ントローラを用いることで、故障検出対象となるメモリ
・ブロックに対してDMA転送を行い故障検出用データ
の書き込みを高速に実行している。また、メモリに書き
込まれたデータの読み出しについてもDMA転送を行い
、高速な故障検出を実行している。
さらに大容量のメモリに対する故障検出においては、メ
モリを複数のメモリ・ブロックに分割し、複数のメモリ
・ブロックに同時に故障検出用データを書き込むこと、
また、すべてのメモリに対して、書込まれたデータと読
み出されたデータを比較するのではなく、ある特定の個
数のメモリ・データを加算し、その加算結果とその期待
値を判定することにより、メモリ故障検出の時間を速め
ることを実現している。
さらに、メモリに書き込まれたデータの判定においても
各メモリ・ブロックごとに加算回路と加算期待値レジス
タと期待値判定回路を付加することにより、−回のDM
A転送で複数のメモリ・ブロックの故障検出が可能とな
り、−層の高速化を図ることができる。
従って、ワークステーション等、装置の電源投入後の初
期処理としてメモリの故障検出機能を必要とし、しかも
そのメモリ故障検出処理を短時間で実行する必要がある
ような装置、あるいは各メモリ・ブロックに付加される
回路が小規模であり低コストであるため、増設メモリボ
ードの様な大容量のメモリボードのメモリ故障検出回路
に適用した場合、その効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図、第2図
はパターン・データ発生回路の例を示すブロック図、第
3図は加算回路の例を示すプロ、ツタ図、第4図は不良
検出の原理を示す表、第5図は本発明の別の実施例を示
すブロック図である。 図において 1・・・・・・CPU、2・・・・・・DMAコントロ
ーラ、3.4・・・・・・メモリ・ブロック、5・・・
・・・ROM。 7.8・・・・・・加算回路、9,10・・・・・・加
算期待値レジスタ、11.12・・・・・・期待値判定
回路、13・・・・・・メモリ選択レジスタ、14・・
・・・・メモリコントロール回路、15,64,65・
・・・・・バッファ、16・・・・・・故障検出用デー
タ発生回路、17・・・・・・不良判定回路、18・・
・・・・データバス、19・・・・・・アドレスバス、
20・・・・・・フントロールバス、21.22・・・
・・・リード/ライト信号、25.26・・・・・・不
一致信号、29〜34・・・・・・バス、40・・・・
・・データ列選択レジスタ、41・・・・・・アドレス
カウンタ、42・・・・・・データROM、43・・・
・・・アクノリッジ信号、44・・・・・・データ列選
択データ、45.49・・・・・・読み出し信号、5・
・・・・・被加数レジスタ、51・・・・・・加数レジ
スタ、52・・・・・・加算器、53・・・・・・加算
データ数レジスタ、54・・・・・・加算器コントロー
ル回路、55・・・・・・書き込み信号、56・・・・
・・読み出しデータ、58・・・・・・加算データ数、
59・・・・・・リセット信号、60.61・・・・・
・制御信号。 代理人 弁理士  内 原   晋 扁4目

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)中央処理装置(CPU)と、このCPUの有する
    バスに接続された複数のメモリ・ブロックを含むシステ
    ムにおける、前記メモリ・ブロックの故障検出を行うメ
    モリ故障検出回路が故障検出用のデータを発生するデー
    タ発生手段と、前記データを前記複数のメモリ・ブロッ
    クのうち、任意から複数のメモリ・ブロックに対し同時
    に書き込みを行う書き込み手段と、前記データの書き込
    まれた前記複数のメモリ・ブロックから、1つのメモリ
    ・ブロックごとに読み出す読み出し手段と読み出された
    前記データを加算する加算手段と、この加算結果とあら
    かじめ設定した期待値とを一定周期で比較し、一致しな
    い場合は不良検出信号を出力する比較手段と、前記一定
    周期で前記加算手段をリセットするリセット手段とから
    構成されることを特徴とするメモリ故障検出回路
  2. (2)前記加算手段、前記比較手段、前記リセット手段
    をそれぞれ前記複数のメモリ・ブロックごとに有し、前
    記読み出し手段が前記複数のメモリ・ブロックから各メ
    モリ・ブロック同時に読み出しを行うことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載のメモリ故障検出回路。
JP63258608A 1988-10-13 1988-10-13 メモリ故障検出回路 Pending JPH02105241A (ja)

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JP63258608A JPH02105241A (ja) 1988-10-13 1988-10-13 メモリ故障検出回路

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JP63258608A JPH02105241A (ja) 1988-10-13 1988-10-13 メモリ故障検出回路

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JPH02105241A true JPH02105241A (ja) 1990-04-17

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JP63258608A Pending JPH02105241A (ja) 1988-10-13 1988-10-13 メモリ故障検出回路

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JP (1) JPH02105241A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100442383C (zh) * 2003-08-29 2008-12-10 株式会社东芝 半导体集成电路器件

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100442383C (zh) * 2003-08-29 2008-12-10 株式会社东芝 半导体集成电路器件

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