JPH02109500A - スピーカの周波数特性測定装置 - Google Patents
スピーカの周波数特性測定装置Info
- Publication number
- JPH02109500A JPH02109500A JP26262988A JP26262988A JPH02109500A JP H02109500 A JPH02109500 A JP H02109500A JP 26262988 A JP26262988 A JP 26262988A JP 26262988 A JP26262988 A JP 26262988A JP H02109500 A JPH02109500 A JP H02109500A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spectrum
- speaker
- signal
- fourier transform
- frequency
- Prior art date
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- Pending
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- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、スピーカの周波数特性を測定する装置に関
するものである。
するものである。
［従来の技術］
スピーカの周波数特性を測定する場合、従来は、ビート
フレケンシーオシレータの出力をスピーカに与え、スピ
ーカの出力音をマイクで拾って、レベルレコーダで記録
していた。すなわち、ビーｉ・フレケンシーオシレータ
の発振周波数を変化させて測定を行うものである。
フレケンシーオシレータの出力をスピーカに与え、スピ
ーカの出力音をマイクで拾って、レベルレコーダで記録
していた。すなわち、ビーｉ・フレケンシーオシレータ
の発振周波数を変化させて測定を行うものである。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、このような従来の測定では、レベルレコ
ーダの速度が遅いため、オシレータの発振周波数もそれ
に合わせて、遅く変化させなければならなかった。この
ため、信号を与えている時間が長くなり、大入力の測定
においては、スピーカコイルが焼切れてしまう等の問題
点があった。
ーダの速度が遅いため、オシレータの発振周波数もそれ
に合わせて、遅く変化させなければならなかった。この
ため、信号を与えている時間が長くなり、大入力の測定
においては、スピーカコイルが焼切れてしまう等の問題
点があった。
このことは、特に、高域用スピーカ（トイター）におい
て顕著であり、トイターでは、ＩＯＷ以上の人力を与え
て測定を行うことは極めて困難であった。
て顕著であり、トイターでは、ＩＯＷ以上の人力を与え
て測定を行うことは極めて困難であった。
この発明は、上記の問題を解決して、大入力の測定を迅
速に行うことのできる周波数特性測定装置を提供するこ
とを目的とする。
速に行うことのできる周波数特性測定装置を提供するこ
とを目的とする。
［課題を解決するための手段］
請求項１に係る測定装置の全体構成を第１図に示す。こ
の測定装置は、目的スペクトル発生手段２、目的スペク
トルを有する時間関数信号を発生する逆フーリエ変換手
段４、スピーカ６、スピーカ６からの出力音を電気信号
に変換するマイク８、電気信号を周波数スペクトルに分
析し応答スペクトルを得るフーリエ変換手段１０．応答
スペクトルを表示する出力手段１２を備えている。
の測定装置は、目的スペクトル発生手段２、目的スペク
トルを有する時間関数信号を発生する逆フーリエ変換手
段４、スピーカ６、スピーカ６からの出力音を電気信号
に変換するマイク８、電気信号を周波数スペクトルに分
析し応答スペクトルを得るフーリエ変換手段１０．応答
スペクトルを表示する出力手段１２を備えている。
請求項２に係る測定装置の全体構成を第２図に示す。こ
の測定装置は、周波数掃引信号を発生する信号発生手段
５０．所定の周波数帯域を通過させないフィルタ手段５
２、フィルタ手段５２の出力を受けるスピーカ６、スピ
ーカ６からの出力音を電気信号に変換するマイク８、電
気信号を周波数スペクトルに分析し応答スペクトルを得
るフーリエ変換手段１０、応答スペクトルを表示する出
力手段１２を備えている。
の測定装置は、周波数掃引信号を発生する信号発生手段
５０．所定の周波数帯域を通過させないフィルタ手段５
２、フィルタ手段５２の出力を受けるスピーカ６、スピ
ーカ６からの出力音を電気信号に変換するマイク８、電
気信号を周波数スペクトルに分析し応答スペクトルを得
るフーリエ変換手段１０、応答スペクトルを表示する出
力手段１２を備えている。
［作用コ
第１図において、目的スペクトル発生手段２により、測
定に必要とするスペクトル、例えば、低域がカットされ
たスペクトルが発生される。この目的スペクトルを受け
て、逆フーリエ変換手段４は、目的スペクトルを有する
時間関数信号を発生する。この時間関数信号は、スピー
カ６に与えられる。スピーカ６からの出力音は、マイク
８によって電気信号に変換される。フーリエ変換手段ｌ
Ｏは、この電気信号を周波数スペクトルに分析し、出力
手段１２はそれを表示する。
定に必要とするスペクトル、例えば、低域がカットされ
たスペクトルが発生される。この目的スペクトルを受け
て、逆フーリエ変換手段４は、目的スペクトルを有する
時間関数信号を発生する。この時間関数信号は、スピー
カ６に与えられる。スピーカ６からの出力音は、マイク
８によって電気信号に変換される。フーリエ変換手段ｌ
Ｏは、この電気信号を周波数スペクトルに分析し、出力
手段１２はそれを表示する。
また、第２図において、信号発生手段５０は、周波数掃
引した信号を発生する。フィルタ手段５２は、信号発生
手段５０からの出力を受けて、所定の周波数帯域の成分
（たとえば、低周波域）を通過させないものである。
引した信号を発生する。フィルタ手段５２は、信号発生
手段５０からの出力を受けて、所定の周波数帯域の成分
（たとえば、低周波域）を通過させないものである。
［実施例］
第３図に、この発明の一実施例による測定装置のハード
ウェア構成を示す。ＣＰＵ２２は、ＲＯＭ２０に格納さ
れたプログラムに従い、演算を行うと共に、各機器を制
御する。ＲＯＭ２０に記憶されたプログラムを、第４図
にフローチャートで示す。
ウェア構成を示す。ＣＰＵ２２は、ＲＯＭ２０に格納さ
れたプログラムに従い、演算を行うと共に、各機器を制
御する。ＲＯＭ２０に記憶されたプログラムを、第４図
にフローチャートで示す。
まず、ステップＳ、において、スピーカ６に与える測定
最大入力ＭＡＸを、キーボード４２がら入力する。次に
、ステップＳ、において、測定レンジを入力する。この
実施例においては、■２０００Ｈｚ〜２０ＫＨ２５■２
０Ｈｚ 〜２０ＫＨｚ、■２０Ｈｚ 〜２０ＫＨｚの３
つの測定レンジｔ−用意している。選択された測定レン
ジ、すなわち目標スペクトルが、ＣＲＴ３２に表示され
る（ステップＳ、）。ＣＰＵ２２は、逆フーリエ変換を
行い、この目標スペクトルを有する信号波形を演算する
。この実施例では、正弦波の信号波形を演算するように
している。ＣＰＵ２２は、この信号波形の演算を、ディ
ジタルデータの形式で演算し、ＲＡＭ２４に記憶する。
最大入力ＭＡＸを、キーボード４２がら入力する。次に
、ステップＳ、において、測定レンジを入力する。この
実施例においては、■２０００Ｈｚ〜２０ＫＨ２５■２
０Ｈｚ 〜２０ＫＨｚ、■２０Ｈｚ 〜２０ＫＨｚの３
つの測定レンジｔ−用意している。選択された測定レン
ジ、すなわち目標スペクトルが、ＣＲＴ３２に表示され
る（ステップＳ、）。ＣＰＵ２２は、逆フーリエ変換を
行い、この目標スペクトルを有する信号波形を演算する
。この実施例では、正弦波の信号波形を演算するように
している。ＣＰＵ２２は、この信号波形の演算を、ディ
ジタルデータの形式で演算し、ＲＡＭ２４に記憶する。
この実施例では、１０２４ポイントのデータを記憶する
ようにしている。
ようにしている。
次に、この波形データに基づき、仮測定を行う（ステッ
プＳＳ）。仮測定は、フーリエ変換手段である高速フー
リエ変換器３８の、アッテネータレベルを決めるために
行うものである。仮測定は、ＩＷのレベルにて行う。
プＳＳ）。仮測定は、フーリエ変換手段である高速フー
リエ変換器３８の、アッテネータレベルを決めるために
行うものである。仮測定は、ＩＷのレベルにて行う。
仮測定の後、本測定を行う。ＲＡＭ２４に記憶されてい
るディジタル波形データが、Ｄ／Ａ変換器２６において
、アナログ波形に変換される。この出力波形は、アンプ
２８を介して、スピーカ６に与えられる。まず、最初は
、ステップＳ、において入力された測定最大入力ＭＡＸ
がスピーカ６に与えられるように、アンプ２８のゲイン
がＣＰＵ２２により調整される。
るディジタル波形データが、Ｄ／Ａ変換器２６において
、アナログ波形に変換される。この出力波形は、アンプ
２８を介して、スピーカ６に与えられる。まず、最初は
、ステップＳ、において入力された測定最大入力ＭＡＸ
がスピーカ６に与えられるように、アンプ２８のゲイン
がＣＰＵ２２により調整される。
スピーカ６からの出力音は、マイク８、マイクアンプ３
４を介して、Ａ／Ｄ変換器３６に与えられて、ディジタ
ル信号に変換される。このディジタル信号は、ＦＦＴ３
８においてアナライズされ、応答スペクトルが演算され
る。ＣＰＵ２２は、この応答スペクトルを出力手段であ
るＣＲＴ３２に表示させる（ステップＳｔ）。
４を介して、Ａ／Ｄ変換器３６に与えられて、ディジタ
ル信号に変換される。このディジタル信号は、ＦＦＴ３
８においてアナライズされ、応答スペクトルが演算され
る。ＣＰＵ２２は、この応答スペクトルを出力手段であ
るＣＲＴ３２に表示させる（ステップＳｔ）。
次に、レベルを３ｄＢづつ下げて、同様の測定を８回行
う。
う。
最後に、各レベルにおける、応答スペクトルを出力手段
であるプリンタ３０から出力する。２０００Ｈｚ〜２０
ＫＨｚにおける測定結果を、第５図に示す。
であるプリンタ３０から出力する。２０００Ｈｚ〜２０
ＫＨｚにおける測定結果を、第５図に示す。
この実施例においては、 ２０００Ｈｚ〜２０ＫＨｚの
測定で２０ｍ５．２００Ｈｚ 〜２０ＫＨｚの測定で２
００ｍ５．２０Ｈｚ 〜２０ＫＨｚの測定で２０００ｍ
５で行うことができる。したがって、１００Ｗ以上の入
力による周波数特性も測定可能である。
測定で２０ｍ５．２００Ｈｚ 〜２０ＫＨｚの測定で２
００ｍ５．２０Ｈｚ 〜２０ＫＨｚの測定で２０００ｍ
５で行うことができる。したがって、１００Ｗ以上の入
力による周波数特性も測定可能である。
なお、他の実施例においては、２０Ｈｚ〜２０ＫＨｚの
周波数成分を有するスエブトサイン波（Ｓｗｅｐｔ ｓ
ｉｎ ｗａｖｅ）を、ＲＡＭ２４にディジタルデータと
して記憶しておき、ＣＰＵ２２の演算によって、２０〜
２００Ｈｚまたは２０〜２０００Ｈｚの周波数成分を取
除くようにしてもよい。
周波数成分を有するスエブトサイン波（Ｓｗｅｐｔ ｓ
ｉｎ ｗａｖｅ）を、ＲＡＭ２４にディジタルデータと
して記憶しておき、ＣＰＵ２２の演算によって、２０〜
２００Ｈｚまたは２０〜２０００Ｈｚの周波数成分を取
除くようにしてもよい。
また、上記の実施例では、第１図、第２図に示す機能を
、マイクロプロセッサを用いてソフトウェアにより実現
したが、論理回路等のハードウェアのみによって構成し
てもよい。
、マイクロプロセッサを用いてソフトウェアにより実現
したが、論理回路等のハードウェアのみによって構成し
てもよい。
［発明の効果］
請求項１、請求項２に係る測定装置は、フーリエ変換手
段により応答スペクトルを得るようにしているので、従
来の装置より測定を迅速に行うことができる。したがっ
て、大入力の測定が可能な、測定装置を提供することが
できる。
段により応答スペクトルを得るようにしているので、従
来の装置より測定を迅速に行うことができる。したがっ
て、大入力の測定が可能な、測定装置を提供することが
できる。
また、目的スペクトルもしくはフィルタ手段により、帯
域制限を掛けているので、不要なスペクトル成分がスピ
ーカに与えられることがなく、正確な測定を行うことが
できる。
域制限を掛けているので、不要なスペクトル成分がスピ
ーカに与えられることがなく、正確な測定を行うことが
できる。
第１図は請求項１に係る測定装置の全体構成を示す図、
第２図は請求項２に係る測定装置の全体構成を示す図、
第３図は一実施例による測定装置のハードウェア構成を
示す図、第４図はＲＯＭ２０に記憶されたプログラムの
フローチャート、第５図は測定した応答スペクトルを示
す図である。 ２・・・目的スペクトル発生手段 ４・・・逆フーリエ変換手段 ６・・・スピーカ ８・・・マイク １０・・・フーリエ変換手段 １２・・・出力手段 ５０・・・信号発生手段 ５２・・・フィルタ手段 第１図 Ｚ 菓 図 第２ 図 第 図
第２図は請求項２に係る測定装置の全体構成を示す図、
第３図は一実施例による測定装置のハードウェア構成を
示す図、第４図はＲＯＭ２０に記憶されたプログラムの
フローチャート、第５図は測定した応答スペクトルを示
す図である。 ２・・・目的スペクトル発生手段 ４・・・逆フーリエ変換手段 ６・・・スピーカ ８・・・マイク １０・・・フーリエ変換手段 １２・・・出力手段 ５０・・・信号発生手段 ５２・・・フィルタ手段 第１図 Ｚ 菓 図 第２ 図 第 図
Claims (2)
- （１）測定に必要とする目的スペクトルを発生する目的
スペクトル発生手段、 目的スペクトルに基づき、目的スペクトルを有する時間
関数信号を発生し、スピーカに与える逆フーリエ変換手
段、 スピーカからの出力音を電気信号に変換するマイク、 電気信号を周波数スペクトルに分析し、応答スペクトル
を得るフーリエ変換手段、 応答スペクトルを表示する出力手段、 を備えたことを特徴とする周波数特性測定装置。 - （２）周波数掃引信号を発生する信号発生手段、信号発
生手段の出力に接続され、所定の周波数帯域を通過させ
ないフィルタ手段、 フィルタ手段の出力を受けるスピーカ、 スピーカからの出力音を電気信号に変換するマイク、 電気信号を周波数スペクトルに分析し、応答スペクトル
を得るフーリエ変換手段、 応答スペクトルを表示する出力手段、 を備えたことを特徴とする周波数特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26262988A JPH02109500A (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | スピーカの周波数特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26262988A JPH02109500A (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | スピーカの周波数特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02109500A true JPH02109500A (ja) | 1990-04-23 |
Family
ID=17378449
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26262988A Pending JPH02109500A (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | スピーカの周波数特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02109500A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5555311A (en) * | 1994-04-01 | 1996-09-10 | Electronic Engineering And Manufacturing, Inc. | Electro-acoustic system analyzer |
| CN104618846A (zh) * | 2015-02-12 | 2015-05-13 | 歌尔声学股份有限公司 | 一种电子产品扬声器和麦克风测试系统及测试方法 |
| CN106937234A (zh) * | 2017-03-20 | 2017-07-07 | 上海与德科技有限公司 | 音频元件的测试方法及装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5410720A (en) * | 1977-06-27 | 1979-01-26 | Nippon Columbia | Method of and device for measuring speaker characteristics |
| JPS5597800A (en) * | 1979-01-20 | 1980-07-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Speaker characteristic measuring unit |
| JPS60146158A (ja) * | 1984-01-11 | 1985-08-01 | Onkyo Corp | 動的非直線歪測定方法 |
| JPS6150015A (ja) * | 1984-08-20 | 1986-03-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 音質評価装置 |
-
1988
- 1988-10-18 JP JP26262988A patent/JPH02109500A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5410720A (en) * | 1977-06-27 | 1979-01-26 | Nippon Columbia | Method of and device for measuring speaker characteristics |
| JPS5597800A (en) * | 1979-01-20 | 1980-07-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Speaker characteristic measuring unit |
| JPS60146158A (ja) * | 1984-01-11 | 1985-08-01 | Onkyo Corp | 動的非直線歪測定方法 |
| JPS6150015A (ja) * | 1984-08-20 | 1986-03-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 音質評価装置 |
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| US5555311A (en) * | 1994-04-01 | 1996-09-10 | Electronic Engineering And Manufacturing, Inc. | Electro-acoustic system analyzer |
| CN104618846A (zh) * | 2015-02-12 | 2015-05-13 | 歌尔声学股份有限公司 | 一种电子产品扬声器和麦克风测试系统及测试方法 |
| CN106937234A (zh) * | 2017-03-20 | 2017-07-07 | 上海与德科技有限公司 | 音频元件的测试方法及装置 |
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