JPH0210524A - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
- Publication number
- JPH0210524A JPH0210524A JP63159311A JP15931188A JPH0210524A JP H0210524 A JPH0210524 A JP H0210524A JP 63159311 A JP63159311 A JP 63159311A JP 15931188 A JP15931188 A JP 15931188A JP H0210524 A JPH0210524 A JP H0210524A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- light
- output
- current value
- recording medium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光を用いて情報の記録再生を行う光記録に用
いる光ヘッド装置に関するものである。
いる光ヘッド装置に関するものである。
光記録においては、光源からの出射光を微小スポットと
して光記録媒体上に照射して情報を記録し、また微弱光
を照射して反射率の変化より情報を検出する光ヘッド装
置を用いている。記録媒体としては、ディスク形状の基
板の表面に記録層を形成し、スパイラル状あるいは同心
円状のトランクを設けたものが主として使用されている
。
して光記録媒体上に照射して情報を記録し、また微弱光
を照射して反射率の変化より情報を検出する光ヘッド装
置を用いている。記録媒体としては、ディスク形状の基
板の表面に記録層を形成し、スパイラル状あるいは同心
円状のトランクを設けたものが主として使用されている
。
このような光ヘッド装置を用いて記録媒体に情報の記録
を行うには、まず記録トランクを一度再生して、異常な
反射率の変化、つまり記録媒体に欠陥の無いことを確認
してから記録を行っている。
を行うには、まず記録トランクを一度再生して、異常な
反射率の変化、つまり記録媒体に欠陥の無いことを確認
してから記録を行っている。
従来の光ヘッド装置では、このような記録媒体欠陥の検
出には、電気的な回路を使用している。第４図はその構
成例であり、記録媒体からの反射光量を検出する光検出
器１からの出力をコンパレータ９に入力して異常な光量
変化が検出されたとき、フリップフロップ１０をオン状
態とする。記録トラツクをスキャンした後に、フリップ
フロップ１ｏがオンになっていれば、そのトラックには
欠陥が生じていることがわかる。
出には、電気的な回路を使用している。第４図はその構
成例であり、記録媒体からの反射光量を検出する光検出
器１からの出力をコンパレータ９に入力して異常な光量
変化が検出されたとき、フリップフロップ１０をオン状
態とする。記録トラツクをスキャンした後に、フリップ
フロップ１ｏがオンになっていれば、そのトラックには
欠陥が生じていることがわかる。
上記のように情報の記録に際し記録媒体の欠陥を検出す
るために、従来は電気回路を構成し付加しなければなら
ないという問題点がある。
るために、従来は電気回路を構成し付加しなければなら
ないという問題点がある。
本発明の目的は、このような問題点を生じることなく容
易にトラックの欠陥検出をすることが可能な光ヘッド装
置を提供することにある。
易にトラックの欠陥検出をすることが可能な光ヘッド装
置を提供することにある。
本発明は、光源と、この光源からの出射光ビームを集光
レンズにより記録媒体上に微小スポットとして集光し、
その集光点からの反射光を前記光源に戻す光学系を有す
る光ヘッド装置において、前記光源として、或る注入電
流値によって光出力が不連続に変化し、光出力が増加す
る方向に不連続に変化する注入電流値と光出力が減小す
る方向に不連続に変化する注入電流値とが異なるヒステ
リシス特性を示し、かつ外部からの戻り光にょって前記
注入電流値が変化する半導体レーザを用い、 この半導体レーザの動作点をヒステリシスループ内に設
定してあることを特徴としている。
レンズにより記録媒体上に微小スポットとして集光し、
その集光点からの反射光を前記光源に戻す光学系を有す
る光ヘッド装置において、前記光源として、或る注入電
流値によって光出力が不連続に変化し、光出力が増加す
る方向に不連続に変化する注入電流値と光出力が減小す
る方向に不連続に変化する注入電流値とが異なるヒステ
リシス特性を示し、かつ外部からの戻り光にょって前記
注入電流値が変化する半導体レーザを用い、 この半導体レーザの動作点をヒステリシスループ内に設
定してあることを特徴としている。
記録媒体に欠陥があると、その反射率の変化により半導
体レーザへの戻り光の光量が増大あるいは減小する。そ
の結果、動作点が移行し、戻り光の光量が元に復帰して
も、その動作点は維持される０反射率増大の場合には半
導体レーザの光出力は低出力から高出力に移行し、反射
率減小の場合には半導体レーザの光出力は高出力から低
出力に移行する。したがって、半導体レーザの出力をモ
ニタすることによって、記録媒体の欠陥を検出すること
が可能となる。
体レーザへの戻り光の光量が増大あるいは減小する。そ
の結果、動作点が移行し、戻り光の光量が元に復帰して
も、その動作点は維持される０反射率増大の場合には半
導体レーザの光出力は低出力から高出力に移行し、反射
率減小の場合には半導体レーザの光出力は高出力から低
出力に移行する。したがって、半導体レーザの出力をモ
ニタすることによって、記録媒体の欠陥を検出すること
が可能となる。
第１図に本発明の一実施例を示す。この光ヘッド装置は
、或る注入電流値によって光出力が不連続に変化し、光
出力が増加する方向に不連続に変化する注入電流値と光
出力が減小する方向に不連続に変化する注入電流値とが
異なるヒステリシス特性を示し、かつ外部からの戻り光
によって前記注入電流値が変化する半導体レーザ２と、
この半導体レーザの裏面に設けられ、半導体レーザ２の
出力をモニタする光検出器１と、半導体レーザ２からの
出射光ビームを記録媒体４上に微小スポットとして集光
し、その集光点からの反射光を半導体レーザ２に戻す集
光レンズ３とを有している。
、或る注入電流値によって光出力が不連続に変化し、光
出力が増加する方向に不連続に変化する注入電流値と光
出力が減小する方向に不連続に変化する注入電流値とが
異なるヒステリシス特性を示し、かつ外部からの戻り光
によって前記注入電流値が変化する半導体レーザ２と、
この半導体レーザの裏面に設けられ、半導体レーザ２の
出力をモニタする光検出器１と、半導体レーザ２からの
出射光ビームを記録媒体４上に微小スポットとして集光
し、その集光点からの反射光を半導体レーザ２に戻す集
光レンズ３とを有している。
半導体レーザ２としては、例えば第２図に示すような共
振器長方向で片側の電極を分割して励起領域５と吸収領
域６を設けたようなタンデム電極形の半導体レーザを用
いる。この半導体レーザは、第３図に示すように、注入
電流と光出力の関係がヒステリシスを描く。すなわち、
特定の注入電流値によって光出力が不連続に変化し、こ
の特定の注入電流値が光出力を増加する方向と減小する
方向とでは異なる特性を示す、また外部からの戻り光量
が増すとヒステリシスループが実線から破線のように変
化する。
振器長方向で片側の電極を分割して励起領域５と吸収領
域６を設けたようなタンデム電極形の半導体レーザを用
いる。この半導体レーザは、第３図に示すように、注入
電流と光出力の関係がヒステリシスを描く。すなわち、
特定の注入電流値によって光出力が不連続に変化し、こ
の特定の注入電流値が光出力を増加する方向と減小する
方向とでは異なる特性を示す、また外部からの戻り光量
が増すとヒステリシスループが実線から破線のように変
化する。
次に、本実施例における記録媒体欠陥検出動作を説明す
る。
る。
半導体レーザ２は、第３図に示すヒステリシスループに
おいて動作点をＰ７に設定し、微弱光を出射させる。半
導体レーザ２からの出射光は集光レンズ３によって記録
媒体４上に集光され、その集光点からの反射光は逆の経
路で半導体レーザ２に戻る。記録媒体４に欠陥があり異
常な反射率増大があれば、戻り光量が増加するので動作
点Ｐ１７に状態が変わり、反射率が元に戻ってもこの状
態は維持される。
おいて動作点をＰ７に設定し、微弱光を出射させる。半
導体レーザ２からの出射光は集光レンズ３によって記録
媒体４上に集光され、その集光点からの反射光は逆の経
路で半導体レーザ２に戻る。記録媒体４に欠陥があり異
常な反射率増大があれば、戻り光量が増加するので動作
点Ｐ１７に状態が変わり、反射率が元に戻ってもこの状
態は維持される。
光検出器ｌは、半導体レーザ２の裏面で出力をモニタし
ており、光出力の増加により反射率を増大させる欠陥が
記録媒体４にあることがわかる。
ており、光出力の増加により反射率を増大させる欠陥が
記録媒体４にあることがわかる。
また、反射率を減小させるような欠陥を検出する場合に
は、動作点をＰ８としておけば戻り光量の減小で動作点
Ｐ１Ｂに状態が移行し、反射率が元に戻ってもこの状態
は維持される。光出力の減小は、光検出器ｌにより検出
され、記録媒体４に欠陥があることがわかる。
は、動作点をＰ８としておけば戻り光量の減小で動作点
Ｐ１Ｂに状態が移行し、反射率が元に戻ってもこの状態
は維持される。光出力の減小は、光検出器ｌにより検出
され、記録媒体４に欠陥があることがわかる。
以上の実施例では、半導体レーザ２の光出力の変化を半
導体レーザ２の裏面に設けた光検出器で行っているが、
第２図に示すように半導体レーザ２の吸収領域６に接続
した抵抗１１に流れる電流値をモニタしてもよい。
導体レーザ２の裏面に設けた光検出器で行っているが、
第２図に示すように半導体レーザ２の吸収領域６に接続
した抵抗１１に流れる電流値をモニタしてもよい。
本発明によれば、付加的な電気回路を用いることなく、
光ヘッド装置自体で容易に記録媒体の欠陥の検出をする
ことが可能となる。
光ヘッド装置自体で容易に記録媒体の欠陥の検出をする
ことが可能となる。
第１図は本発明の一実施例を示す図、
第２図は本発明に用いる半導体レーザの構成を示す図、
第３図は半導体レーザのヒステリシス特性を示す図、
第４図は従来の欠陥検出用回路を示す図である。
１・・・・・光検出器
２・・・・・半導体レーザ
３・・・・・集光レンズ
４・・・・・記録媒体
５・・・・・励起領域
６ ・
９ ・
１０・
１１・
・吸収領域
・コンパレータ
・フリツプフロツプ
・抵抗
Claims (1)
- （１）光源と、この光源からの出射光ビームを集光レン
ズにより記録媒体上に微小スポットとして集光し、その
集光点からの反射光を前記光源に戻す光学系を有する光
ヘッド装置において、 前記光源として、或る注入電流値によって光出力が不連
続に変化し、光出力が増加する方向に不連続に変化する
注入電流値と光出力が減小する方向に不連続に変化する
注入電流値とが異なるヒステリシス特性を示し、かつ外
部からの戻り光によって前記注入電流値が変化する半導
体レーザを用い、 この半導体レーザの動作点をヒステリシスループ内に設
定してあることを特徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63159311A JPH0210524A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63159311A JPH0210524A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 光ヘッド装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0210524A true JPH0210524A (ja) | 1990-01-16 |
Family
ID=15691027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63159311A Pending JPH0210524A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0210524A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7339870B2 (en) | 2003-12-25 | 2008-03-04 | Hitachi, Ltd. | Optical disk apparatus and data reproducing method |
| DE112020001208T5 (de) | 2019-03-11 | 2021-11-25 | Livedo Corporation | Gefalteter absorbierender Artikel und Einzelverpackung für absorbierenden Artikel |
| DE112020001207T5 (de) | 2019-03-11 | 2021-11-25 | Livedo Corporation | Absorbierender Artikel |
-
1988
- 1988-06-29 JP JP63159311A patent/JPH0210524A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7339870B2 (en) | 2003-12-25 | 2008-03-04 | Hitachi, Ltd. | Optical disk apparatus and data reproducing method |
| US7724625B2 (en) | 2003-12-25 | 2010-05-25 | Hitachi, Ltd. | Optical disk apparatus and data reproducing method |
| DE112020001208T5 (de) | 2019-03-11 | 2021-11-25 | Livedo Corporation | Gefalteter absorbierender Artikel und Einzelverpackung für absorbierenden Artikel |
| DE112020001207T5 (de) | 2019-03-11 | 2021-11-25 | Livedo Corporation | Absorbierender Artikel |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR0185950B1 (ko) | 레이저다이오드의 광출력모니터링패케지 | |
| JP2602493B2 (ja) | 光学的データ記録装置 | |
| JPH0210524A (ja) | 光ヘッド装置 | |
| KR100366870B1 (ko) | 광학 헤드와 광학 헤드의 광원 출력 모니터링 방법 | |
| JP2000312022A (ja) | 受光素子及びその駆動方法 | |
| JPH0810777B2 (ja) | レ−ザの寿命判定方法 | |
| JP2003059083A (ja) | 光学ヘッドおよび光ディスク再生装置 | |
| JPH03112184A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
| JPH0689453A (ja) | 光ディスク記録装置 | |
| JPH0210528A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JP2914182B2 (ja) | 光ディスク装置のトラック飛び検出回路 | |
| JP2002319699A (ja) | 光学装置 | |
| JP2000155971A (ja) | 光学的情報記録再生装置の光源発光パワー制御回路 | |
| JP2002157769A (ja) | 情報記録再生装置 | |
| JP3066533B2 (ja) | 光学的情報記録再生装置 | |
| JPH0395730A (ja) | 光学式ディスク書込読取装置のフォーカスロック検出回路 | |
| JP2005190526A (ja) | 光ディスク装置及びデータ再生方法 | |
| JPS63850B2 (ja) | ||
| JPH03116436A (ja) | 情報記録装置 | |
| JPS61158080A (ja) | 光学式情報記録再生装置 | |
| JPH05314529A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPS6329331A (ja) | レ−ザの高周波重畳動作確認回路 | |
| JP2000251415A (ja) | サンプリング装置 | |
| JPH02270142A (ja) | 光学式ヘツド装置 | |
| JPS60124034A (ja) | レ−ザ駆動回路 |