JPH02110376A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

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JPH02110376A
JPH02110376A JP26298288A JP26298288A JPH02110376A JP H02110376 A JPH02110376 A JP H02110376A JP 26298288 A JP26298288 A JP 26298288A JP 26298288 A JP26298288 A JP 26298288A JP H02110376 A JPH02110376 A JP H02110376A
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JP
Japan
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sample
analysis
specimen
analyzed
path
Prior art date
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Pending
Application number
JP26298288A
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English (en)
Inventor
Yasuchika Ishibashi
養親 石橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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Priority to US07/422,597 priority patent/US5087423A/en
Priority to DE3934890A priority patent/DE3934890A1/de
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は自動分析装置、特に各々が1つまたは複数の項
目を分析することができる自動分析モジュールを直列に
配置し、順次の試料をこれら自動分析モジュールを経て
搬送する間に自動分析モジュールが試料を選択的に採取
するようにした自動分析装置に関するものである。
〔従来の技術〕
上述した形式の自動分析装置は、例えば、実公昭53−
8544号公報に開示されており、既知である。
この既知の自動分析装置においては、2〜8台の分析モ
ジュールを直列的に配列し、分析すべき試料を収容した
試料容器を順次試料通過径路を経て搬送し、各試料に対
して予じめ指定された項目を分析し得る分析モジュール
が試料の1部を採取(22、分析が開始されてから、試
料容器は次の分析モジュールへ移される。試料容器の搬
送には通常コンベアベルトが用いられている。1つの分
析モジュールは一般に4〜12項目の分析を行なうこと
ができるので、自動分析装置全体としては20〜30項
目の分析を行えるようにしたものが一般的である。
一方、各試料に対する分析要求項目は試料毎に異なるが
、一般に全分析可能項目数の50〜60%である。換言
すると、分析可能項目の50〜40%は分析されないた
め、ある分析モジュールでは分析する必要のない試料も
出てくるが、これら分析を要求しない試料も、分析を要
する試料と同じように順次分析モジュールを通過させる
ようにしている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述したように、従来の自動分析装置においては、ある
分析モジュールでは分析の必要がない試料であるにも拘
らず、順次分析モジュールを通過させているので、この
試料が通過している間は、その分析モジュールは分析を
休んでいることになり、その結果全体として見た場合に
、1項目当りの処理時間が長くなる欠点があった。特に
、1項目等少数の項目しか分析しない試料が多い場合に
は上述した欠点は顕著に現れることになる。
〔課題を解決するための手段および作用]本発明は、各
々が1つまたは複数の項目を分析する゛自動分析モジュ
ールを複数台直列に配置し、これら自動分析モジュール
を経て通過する試料容器から試料の一部を選択的に採取
して分析を行なうようにした自動分析装置において、少
なくとも1つの自動分析モジュールに、試料採取位置を
含む分析対象試料通過径路と、試料採取位置を含まない
分析対象外試料通過径路とを並列的に設け、この自動分
析モジュールの試料容器導入側に順次の試料容器を、各
試料について予じめ指定されている分析項目とこの自動
分析モジュールで分析できる分析項目とに応じて前記分
析対象試料通過径路および分析対象外試料通過径路のい
ずれかに送り込む試料分配手段を設けたことを特徴とす
るものである。
本発明の自動分析装置においては、分析の必要のない試
料は分析対象外試料通過径路を搬送されるので分析モジ
ュールが休止しているようなことはなく、その後に続く
分析の必要のある試料を分析対象試料通過径路に送り込
んで分析を行なうことができる。このような本発明の自
動分析装置においては、分析モジエールで分析される試
料の順番は試料送出装置から送出される試料の順番とは
異なる場合もあるが、各試料容器がどの位置にあり、ど
の試料がどの分析モジュールで分析されているのかを制
御装置は知ることができるので、分析結果と試料との対
応関係を付けることができる。
(実施例〕 第1図は本発明による自動分析装置の一実施例の原理的
構成を示す線図である。本例では2台の自動分析モジュ
ール1および2を試料の搬送方向に見て直列的に配置し
である。今、第1の分析モジュール1は項目A−Dを分
析できるものとし、第2の分析モジュール2は項目E−
Hを分析できるものとする。それぞれ分析すべき試料を
収容した多数の試料容器を保持し、これらの試料容器を
1個づつ共通径路3に送出することかできる試料送出装
置4を設ける。この共通径路3上に送出された試料容器
は第1の試料分配装置5に送られる。
この第1試料分配装置5は、試料について予め指定され
た分析項目が第1分析モジエールlにおいて分析するも
のである場合には当該試料容器を分析対象試料通過径路
6に送出し、この試料についての分析項目が第1分析モ
ジエールlで分析する項目を含んでいない場合には分析
対象外試料通過径路7に送出する。
分析対象試料通過径路6に送出された試料容器は第1分
析モジエールlの試料採取位置P、に送られ、ここで−
旦停止される。第1分析モジュール1に設けられた試料
採取装置によって当該試料の一部が採取され、反応容器
に分注され、分析が開始される。分析が開始されると試
料容器は採取位置P1からさらに前進させられ、第2の
試料分配装置8に供給される。一方、分析対象外試料通
過径路7を経て搬送される試料は第1分析モジュール1
で分析する必要がないので直ちに第2試料分配装置8へ
送られる。この第2試料分配装置8においては、ここに
送られて来る各試料について、第2分析モジュール2で
分析する項目が指定されているか否かに応じて分析対象
試料通過径路9または分析対象外試料通過径路10に送
出する。分析対象試料通過径路9に送られた試料容器は
第2分析モジュール2の試料採取位置Pzに位置出しさ
れ、ここで所定量の試料が採取され、分析が開始される
。分析の開始後、試料容器は試料整列装置11へ送られ
る。一方、分析対象外試料通過径路10に送り込まれた
試料容器は試料整列装置11に直接送られる。この試料
整列装置11は、分析対象試料通過径路9および分析対
象外試料通過径路10を経て搬送されて来た試料容器を
整列させて共通径路12に送り出すように作用し、これ
らの試料容器は試料受取装置13に供給され、ここに収
納保持される。上述した総ての装置の動作を制御する制
御装置14を設ける。この制御装置14には各試料につ
いて予め指定された分析項目を記憶しておくとともに各
試料容器が現在どの位置にあるのかを知ることができる
ようになっている。これは、各試料容器にIDマークを
設けておき、これを読取るようにしてもよいし、予め試
料送出装置4にセットされている試料の順番を記憶して
おくようにしてもよい。また、第1および第2の分析モ
ジュール1およ°び2で得られた分析結果は制御装置1
4に供給し、制御装置ではこれらの分析結果がどの試料
のものであるかを対応付けして記憶し、適当なタイミン
グで出力するようにする。
次に、第1図に示した自動分析装置の試料送出装置4に
セットされた試料がどのように処理されるのかを説明す
る。今、試料送出装置4にセットされた試料には次の表
に示すような分析項目が指定されているものとする。
O印が指定された分析項目 先ず第1の試料が試料送出装置4から共通径路3に送り
出され、試料分配装置5に供給される。
この第1試料に指定された分析項目はA、C,Dであり
、これらは第1分析モジュール1の分析項目であるから
、第1試料は分析対象試料通過径路6に送り込まれ、試
料採取位置P、に位置決めされ、ここで項目A、C,D
を分析するための試料分注が行なわれる。この間に第2
の試料が試料分配装置5に供給されるが、この第2試料
に指定された分析項目はF、Gであり、第1分析モジュ
ール1での分析項目は含まれていないので、この第2試
料は分析対象外試料通過径路7に送り込まれ、第2分析
モジュール2に対する試料分配装置8に供給される。上
述したように第2試料は第2分析モジュール2での分析
項目を含んでいるので分析対象試料通過径路9に送り込
まれ、試料採取位置P2に位置決めされ、項目F、 G
を分析するための試料が採取される。この間に第1分析
モジュール1における第1試料の採取は終了し、第1試
料は直ちに試料分配装置8に送られる。この第1試料の
分析項目は第2分析モジュール2の分析項目を含んでい
ないから、この第1試料は直ちに分析対象外試料通過径
路10に送り込まれ、試料整列装置11゛および共通径
路12を経て試料受取装置13に供給される。第1試料
が第1分析モジュール1で採取され、第2試料が第2分
析モジュール2で採取されているとき、第3試料が試料
送出装置4から送り出され、試料分配装置5に供給され
る。この第3試料の分析項目はA、B、Eとなっている
ので、第1試料の採取が終了すると、分析対象試料通過
径路6に送り込まれ、試料採取位置P、に位置決めされ
、項目A、Bを分析するための試料が採取される。この
間分析モジュール2における第2試料の採取は完了し、
第2試料は試料整列装置、11および共通径路12を経
て試料受取装置13に供給され、ここに収納される。
第1分析モジュール1において項目A、Hの分析に必要
な第3試料が採取された後、この第3試料は試料分配装
置8に供給される。この第3試料に指定された分析項目
は第2分析モジュール2での分析項目Eを含んでいるの
で、この第3試料は分析対象試料通過径路9に送り込ま
れ、試料採取位置Ptにおいて項目Eを分析するのに必
要な試料が採取された後、試料整列装置11および共通
径路12を経て試料受取袋W13に供給され、ここに収
納保持される。
このようにして、順次の試料を予め指定された分析項目
に応じて選択的に分析モジュールをバイパスさせること
により各分析モジュールでの待ち時間を極力減らすこと
ができ、処理能力を大幅に向上することができる。
第2図は本発明による自動分析装置の他の実施例の一部
分の構成を示す線図である。第2図は中間に配置された
分析モジュールを中心とする構成を示すものであり、こ
の分析モジュール21は第1および第2のサブ分析モジ
ュール21Aおよび21Bを含んでおり、これらのサブ
分析モジュールは同一の項目または一部分異なる項目ま
たは総て異なる項目の分析を互いに独立に行なうことが
できるものである。前段の分析モジュールから分析対象
試料通過径路22および分析対象外試料通過径路23を
経て試料分配装置24に供給された試料はここで振り分
けられ、第1および第2の分析対象試料通過径路25A
および25Bまたは分析対象外試料通過径路26に送り
込まれる。すなわち、試料に指定された分析項目の中に
第1サブ分析モジュール21Aの分析項目が含まれてい
るときは第1分析対象試料通過径路25八に送り込まれ
、第2サブ分析モジュール21Bで分析する項目が含ま
れているときは第2分析対象試料通過径路25Bに送り
込まれ、分析モジュール21での分析項目が含まれてい
ないときは分析対象外試料通過径路26に送り込まれる
第1および第2サブ分析モジュール21Aおよび21B
に対する分析対象試料通過径路25Aおよび25Bに送
り込まれた試料は採取位置P、およびP2においてそれ
ぞれのサブ分析モジュールに分注され分析の開始後試料
分配装置27に供給される。この試料分配装置27は次
の分析モジュールでの分析項目と各試料に対して指定さ
れた分析項目とを対象比較して分析対象試料通過径路2
8または分析対象外試料通過径路29に送り出す。本例
のように分析モジュールが複数の試料採取位置を有する
ときは分析対象試料通過径路を複数設けることができる
〔発明の効果〕
上述したように本発明によれば、複数の分析モジュール
を直列的に配置し、これらの分析モジュールを経て分析
すべき試料を搬送するようにした自動分析装置において
、分析対象試料通過径路と分析対象外試料通過径路とを
並列的に設けるとともに、これらの通過径路の入口側に
試料分配装置を設け、各試料について予め指定された分
析項目と当該分析モジュールで分析する項目とを対象比
較し、当該分析モジュールでの分析項目が指定されてい
る場合には分析対象試料通過径路に送り込みそれ以外の
場合には分析対象外試料通過径路に送れ込むようにし7
たため、従来のように余分な待ち時間を設ける必要はな
く、処理能力を向上することができるうこの場合、総て
の試料について全項目を分析するよろに指定するときは
処理能力の向トは得られないが、上述したように実際の
分析においては各試料について指定される分析項目は平
均的に見て全分析項目の50〜60%程度であるから、
本発明により相当大巾な効率化が期待できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による自動分析装置の一実施例の構成を
示す線図、 第2図は同じく他の実施例の一部分の構成を示す線図で
ある。 1.2・・・分析モジュール 4・・・試料送出装置   5,8・・・試料分配装置
6.9・・・分析対象試料通過径路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、各々が1つまたは複数の項目を分析する自動分析モ
    ジュールを複数台直列に配置し、これら自動分析モジュ
    ールを経て通過する試料容器から試料の一部を選択的に
    採取して分析を行なうようにした自動分析装置において
    、少なくとも1つの自動分析モジュールに、試料採取位
    置を含む分析対象試料通過径路と、試料採取位置を含ま
    ない分析対象外試料通過径路とを並列的に設け、この自
    動分析モジュールの試料容器導入側に順次の試料容器を
    、各試料について予じめ指定されている分析項目とこの
    自動分析モジュールで分析できる分析項目とに応じて前
    記分析対象試料通過径路および分析対象外試料通過径路
    のいずれかに送り込む試料分配手段を設けたことを特徴
    とする自動分析装置。
JP26298288A 1988-10-20 1988-10-20 自動分析装置 Pending JPH02110376A (ja)

Priority Applications (3)

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JP26298288A JPH02110376A (ja) 1988-10-20 1988-10-20 自動分析装置
US07/422,597 US5087423A (en) 1988-10-20 1989-10-17 Automatic analyzing apparatus comprising a plurality of analyzing modules
DE3934890A DE3934890A1 (de) 1988-10-20 1989-10-19 Automatisches analysegeraet

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JP26298288A JPH02110376A (ja) 1988-10-20 1988-10-20 自動分析装置

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