JPH02119976A - 電気活性ラングミュアブロジェット層系の製造方法 - Google Patents
電気活性ラングミュアブロジェット層系の製造方法Info
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- JPH02119976A JPH02119976A JP1176994A JP17699489A JPH02119976A JP H02119976 A JPH02119976 A JP H02119976A JP 1176994 A JP1176994 A JP 1176994A JP 17699489 A JP17699489 A JP 17699489A JP H02119976 A JPH02119976 A JP H02119976A
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- Japan
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- carbon atoms
- alkyl group
- compound
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05D—PROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05D1/00—Processes for applying liquids or other fluent materials
- B05D1/18—Processes for applying liquids or other fluent materials performed by dipping
- B05D1/20—Processes for applying liquids or other fluent materials performed by dipping substances to be applied floating on a fluid
- B05D1/202—Langmuir Blodgett films (LB films)
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y30/00—Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y40/00—Manufacture or treatment of nanostructures
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- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電気活性ラングミエアプロジェット層系(La
ngmuir−Blodgett 1ayer sys
tem:LB層系)の電気化学的な製造方法に及び該方
法で得られる層系に関する。
ngmuir−Blodgett 1ayer sys
tem:LB層系)の電気化学的な製造方法に及び該方
法で得られる層系に関する。
本発明方法によれば1例えば電子部品の分野で又はセン
サーとして使用される電気活性薄層を製造することがで
きる。
サーとして使用される電気活性薄層を製造することがで
きる。
〔従来の技術・発明が解決しようとする課題〕導電性1
.B系自体は知られている。例えばMo1. Crys
t、 hiq−Cryst、第120巻、第319〜3
23頁(1985年)中でんRuaudel−Teix
ierらは両親媒性ピリジニウムTCNQ塩のり、B系
について述べており、それはヨウ素蒸気でドーピングす
ることにより導電形に変わる。
.B系自体は知られている。例えばMo1. Crys
t、 hiq−Cryst、第120巻、第319〜3
23頁(1985年)中でんRuaudel−Teix
ierらは両親媒性ピリジニウムTCNQ塩のり、B系
について述べており、それはヨウ素蒸気でドーピングす
ることにより導電形に変わる。
選択された金属−大環状ポリマー(m6tallo−m
acrocyclic polymer)の1.B層系
は西独特許出願公開第3615832号に開示されてい
る。この刊行物では例えば1部分的酸化例えばヨウ素蒸
気処理又は電気化学的酸化により層の導電性を高めるこ
とが提案さnている。これらの層は電気活性、即ち電位
を適用し友結果生じ次特定の酸化還元状態を示す。
acrocyclic polymer)の1.B層系
は西独特許出願公開第3615832号に開示されてい
る。この刊行物では例えば1部分的酸化例えばヨウ素蒸
気処理又は電気化学的酸化により層の導電性を高めるこ
とが提案さnている。これらの層は電気活性、即ち電位
を適用し友結果生じ次特定の酸化還元状態を示す。
今になってLB層系の製造方法が見い出され。
該方法はLB層系の製造中に電気化学的処理を行なうこ
とからなる。本発明方法において、ドーピング及び層の
沈着(depos目1on)は−工程で行なわれる。
とからなる。本発明方法において、ドーピング及び層の
沈着(depos目1on)は−工程で行なわれる。
ドーピング剤で連続的に処理することにより又は連続的
な電気化学的酸化により得られるLB層系と比較して1
本新規方法により製造されたLB層系は層の向上した配
列(enhancedarrangement)の点で
極立りている。
な電気化学的酸化により得られるLB層系と比較して1
本新規方法により製造されたLB層系は層の向上した配
列(enhancedarrangement)の点で
極立りている。
本発明方法によれば、このように合成中でさえ導電性で
ある層構造を得ることが可能である。
ある層構造を得ることが可能である。
この観点から、移転工程中に生じたイオン種は分解する
ことなく固体基材に適用され得るということは、特に驚
ろくべきことと見なされなければならない。
ことなく固体基材に適用され得るということは、特に驚
ろくべきことと見なされなければならない。
新規方法の他の利点として、多数の対イオンが層系中に
混入され得るという特徴があり、それにより慣用方法で
は製造できない層の合成が可能になる。
混入され得るという特徴があり、それにより慣用方法で
は製造できない層の合成が可能になる。
加えて、還境的に有害で、また腐食性のドーピング剤1
例えば塩素又は臭素蒸気が本発明方法では不要になる。
例えば塩素又は臭素蒸気が本発明方法では不要になる。
特に本発明は。
1)電気化学的に酸化又は還元さn得る環式共役π−系
(cyclic conjugatedπ−syste
m)を含む電気活性化合物の、又は該化合物に単分子層
を安定化させることのできる他の両親媒性化合物を配合
した組成物の単分子層全製造する工程。
(cyclic conjugatedπ−syste
m)を含む電気活性化合物の、又は該化合物に単分子層
を安定化させることのできる他の両親媒性化合物を配合
した組成物の単分子層全製造する工程。
リ 上記電気活性化合物とサブ相(5ubphase
)の対イオンから塩を生じさせるように適用電させる工
程。
)の対イオンから塩を生じさせるように適用電させる工
程。
を含むラングミーアプロジェット層系(、LB 系)の
製造方法に関する。
製造方法に関する。
“電気化学的に酸化又は還元され得る環式共役π−系を
含む電気活性化合物”といつfi現は。
含む電気活性化合物”といつfi現は。
本明細書においては、単層を形成する環式共役π系を有
しそして1.B層系に混入されたときに。
しそして1.B層系に混入されたときに。
酸化又は還元状態が例えばラジカルカチオンもしくはア
ニオン又はジカチオンもしくはジアニオンである程に、
安定な陽性又は陰性的な荷電状態へと電気化学的に変え
ることのできる全ての物質を意味するものと理解された
い。
ニオン又はジカチオンもしくはジアニオンである程に、
安定な陽性又は陰性的な荷電状態へと電気化学的に変え
ることのできる全ての物質を意味するものと理解された
い。
1環式共役π−系”という語句は芳香族及び非芳香族π
−系ならびに炭素環式又は複素環式π−系を含む。
−系ならびに炭素環式又は複素環式π−系を含む。
適当な化合物類の例としては、単フィルムを形成するア
ニエレン類;単層を形成する炭素環式芳香族類例えば両
親媒性ピレンもしくはピレン誘導体:単フィルムを形成
する複素環式芳香族炭化水素類例えば両親媒性カルバゾ
ール及びピロール酵導体、又はテトラチオテトラセンも
しくはテトラセレノテトラセン誘導体、並びにテトラチ
アフルバレン、テトラセレノフルバレン、ポルフィリン
、7タロシアニンもしくハテトラアザアニエレン誘導体
が挙げられる。
ニエレン類;単層を形成する炭素環式芳香族類例えば両
親媒性ピレンもしくはピレン誘導体:単フィルムを形成
する複素環式芳香族炭化水素類例えば両親媒性カルバゾ
ール及びピロール酵導体、又はテトラチオテトラセンも
しくはテトラセレノテトラセン誘導体、並びにテトラチ
アフルバレン、テトラセレノフルバレン、ポルフィリン
、7タロシアニンもしくハテトラアザアニエレン誘導体
が挙げられる。
層系中にカチオン形の電気活性化合物と共に混入するの
に適する対イオンは実質的に全ての無機又は有機アニオ
ンである。
に適する対イオンは実質的に全ての無機又は有機アニオ
ンである。
無機7二yJ−7の例はczo4. BF4. Pk’
s 、 AsF5 。
s 、 AsF5 。
sbp;、 5bct4. sbc≦、 F−、Cj、
Br、 Br3゜I−又はI3″である。
Br、 Br3゜I−又はI3″である。
有機アニオンの例は、ナト2シアノキノジメタン、トテ
ラシアノエチレン、アルキルフル7エート、アルキルス
ルホネート、アルキルホスフェートもしくはアルキルホ
スホネート、アリールスルフェート、アリールスルホ$
−)。
ラシアノエチレン、アルキルフル7エート、アルキルス
ルホネート、アルキルホスフェートもしくはアルキルホ
スホネート、アリールスルフェート、アリールスルホ$
−)。
アリールホスフェートはアリールホスホネート。
アルカリールスルフェート、アルカリールスルホネート
、アルカリールホスフェートもしくはアルカリールホス
ホネート、フルオロアルキル又はフルオロアルカリール
スルフェート、フルオロアルキルもしくuフルオロアル
カリールスルホネート、フルオロアルキルもしくはフル
オロアルカリールホス7エー)、又Hへテロアリールス
ルホネート例エハヒロロビロールジスルホネート:又は
ポリ′マーのアニオン例えばポリビニルスルホネート、
ポリスチレンスルホネート、ポリアネトールスルホネー
ト〔スルホン化ポリ(p−メトキシ−β−メチルスチレ
ン)〕もしくはデキストランスルホネートである。
、アルカリールホスフェートもしくはアルカリールホス
ホネート、フルオロアルキル又はフルオロアルカリール
スルフェート、フルオロアルキルもしくuフルオロアル
カリールスルホネート、フルオロアルキルもしくはフル
オロアルカリールホス7エー)、又Hへテロアリールス
ルホネート例エハヒロロビロールジスルホネート:又は
ポリ′マーのアニオン例えばポリビニルスルホネート、
ポリスチレンスルホネート、ポリアネトールスルホネー
ト〔スルホン化ポリ(p−メトキシ−β−メチルスチレ
ン)〕もしくはデキストランスルホネートである。
層系中にアニオン形の電気活性化合物と共に混入するの
に適する対イオンは実質的に全ての無機又は有機カチオ
ンである。
に適する対イオンは実質的に全ての無機又は有機カチオ
ンである。
そのような対イオンの例は:Li+Na”、 K+もし
くはAgのような金属カチオン、又はアルキルアンモニ
クム、アルキルスルホニウム、アルキルホスホニウムも
しくはS−ベンジルチウロニウムイオンのような有機カ
チオンである。
くはAgのような金属カチオン、又はアルキルアンモニ
クム、アルキルスルホニウム、アルキルホスホニウムも
しくはS−ベンジルチウロニウムイオンのような有機カ
チオンである。
水/空気界面で単分子層7ki造する友めに。
好’El、<は低沸点で水非混和性の溶媒中の単フィル
ムを形成する電気活性化合物の溶液の小量をそn自体公
知の方法で水サブ相の表面に適用し、溶媒全蒸発させそ
して得られたフィルムを。
ムを形成する電気活性化合物の溶液の小量をそn自体公
知の方法で水サブ相の表面に適用し、溶媒全蒸発させそ
して得られたフィルムを。
水サブ相の表面上に安定な単分子層が生じる程度に圧縮
する。表面上に単分子層を生じさせる水サブ相は通常、
多段蒸留もしくは脱イオン化されそして濾過され導電性
塩(conduc t ingsal ts)が添加さ
れ几水からなり、その塩のアニオン又はカチオンは対イ
オンとして多層系中に混入される。導電性塩は通常そn
ぞれプロトン酸又はその塩、好1しくけアルカリ金属塩
の形態で水サブ相に添加される。この導電性塩の濃度は
、LB多層中の道理にかなう混入比を確実にするのに充
分でなければならない。16当り1叶S〜10−3の!
!度で通常は充分である。それぞれの電解質における導
電性塩の飽和濃度が上限とみなされるべきである。
する。表面上に単分子層を生じさせる水サブ相は通常、
多段蒸留もしくは脱イオン化されそして濾過され導電性
塩(conduc t ingsal ts)が添加さ
れ几水からなり、その塩のアニオン又はカチオンは対イ
オンとして多層系中に混入される。導電性塩は通常そn
ぞれプロトン酸又はその塩、好1しくけアルカリ金属塩
の形態で水サブ相に添加される。この導電性塩の濃度は
、LB多層中の道理にかなう混入比を確実にするのに充
分でなければならない。16当り1叶S〜10−3の!
!度で通常は充分である。それぞれの電解質における導
電性塩の飽和濃度が上限とみなされるべきである。
フィルムの安定性は、実験パラメータの選択により影響
さn得ることは常識である。従って例えばサブ相全冷却
することにより相対的に不安定なフィルムを安定化する
ことができ、或は単分子フィルムを安定化できる化合物
が使用される。
さn得ることは常識である。従って例えばサブ相全冷却
することにより相対的に不安定なフィルムを安定化する
ことができ、或は単分子フィルムを安定化できる化合物
が使用される。
そのような化合物の例としては、長鎖脂肪酸側光ばパル
ミチン酸、ステアリン酸、アラキン酸、ベヘニン酸もし
くはこれら酸のエステル。
ミチン酸、ステアリン酸、アラキン酸、ベヘニン酸もし
くはこれら酸のエステル。
好1しくけメチルエステル;長鎖第一アミン側光kf、
n−ヘキサデシルアミン、オクタデシルアミンもしく
はエイコシルアミン:長鎖アルコール例えばヘキサデカ
ノール、n−オクタデカノール、エイコサノール;長鎖
脂肪族炭化水素例えばヘキサデカン、オクタデカンもし
くはエイコサン:又はステロイド及びステロイド誘導体
例えばコレステロールが挙げられる。
n−ヘキサデシルアミン、オクタデシルアミンもしく
はエイコシルアミン:長鎖アルコール例えばヘキサデカ
ノール、n−オクタデカノール、エイコサノール;長鎖
脂肪族炭化水素例えばヘキサデカン、オクタデカンもし
くはエイコサン:又はステロイド及びステロイド誘導体
例えばコレステロールが挙げられる。
好1しくけフィルムは、単分子フィルムを安定化できる
他の両親媒性化合物とともにモノフィルム全形成する導
電性化合物t−1〜95モルチ、好’EL、<は2θ〜
75モルチ含む。
他の両親媒性化合物とともにモノフィルム全形成する導
電性化合物t−1〜95モルチ、好’EL、<は2θ〜
75モルチ含む。
フィルムを形成する物質又はそのような物質の混合物の
単分子フィルムは、ラングミュアプロジェット法により
水サブ相の表面から固体基材罠容易に移転させることが
できる。これはそれ自体公知の方法により、そめ表面に
圧縮された単分子フィルムを有する水サブ相を通して固
体基材を浸漬することKより行なわれ、それにより上記
フィルムは基材に移転する。
単分子フィルムは、ラングミュアプロジェット法により
水サブ相の表面から固体基材罠容易に移転させることが
できる。これはそれ自体公知の方法により、そめ表面に
圧縮された単分子フィルムを有する水サブ相を通して固
体基材を浸漬することKより行なわれ、それにより上記
フィルムは基材に移転する。
電位を適用することにより単層全移転させる之めに、そ
の操作では導性性表面を有し陽極又は陰極として接続さ
れた固体基材に直流電圧をかけ、’EfC対向電極例え
ば金又は白金線をそのサブ相中に浸漬しなけnばならな
い。単層の移転蝶続けてその単層を通して基材電極を浸
漬することによシ行なわれる。電位は、サブ相中に物質
的変化例えばサブ相の成分の分解を生じさせずに電気活
性化合物tS化又は還元するのに充分となるよう選ばれ
る11個々の場合に必要となる電圧は、化合物の酸化又
は還元が該化合物の吸収スペクトルに変化音も几らすの
で、当業者により分光分析的方法で決定される。
の操作では導性性表面を有し陽極又は陰極として接続さ
れた固体基材に直流電圧をかけ、’EfC対向電極例え
ば金又は白金線をそのサブ相中に浸漬しなけnばならな
い。単層の移転蝶続けてその単層を通して基材電極を浸
漬することによシ行なわれる。電位は、サブ相中に物質
的変化例えばサブ相の成分の分解を生じさせずに電気活
性化合物tS化又は還元するのに充分となるよう選ばれ
る11個々の場合に必要となる電圧は、化合物の酸化又
は還元が該化合物の吸収スペクトルに変化音も几らすの
で、当業者により分光分析的方法で決定される。
移転は都合よくは1ないし30℃の温度範囲内で行なわ
れる。しかしながらこの範囲からそれる温度もlた可能
である。移転温度の選択基準は第一に1友主として水サ
ブ相の表面上に存在する単フィルムの安定性による。
れる。しかしながらこの範囲からそれる温度もlた可能
である。移転温度の選択基準は第一に1友主として水サ
ブ相の表面上に存在する単フィルムの安定性による。
水サブ相の表面上に存在する単フィルムは。
各浸漬後に置換することができ、それで異なる種類の層
を基材上に沈着させることができる。
を基材上に沈着させることができる。
LB技術により製造される多層は、このように直接連続
している物質の層から、又は異なる層を形成する物質の
交互の層からなることができる。
している物質の層から、又は異なる層を形成する物質の
交互の層からなることができる。
電位を適用せずに多層を製造する方法及び異なるタイプ
の多層はLB系の技術分野の専問家には知られており、
また例えば「Techniquesof Chemis
try、 Physical Pvlelhods o
f ChemistryJ第1巻、第3B部第666〜
671頁(著者:AWeissberger及びP、
RossiLer) K記載されてrる。
の多層はLB系の技術分野の専問家には知られており、
また例えば「Techniquesof Chemis
try、 Physical Pvlelhods o
f ChemistryJ第1巻、第3B部第666〜
671頁(著者:AWeissberger及びP、
RossiLer) K記載されてrる。
1、B技術のための適当な固体基材は、顕微鏡的には平
担で導電性の表面を有する非常に広範囲の物質である。
担で導電性の表面を有する非常に広範囲の物質である。
そのような基材の例としては、アルミニウム。
鋼、銀又は金のような金属;ゲルマニウム、ケイ素又は
GaA sのような半導体;導電性塗膜が供給される無
機材料1例えば金属塗膜又は半導体層例えばインジウム
−錫−オキシド(ITO)が供給される例えばガラス又
は水晶;又はプラスチック材料例えばテフロン■ ポリ
エチレン、ポリメチル、メタクリV−ト、ポリスチレン
又はポリエステルが挙げられ、これら物質には導電性塗
膜例えば上記物質が供給される。
GaA sのような半導体;導電性塗膜が供給される無
機材料1例えば金属塗膜又は半導体層例えばインジウム
−錫−オキシド(ITO)が供給される例えばガラス又
は水晶;又はプラスチック材料例えばテフロン■ ポリ
エチレン、ポリメチル、メタクリV−ト、ポリスチレン
又はポリエステルが挙げられ、これら物質には導電性塗
膜例えば上記物質が供給される。
疎水性にされたそして導電性表面を有する基材1例えば
導電性塗膜が供給されそしてトリクロロメチルシラン、
ジクロロジメチルシラン又はトリクロロオクタデシルシ
ランで前処理されたガラス又は水晶もIた便用すること
ができる。
導電性塗膜が供給されそしてトリクロロメチルシラン、
ジクロロジメチルシラン又はトリクロロオクタデシルシ
ランで前処理されたガラス又は水晶もIた便用すること
ができる。
本発明方法は、酸化形態ではラジカルカチオン又はジカ
チオン(dication)の状態にありそして還元形
態では中性形態(neutral form)にある電
気活性化合物で行なうのが好ましい。
チオン(dication)の状態にありそして還元形
態では中性形態(neutral form)にある電
気活性化合物で行なうのが好ましい。
そのような化合物で最も好ましいのは次式■〔式中。
XはS又は8eを表わし。
亀は炭素原子数1ないし30のアルキル基。
−OF、、 −U−fL”、−8−fL3又は−Co
−0−R”を表わし。
−0−R”を表わし。
ル2は水素原子、炭素原子数1ないし30のアルキル基
、−Ck”s、 −0−RF、 −843又は−CO−
043を表わし、そして ル3は炭素原子数1ないし60のアルキル基又は部分的
にもしくは飽和的にフッ素化され九炭素原子数1ないし
50のアルキル基金表わす〕で表わされる化合物である
。
、−Ck”s、 −0−RF、 −843又は−CO−
043を表わし、そして ル3は炭素原子数1ないし60のアルキル基又は部分的
にもしくは飽和的にフッ素化され九炭素原子数1ないし
50のアルキル基金表わす〕で表わされる化合物である
。
これら式1で表わされる化合物の中でも、Xが8を表わ
し、 i(,1が一〇−R,”J−我わしそして凡2が
水X原子を表わすか:或はXが8を表わし、凡1がにl
、N3 t−表わしセしてル雪が水素原子を表わすタイ
プを使用するのが好ましい。
し、 i(,1が一〇−R,”J−我わしそして凡2が
水X原子を表わすか:或はXが8を表わし、凡1がにl
、N3 t−表わしセしてル雪が水素原子を表わすタイ
プを使用するのが好ましい。
他の特に好lしい化合物は次式n
J4
〔式中。
R4は水素原子、炭素原子数1ないし30のアルキル基
、非置換のフェニル基もしくはす7チル基、又は各々炭
素原子数1ないし12のアルキル基で、炭素原子数1な
いし12のアルコキシ基でもしくは炭素原子数1ないし
12のアルキルチオ基で置換されたフェニル基もしくは
す7チル基を表わし。
、非置換のフェニル基もしくはす7チル基、又は各々炭
素原子数1ないし12のアルキル基で、炭素原子数1な
いし12のアルコキシ基でもしくは炭素原子数1ないし
12のアルキルチオ基で置換されたフェニル基もしくは
す7チル基を表わし。
kLsは炭素原子数4ないし30のアルキル基。
炭素原子数4ないし30のアルコキシ基又は炭素原子数
4ないし30のフルキルチオ基を茨わし。
4ないし30のフルキルチオ基を茨わし。
R・は水素原子を茨わすか又はBsで定義され友意味を
表わし、そして Mは銅、ニッケル、鉄、コバルト、パラジウム及び白金
からなる群に属する二価の金属原子を宍わすか又は二個
の水素原子を表わす〕で表わされる化合物である。
表わし、そして Mは銅、ニッケル、鉄、コバルト、パラジウム及び白金
からなる群に属する二価の金属原子を宍わすか又は二個
の水素原子を表わす〕で表わされる化合物である。
これら式nで表わされる化合物の中でも1Mが銅又はニ
ッケルを表わし R4が炭素原子数1ないし30のアル
キル基を表わし、R″が炭素原子数10ないし30のア
ルキルチオ基を表わし。
ッケルを表わし R4が炭素原子数1ないし30のアル
キル基を表わし、R″が炭素原子数10ないし30のア
ルキルチオ基を表わし。
そして几6が水素原子ヲ我わすタイプの化合物を使用す
るのが好lしい。
るのが好lしい。
アルキル基は直鎖又は枝分れ基でありてよい。
直鎖基が好ましい。
アルキル基#′i’E7t−11−位には存在しない1
個又はそれ以上のトランス二重結合又は三重結合を含ん
でいてよい。複数のトランス二重結合又は三重結合は遊
離し几又は互に共役し次状態にあってよい。
個又はそれ以上のトランス二重結合又は三重結合を含ん
でいてよい。複数のトランス二重結合又は三重結合は遊
離し几又は互に共役し次状態にあってよい。
個々の定義における炭素原子数にもよるが。
アルキ基の例として特にメチル基、エチル基。
n−プロピル基、イソブチル基、ロープチル基、イソブ
チル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチ
ル基、n−オクチル基、2−エチル′\キシル基、n−
ノニル&* ” −7シルas n−ウンデシル基、n
−ドデシル基、n−トリデシル基、n−テトラデシル基
、n−ペンタデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプ
タデシル基、n−オクタデシル基、n−ノナデシル基、
n−エイコシル基、n−ヘンエイコシルi5.n −)
’コシル基、n−テトラコシル基、n−へキサコシル基
、n−オクタコシル基及びn−ドリアコンチル基又はア
リル基、プロパルギル基、オクタデカ−9−トランスー
エニル基及ヒベンタコ?−10,12−シイニル基が挙
げられる。
チル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチ
ル基、n−オクチル基、2−エチル′\キシル基、n−
ノニル&* ” −7シルas n−ウンデシル基、n
−ドデシル基、n−トリデシル基、n−テトラデシル基
、n−ペンタデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプ
タデシル基、n−オクタデシル基、n−ノナデシル基、
n−エイコシル基、n−ヘンエイコシルi5.n −)
’コシル基、n−テトラコシル基、n−へキサコシル基
、n−オクタコシル基及びn−ドリアコンチル基又はア
リル基、プロパルギル基、オクタデカ−9−トランスー
エニル基及ヒベンタコ?−10,12−シイニル基が挙
げられる。
ル3のアルキル基は”!7t、ここに掲げたアルキル基
の適当な部分フッ化又は過7フ化誘導体であってもよい
。
の適当な部分フッ化又は過7フ化誘導体であってもよい
。
炭素原子数1ないし12のアルキル基、アルコキシ基又
はアルキルチオ基により置換されたフェニル又はナフチ
ル基であるル4は、1個又はそれ以上の上記の基で、好
ましくは1個のそのような基で各可能な位置、好1しく
はバラ−位に置換されているのが好フしい。多置換の場
合。
はアルキルチオ基により置換されたフェニル又はナフチ
ル基であるル4は、1個又はそれ以上の上記の基で、好
ましくは1個のそのような基で各可能な位置、好1しく
はバラ−位に置換されているのが好フしい。多置換の場
合。
置換基は同一であっても異なっていてもよい。
炭素原子数4ないし30のアルコキシもしくはアルキル
チオ基としての几5及びR6における。
チオ基としての几5及びR6における。
又はフェニルもしくはナフチル基R4の置換基としての
炭素原子数1ないし12のアルコキシ基もしくは炭素原
子数1ないし12のアルキルチオ基におけるアルキル部
分は直鎖又は枝分れ基でありてよく、直鎖基が好lしい
。
炭素原子数1ないし12のアルコキシ基もしくは炭素原
子数1ないし12のアルキルチオ基におけるアルキル部
分は直鎖又は枝分れ基でありてよく、直鎖基が好lしい
。
好lしい金属Mは銅及び二yケルである。
式■で弐わされる化合物の幾つかは知られている。し次
がって、Xが8又は8ef表わし。
がって、Xが8又は8ef表わし。
R1が−<:o−o−usを表わし、几2が水素原子又
は−co−o−rt”1表わしセしてル1が上記定義の
意味を表わす式Iで表わされる化合物は1)E−A−4
51QO92に記載されている方法と同様な方法で製造
することができる。
は−co−o−rt”1表わしセしてル1が上記定義の
意味を表わす式Iで表わされる化合物は1)E−A−4
51QO92に記載されている方法と同様な方法で製造
することができる。
Xが8を表わし、几1がアルキル基s −CRe−0
−R”又祉−8−)t3y!r表わしそしてR1が水素
原子。
−R”又祉−8−)t3y!r表わしそしてR1が水素
原子。
アルキル基、−CF3.−0−R”又は−8−R3を表
わす式■で表わされる化合物は次の図式により得るこ(
lit) 0=C−CH3 C) C)=C−CH3 fl −1fl C式中、R”uアル*ル基、−cF3.−o−FLs又
B−s−as2表わし、R“は水素原子、アルキル基、
−ch’8.−o−as又は−8−kLsを表わす〕。
わす式■で表わされる化合物は次の図式により得るこ(
lit) 0=C−CH3 C) C)=C−CH3 fl −1fl C式中、R”uアル*ル基、−cF3.−o−FLs又
B−s−as2表わし、R“は水素原子、アルキル基、
−ch’8.−o−as又は−8−kLsを表わす〕。
テトラセンキノンmの還元的アシル化■はこの場合例え
ば無水酢酸、酢酸カリウム、及び酢酸エチルのような極
性非プロトン性溶媒の存在下、亜鉛末と反応させること
により行なわれる。
ば無水酢酸、酢酸カリウム、及び酢酸エチルのような極
性非プロトン性溶媒の存在下、亜鉛末と反応させること
により行なわれる。
反応■において還元剤は概して僅かに化学量論的に過剰
に1例えば1モルの■に対して2〜4モルの量で用いら
れる。
に1例えば1モルの■に対して2〜4モルの量で用いら
れる。
相当するTTT誘導誘導体製造する次めのビス(アセト
キシ)化合物■の反応(反応0)は。
キシ)化合物■の反応(反応0)は。
芳香族スルホン酸例えばパラトルエンスルホン酸のよう
な醗触媒の存在下で化合物■とイオウを加熱することに
より都合よく行なわれる。
な醗触媒の存在下で化合物■とイオウを加熱することに
より都合よく行なわれる。
化合物■の反応は通常、不活性有機溶媒中で行なわれる
。そのような溶媒の例はジクロロベンゼン又はトリクr
:10ベンゼンのようなハロゲン化芳香族炭化水素であ
る。
。そのような溶媒の例はジクロロベンゼン又はトリクr
:10ベンゼンのようなハロゲン化芳香族炭化水素であ
る。
反応■においては普通は過剰のイオウが用いられIた反
応はそれぞれの溶媒の還流下で好1しく行なわれる。
応はそれぞれの溶媒の還流下で好1しく行なわれる。
Xが8ef表わし、セしてR1及びル2がそれぞれ上記
でBaIAびBbについて定義された意味を表わす式I
で弐わされる化合物は次の次式に従って得ることができ
る。
でBaIAびBbについて定義された意味を表わす式I
で弐わされる化合物は次の次式に従って得ることができ
る。
■
テトラセンキノン■七、対応するテトラセン■にする還
元は、化合物mt過剰の還元剤例えば亜鉛宋と反応させ
ることによるそれ自体公知の方法で行なうことができる
。
元は、化合物mt過剰の還元剤例えば亜鉛宋と反応させ
ることによるそれ自体公知の方法で行なうことができる
。
その反応は氷酢酸と酢酸カリウムの混合物中で好1しく
行なわれる。相当するジクロロテトラセン又はテトラク
ロロテトラセンVlを製造するためのテトラセン誘導体
■の反応は、それ自体公知の方法で化合物〜1と塩化ス
ルフリルを反応させることにより行なうことができる。
行なわれる。相当するジクロロテトラセン又はテトラク
ロロテトラセンVlを製造するためのテトラセン誘導体
■の反応は、それ自体公知の方法で化合物〜1と塩化ス
ルフリルを反応させることにより行なうことができる。
同様化合物についてのそのような反応の例はヨーロッパ
特許出願第109360号に見られる。
特許出願第109360号に見られる。
1”8eT訪導体■を製造するfcめの化合物■の反応
もlた公知方法と同様にして行なうことができる。この
目的のために式■で表わされる化合物はセレンの存在下
で加熱される。そのような反応の例はヨーロッパ特許出
願第109360号にも見い出される。
もlた公知方法と同様にして行なうことができる。この
目的のために式■で表わされる化合物はセレンの存在下
で加熱される。そのような反応の例はヨーロッパ特許出
願第109360号にも見い出される。
次式11ia
〔式中、ReH−0−R”又H−8−R”ヲ表h)LR
d#iReについて定義され九意味を表わすか水素原子
を表わし、セしてRQ−を上記定義の意味を表わす〕で
表わされる化合物Fi2−フルオロ−又は2.5−ジフ
ルオロテトラセン、へ12−ジオンから、炭酸カリウム
の存在下R3−OH又けR3−8Hと反応させることに
よシ得ることができる。反応は一般的に極性非プロトン
性溶媒、例えばジメチルスルホキシド中で行なわれる。
d#iReについて定義され九意味を表わすか水素原子
を表わし、セしてRQ−を上記定義の意味を表わす〕で
表わされる化合物Fi2−フルオロ−又は2.5−ジフ
ルオロテトラセン、へ12−ジオンから、炭酸カリウム
の存在下R3−OH又けR3−8Hと反応させることに
よシ得ることができる。反応は一般的に極性非プロトン
性溶媒、例えばジメチルスルホキシド中で行なわれる。
出発物質2−フルオロテトラセン−12−ジオンはヨー
ロッパ特許出願第153905から知られている。2.
3−ジフルオロ誘導体ij 2− フルオロ誘導体と同
様にしてフルオロベンゼンの代わりに1.2−ジフルオ
ロベンゼンを用いることにより製造することができる。
ロッパ特許出願第153905から知られている。2.
3−ジフルオロ誘導体ij 2− フルオロ誘導体と同
様にしてフルオロベンゼンの代わりに1.2−ジフルオ
ロベンゼンを用いることにより製造することができる。
次式[[b
〔式中、Reはアルキル基を表わしセしてRfは水素原
子又はアルキル基を表わす〕 で表わされる化合物は、アルキルベンゼン又は1、2−
ジアルキルベンゼンのナフタレン−λ3−ジカルボン
酸無水物によるフリーデルクラフトアシル化(p ri
edel −Crafts acy1a1jof’l
)及び続(環化により得ることができる。
子又はアルキル基を表わす〕 で表わされる化合物は、アルキルベンゼン又は1、2−
ジアルキルベンゼンのナフタレン−λ3−ジカルボン
酸無水物によるフリーデルクラフトアシル化(p ri
edel −Crafts acy1a1jof’l
)及び続(環化により得ることができる。
アルキルベンゼンの代わりにフルオロベンゼンを用いる
同様の連続反応の例はヨーロッパ特許出願第10936
0号にみられる。
同様の連続反応の例はヨーロッパ特許出願第10936
0号にみられる。
下記式111CC式中、Rgは水素原子、アルキル基又
は−CF、 ’i表わす〕で表わされる化合物は次の図
式 %式%) と相当する置換1.4−ナフトキノン>1−反応させる
ことにより得ることができる。これらの反応はAnn、
Quim、 Ser、 C,第81巻第2号、第15
3〜B頁(1985年)に記載されている。この文献に
は化合物■の製造もまた記載されている。
は−CF、 ’i表わす〕で表わされる化合物は次の図
式 %式%) と相当する置換1.4−ナフトキノン>1−反応させる
ことにより得ることができる。これらの反応はAnn、
Quim、 Ser、 C,第81巻第2号、第15
3〜B頁(1985年)に記載されている。この文献に
は化合物■の製造もまた記載されている。
式■で表わされる化合物は1.4−ベンゾキノンと次式
X 〔式中、Rgは上記定義の意味全表わす〕で表わされる
α−ピロンとのディールス−アルダ−反応(Diels
−人1der reaction)により得ることがで
きる。
X 〔式中、Rgは上記定義の意味全表わす〕で表わされる
α−ピロンとのディールス−アルダ−反応(Diels
−人1der reaction)により得ることがで
きる。
Rgが水素原子又は−CF、 i表わす式Xで表わされ
る化合物はそれ自体公刊の方法でα−ピロン−5−カル
ボン酸又はα−ピロ7−4.5−ジカルボン酸のジエス
テルとS F 4/HF k反応させることにより製造
することができる。α−ピロン出発物質は例えは米国特
許明細4を第4617151号に開示されている。
る化合物はそれ自体公刊の方法でα−ピロン−5−カル
ボン酸又はα−ピロ7−4.5−ジカルボン酸のジエス
テルとS F 4/HF k反応させることにより製造
することができる。α−ピロン出発物質は例えは米国特
許明細4を第4617151号に開示されている。
Rgがアルキル基ヲ畏わす式Xで表わされる化合物は、
米国特許明細#第4617151号に記載されている方
法と同様にして強無水酢酸好ましくは無水ギ酸の存在下
で次式膚 〔式中、Rf、 Ra及びR9はアルキル基を表わす〕
で表わされる化合物を環化し、続いてSF4/HF全4
/HF金OOR’基をCF3に変換することにより得る
ことができる。
米国特許明細#第4617151号に記載されている方
法と同様にして強無水酢酸好ましくは無水ギ酸の存在下
で次式膚 〔式中、Rf、 Ra及びR9はアルキル基を表わす〕
で表わされる化合物を環化し、続いてSF4/HF全4
/HF金OOR’基をCF3に変換することにより得る
ことができる。
弐刈で表わされる化合物は米国特許明細暮第46171
51号に開示されているのと同様な方法で、ギ酸x ス
テルHCOOR’ f Ti(Ja (t’:) 存在
T、次式xm 〔式中、Rf及びR9は上記定義の意味を表わす〕で表
わされる化合物と反応させることにより得ることができ
る。
51号に開示されているのと同様な方法で、ギ酸x ス
テルHCOOR’ f Ti(Ja (t’:) 存在
T、次式xm 〔式中、Rf及びR9は上記定義の意味を表わす〕で表
わされる化合物と反応させることにより得ることができ
る。
式Xmで表わされる化合物はそれ自体公知の次式XIa
R’0OC−C)12−C−C)I、−COOR’
(Xl[la)〔式中、R?は上記定義の意味を表
わす〕で表わされるケトジカルボン酸エステルから出発
して製造することができる。
(Xl[la)〔式中、R?は上記定義の意味を表
わす〕で表わされるケトジカルボン酸エステルから出発
して製造することができる。
この念めに、式xmaで表わされる化合物は塩素化剤例
えばPC#、、 PC,#、又は5oczzと反応させ
られ、相当するジアルキル2−りOロプロペ=1−エン
−1,3−ジカルボキシレートi生じ、そして後者はそ
れ自体公知の方法で脱ノ・ロゲン化されて相当するアレ
ン−1,′5−ジカルボン酸ジアルキルを生じる。
えばPC#、、 PC,#、又は5oczzと反応させ
られ、相当するジアルキル2−りOロプロペ=1−エン
−1,3−ジカルボキシレートi生じ、そして後者はそ
れ自体公知の方法で脱ノ・ロゲン化されて相当するアレ
ン−1,′5−ジカルボン酸ジアルキルを生じる。
このアレン化合物は続いて、不活性溶媒中、銅(11化
合物例えばCuCN又はCuC#の存在下で試薬RgQ
(式中、Qはアルカリ盆踊例えばLi 、 Na又はK
i表わし、Rgはアルキル基を表わす)と反応させられ
、次いで加水分解によって式xmで表わされる化合物に
変えられる。反応温度は都合よくは−100ないし一2
0℃である。
合物例えばCuCN又はCuC#の存在下で試薬RgQ
(式中、Qはアルカリ盆踊例えばLi 、 Na又はK
i表わし、Rgはアルキル基を表わす)と反応させられ
、次いで加水分解によって式xmで表わされる化合物に
変えられる。反応温度は都合よくは−100ないし一2
0℃である。
これらの反応は好ましくは有機の不活性で極性の溶媒例
えはテトラヒドロフランのようなエーテル類、ジメチル
スルホキシドのようなスルホキシド類、テトラメチレン
スルホンのようなスルホン類、ジメチルホルムアミド父
はN−メチルピロリドンのようなN−置換カルボキサミ
ド又はラクタム類中で行なわれる。
えはテトラヒドロフランのようなエーテル類、ジメチル
スルホキシドのようなスルホキシド類、テトラメチレン
スルホンのようなスルホン類、ジメチルホルムアミド父
はN−メチルピロリドンのようなN−置換カルボキサミ
ド又はラクタム類中で行なわれる。
式[で表わされる化合物自体は公知であり、また例えば
ヨーロッパ特許出願第162804又は75456 号
、或は西独公開特許出願第2260761及び2214
356号明細書に開示されている方法により製造するこ
とができる。
ヨーロッパ特許出願第162804又は75456 号
、或は西独公開特許出願第2260761及び2214
356号明細書に開示されている方法により製造するこ
とができる。
本発明方法により製造され九層系は導電体又は眠気活性
成分として、例えはエレクトロクロミック表示器又はセ
ン丈−として広範に使用できる。
成分として、例えはエレクトロクロミック表示器又はセ
ン丈−として広範に使用できる。
従って本発明は、発明の実施により得られる層系の上記
目的のための使用にも関する。
目的のための使用にも関する。
以下、実施例により本発明を説明する。
収量: 22.9jj(82チ)、融点127〜129
6元素分析: CnHsOs (分子13f149)と
して理論値: C8180H&78 Q 12.42
%実測値:C8α68 H&89 Q 12.57
チ2−フルオロテトラセン−5,12−ジオン20y(
72,4ミリモル)、1−オクタツール94.3り、無
水炭酸カリウム3α01y (2172ミリモル)及び
DMSO20OMeを100℃T、 z o 時間攪拌
する。その反応混合物を冷却し、トルエン/希塩酸を加
え、そして有機相を分離し、水で2度洗浄し、硫酸ナト
リウムを用いて乾燥し。
6元素分析: CnHsOs (分子13f149)と
して理論値: C8180H&78 Q 12.42
%実測値:C8α68 H&89 Q 12.57
チ2−フルオロテトラセン−5,12−ジオン20y(
72,4ミリモル)、1−オクタツール94.3り、無
水炭酸カリウム3α01y (2172ミリモル)及び
DMSO20OMeを100℃T、 z o 時間攪拌
する。その反応混合物を冷却し、トルエン/希塩酸を加
え、そして有機相を分離し、水で2度洗浄し、硫酸ナト
リウムを用いて乾燥し。
そして蒸発させる。残渣をペンタンで洗浄し、シクロヘ
キサンから再結晶する。
キサンから再結晶する。
造
0=C−CHs
0=C−CH3
亜鉛粉末zoy(3tosミリモル)に、2−n−オク
チルオキシテトラセン−5,12−ジオン4y(IQ1
5ミリモル)、酢酸エチル40d、無水酢酸25d及び
酢酸カリウム五05jlE(3t05ミリモル)を攪拌
しながら加える。その混合物を25゜で40分間攪拌し
、濾過し、そして残渣をC,Th e ltで4回洗浄
する。F液を蒸発によシ濃縮し、残渣ヲC)h C12
/ペンタンから、次いでトルエンカラ再結晶する。
チルオキシテトラセン−5,12−ジオン4y(IQ1
5ミリモル)、酢酸エチル40d、無水酢酸25d及び
酢酸カリウム五05jlE(3t05ミリモル)を攪拌
しながら加える。その混合物を25゜で40分間攪拌し
、濾過し、そして残渣をC,Th e ltで4回洗浄
する。F液を蒸発によシ濃縮し、残渣ヲC)h C12
/ペンタンから、次いでトルエンカラ再結晶する。
収i4.15E(84%)、融点107〜1110゜還
流凝縮器とガス導入パイプを備えた250*7フラスコ
中で、実施例12のジアセテート846ツ(185ミリ
モル)、S、507グ(1aamva1)及びp−)ル
エンスルホン酸5’/(α0269リモル)の混合物を
、緩やかなアルゴンガス流下1、2.4− )ジクロロ
ベンゼン100d中で5時間生還流する。その暗緑色溶
液を次いで高真空下で蒸発させる。
流凝縮器とガス導入パイプを備えた250*7フラスコ
中で、実施例12のジアセテート846ツ(185ミリ
モル)、S、507グ(1aamva1)及びp−)ル
エンスルホン酸5’/(α0269リモル)の混合物を
、緩やかなアルゴンガス流下1、2.4− )ジクロロ
ベンゼン100d中で5時間生還流する。その暗緑色溶
液を次いで高真空下で蒸発させる。
粗生成物(1,551)をシリカゲルフラッシュカラム
(シリカゲル240り、φ7cln)上でCCl4 を
用いてクロマトグラフィに処する〔シリカゲルは前もっ
てCCJ?4/2 %トリエチルアミンで処理し、次い
で溶出液が再び中性となるまで純粋なCC14で洗浄さ
れていなければならない〕。暗緑色フラクシゴンFi精
製された2−n−オクチルオキシ−5,411,12−
テトラチオテトラセンを含む。収率56ov(6s%)
。
(シリカゲル240り、φ7cln)上でCCl4 を
用いてクロマトグラフィに処する〔シリカゲルは前もっ
てCCJ?4/2 %トリエチルアミンで処理し、次い
で溶出液が再び中性となるまで純粋なCC14で洗浄さ
れていなければならない〕。暗緑色フラクシゴンFi精
製された2−n−オクチルオキシ−5,411,12−
テトラチオテトラセンを含む。収率56ov(6s%)
。
λmaw(1,2,4−)ジクロロベンゼン)69a6
4Q472nm;マススペクトルM=480m/e;そ
の分裂は構造に一致する。
4Q472nm;マススペクトルM=480m/e;そ
の分裂は構造に一致する。
酢酸銅1Pを60℃にてジメチルホルムアミド25mt
中に溶解し、そしてその溶液を窒素ガスで飽和する。こ
の溶液に4−ドデシルチオ−1,2−フェニレンジアミ
ンIQByを加え、その混合物を攪拌しながら100℃
に加熱する。この温度で、DMFSd中の3−エトキシ
−2−メチルアクロイン1.151の溶液を除々に滴下
して加える。暗褐色懸濁液が生じるが、120℃で更に
22時間攪拌する。0℃に冷却した後、褐色生成物をF
JL、エタノール及び水で洗浄し、そして40℃にて減
圧乾燥する。収112−5y(約60%)。生成物をD
MFから二度結晶することにより精製する。
中に溶解し、そしてその溶液を窒素ガスで飽和する。こ
の溶液に4−ドデシルチオ−1,2−フェニレンジアミ
ンIQByを加え、その混合物を攪拌しながら100℃
に加熱する。この温度で、DMFSd中の3−エトキシ
−2−メチルアクロイン1.151の溶液を除々に滴下
して加える。暗褐色懸濁液が生じるが、120℃で更に
22時間攪拌する。0℃に冷却した後、褐色生成物をF
JL、エタノール及び水で洗浄し、そして40℃にて減
圧乾燥する。収112−5y(約60%)。生成物をD
MFから二度結晶することにより精製する。
元素分析:理論値:C67,87%;H&541;N7
.20%;5a23チ;(’uai6%実測値: C6
7,89%:H&64%;N 7.40 % ; 37
.88チ1Cua349J可視光線スペクトル: (C
HC/3):420(1)1)。
.20%;5a23チ;(’uai6%実測値: C6
7,89%:H&64%;N 7.40 % ; 37
.88チ1Cua349J可視光線スペクトル: (C
HC/3):420(1)1)。
44Q、470(8h)、4991m
質量分析(MS):原子団7713(M”)、150?
(Cs鵞Hs ) 、 577 (5CoHs) 5−トリフルオロメチル−2−オキンー2 H−ビラン
t64f(α01ミリモル)とt2−ジクロロベンゼン
7d中の1,4−ペンン°キノリン&4り(α05モル
)の混合物を180℃で12時間加熱する。次いで反応
混合物を90°/ 20 mbarで蒸発させ、その蒸
留残渣を150りのシリカゲル60上でクロマトグラフ
ィに処する〔溶離剤(AbC12:アセトン(19:1
)、過剰圧α3 bar:]。
(Cs鵞Hs ) 、 577 (5CoHs) 5−トリフルオロメチル−2−オキンー2 H−ビラン
t64f(α01ミリモル)とt2−ジクロロベンゼン
7d中の1,4−ペンン°キノリン&4り(α05モル
)の混合物を180℃で12時間加熱する。次いで反応
混合物を90°/ 20 mbarで蒸発させ、その蒸
留残渣を150りのシリカゲル60上でクロマトグラフ
ィに処する〔溶離剤(AbC12:アセトン(19:1
)、過剰圧α3 bar:]。
収1112p(8a53%)、融点80〜85゜五2
中間体2−トリフルオロメチル−テトラAX 中間体
2−トリフルオロメチルへ12−ビロー(トリフルオロ
メチル) −1,4−ナフトキノン5.65F(25ミ
リモル)、1.2−ジブロモベンゾシクロブテン9.B
2f(約57ミリモル;少量の2−プロモー1−ヨード
ペン/ シフI:l フテンで汚染されている)及びキ
シレン100t/ヲ、水分離器を用いて16時間還流下
に保つ。混合物を冷却し、そして沈殿物をp却し、キシ
レンで洗浄する。収i5.82y(71係);融点25
5〜254°。
2−トリフルオロメチルへ12−ビロー(トリフルオロ
メチル) −1,4−ナフトキノン5.65F(25ミ
リモル)、1.2−ジブロモベンゾシクロブテン9.B
2f(約57ミリモル;少量の2−プロモー1−ヨード
ペン/ シフI:l フテンで汚染されている)及びキ
シレン100t/ヲ、水分離器を用いて16時間還流下
に保つ。混合物を冷却し、そして沈殿物をp却し、キシ
レンで洗浄する。収i5.82y(71係);融点25
5〜254°。
元素分析: CuHsFsO* (分子量52637)
として 理論値:C69,95HZ、78 F17.47%実
測値: C69,84H15F17.312−n−オク
チルオキシテトラセン−へ12−ジオンを2−トリフル
オロメチルテトラセン−氏12−ジオンに代えて実施例
t2−の操作を繰シ返す。実施例t2.に従って後処理
を行なうと所望生成物が理論値の91%の収率で得られ
る。
として 理論値:C69,95HZ、78 F17.47%実
測値: C69,84H15F17.312−n−オク
チルオキシテトラセン−へ12−ジオンを2−トリフル
オロメチルテトラセン−氏12−ジオンに代えて実施例
t2−の操作を繰シ返す。実施例t2.に従って後処理
を行なうと所望生成物が理論値の91%の収率で得られ
る。
融点285〜288℃。
還流凝縮器とガス導入パイプを備えた100d小フラス
コ内で、実施例5五で得られたジアセテート2519(
061ミリモル)、Sロア 8v(145mVal)及
びp−トルエンスルホン酸29 ((LO1ミリモル)
の混合物を1.2.4−トリクロロベンゼン!i5+w
j中で20時間還流する。
コ内で、実施例5五で得られたジアセテート2519(
061ミリモル)、Sロア 8v(145mVal)及
びp−トルエンスルホン酸29 ((LO1ミリモル)
の混合物を1.2.4−トリクロロベンゼン!i5+w
j中で20時間還流する。
冷却後、高真空下での蒸発によ少溶媒を除去し、残渣を
ヘキサンで抽出する。黒色粉末をテ過により除去し、高
真空下60℃で乾燥する。
ヘキサンで抽出する。黒色粉末をテ過により除去し、高
真空下60℃で乾燥する。
粗生成物の収j1205”1(79%)。
該粗生成物を190℃(10Pa)で昇華させると純2
−トリフルオロメチル−5,411,12−テトラチオ
テトラセンが黒色針状結晶の形態で67.5グ(2五6
チ)得られる。
−トリフルオロメチル−5,411,12−テトラチオ
テトラセンが黒色針状結晶の形態で67.5グ(2五6
チ)得られる。
マススペクトルM”=420:分裂は予期された構造と
一致する。
一致する。
λmax(1,2,4−)リクロロベンゼン)ニア25
、 665. 484Hm0 B)使用実施例 実施例■: 2−n−オクチルオキシ−翫瓜11゜ 12−テトラチオテトラセン1及び アラキン酸メチルの単層の送電流 基材(current−carrying 5ubst
rate )への移転と同時の電気化学的酸化 (サブ相中の導電性塩: LiCj!04)1のクロロ
ホルム溶液を調製しく約15 af/d )、そして混
合溶液が得られる程度にアラキン酸メチル(Fluka
社製、純グレード)のクロロホルム溶液(約1キ/d”
)と混合する。この溶液をラングミニアトラフ(Lan
gTrIuir trough )中の水サブ相の表面
に一定温度(15℃)で展開させる。市販のラングミニ
アトラフ (Lauda−MGR社製; 17x15x
α6−;調製タイプ)を用いる。
、 665. 484Hm0 B)使用実施例 実施例■: 2−n−オクチルオキシ−翫瓜11゜ 12−テトラチオテトラセン1及び アラキン酸メチルの単層の送電流 基材(current−carrying 5ubst
rate )への移転と同時の電気化学的酸化 (サブ相中の導電性塩: LiCj!04)1のクロロ
ホルム溶液を調製しく約15 af/d )、そして混
合溶液が得られる程度にアラキン酸メチル(Fluka
社製、純グレード)のクロロホルム溶液(約1キ/d”
)と混合する。この溶液をラングミニアトラフ(Lan
gTrIuir trough )中の水サブ相の表面
に一定温度(15℃)で展開させる。市販のラングミニ
アトラフ (Lauda−MGR社製; 17x15x
α6−;調製タイプ)を用いる。
サブ相は脱イオン水中に溶かしたLiCIO4(Flu
ka社製、純度:分析用グL/−ト)ノ10″−sモル
溶液である。この水はミリーQシステム(Mi l 1
1−Q system : Millipore社製)
Kて精製する(水の比抵抗P>18MQx3)。溶媒は
分光分析的に良品質のものを用いる。
ka社製、純度:分析用グL/−ト)ノ10″−sモル
溶液である。この水はミリーQシステム(Mi l 1
1−Q system : Millipore社製)
Kて精製する(水の比抵抗P>18MQx3)。溶媒は
分光分析的に良品質のものを用いる。
溶液の展開後、生じた単分子フィルムを約1.25m/
分の速度で、フィルム圧x = 20 mN/mとなる
まで圧縮する。フィルム面積の減少がもはや観察されな
くなるまで一定圧を保つ。次いでそのフィルムをラング
ミュアブロジェット手法によってITOガラスプレート
に移転する。該ガラスプレートは一方の面にインジウム
鍋オキシド(ITO)がコーティングされている(リヒ
テンシュタインのBalzers社fB)。清浄化のだ
め、IT’(1;7xプレー) (1fx18xlvL
)をクロロホルム中で超音波処理する。この処理におい
ては、溶媒はどのような実質的程度にも温めてはならず
、さ本なくばITO/Mが破壊する。フィルムが移転し
たら浸漬及び退去の間、電圧(05ないし5v)をその
ガラスプレートに適用する。単層を移転させるためにF
L−1フイルムリフ ) (FL−1film 1:
ft/Lauda MGW社製)を用い、浸漬速度Fi
2〜3tyn/分である。沈着した多層は、15〜51
層の厚さとY−配向を有する。移転のために使用した対
向電極は金線(gold wire )であシ、それは
サブ相中に基材から23の距離I/r−浸漬する。基材
は陰極として接続される。直流電源はkikuaui社
製のPABモデルIEi−IA供給ユニットである。各
単層は酸化形態で、浸漬及び退去によシ送電側(ITO
側)に移転される。酸化の測定のために、基材の非導電
逆側の多層をぬぐい去り、ITO側の多層をUV/VI
S分光分析器で測定する。そのデータを第1表に掲げる
。それらは化合物1が(15Vの電圧までは主にラジカ
ルカチオンとして、またCL5Vを越えるとジカチオン
として移転することを示す。
分の速度で、フィルム圧x = 20 mN/mとなる
まで圧縮する。フィルム面積の減少がもはや観察されな
くなるまで一定圧を保つ。次いでそのフィルムをラング
ミュアブロジェット手法によってITOガラスプレート
に移転する。該ガラスプレートは一方の面にインジウム
鍋オキシド(ITO)がコーティングされている(リヒ
テンシュタインのBalzers社fB)。清浄化のだ
め、IT’(1;7xプレー) (1fx18xlvL
)をクロロホルム中で超音波処理する。この処理におい
ては、溶媒はどのような実質的程度にも温めてはならず
、さ本なくばITO/Mが破壊する。フィルムが移転し
たら浸漬及び退去の間、電圧(05ないし5v)をその
ガラスプレートに適用する。単層を移転させるためにF
L−1フイルムリフ ) (FL−1film 1:
ft/Lauda MGW社製)を用い、浸漬速度Fi
2〜3tyn/分である。沈着した多層は、15〜51
層の厚さとY−配向を有する。移転のために使用した対
向電極は金線(gold wire )であシ、それは
サブ相中に基材から23の距離I/r−浸漬する。基材
は陰極として接続される。直流電源はkikuaui社
製のPABモデルIEi−IA供給ユニットである。各
単層は酸化形態で、浸漬及び退去によシ送電側(ITO
側)に移転される。酸化の測定のために、基材の非導電
逆側の多層をぬぐい去り、ITO側の多層をUV/VI
S分光分析器で測定する。そのデータを第1表に掲げる
。それらは化合物1が(15Vの電圧までは主にラジカ
ルカチオンとして、またCL5Vを越えるとジカチオン
として移転することを示す。
実施例■:1及びアラキン酸メチルの単層の送1!流基
材への移転と同時の電気化学 的酸化(サブ相中の導電性塩: KPFs )サブ相と
してLiC4の代わシにKPFaのミリボボア処理水(
Millipore water )溶液を用いて実施
例1に記載の操作を繰シ返す。Cl3及びt5vの電圧
でITOガラスプレートに31の単層を移転する。酸化
の測定のため、基材の非導電逆側の多層金ぬぐい去シ、
ITO側の多層をUV/VIS分光分析器で測定する。
材への移転と同時の電気化学 的酸化(サブ相中の導電性塩: KPFs )サブ相と
してLiC4の代わシにKPFaのミリボボア処理水(
Millipore water )溶液を用いて実施
例1に記載の操作を繰シ返す。Cl3及びt5vの電圧
でITOガラスプレートに31の単層を移転する。酸化
の測定のため、基材の非導電逆側の多層金ぬぐい去シ、
ITO側の多層をUV/VIS分光分析器で測定する。
そのデータを第1表に掲げる。吸収極大値は、低電圧(
約(L5V)でラジカルカチオン塩として、また高電圧
(約1.5 V )でジカチオン塩として化合物1が移
転することを示す。
約(L5V)でラジカルカチオン塩として、また高電圧
(約1.5 V )でジカチオン塩として化合物1が移
転することを示す。
実施例1!I:1及びアラキン酸メチルの単層の送電流
基材への移転と同時の電気化学 的酸化(サブ相中の導電性塩ニドデ シル硫酸ナトリウム) LiCノ04の代わシにドデシル硫酸ナトリウム(Me
rck社製、生化学目的及び界面活性剤研究用)のミリ
ボア処理水溶液(pH=9.5)を用いて実施例1に記
載の操作を繰シ返す。20mN/mのフィルム圧で単層
を圧縮した後、続いて起こる単層の強い拡張が常圧そこ
で観察される。この現象はたぶんフィルムへのドデシル
硫醐ア二オンの浸透に起因している。
基材への移転と同時の電気化学 的酸化(サブ相中の導電性塩ニドデ シル硫酸ナトリウム) LiCノ04の代わシにドデシル硫酸ナトリウム(Me
rck社製、生化学目的及び界面活性剤研究用)のミリ
ボア処理水溶液(pH=9.5)を用いて実施例1に記
載の操作を繰シ返す。20mN/mのフィルム圧で単層
を圧縮した後、続いて起こる単層の強い拡張が常圧そこ
で観察される。この現象はたぶんフィルムへのドデシル
硫醐ア二オンの浸透に起因している。
拡張が完了した後、(15及び1.5vの電圧でITO
ガラスプレートに31層を移転する。酸化を測定するた
めK、基材の非導電逆側の多層をぬぐい去シ、ITO側
の多層をUV/VIS分光分析器で測定する。そのデー
タを第1表に掲げる。吸収極大値は化合物1が低電圧(
約α5V)ではラジカルカチオン塩として、また高電圧
ではジカチオン塩として移転することを示す。
ガラスプレートに31層を移転する。酸化を測定するた
めK、基材の非導電逆側の多層をぬぐい去シ、ITO側
の多層をUV/VIS分光分析器で測定する。そのデー
タを第1表に掲げる。吸収極大値は化合物1が低電圧(
約α5V)ではラジカルカチオン塩として、また高電圧
ではジカチオン塩として移転することを示す。
実施例■:1及びアラキン酸メチルの単層の過電流基材
への移転と同時の電気化学 的酸化(サブ相中の導電性塩ニジケ トピロロピロール硫酸ジナトリウム L i Cl0aの代わりに4の10−4モルミリボア
処理水溶液(p)(=5.85)を用いて実施例1に記
載の操作をIvthシ返す。t5vの電圧で31の単層
をITOガラスプレート上に沈着させるう酸化の測定の
ために、基材の非導電逆側の多層をぬぐい去シ、ITO
側の多層をUV/VIS分光分析器で測定する。そのデ
ータを第1表に掲げる。それらは化合物1がジカチオン
の形態テ移転シ、ジケトピロロピロール硫酸アニオンが
多層中に対イオンとして混入することを示している。
への移転と同時の電気化学 的酸化(サブ相中の導電性塩ニジケ トピロロピロール硫酸ジナトリウム L i Cl0aの代わりに4の10−4モルミリボア
処理水溶液(p)(=5.85)を用いて実施例1に記
載の操作をIvthシ返す。t5vの電圧で31の単層
をITOガラスプレート上に沈着させるう酸化の測定の
ために、基材の非導電逆側の多層をぬぐい去シ、ITO
側の多層をUV/VIS分光分析器で測定する。そのデ
ータを第1表に掲げる。それらは化合物1がジカチオン
の形態テ移転シ、ジケトピロロピロール硫酸アニオンが
多層中に対イオンとして混入することを示している。
実施例V:送電流基材への1の単層の移転と同時の電気
化学的酸化(サブ相中の導 電性塩ニドデシル硫酸ナトリウム) 1(実施例1に記載されているように製造された)の単
層を用いることを除いて実施例■の操作を繰シ返す。
化学的酸化(サブ相中の導 電性塩ニドデシル硫酸ナトリウム) 1(実施例1に記載されているように製造された)の単
層を用いることを除いて実施例■の操作を繰シ返す。
t5vの電圧で51の単層が沈着する。同時に起こる移
転と酸化の過程でアルキル硫酸対イオン10層中に混入
する。
転と酸化の過程でアルキル硫酸対イオン10層中に混入
する。
酸化の測定のために基材の非導電逆側の多層をぬぐい去
シ、ITO側の多層をUV/VIS分光分析器で測定す
る。吸収極大’max=4851yl (1!=!15
1003 )Fi、実質的にジカチオンとして移転し
ていることを示す。
シ、ITO側の多層をUV/VIS分光分析器で測定す
る。吸収極大’max=4851yl (1!=!15
1003 )Fi、実質的にジカチオンとして移転し
ていることを示す。
実施例■:送定電流基材の2の単層の移転と同時の電気
化学的酸化(サブ相中の導 電性塩: Li(JO4) 実施例■に従って製造した2とアラキン酸メチル(混合
比70:30モルチ)の単層を使用すること以外は実施
例IK記載の操作を繰り返す。
化学的酸化(サブ相中の導 電性塩: Li(JO4) 実施例■に従って製造した2とアラキン酸メチル(混合
比70:30モルチ)の単層を使用すること以外は実施
例IK記載の操作を繰り返す。
フィルムの移転中けITOガ2スプレー)K1.5vの
電圧を適用する。31層が移転される。
電圧を適用する。31層が移転される。
酸化測定のため罠、基材の非導電逆側の多層をぬぐい去
り、ITO側の多層をUV/VIS分光分析器で測定す
る。λmax=580nm(e=60500cIrI
)の吸収極大は、分子2が酸化形態で移転していること
を示す。
り、ITO側の多層をUV/VIS分光分析器で測定す
る。λmax=580nm(e=60500cIrI
)の吸収極大は、分子2が酸化形態で移転していること
を示す。
実施例■:送電流基材への土の単層の移転と同時の電気
化学的酸化(サブ相中の導 電性塩ニドデシル硫酸ナトリウム) いて実施例IK記載の操作を繰シ返す。
化学的酸化(サブ相中の導 電性塩ニドデシル硫酸ナトリウム) いて実施例IK記載の操作を繰シ返す。
1.5vの電圧でITOガラスプレート上に31の単層
を沈着させる。同時に起こる移転と酸化の間、アルキル
硫酸対イオンVi5の層中に混入する。酸化の測定のた
めに、基材の非導電逆側の多層をぬぐい去り、ITO側
上の多層をUV/VIS分光分析器で測定する。λma
x=so。
を沈着させる。同時に起こる移転と酸化の間、アルキル
硫酸対イオンVi5の層中に混入する。酸化の測定のた
めに、基材の非導電逆側の多層をぬぐい去り、ITO側
上の多層をUV/VIS分光分析器で測定する。λma
x=so。
nm (t=4170 DcrIt−” )及び46o
nm(ε=52700画−1)の吸収極大値は臣が実質
的にジカチオンとして移転したことを示す。
nm(ε=52700画−1)の吸収極大値は臣が実質
的にジカチオンとして移転したことを示す。
第1表:実施例I〜■に従って製造された多層の特性デ
ータ 実施例Iに従って製造される純3の単層を用**εは&
95nmの両層面間隔(基づいて計算される。
ータ 実施例Iに従って製造される純3の単層を用**εは&
95nmの両層面間隔(基づいて計算される。
*** サンプルは不均一である。&96及び489
nmの他の層面間隔が測定される。
nmの他の層面間隔が測定される。
Claims (6)
- (1)i)電気化学的に酸化又は還元され得る環式共役
π−系を含む電気活性化合物の、又は該化合物に単分子
層を安定化させることので きる他の両親媒性化合物を配合した組成物 の単分子層を製造する工程 ii)上記電気活性化合物とサブ相の対イオンから塩を
生じさせるように適用電位を選ん で陽極又は陰極として接続されている基材 に上記層を移転させるため、その層を通し て基材を浸漬することにより、電解質を含 みそして中に対向電極が浸漬されているサ ブ相から導電性表面を有する固体基材に上 記層を移転させる工程 を含むラングミュアプロジェット層系(LB系)の製造
方法。 - (2)電気活性化合物がラジカルカチオン又はジカチオ
ンとしては酸化形態になり、そして中性形では還元形態
である請求項1記載の方法。 - (3)電気活性化合物が次式 I ▲数式、化学式、表等があります▼( I ) 〔式中、 XはS又はSeを表わし、 R_1は炭素原子数1ないし30のアルキル基。 −CF_3、−O−R^3、−S−R^3又は−CO−
O−R^3を表わし、 R^2は水素原子、炭素原子数1ないし30のアルキル
基、−CF_3、−O−R^3、−S−R^3又は−C
O−O−R^3を表わし、そして R^3は炭素原子数1ないし30のアルキル基又は部分
的にもしくは飽和的にフッ素化された炭素原子数1ない
し30のアルキル基を表わす〕 で表わされる化合物である請求項2記載の方法。 - (4)XがSを表わし、R^1が−O−R^3を表わし
そしてR^2が水素原子を表わすか;或はXがSを表わ
し、R^1がCF^3を表わしそしてWが水素原子を表
わす請求項3記載の方法。 - (5)電気活性化合物が次式II ▲数式、化学式、表等があります▼ 〔式中、 R^4は水素原子、炭素原子数1ないし30のアルキル
基、非置換のフェニル基もしくはナフチル基、又は各々
炭素原子数1ないし12のアルキル基で、炭素原子数1
ないし12のアルコキシ基でもしくは炭素原子数、ない
し12のアルキルチオ基で置換されたフェニル基もしく
はナフチル基を表わし、 R^5、は炭素原子数4ないし50のアルキル基。 炭素原子数4ないし30のアルコキシ基又は炭素原子数
4ないし30のアルキルチオ基を表わし、 R^6は水素原子を表わすか又はR^5で定義された意
味を表わし、そして Mは銅、ニッケル、鉄、コバルト、パラジ ウム及び白金からなる群に属する二価の金属原子を表わ
すか又は二個の水素原子を表わす〕で表わされる化合物
である請求項2記載の方法。 - (6)Mが銅又はニッケルを表わし、R^4が炭素原子
数、ないし30のアルキル基を表わし、R^5が炭素原
子数10ないし30のアルキルチオ基を表わし、そして
R^6が水素原子を表わす請求項5記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH2617/88-2 | 1988-07-08 | ||
| CH261788 | 1988-07-08 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02119976A true JPH02119976A (ja) | 1990-05-08 |
Family
ID=4237787
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1176994A Pending JPH02119976A (ja) | 1988-07-08 | 1989-07-08 | 電気活性ラングミュアブロジェット層系の製造方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4940516A (ja) |
| EP (1) | EP0350451A3 (ja) |
| JP (1) | JPH02119976A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5284779A (en) * | 1989-11-24 | 1994-02-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of forming organic charge-transfer thin films |
| US5166063A (en) * | 1990-06-29 | 1992-11-24 | Eli Lilly And Company | Immobolization of biomolecules by enhanced electrophoretic precipitation |
| US5143828A (en) * | 1991-12-31 | 1992-09-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Method for synthesizing an enzyme-catalyzed polymerized monolayer |
| US5635047A (en) * | 1992-07-28 | 1997-06-03 | Iowa State University Research Foundation, Inc. | Electrochemical method of controlling thiolate coverage on a conductive substrate such as gold |
| US5827417A (en) * | 1992-07-28 | 1998-10-27 | Iowa State University Research Foundation, Inc. | Electrochemical method of controlling thiolate coverage on a conductive substrate such as gold |
| JP2952346B2 (ja) * | 1997-03-11 | 1999-09-27 | 東京商船大学長 | ラングミュア・ブロジェット膜およびその製造方法 |
| WO2002063280A1 (en) * | 2001-02-06 | 2002-08-15 | Auburn University | Ligand sensor devices and uses thereof |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2111987B (en) * | 1981-12-01 | 1986-04-16 | Nat Res Dev | Heterocyclic semiconductors and gas sensors |
| DE3226278A1 (de) * | 1982-07-14 | 1984-01-19 | Basf Ag, 6700 Ludwigshafen | Verfahren zur herstellung von filmfoermigen polymeren von pyrrolen |
| US4522754A (en) * | 1982-11-12 | 1985-06-11 | Ciba Geigy Corporation | Metallically conducting (2-fluoro-5,6,11,12-tetraselenotetracene)2 -bromide |
| US4871236A (en) * | 1985-09-18 | 1989-10-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Organic thin film display element |
| GB8531445D0 (en) * | 1985-12-20 | 1986-02-05 | Gen Electric Co Plc | Thin films |
| US4828917A (en) * | 1987-05-08 | 1989-05-09 | Basf Aktiengesellschaft | Layer of metallomacrocyclic polymer on substrate |
-
1989
- 1989-06-30 EP EP19890810500 patent/EP0350451A3/de not_active Ceased
- 1989-07-05 US US07/375,758 patent/US4940516A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-07-08 JP JP1176994A patent/JPH02119976A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4940516A (en) | 1990-07-10 |
| EP0350451A2 (de) | 1990-01-10 |
| EP0350451A3 (de) | 1991-03-27 |
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