JPH02116727A - 光フアイバ温度センサ - Google Patents
光フアイバ温度センサInfo
- Publication number
- JPH02116727A JPH02116727A JP27138688A JP27138688A JPH02116727A JP H02116727 A JPH02116727 A JP H02116727A JP 27138688 A JP27138688 A JP 27138688A JP 27138688 A JP27138688 A JP 27138688A JP H02116727 A JPH02116727 A JP H02116727A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- temperature sensor
- temperature
- thin film
- based material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、光ファイバを利用して温度を測定する光フ
ァイバ温度センサに関するものである。
ァイバ温度センサに関するものである。
[従来の技術]
従来、光ファイバを利用した温度センサとして、光ファ
イバの端面に、Ga As 、Cd Te Wの半導体
結晶板を接着し、この半導体結晶板を@潟物質とし、光
を投受光してその反射率または透過率の変化から温度を
測定するものがある。
イバの端面に、Ga As 、Cd Te Wの半導体
結晶板を接着し、この半導体結晶板を@潟物質とし、光
を投受光してその反射率または透過率の変化から温度を
測定するものがある。
C発明が解決しようとする課題]
しかしながら、半導体結晶板を用いると光ファイバ端面
との接着が難しく、製作技術を要し、耐熱性にも問題が
あった。また、Qa AS等の半導体結晶の、1脇では
、反射率、透過率の変化が生じる吸収端の立上りを鋭く
し、薄膜による干渉の影響を除くため、厚さが数十μm
以上の結晶性の良好な膜が必要であり、製作が困難であ
る問題点があった。
との接着が難しく、製作技術を要し、耐熱性にも問題が
あった。また、Qa AS等の半導体結晶の、1脇では
、反射率、透過率の変化が生じる吸収端の立上りを鋭く
し、薄膜による干渉の影響を除くため、厚さが数十μm
以上の結晶性の良好な膜が必要であり、製作が困難であ
る問題点があった。
この発明の目的は、以上の点に檻み、製作が容易で、小
型、耐熱性のある光ファイバ渇度センサを提供すること
である。
型、耐熱性のある光ファイバ渇度センサを提供すること
である。
[課題を解決するための手段1
この発明は、光ファイバを利用して感温物質に投受光し
その反射率または透過率の変化から温度を測定する光フ
ァイバ温度センサにおいて、感温物質として水素化また
はフッソ化したアモルファスSi系材料の薄膜を用いる
ようにしたものである。
その反射率または透過率の変化から温度を測定する光フ
ァイバ温度センサにおいて、感温物質として水素化また
はフッソ化したアモルファスSi系材料の薄膜を用いる
ようにしたものである。
[作用]
製作が容易で、製作条件により各種特性の薄膜が得られ
、濃度測定が可能となる。
、濃度測定が可能となる。
[実施例1
第1図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
。
図において、光ファイバ1の端部に、@潟物質2として
の水素化またはフッソ化したアモルファスシリコン系の
材料(a −8i :H,a −8i N:H,a
−8i C:H,a −8i Ge :H等)の簿模を
0.05〜0.3am 8111.、CVD、スパッタ
、イオンブレーティング、蒸着等で形成し、さらにこの
感温物質2の上にA I 、Cu 、Au等の反(M
l!I3を形成する。なお、この光ファイバ1の端部の
薄膜の感温物質2、反fJ4膜3の全体に、適当な保t
!1114を形成するとよい。
の水素化またはフッソ化したアモルファスシリコン系の
材料(a −8i :H,a −8i N:H,a
−8i C:H,a −8i Ge :H等)の簿模を
0.05〜0.3am 8111.、CVD、スパッタ
、イオンブレーティング、蒸着等で形成し、さらにこの
感温物質2の上にA I 、Cu 、Au等の反(M
l!I3を形成する。なお、この光ファイバ1の端部の
薄膜の感温物質2、反fJ4膜3の全体に、適当な保t
!1114を形成するとよい。
このような薄膜の感温物質2、光)1イバ1を介して図
示しない光源から光を投光し、その反射光または透過光
を図示しない検出器で測定する。
示しない光源から光を投光し、その反射光または透過光
を図示しない検出器で測定する。
この感温物!2の温度Tによる光学特性は、第3図で示
すように、温度Tにより吸収端での傾き部分が移動して
変化し、この傾き部分の適当な波長を測定波長として測
定することにより、温度に対する反射率変化が求まり、
これより温度を測定することができる。なお、温度依存
性の少い、波長を参照波長として測定波長との比較から
測温してもよい。
すように、温度Tにより吸収端での傾き部分が移動して
変化し、この傾き部分の適当な波長を測定波長として測
定することにより、温度に対する反射率変化が求まり、
これより温度を測定することができる。なお、温度依存
性の少い、波長を参照波長として測定波長との比較から
測温してもよい。
このアモルファスSi系の材料の感温物t22は、短波
長側での吸収が大であるので、0.1μm程度のnlI
gでも吸収端の傾きを大きくとれ、干渉の影響が少く、
感度か大きくとれる。また、水素化度、薄膜の制御等に
より、反射率の変化領域を光源、素子に合わせることが
でき、測定系の設計、構築が容易となる。
長側での吸収が大であるので、0.1μm程度のnlI
gでも吸収端の傾きを大きくとれ、干渉の影響が少く、
感度か大きくとれる。また、水素化度、薄膜の制御等に
より、反射率の変化領域を光源、素子に合わせることが
でき、測定系の設計、構築が容易となる。
第2図は、他の一実施例を示し、第1図の実施例におい
て、感温物質2と反射膜3との間にSi02 m 5を
バッファ層として形成した。このようにすることにより
、高湿使用時において、感温物質2と反射膜3との相互
拡散による特性変化を防止でき、温度センサの耐熱特性
を向上させることができる。
て、感温物質2と反射膜3との間にSi02 m 5を
バッファ層として形成した。このようにすることにより
、高湿使用時において、感温物質2と反射膜3との相互
拡散による特性変化を防止でき、温度センサの耐熱特性
を向上させることができる。
[発明の効果]
以上述べたように、この発明は、光ファイバ温度センサ
の感温物質として、アモルファスSi系の材料を用いた
もので、7s膜でも吸収端の立ち上り特性がよく高感度
のものとなり、また、材料、水素化度、膜厚の制御等に
より反射、吸収特性のコントロールができ、光源等に合
わせ任意の測定波艮鞘囲とでき、各種用途に応じたもの
が実現できる。また、薄膜技術により製造が容易で、出
産に向ぎ、小型、安価なものとなる。
の感温物質として、アモルファスSi系の材料を用いた
もので、7s膜でも吸収端の立ち上り特性がよく高感度
のものとなり、また、材料、水素化度、膜厚の制御等に
より反射、吸収特性のコントロールができ、光源等に合
わせ任意の測定波艮鞘囲とでき、各種用途に応じたもの
が実現できる。また、薄膜技術により製造が容易で、出
産に向ぎ、小型、安価なものとなる。
第1図、第2図は、各々この発明の一実施例を示す構成
説明図、第3図は、特性説明図である。 1・・・光ファイバ、2・・・@瀉物質、3・・・反射
膜、4・・・保護層、5・・・Si 021!第31図 ノ シ斥で4<へン
説明図、第3図は、特性説明図である。 1・・・光ファイバ、2・・・@瀉物質、3・・・反射
膜、4・・・保護層、5・・・Si 021!第31図 ノ シ斥で4<へン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光ファイバを利用して感温物質に光を投受光しその
反射率または透過率の変化から温度を測定する光ファイ
バ温度センサにおいて、感温物質として水素化またはフ
ッソ化したアモルファスSi系材料で膜厚が0.05〜
0.3μmの薄膜を用いた光ファイバ温度センサ。 2、光ファイバの端面に感温物質を形成し、その上に反
射膜を形成した請求項1記載の光ファイバ温度センサ。 3、感温物質と反射膜との間にSiO_2膜を設けた請
求項2記載の光ファイバ温度センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27138688A JPH02116727A (ja) | 1988-10-27 | 1988-10-27 | 光フアイバ温度センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27138688A JPH02116727A (ja) | 1988-10-27 | 1988-10-27 | 光フアイバ温度センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02116727A true JPH02116727A (ja) | 1990-05-01 |
| JPH0577973B2 JPH0577973B2 (ja) | 1993-10-27 |
Family
ID=17499350
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27138688A Granted JPH02116727A (ja) | 1988-10-27 | 1988-10-27 | 光フアイバ温度センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02116727A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19534440A1 (de) * | 1995-09-16 | 1997-03-20 | Bergmann Hans Wilhelm | Verfahren und Vorrichtung zur schnellen und berührungslosen Temperaturmessung an farbigen Metallen und anderen anorganischen Stoffen |
| CN101803910A (zh) * | 2010-04-08 | 2010-08-18 | 南昌航空大学 | 一种医用内窥镜用温度探头 |
| CN117490770A (zh) * | 2023-11-13 | 2024-02-02 | 江西师范大学 | 一种基于pva光纤的温湿度传感器系统 |
-
1988
- 1988-10-27 JP JP27138688A patent/JPH02116727A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19534440A1 (de) * | 1995-09-16 | 1997-03-20 | Bergmann Hans Wilhelm | Verfahren und Vorrichtung zur schnellen und berührungslosen Temperaturmessung an farbigen Metallen und anderen anorganischen Stoffen |
| CN101803910A (zh) * | 2010-04-08 | 2010-08-18 | 南昌航空大学 | 一种医用内窥镜用温度探头 |
| CN117490770A (zh) * | 2023-11-13 | 2024-02-02 | 江西师范大学 | 一种基于pva光纤的温湿度传感器系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0577973B2 (ja) | 1993-10-27 |
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