JPH0211347B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0211347B2 JPH0211347B2 JP5754181A JP5754181A JPH0211347B2 JP H0211347 B2 JPH0211347 B2 JP H0211347B2 JP 5754181 A JP5754181 A JP 5754181A JP 5754181 A JP5754181 A JP 5754181A JP H0211347 B2 JPH0211347 B2 JP H0211347B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- slab
- wavelength
- thickness
- radiant energy
- mold
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22D—CASTING OF METALS; CASTING OF OTHER SUBSTANCES BY THE SAME PROCESSES OR DEVICES
- B22D11/00—Continuous casting of metals, i.e. casting in indefinite lengths
- B22D11/16—Controlling or regulating processes or operations
- B22D11/165—Controlling or regulating processes or operations for the supply of casting powder
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Continuous Casting (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、たとえば溶鋼の如き、金属の連続
鋳造における鋳片表面のスラグ層厚さの測定装置
に関し、更に詳しくは、鋳片表面のスラグ層厚さ
や鋳片表面温度と、鋳片表面の疵や割れの発生状
況の対応に関する過去の操業データと測定結果を
比較して、鋳片引抜速度、パウダ供給条件、鋳型
振動条件といつた操作量を変化せしめる制御を行
なうための、鋳片表面のスラグ層厚さの測定装置
に関する。
鋳造における鋳片表面のスラグ層厚さの測定装置
に関し、更に詳しくは、鋳片表面のスラグ層厚さ
や鋳片表面温度と、鋳片表面の疵や割れの発生状
況の対応に関する過去の操業データと測定結果を
比較して、鋳片引抜速度、パウダ供給条件、鋳型
振動条件といつた操作量を変化せしめる制御を行
なうための、鋳片表面のスラグ層厚さの測定装置
に関する。
溶融金属の連続鋳造は、第１図に示すように、
タンデイツシユ１から所定の断面形状および寸法
を有するモールド２内に溶融金属４を注入し、モ
ールド２の下方から鋳片３として連続的に引出す
ことによつてなされる。
タンデイツシユ１から所定の断面形状および寸法
を有するモールド２内に溶融金属４を注入し、モ
ールド２の下方から鋳片３として連続的に引出す
ことによつてなされる。
連続鋳造にあつては、第２図に示すように、モ
ールド２内の溶融金属４の自由表面上にパウダ５
が供給される。パウダ５は溶融金属４の熱によつ
て溶融し、モールド２内壁面と鋳片３表面間に流
入して潤滑剤として機能する。
ールド２内の溶融金属４の自由表面上にパウダ５
が供給される。パウダ５は溶融金属４の熱によつ
て溶融し、モールド２内壁面と鋳片３表面間に流
入して潤滑剤として機能する。
一方、連続鋳造においては第３図に示すよう
に、ばね８を介して、ベース上に支承されモール
ド２を載置する振動テーブル９に、モータ６の回
転運動をカム７によつて周期的な上下運動に変換
しこれを伝達し、以つてモールド２に上下方向の
振動を加えることが行なわれる。これによつて、
パウダ５が溶融したスラグのモールド２内壁面と
鋳片表面間の流入を助けるとともに鋳片とモール
ドの焼付きを防止している。
に、ばね８を介して、ベース上に支承されモール
ド２を載置する振動テーブル９に、モータ６の回
転運動をカム７によつて周期的な上下運動に変換
しこれを伝達し、以つてモールド２に上下方向の
振動を加えることが行なわれる。これによつて、
パウダ５が溶融したスラグのモールド２内壁面と
鋳片表面間の流入を助けるとともに鋳片とモール
ドの焼付きを防止している。
モールド２と鋳片３間の潤滑状態によつては、
鋳片３の表面に疵や割れが発生したり、さらには
ブレークアウト（以下B.O.という）を起すこと
がある。
鋳片３の表面に疵や割れが発生したり、さらには
ブレークアウト（以下B.O.という）を起すこと
がある。
これらのトラブルは、パウダのモールド２内表
面と鋳片３間への流入状態の良否に起因している
と云われている。モールド２と鋳片３間へのパウ
ダの流入状態の測定（潤滑状態の測定）および評
価や、それに伴なう表面疵発生の情報検出の手段
や、上に述べたトラブルを抑止するための有効な
手段がない実情である。
面と鋳片３間への流入状態の良否に起因している
と云われている。モールド２と鋳片３間へのパウ
ダの流入状態の測定（潤滑状態の測定）および評
価や、それに伴なう表面疵発生の情報検出の手段
や、上に述べたトラブルを抑止するための有効な
手段がない実情である。
モールド２と鋳片３間の潤滑状態の測定方法と
してモールドを振動させるときの振動状態により
潤滑状態を間接的に測定する方法がCRM社のM.
L.Tektor法（特開昭53−45628号公報、特開昭54
−112338号公報）が提案されている。
してモールドを振動させるときの振動状態により
潤滑状態を間接的に測定する方法がCRM社のM.
L.Tektor法（特開昭53−45628号公報、特開昭54
−112338号公報）が提案されている。
モールドの振動状態によりモールド２と鋳片３
間の潤滑状態を測定する方法は、パウダーの流入
状況を間接的に測定するものであり、しかも平均
的な計測方法である。従つてパウダーの流入状況
によつて発生する表面キズや割れの場所の推定や
パウダーの流入状況の管理ができない欠陥があ
る。
間の潤滑状態を測定する方法は、パウダーの流入
状況を間接的に測定するものであり、しかも平均
的な計測方法である。従つてパウダーの流入状況
によつて発生する表面キズや割れの場所の推定や
パウダーの流入状況の管理ができない欠陥があ
る。
本発明は、連続鋳造装置の鋳型から出た鋳片の
スラグ厚みを直接にしかも鋳片面各部と一対一の
関係で検出するスラグ厚み測定装置を提供するこ
とを目的とする。
スラグ厚みを直接にしかも鋳片面各部と一対一の
関係で検出するスラグ厚み測定装置を提供するこ
とを目的とする。
以下に図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。第４図は本発明の構成を示す一例であり、ス
ラグ・フイルム５０が附着した鋳片３の表面から
発せられる放射エネルギーを集光するレンズ６、
集光された放射エネルギーから２種類の特定波長
帯域の放射エネルギーを取り出す回転式のフイル
ター７、フイルター７を回転させるモーター９、
フイルター７で特定波長帯域の放射エネルギーの
みになつた光を検出しその強度に応じた電圧を発
生するイメージセンサー８、複数個のイメージセ
ンサー８の素子の特性の違いをオフラインで補正
するのに基準となる光を照射するためのレーザー
１０、レーザー光をイメージセンサー全体に均一
に拡げるためのレンズ１１、イメージセンサー８
の出力を増幅する増幅器１２、増幅された２つの
特定波長帯域の放射エネルギーの出力を利用して
鋳片３に附着したスラグ・フイルム厚みを算出す
る厚み演算器１３、２つの特定波長帯域の放射エ
ネルギー測定値とスラグフイルム厚み測定値を用
いて鋳片３の表面温度を演算する温度演算器１
４、演算器１３，１４の出力を記録する記録計１
５、出力結果に基づいて過去の実績と比較して操
業条件変更を表示する計算機１６および表示装置
１７から構成されている。温度θの鋳片３からの
放射エネルギーEλθは、鋳片３に附着したスラ
グ・フイルム５０により減衰されるが、それは、
スラグフイルムの厚みをｌとし、スラグフイルム
５０の表面からの放射エネルギーをE′λTとすれ
ば、 E′λT＝Eλθ・exp（−αλθ・ｌ） ……(1) 但し、αλθは波長によつて決まる減衰定数とな
る。
る。第４図は本発明の構成を示す一例であり、ス
ラグ・フイルム５０が附着した鋳片３の表面から
発せられる放射エネルギーを集光するレンズ６、
集光された放射エネルギーから２種類の特定波長
帯域の放射エネルギーを取り出す回転式のフイル
ター７、フイルター７を回転させるモーター９、
フイルター７で特定波長帯域の放射エネルギーの
みになつた光を検出しその強度に応じた電圧を発
生するイメージセンサー８、複数個のイメージセ
ンサー８の素子の特性の違いをオフラインで補正
するのに基準となる光を照射するためのレーザー
１０、レーザー光をイメージセンサー全体に均一
に拡げるためのレンズ１１、イメージセンサー８
の出力を増幅する増幅器１２、増幅された２つの
特定波長帯域の放射エネルギーの出力を利用して
鋳片３に附着したスラグ・フイルム厚みを算出す
る厚み演算器１３、２つの特定波長帯域の放射エ
ネルギー測定値とスラグフイルム厚み測定値を用
いて鋳片３の表面温度を演算する温度演算器１
４、演算器１３，１４の出力を記録する記録計１
５、出力結果に基づいて過去の実績と比較して操
業条件変更を表示する計算機１６および表示装置
１７から構成されている。温度θの鋳片３からの
放射エネルギーEλθは、鋳片３に附着したスラ
グ・フイルム５０により減衰されるが、それは、
スラグフイルムの厚みをｌとし、スラグフイルム
５０の表面からの放射エネルギーをE′λTとすれ
ば、 E′λT＝Eλθ・exp（−αλθ・ｌ） ……(1) 但し、αλθは波長によつて決まる減衰定数とな
る。
また、温度θの鋳片３からの波長λの放射エネ
ルギーEλθは、ウインの式より Eλθ＝ελθC1λ-5exp（−C2／λS）……(2) 但し、ελθは放射率 Ｓは黒体の温度 C1，C2は定数 となる。
ルギーEλθは、ウインの式より Eλθ＝ελθC1λ-5exp（−C2／λS）……(2) 但し、ελθは放射率 Ｓは黒体の温度 C1，C2は定数 となる。
従つて、(1)，(2)式より、温度Ｔのスラグフイル
ム５０の表面からの波長λの放射エネルギーE′λT
は次式のようになる。
ム５０の表面からの波長λの放射エネルギーE′λT
は次式のようになる。
E′λT＝ελθC1λ-5exp（−αλθ・ｌ−C2／λS）…
…(3) さらに、温度Ｔのスラグフイルム５０の表面か
らの放射エネルギーE′λTは、 E′λT＝C1λ-5exp（−C2／λT） ……(4) と書き表わせる。そこで(3)，(4)式より lnελθ＝C2／λ（１／Ｓ−１／Ｔ）＋αλθ・ｌ…
…(5) となる。
…(3) さらに、温度Ｔのスラグフイルム５０の表面か
らの放射エネルギーE′λTは、 E′λT＝C1λ-5exp（−C2／λT） ……(4) と書き表わせる。そこで(3)，(4)式より lnελθ＝C2／λ（１／Ｓ−１／Ｔ）＋αλθ・ｌ…
…(5) となる。
鋳片３から放射され、スラグフイルム５０によ
り減衰され、スラグフイルム５０の表面から出る
放射エネルギーを、第６図に示すようなガイドパ
イプ１８を通して、レンズ６により集光し、高速
で２つの特定波長帯域を切替できるフイルター７
により、ほぼ同位置のスラグフイルム５０の表面
から発せられる放射エネルギーを２つの異なる測
定波長λ1およびλ2について、イメージセンサー８
によつて検出すれば、(5)式は lnελ1θ＝C2／λ1（１／Ｓ−１／T1）＋αλ1θ・
ｌ……(6) lnελ2θ＝C2／λ2（１／Ｓ−１／T2）＋αλ2θ・
ｌ……(7) 但し、T1は波長λ1による温度測定値 T2は波長λ2による温度測定値 と書き表わせる。
り減衰され、スラグフイルム５０の表面から出る
放射エネルギーを、第６図に示すようなガイドパ
イプ１８を通して、レンズ６により集光し、高速
で２つの特定波長帯域を切替できるフイルター７
により、ほぼ同位置のスラグフイルム５０の表面
から発せられる放射エネルギーを２つの異なる測
定波長λ1およびλ2について、イメージセンサー８
によつて検出すれば、(5)式は lnελ1θ＝C2／λ1（１／Ｓ−１／T1）＋αλ1θ・
ｌ……(6) lnελ2θ＝C2／λ2（１／Ｓ−１／T2）＋αλ2θ・
ｌ……(7) 但し、T1は波長λ1による温度測定値 T2は波長λ2による温度測定値 と書き表わせる。
ガイドパイプ１８は、水、蒸気、粉塵等の悪環
境による弊害を防止するために用いたもので、第
６図はその一例である。第６図を横から見たもの
が第７図で、鋳片３側は、空気を常時上から吹き
付けることにより空気のカーテンで密閉させてい
る。さらにパイプ内には微少な圧力を加えている
のでパイプ外のものが逆流しないようになつてい
る。このガイドパイプ１８は一例であつて、同様
の機能を有すればどんなものでもよい。また周囲
の環境がよければ使わなくてもよい。
境による弊害を防止するために用いたもので、第
６図はその一例である。第６図を横から見たもの
が第７図で、鋳片３側は、空気を常時上から吹き
付けることにより空気のカーテンで密閉させてい
る。さらにパイプ内には微少な圧力を加えている
のでパイプ外のものが逆流しないようになつてい
る。このガイドパイプ１８は一例であつて、同様
の機能を有すればどんなものでもよい。また周囲
の環境がよければ使わなくてもよい。
イメージセンサー８は、CCD素子などの、測
定する鋳片の面と平行に横一列に多数の素子を並
べたものであり、測定する鋳片の面の長さを素子
の数で割つた長さを最小単位として、スラグフイ
ルム５０の厚み測定が可能である。ただエネルギ
ーの分散等も考えられるので、数個の素子をまと
めて、平均をとつて管理するのが望ましい。ま
た、イメージセンサー８は、各素子の間で特性の
違いがあるので、一定の強さの光を均一に照射す
ることにより、オフラインで補正する必要があ
る。具体例として、第４図には、レーザー光を利
用した例を示したが、他の方法でもよい。第４図
をさらに詳細に示したものが第８ａ図および第８
ｂ図である。第８ａ図は、スラグ・フイルム厚み
計測中の状態であり、第８ｂ図は補正中の状態で
ある。補正中には、鋳片３からの光は鏡１９の裏
で遮断され、イメージセンサー８では、レーザー
光のみ検出される。レーザー１０から出た光は、
レンズ１１で拡げられ、鏡１９で反射され、均一
な光がイメージセンサー８に入射する。その出力
特性は、厚み演算器１３および温度演算器１４に
送られ各演算の補正に用いられる。ここで用いる
レーザー１０は、半導体レーザーが望ましい。フ
イルター７は、第４図の例では、第５図に正面図
を示すように、回転式切替のものを用いている
が、イメージセンサー８から検出される全素子の
信号の最低限処理に要する時間間隔で高速の切替
が可能であれば、上下に移動して切替る方式およ
び左右に移動して切替る方式等どんなものでもか
まわない。また、フイルター７の２つの特定周波
数帯域とは、スラグ・フイルム厚みが最もよく測
定できる２つの帯域である。フイルター７の切替
が行なわれたということは、フイルター７を回転
させるモーターから厚み演算器１３および温度演
算器１４に伝わる。
定する鋳片の面と平行に横一列に多数の素子を並
べたものであり、測定する鋳片の面の長さを素子
の数で割つた長さを最小単位として、スラグフイ
ルム５０の厚み測定が可能である。ただエネルギ
ーの分散等も考えられるので、数個の素子をまと
めて、平均をとつて管理するのが望ましい。ま
た、イメージセンサー８は、各素子の間で特性の
違いがあるので、一定の強さの光を均一に照射す
ることにより、オフラインで補正する必要があ
る。具体例として、第４図には、レーザー光を利
用した例を示したが、他の方法でもよい。第４図
をさらに詳細に示したものが第８ａ図および第８
ｂ図である。第８ａ図は、スラグ・フイルム厚み
計測中の状態であり、第８ｂ図は補正中の状態で
ある。補正中には、鋳片３からの光は鏡１９の裏
で遮断され、イメージセンサー８では、レーザー
光のみ検出される。レーザー１０から出た光は、
レンズ１１で拡げられ、鏡１９で反射され、均一
な光がイメージセンサー８に入射する。その出力
特性は、厚み演算器１３および温度演算器１４に
送られ各演算の補正に用いられる。ここで用いる
レーザー１０は、半導体レーザーが望ましい。フ
イルター７は、第４図の例では、第５図に正面図
を示すように、回転式切替のものを用いている
が、イメージセンサー８から検出される全素子の
信号の最低限処理に要する時間間隔で高速の切替
が可能であれば、上下に移動して切替る方式およ
び左右に移動して切替る方式等どんなものでもか
まわない。また、フイルター７の２つの特定周波
数帯域とは、スラグ・フイルム厚みが最もよく測
定できる２つの帯域である。フイルター７の切替
が行なわれたということは、フイルター７を回転
させるモーターから厚み演算器１３および温度演
算器１４に伝わる。
さて、(6)，(7)式よりｌを求めると
ｌ＝λ1lnελ1θ−λ2lnελ2θ＋C2（１／T1−１／T2
）／λ1αλ1θ−λ2αλ2θ……(8) となる。ここで、λ1，λ2は、フイルター７により
指定される波長であり、放射率ε、減衰率αは事
前に測定できるものであり、スラグフイルム厚み
ｌは、温度測定値T1，T2即ちイメージセンサー
８で検出される情報により求まることになる。従
つて、厚み演算器１３では、イメージセンサー８
により検出される２つの波長のスラグ・フイルム
５０の表面の放射エネルギーE′λ1T1，E′λ2T2より、
スラグフイルム厚みを求め、記録計１５と計算機
１６に入力している。温度演算器１４には、
E′λ1T1とE′λ2T2と厚み演算器１３の出力が入力さ
れている。温度演算器１４はE′λ1T1とE′λ2T2の比
を求め、スラグフイルム厚みにより減衰した温度
を補正して真の鋳片３の表面温度を算出して、記
録計１５と計算機１６に入力している。記録計１
５はスラグフイルム厚み情報と鋳片表面温度を連
続的に記録している。計算機１６は、スラグフイ
ルム厚み情報および表面温度情報を過去の鋳造に
おける良好な情報と比較して、表面キズ発生の予
知やBO予知を行い、表示装置１７にその予知状
態を表示している。表示に基づいて操業者は、操
業条件を変更する。即ち、引抜速度の増減速、モ
ールド振動数の増減、パウダーの交換、モールド
冷却水量の調節等を行つて、スラグフイルム厚み
および表面温度が最良になるようにしている。
）／λ1αλ1θ−λ2αλ2θ……(8) となる。ここで、λ1，λ2は、フイルター７により
指定される波長であり、放射率ε、減衰率αは事
前に測定できるものであり、スラグフイルム厚み
ｌは、温度測定値T1，T2即ちイメージセンサー
８で検出される情報により求まることになる。従
つて、厚み演算器１３では、イメージセンサー８
により検出される２つの波長のスラグ・フイルム
５０の表面の放射エネルギーE′λ1T1，E′λ2T2より、
スラグフイルム厚みを求め、記録計１５と計算機
１６に入力している。温度演算器１４には、
E′λ1T1とE′λ2T2と厚み演算器１３の出力が入力さ
れている。温度演算器１４はE′λ1T1とE′λ2T2の比
を求め、スラグフイルム厚みにより減衰した温度
を補正して真の鋳片３の表面温度を算出して、記
録計１５と計算機１６に入力している。記録計１
５はスラグフイルム厚み情報と鋳片表面温度を連
続的に記録している。計算機１６は、スラグフイ
ルム厚み情報および表面温度情報を過去の鋳造に
おける良好な情報と比較して、表面キズ発生の予
知やBO予知を行い、表示装置１７にその予知状
態を表示している。表示に基づいて操業者は、操
業条件を変更する。即ち、引抜速度の増減速、モ
ールド振動数の増減、パウダーの交換、モールド
冷却水量の調節等を行つて、スラグフイルム厚み
および表面温度が最良になるようにしている。
以上述べた如く本発明は、モールド直下におけ
るスラグフイルム厚みと表面温度の測定において
鋳片とパウダーから放射される放射エネルギーの
２つのある特定波長帯域を利用してイメージセン
サーで計測するため、次に述べる利点がある。
るスラグフイルム厚みと表面温度の測定において
鋳片とパウダーから放射される放射エネルギーの
２つのある特定波長帯域を利用してイメージセン
サーで計測するため、次に述べる利点がある。
(1) 鋳片からの放射エネルギーを利用するために
一般の放射温度計の原理を使用できる。
一般の放射温度計の原理を使用できる。
(2) ２つのある特定波長の減衰を利用するためス
ラグ・フイルム厚みを高精度で検出できる。
ラグ・フイルム厚みを高精度で検出できる。
(3) ２波長を利用し更にスラグ・フイルム厚みで
減衰した放射エネルギーを補正するため鋳片表
面温度を正確に測定することができる。
減衰した放射エネルギーを補正するため鋳片表
面温度を正確に測定することができる。
(4) 多数の素子を有するイメージセンサーを用い
て計測しているので、スラグ・フイルム厚み分
布および表面温度分布を簡単にしかも高速に測
定できる。
て計測しているので、スラグ・フイルム厚み分
布および表面温度分布を簡単にしかも高速に測
定できる。
また、連続鋳造装置の鋳型下部において鋳片の
発する放射エネルギーに基づいてスラグ層厚を測
定するので、 (1) 現在の鋳造操業状態が分かり、スラグ層厚異
常に対応した迅速な処置が可能となり安定した
操業に寄与しうる。
発する放射エネルギーに基づいてスラグ層厚を測
定するので、 (1) 現在の鋳造操業状態が分かり、スラグ層厚異
常に対応した迅速な処置が可能となり安定した
操業に寄与しうる。
(2) 鋳片の表面温度も同時に測定することがで
き、測定した表面温度の変動状態に基づいて表
面欠陥検出やBOの予知などを行なうことが可
能となる。
き、測定した表面温度の変動状態に基づいて表
面欠陥検出やBOの予知などを行なうことが可
能となる。
第１図は連続鋳造設備の概要を示す断面図、第
２図はモールド内パウダーの状態を示す断面図、
第３図はモールド振動装置の概要を示す側面図、
第４図は本発明を実施する１つの装置構成を示す
ブロツク図、第５図は第４図に示すフイルター７
の正面図、第６図は測定光路を防塵するガイドパ
イプの一例を示す斜視図、第７図はその断面図で
ある。第８ａ図および第８ｂ図はイメージセンサ
ーの出力特性の違いを補正する１つの装置構成を
示す平面図であり、第８ａ図はスラグ・フイルム
厚み計測中を、第８ｂ図は補正中を示す。 １：タンデイシユ、２：モールド、３：鋳片、
４：溶融金属、５：パウダー、５０：スラグフイ
ルム、６：レンズ、７：フイルター、８：イメー
ジセンサー、９：モーター、１０：レーザー、１
１：レンズ、１２：増幅器、１３：厚み演算器、
１４：温度演算器、１５：記録計、１６：計算
機、１７：表示装置、１８：ガイドパイプ、１
９：鏡。
２図はモールド内パウダーの状態を示す断面図、
第３図はモールド振動装置の概要を示す側面図、
第４図は本発明を実施する１つの装置構成を示す
ブロツク図、第５図は第４図に示すフイルター７
の正面図、第６図は測定光路を防塵するガイドパ
イプの一例を示す斜視図、第７図はその断面図で
ある。第８ａ図および第８ｂ図はイメージセンサ
ーの出力特性の違いを補正する１つの装置構成を
示す平面図であり、第８ａ図はスラグ・フイルム
厚み計測中を、第８ｂ図は補正中を示す。 １：タンデイシユ、２：モールド、３：鋳片、
４：溶融金属、５：パウダー、５０：スラグフイ
ルム、６：レンズ、７：フイルター、８：イメー
ジセンサー、９：モーター、１０：レーザー、１
１：レンズ、１２：増幅器、１３：厚み演算器、
１４：温度演算器、１５：記録計、１６：計算
機、１７：表示装置、１８：ガイドパイプ、１
９：鏡。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 連続鋳造装置の鋳型下部における、その表面
にスラグ層を有する鋳片表面から発せられる放射
エネルギを集光するレンズと、集光された放射エ
ネルギから２種類の特定波長帯域放射エネルギの
強度に応じた電圧を生起するイメージセンサと、
該イメージセンサからの出力を増幅する増幅器
と、該増幅器からの上記特定波長帯域における放
射エネルギの強度信号から下記式によつて鋳片表
面のスラグ層厚さを演算する演算器とからなる連
続鋳造における鋳片表面のスラグ層厚さの測定装
置； ｌ＝λ1lnελ1θ−λ2lnελ2θ＋C2（１／T1−１／T2
）／λ1αλ1θ−λ2αλ2θ ここで、 ｌ：鋳片表面のスラグ層の厚さ、 λ1，λ2：フイルタにより指定される２つの波長、 ελ1θ：波長λ1における放射率、 ελ2θ：波長λ2における放射率、 C2：定数、 T1：波長λ1における温度測定値、 T2：波長λ2における温度測定値、 αλ1θ：波長λ1によつて決まる減衰定数、 αλ2θ：波長λ2によつて決まる減衰定数。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5754181A JPS57171555A (en) | 1981-04-16 | 1981-04-16 | Measuring device for thickness of slag layer on surface of ingot in continuous casting |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5754181A JPS57171555A (en) | 1981-04-16 | 1981-04-16 | Measuring device for thickness of slag layer on surface of ingot in continuous casting |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57171555A JPS57171555A (en) | 1982-10-22 |
| JPH0211347B2 true JPH0211347B2 (ja) | 1990-03-13 |
Family
ID=13058617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5754181A Granted JPS57171555A (en) | 1981-04-16 | 1981-04-16 | Measuring device for thickness of slag layer on surface of ingot in continuous casting |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57171555A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101224978B1 (ko) * | 2010-03-31 | 2013-01-22 | 현대제철 주식회사 | 몰드 슬래그 필름층 측정 방법 및 이를 적용한 몰드 슬래그 필름층 측정 장치 |
-
1981
- 1981-04-16 JP JP5754181A patent/JPS57171555A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57171555A (en) | 1982-10-22 |
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