JPH02107230A - Mr装置のうず電流補償方法とそのデバイス - Google Patents

Mr装置のうず電流補償方法とそのデバイス

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JPH02107230A
JPH02107230A JP1228444A JP22844489A JPH02107230A JP H02107230 A JPH02107230 A JP H02107230A JP 1228444 A JP1228444 A JP 1228444A JP 22844489 A JP22844489 A JP 22844489A JP H02107230 A JPH02107230 A JP H02107230A
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gradient
signal
magnetic field
correction
eddy current
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JP1228444A
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Vaals Johannes J Van
ヨハネス ヤコブス ファン ファールス
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Koninklijke Philips NV
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Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は磁気共鳴装置におけるうず電流効果を補償する
方法に関連し、ここでうず電流補償信号は補償されない
勾配制御信号(gradient controlsi
gnal)から導かれ、また本発明は勾配制御信号によ
るうず電流補償の手段を具える装置にも関連している。
(背景技術) この種の方法と装置は欧州特許第215547号から既
知である。この文献はうず電流補償の方法を記載し、こ
こで補償されない勾配制御を介して発生された勾配磁場
(gradtent field)が測定され、かつ所
望の勾配磁場と比較され、勾配磁場制御信号を補償する
ために上記の比較から1つの信号が導かれている。この
方法を遂行するために、装置中に付加測定コイルを含む
ことが必要であるか、あるいはイメージングに使用すべ
き勾配コイルが上記の測定の実行に適していなければな
らない。
しかし、付加測定コイルそれ自身はうず電流の挙動に効
果を有し、かつ装置に正確に位置決めされなくてはなら
ず、かつ通常の勾配コイルは比較的不正確な測定結果を
生じる。さらに、所望の勾配磁場からの偏移がまた測定
され、一方、共鳴信号の診断測定(diagnosti
c measurment)のその結果は本来的重要性
を持っている。
(発明の開示) 本発明の目的はこれらの欠点を除去することである。こ
れを遂行するために、本発明により説明された種類の方
法は、補正信号が装置の測定空間(weasurmen
t 5pace)内の関連容積(volume ofi
nterest)の空間を占有する測定対象からのrf
共鳴信号の測定により決定され、かつこれらの信号と勾
配磁場変化(gradient field vari
ation)の存在しない時に実行された対応する測定
から得られた共鳴信号との比較により決定されることを
特徴としている。
本発明によると、補正信号は補正されない勾配制御信号
により励起された測定対象で測定されたrf共鳴信号と
通常のrfパルスから導かれ、かつ検査すべき対象によ
り後の段で占有すべき関連容積の少なくとも大きな部分
を占有するから、補正すべき偏移の直接の測度(mea
sure)である補正信号が得られる。本発明による方
法を実行するために測定コイルは装置の中に含まれる必
要はない。後の段で検査する対象により置換すべき測定
対象を導入することのみが必要である。適当な測定に対
して、この対象を正確に位置決めする必要はない。
本発明による装置は測定された補正信号を勾配制御の補
償制御信号に変換する電子回路とそして多分メモリを具
えるであろう。補正信号の大きさと時定数が調整可能で
ある回路を使用することが好ましい。この種のスイッチ
ング回路は例えば欧州特許第215547号と第164
199号から既知である。
補正信号がまたrf共鳴信号から導かれる方法は米国特
許第4.698.591号から既知であることに注意す
べきである。しかし、この方法は装置内の中心に位置決
めされない小さい測定対象を用いている。それ故、うず
電流効果は検査すべき対象によって占有される装置内の
空間で適当に補償されるかは確かではない。さらに、印
加された勾配磁場の磁場の方向以外の方向のうず電流効
果は補正されず、従って補正は余り完全ではない。位相
測定と処理により実行された信号解析は高次の補正と交
差補正(cross−correction)を許容し
ない。しかし、本発明によると、うず電流の挙動(be
haviour)の測定の後で後者の補正がまた正確に
計算される。
本発明による好ましい変形では、補償されないうず電流
の挙動はその領域で発生されたrf共鳴パルスを用いて
測定対象の領域の一時的勾配磁場遷移(tempora
l gradient ffeld transiti
on)の減衰の挙動の測定によって測定されている。こ
れに関して、勾配磁場の活性化ならびに非活性化(de
−activation)は容易であり、全測定対象か
らの共鳴信号が信号に効果的に寄与している非活性化の
後の測定は魅力的であろう。
自由誘導減衰の測定、あるいはrf共鳴パルスによって
生成された共鳴信号のエコー測定により、イメージング
を妨害するうず電流効果の直接測定が得られる。これら
の信号から、例えば勾配磁場の非活性化の後の期間tで
、調整された値より少ない値までうず電流効果を減少す
るよう要求された付加連続勾配磁場(addition
al continuous gradient ff
eld)の大きさが決定されることは注目に値する。
さらに好ましい変形において、測定されたうず電流効果
の解析の後で一連の制御信号が決定され、対応する値の
制御信号と減衰時間は単一制御信号を形成するよう結合
されることが好ましい。さらに、測定から補正信号はう
ず電流を生じる勾配パルスの方向とは異なる方向のうず
電流効果を導くことができる。たとえ使用された測定方
法のために、検出の一層の最適化がしばしば必要でな(
でも、補償勾配磁場制御信号のうず電流の挙動がまた引
き続いて決定され、かつその解析から勾配磁場の制御デ
バイスに供給する付加勾配磁場制御信号を導くことがで
きる。
本発明による磁気共鳴装置は、例えば定常磁場を発生す
る磁石系と、勾配磁場を発生するコイル系と、磁気共鳴
信号の励起および/または検出のrfコイル系、および
説明された方法を実行する手段を具える勾配コイル制御
のための制御デバイスを具えている。上記の手段が指数
的に減少する信号の大きさと時定数に適応できる電流制
御回路を具えることが好ましい。
本発明によるいくつかの好ましい実施例は図面を参照し
て今後詳細に説明されよう。
(実施例) 第1図に示された磁気共鳴装置は、定常均一磁場Hを発
生する磁石系2、磁気勾配磁場を発生する磁石系4、お
よび磁石系2と磁石系4それぞれの電源6および8とを
具えている。rf磁石コイル10はrf交番磁場を発生
するのに役立っており、この目的でそれはrf電源12
に接続されている。検査すべき対象あるいは測定対象1
3中のrf送信磁場により発生された磁気共鳴信号の検
出のためにrfコイルエ0がまた使用できる。この目的
でこのコイルは信号増幅器14に接続されている。信号
増幅器14は位相感応整流器(phase 5ensi
tive rectifier)16に接続され、これ
は中央制御デバイス18で制御されている。中央制御デ
バイス18はまたrf電源12の変調器20、勾配コイ
ルの電源8および表示用モニター22を制御している。
rf発振器24は変調器20ならびに測定信号を処理す
る位相感応整流器16を制御している。たとえあるにし
ても、主磁場の磁石コイル2の冷却のために、冷却ダク
ト27を具える冷却デバイス26が備えられている。そ
のような冷却デバイスは抵抗コイル(resfstiv
e coil)の水冷却系として構成されており、ある
いは高磁場強度の場合には例えば超伝導磁石コイルの液
体窒素冷却系および/または液体ヘリウム冷却系が構成
されている。磁石系2と4の中に配設されている送信器
コイル10は測定空間28を囲み、これは医療診断測定
用装置で検査すべき患者を配置するのに十分な空間であ
る。このように、測定空間28において、均一磁場Hと
、対象のスライスを選択する磁場と、空間的に均一なr
f交番磁場が発生できる。
rfコイル10は送信器コイルと測定コイルの機能を結
合しているものと仮定されている。代案として、例えば
測定コイルとして作用する面コイル(surfacec
oil)のように別々のコイルがこの2つの機能のため
に使用できる。
定常磁場のコイル系2はこの場合に6つの等半径コイル
(isoradial coil)29により形成され
、これは冷却デバイス26からそこに導入できる液体窒
素あるいは液体ヘリウムのデユワ−容器(dewarv
essel)30中の超伝導コイルとして組み込まれて
いる。冷却デバイスは単に液体窒素あるいは液体ヘリウ
ムの蓄積容器あるいはその液化装置であり得ることに注
意すべきである。後者の場合、デユワ−容器で蒸発され
た液体は密閉冷却系が得られるように連続的に冷却され
る。たとえあるにしても、ヘリウムデユワ−容器の周り
に、例えば液体窒素で充填されたケーシングが備えられ
るのが通例である。
勾配コイル4を支持する勾配コイル巻型(gradi−
ent coil former)32が主磁場のコイ
ル内に配設され、それ故、通常の態様ではデユワ−容器
内に配設されている。X勾配コイル34、Y勾配コイル
36およびZ勾配コイル38が実例として示されている
。
2勾配コイルは例えば全測定空間の周りを囲むリングを
形成し、XコイルとYコイルは鼓状コイル(saddl
e coil)として構成されている。勾配コイル系の
一例は例えば欧州特許第164199号に記載されてい
る。
そのような装置が検査すべき患者の影像(image)
を作成するために使用される場合、勾配磁場の活性化お
よび非活性化により生起するうず電流効果により歪みが
起こる。うず電流は例えば容器30のようなデユワ−容
器の壁でrfヅールドに起こり、それは通常そのような
装置に含まれている等々である。うず電流は勾配磁場の
出現あるいは消滅を妨げ、高速測定プロセスを妨げる。
と言うのは、最適な歪みの無い影像は勾配磁場が所望の
形を取る場合にのみ実現できるからである。分光学的検
査の間に、そのようなぼけ(blurring)が起こ
り、測定されたスペクトルの診断値は失われる。もし測
定が所望の勾配磁場の印加の後の比較的長い期間にのみ
起こり得るならば、信号対雑音比の減少と解像度の減少
が受は入れられるべきである。これは検査の著しい遅延
であるのみならず、移動アーティファクト(movem
ent artefacts)のような別の欠陥の生じ
る危険性が比較的高くなり、かつコントラストの損失も
起こる。
本発明によると、自由誘導減衰あるいはエコー信号は測
定対象13から測定され、これは例えば磁気共鳴に敏感
な材料からなり、かつ中空あるいはそうでない球であり
、また例えばX勾配磁場のような勾配磁場の非活性化の
後の異なる時点で測定される。信号の変化、すなわちこ
の場合にはその時間に依存する減衰は、どんな勾配磁場
も活性化されない場合である理想的変化と比較される。
このようにして得られたデータから補正信号が導かれ、
これは上記のエラーを補償するように勾配コイルを制御
するために必要なものである。そのような補償が実現さ
れる場合、補正信号それ自身は再び妨害うず電流を導入
するであろう。これは補正信号が容易に公称勾配制御信
号のほぼ40%になることが見いだされるからである。
所望なら、このように導入されたうず電流効果は再び測
定でき、かつこの測定から制御のために補正信号が再び
導ける。このプロセスは所望する限り長く継続されよう
。大きさと時定数について異なる指数的変化をこのよう
に示す補正信号のシリースは適当なスイッチング回路を
用いて既知の態様で実現できる。
うず電流効果の適当な測定と制御方法について、米国特
許第4,698.591号、特に第4a図が参照される
。この目的で使用するrfパルスは必ずしも90゜パル
スである必要がないことに注意すべきである。
自由誘導減衰信号の解析が第4b、5.6図を参照して
そこに記載されている。位相測定は自由誘導減衰信号に
基づいて実行され、それ自身は正確に実行できるが、し
かし本発明の目的、すなわち完全な補償の実現にはこの
方法は余りにも制限が多い。指数的制御信号を実現する
制御デバイスは本特許出願の第2a図に対応する第8図
を参照して記載されているが、しかしそれは減衰時間と
振幅の独立な調整を許容しない。
例えば、測定が勾配磁場遷移の後で例えばX方向の勾配
磁場の非活性化を起こす場合、まず第1に補正信号がX
勾配コイルの制御のために決定される。もし不適当な補
償が得られるようなら、補正信号はまたY勾配磁場とZ
勾配磁場に対して決定でき、これらの磁場は関連するコ
イルの電源に印加されるものである。米国特許筒4,6
98.591号に提案された位相測定は高次の補正と交
差補正を許容しない。
このようにして決定できる補正信号の変形について、関
連する大きさと時定数を有する信号は経済性の理由で結
合でき、かつ信号スイッチング回路が信号のこれらの各
パケットに使用できる。
第2a図は補正回路の回路線図の一例を示し、これによ
り補正信号は勾配コイル系の電源に印加できる。この回
路線図は電源抵抗器40に並列に接続されている一連の
フィルタ回路を示し、各フィルタ回路はキャパシタ42
、減衰時間を決定する可変抵抗器44、振幅を決定する
可変抵抗器46、固定抵抗器48、および演算増幅器5
0を具えている。このような指数的減衰回路に対して、
減衰値はRtCにより与えられ、ここでRtは抵抗器4
4の抵抗値であり、Cはキャパシタ42のキャパシタン
スである。補正信号の振幅は Ra    Rv Rmax    Rc により与えられ、ここでRaは抵抗器46の調整された
抵抗値であり、Rmaxはその最大抵抗値であり、Rv
は電源抵抗器40の抵抗値であり、そしてRcは抵抗器
48の抵抗値である。例えば、Rvは100にΩであり
、Raは10にΩの可変抵抗器であり、そしてRcは振
幅マージンに依存しかつ250から1000 kΩ、と
なっている。このように、生起する任意の減衰時間と振
幅に対してこの図面は補正回路52を含み、従って減衰
時間あるいは振幅に対応する補正回路は単一補正回路に
より発生できる。
補正回路の数が別の補正信号の所望の数に等しいこの回
路は、勾配制御デバイスの入力端子54(A)と出力端
子56(B)の間に接続されている。装置に配設された
測定対象に基づくうず電流効果の測定の後、そして測定
されたデータの解析の後、種々の回路の抵抗値は所望の
時定数と振幅に調整できる。別の勾配コイル系の電源の
制御のために、第2b図に示されたような回路が使用さ
れ、この回路は正補正のための端子60(C)と負補正
のための端子62(C)に接続され、第2a図に示され
たようなフィルタ回路Al−B1、一連の補正回路64
(この場合には、感度のために演算増幅器68によりブ
リッジされた一連の電源抵抗器66からなっている)、
および出力端子70(D)を具えている。この種の回路
は勾配磁場の各方向に実行すべきうず電流効果に基づく
補正を可能にしている。
第2c図は高次の補正信号、特に混合補正信号(mix
ed correction signal) 、、す
な゛わち制御された勾配磁場から偏った勾配磁場方位の
補正信号を実現する回路線図の一例を示している。これ
を達成するために、この回路は補正回路80からなって
いる。端子AとBを具える第2a図に示された回路と同
様に、端子CとDを持つ第2b図に示された回路と類似
する補正回路82、信号合算デバイス84、X勾配、Y
勾配、Z勾配入力信号の入力端子85、86.87、X
、Y、Z制御の出力補正信号のための出力端子88,8
9,90、および信号ZOあるいは別の制御信号のため
の端子91が具えられている。
自由選択(□p t 1ona l)であることを示す
ためにCD回路81′ と合算デバイス84’を具える
ループ92は破線により示されている。線形応答理論と
ラプラス変換を用いると、そのようなスイッチング回路
は結合コイルのモデルを基礎にして正確に規定できる。
多項式の項の数はうず電流の挙動の大きさと構造により
決定される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による方法を実行する手段を具える磁気
共鳴装置を示し、 第2a−c図はその部分を形成する調整可能な指数的制
御パルスの回路線図を示している。 2.4 ・・・磁石系あるいは勾配コイル6.8 ・・
・電源 10・・・rf(磁石)コイルあるいは送信器コイル1
2・・・rf電源     13・・・測定対象14・
・・信号増幅器   16・・・位相感応整流器18・
・・中央制御デバイス 20・・・変調器     22・・・モニタ24・・
・rf発振器    26・・・冷却デバイス27・・
・冷却ダクト28・・・測定空間29・・・等半径コイ
ル  30・・・デユワ−容器32・・・勾配コイル巻
型 34・・・X勾配コイル36・・・Y勾配コイル 
 38・・・ Z勾配コイル40・・・電源抵抗器  
 42・・・キャパシタ44.46・・・可変抵抗器 
48.49・・・固定抵抗器50.51・・・演算増幅
器 52・・・補正回路54・・・入力端子    5
6・・・出力端子60.62・・・端子    64・
・・補正回路66・・・電源抵抗器   68・・・演
算増幅器70・・・出力端子 80.82.82’  ・・・補正回路81′  ・・
・CD回路 84 、84 ’  ・・・合算デバイス85.86.
87・・・入力端子

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、補償されない勾配磁場変化の後で実行された測定か
    らうず電流補償信号が導かれる磁気共鳴装置でうず電流
    効果を補償する方法において、 補正信号は装置の測定空間内の関連容積の空間を占有す
    る測定対象からのrf共鳴信号の測定により決定され、
    かつこれらの信号と勾配磁場変化の存在しない時に実行
    された対応する測定から得られた共鳴信号との比較によ
    り決定されることを特徴とする方法。 2、勾配磁場遷移の後の異なる時点tで、自由誘導減衰
    からの減衰の挙動あるいは測定対象の領域で発生された
    rfパルスにより発生されたエコー信号を測定すること
    により補償されないうず電流の挙動が測定されることを
    特徴とする請求項1に記載の方法。 3、うず電流の挙動の測定より、勾配磁場遷移の後の所
    望の時点tで調整値以下の値にうず電流効果を減少する
    よう要求された付加連続勾配磁場の大きさが決定される
    ことを特徴とする請求項1あるいは2に記載の方法。 4、異なる対称性を有する勾配磁場の勾配磁場補正の補
    正信号が第1勾配磁場対称性に対する勾配磁場遷移のう
    ず電流の挙動の測定から導かれることを特徴とする請求
    項1から3のいずれか1つに記載の方法。 5、勾配磁場制御信号で補償されたうず電流から対応す
    る態様でうず電流の挙動が測定され、補償勾配磁場制御
    信号がそれに基づいて決定されることを特徴とする請求
    項1から4のいずれか1つに記載の方法。 6、定常磁場を発生する磁石系、勾配磁場を発生するコ
    イル系およびrfコイル系を具える磁気共鳴装置におい
    て、 勾配磁場の制御デバイスが請求項1から5のいずれか1
    つに記載の方法を実行する手段を具える装置。 7、勾配磁場の制御デバイスが初期値と時定数に関して
    指数的に減少する補正信号に適応できる電流制御要素を
    具えることを特徴とする請求項6に記載の磁気共鳴装置
    。 8、自由誘導減衰信号を測定する測定デバイス、これら
    の信号を指数的に減衰する補正信号に変換する信号処理
    デバイス、および上記の補正信号を発生するのに適して
    いるスイッチング回路を含むことを特徴とする請求項6
    あるいは7に記載の磁気共鳴装置。 9、信号処理デバイスが第1勾配磁場対称性に適用され
    た勾配磁場遷移から異なる対称性の勾配磁場の補正信号
    を計算する手段を具えることを特徴とする請求項8に記
    載の磁気共鳴装置。 10、信号処理デバイスが交差項と高次項を含む勾配磁
    場制御補正信号を決定する手段を具えることを特徴とす
    る請求項6から9のいずれか1つに記載の磁気共鳴装置
    。
JP1228444A 1988-09-08 1989-09-05 Mr装置のうず電流補償方法とそのデバイス Pending JPH02107230A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

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NL8802212A NL8802212A (nl) 1988-09-08 1988-09-08 Werkwijze en inrichting voor wervelstroomcompensatie in mr apparaten.
NL8802212 1988-09-08

Publications (1)

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JPH02107230A true JPH02107230A (ja) 1990-04-19

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US (1) US5025217A (ja)
EP (1) EP0361574A1 (ja)
JP (1) JPH02107230A (ja)
NL (1) NL8802212A (ja)

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