JPH0212086B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、被検眼からの視標反射像の受光出力
レベルが正常な作動範囲にあるか否かを検知し得
る眼科用測定装置に関するものである。

［従来の技術］ 例えば、エアーパルスを利用する非接触型眼圧
計は、装置の軸心方向から角膜にエアーパルスを
吹き付けて、角膜が圧平されるまでの時間を基に
眼圧を測定するものであるが、角膜頂点と水平眼
軸が装置の軸心と正確に一致していないときに
は、正確な眼圧を測定することができない。その
ため、例えば特公昭56−55772号公報で知られる
非接触型眼圧計においては、角膜頂点を軸心に一
致させるために位置合わせ光学系が設けられてい
る。そして、検者がこの位置合わせ手段により被
検者の角膜頂点が軸心に一致した瞬間を把えて、
エアーパルス回路のスイツチを入れ、エアーパル
スを発射するようになつている。

第４図に示す従来装置において、１は照明ラン
プであり、この照明ランプ１からの光は、拡散板
上に描かれた位置合わせ視標２、赤外透過・可視
光反射のダイクロイツクミラー３、全反射ミラー
４、レンズ５を経由して、ハーフミラー６による
反射によつて左行され、中心にエアーパルス発射
用オリフイス７ａを有する対物レンズ７を介し
て、被検眼Ｅの角膜曲率中心Ebに集光するよう
になつている。また、８はダイクロイツクミラー
４の背後に配され、視標２と共役な位置に設けら
れた赤外発光ダイオードである。

角膜曲率中心Ebに向つた視標像は角膜Ecの表
面で反射され、対物レンズ７によつて平行光とな
り、ハーフミラー６、レンズ９を介し、赤外光反
射・可視光透過のダイクロイツクミラー１０を通
り、照準円が描かれた透明板１１上に結像するよ
うにされている。なお、赤外光はダイクロイツク
ミラー１０で反射され、透明板１１と共役位置に
ある赤外検知ダイオード１２上に結像される。検
者はアイピース１３を通して照準円上の可視光視
標像の位置及び焦点を装置全体を動かしながら合
致させることができるようになつている。１４は
平行光を出射し、角膜Ecに斜めから外光を投射
する赤外発光ダイオードであり、角膜Ecの頂点
がエアーパルスにより凸面から平面に圧平された
ときに、赤外発光ダイオード１４から出射した光
が、レンズ１５を介して赤外検知ダイオード１６
上に最も効率良く集光する配置となつている。

位置合わせが完了した時点で検者が測定釦を押
すと、対物レンズ７のオリフイス７ａを通つて、
角膜Ecの頂点に向けて既知の圧力―時間関係を
有するエアーパルスが発射される。そして、赤外
検知ダイオード１６の出力により、角膜Ecの頂
点が凸面から平面になるまでの時間を計測するこ
とにより眼圧を知ることができる。測定釦を押し
た時点で、位置合わせ視標２の像が正しく透明板
１１の照準円内に無い場合にはエアーパルスが発
射しないように、透明板１１と共役位置にある赤
外検知ダイオード１２の出力が存在するときにの
み、測定釦が働くように構成されている。しか
し、装置の光学系が塵埃や指紋等で汚れてくる
と、位置合わせが正確に行われていても視標光の
減衰が大きくなる。従つて、最初に設定したエア
ーパルス発射信号強度が得られなくなり、位置合
わせがずれていることと等価になり、測定釦を押
してもエアーパルスが発射しなくなる。また、光
学系が若干汚れている段階では、角膜Ecの反射
率の違いによつてエアーパルスが発射したりしな
かつたりする不安定な状態となる欠点がある。

［発明の目的］ 本発明の目的は、上述の従来例の欠点を除去
し、光学系の汚れ、発光受光素子の劣化に基づく
受光出力レベルの低下を被検眼測定前に検知可能
とした眼科用測定装置を提供することにある。

［発明の概要］ 上述の目的を達成するための本発明の要旨は、
発光素子からの視標光束を被検眼に投影し、その
反射像を受光素子で受光し、前記発光素子から前
記受光素子に至る光路中に被検眼に対向する対物
レンズを備えた眼科用測定装置において、前記対
物レンズの被検眼側に出し入れ自在に配置し一定
反射率を有する反射部材と、前記発光素子から出
射して被検眼を介さずに前記反射部材で反射され
前記受光素子で受光される受光出力レンズで検出
する手段と、該受光出力レベルを所定のレベルと
比較演算する演算手段とを有し、受光出力レベル
の異常により前記対物レンズを含む光学系の汚れ
又は前記発光素子、前記受光素子の劣化を検出可
能としたことを特徴とする眼科用測定装置であ
る。

［発明の実施例］ 本発明を第１図〜第３図に図示の実施例に基づ
いて詳細に説明する。

第１図は本発明の実施例であり、第４図におけ
る光学系の被検眼Ｅ側に配置された鏡筒２０内に
は、対物レンズ７が保持されており、この対物レ
ンズ７の外側には取り外し自在の対物レンズキヤ
ツプ２１が被着されていて、その対物レンズ７に
対向する面には反射板２２が貼着されている。レ
ンズキヤツプ２１は鏡筒２０に設けられた段差に
突き合わせるようにして、対物レンズ７と反射板
２２との距離が所定長になるようにされ、レンズ
キヤツプ２１の存在はマイクロスイツチ２３によ
り検知されるようになつている。

第２図は第４図に示した赤外検知ダイオード１
２の種々の状態における出力側を示しており、Ｔ
１は被検眼Ｅの角膜Ecからの位置合わせ視標反
射光が、赤外検知ダイオード１２上に正確に結像
した場合の出力であり、Ｔ２は光学系の汚れによ
り赤外検知ダイオード１２の出力が低下し、位置
合わせがずれていると判断すべき出力レベルＶ２
に近い状態であり、これ以下に出力が低下すると
正確に結像していてもエアーパルスは発射しな
い。Ｔ３は本発明による反射板２２を有するレン
ズキヤツプ２１を被着した場合の出力であり、エ
アーパルスを発射する出力レベルＶ３よりも低
く、レンズキヤツプ２１を被着したままでエアー
パルスが発射される虞れはない。Ｔ４は光学系が
汚れた状態のまま、レンズキヤツプ２１を被着し
たときの出力レベルを示し、Ｖ１→Ｖ２の減衰量
はＶ３→Ｖ４の減衰量と等しくなる。

そこで、レンズキヤツプ２１を被着し反射板２
２からの反射光による赤外検知ダイオード１２の
出力が、Ｖ４のレベル以下でないことを確認して
おけば、被検眼Ｅを測定し位置合わせが正確であ
るにも拘らず、光学系の汚れのために赤外検知ダ
イオード１２の出力レベルがＶ２以下になり、エ
アーパルスが発射しないという現象を予め防止す
ることができる。また光学系の汚れ以外に、赤外
検知ダイオード１２の劣化による光量低下のため
に、赤外検知ダイオード１２の出力レベルが低下
することもあるが、同様に検知可能となる。

第３図は比較演算・警告表示・測定系停止のた
めのブロツク回路構成図を示している。赤外検知
ダイオード１２で得られた出力は、アンプ２４で
増幅され比較器２５の一入力となる。比較器２５
の他の入力端には、固定又は可変抵抗２６，２７
で予め設定された参照電圧が入力し、比較器２５
において両者は比較される。また、この参照電圧
側にはアナログスイツチ２８が介挿され、レンズ
キヤツプ２１が鏡筒２０に被着されていることを
検知するマイクロスイツチ２３によつて、スイツ
チ２３のオン・オフ情報を比較器２５に与えるよ
うになつている。

そして、例えば赤外検知ダイオード１２からの
信号を比較器２５の正入力へ、参照電圧を負入力
したとすると、比較器２５の出力には或るスレツ
シヨルドレベルができ、反射光が参照電圧よりも
大きければ正、小さければ０というように２値化
された情報が現れる。２９，３０はそれぞれ警告
表示素子と測定停止回路であり、比較器２５の出
力が０のときに、警告表示素子２９は検者に対し
て対物レンズ７の汚れを警告する。この警告表示
素子２９についてはLEDのような発光素子やブ
ザーのような音によるものが考えられる。

また、仮に検者がこの警告に気が付かないで、
そのまま測定釦を押した場合には、測定停止回路
３０により被検者にエアーパルスが出射しないよ
うになつている。このように、この警告システム
を使うと検者に対して二重の警告を与えることに
なり得る。また、３１は検者が警告を認識し、十
分に対物レンズ７の汚れを落した後に、通常の測
定に戻るときにこの警告システムを解除するスイ
ツチであり、このスイツチ３１で警告システムを
解除しない限り、マイクロスイツチ２３がオフに
なつていても通常の測定はできないことになる。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明に係る眼科用測定装
置は、受光出力レベルの低下を例えばレンズキヤ
ツプに設けた反射板を用いて被検眼の反射率に依
存しないで検知し、対物レンズの汚れ或いは発光
素子や受光素子の劣化を検知することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る眼科用測定装置の実施例
を示す反射板を有するレンズキヤツプの断面図、
第２図は赤外検知ダイオードの出力レベルの特性
図、第３図は警告システムのブロツク構成図、第
４図は非接触型眼圧計の構成図である。 符号１は照明用光源、２は視標板、８，１４は
赤外発光ダイオード、３，１０はダイクロイツク
ミラー、６はハーフミラー、７は対物レンズ、７
ａはオリフイス、１１は透明板、１３はアイピー
ス、１２，１６は赤外検知ダイオード、２０は鏡
筒、２１はレンズキヤツプ、２２は反射板、２３
はマイクロスイツチである。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 発光素子からの視標光束を被検眼に投影し、
   その反射像を受光素子で受光し、前記発光素子か
   ら前記受光素子に至る光路中に被検眼に対向する
   対物レンズを備えた眼科用測定装置において、前
   記対物レンズの被検眼側に出し入れ自在に配置し
   一定反射率を有する反射部材と、前記発光素子か
   ら出射して被検眼を介さずに前記反射部材で反射
   され前記受光素子で受光される受光出力レベを検
   出する手段と、該受光出力レベルを所定のレベル
   と比較演算する演算手段とを有し、受光出力レベ
   ルの異常により前記対物レンズを含む光学系の汚
   れ又は前記発光素子、前記受光素子の劣化を検出
   可能としたことを特徴とする眼科用測定装置。 ２ 前記演算手段により比較演算した結果が、設
   定値を外れた場合に警告を発する警告手段を設け
   た特許請求の範囲第１項に記載の眼科用測定装
   置。 ３ 前記警告手段により警告を発すると共に、測
   定系の作動を停止する手段を設けた特許請求の範
   囲第２項に記載の眼科用測定装置。 ４ 前記反射部材を前記対物レンズの前方定位置
   に設置するようにした特許請求の範囲第１項に記
   載の眼科用測定装置。 ５ 前記反射部材が定位置に設置されたことを検
   知する手段と、前記反射部材が定位置に設置され
   たときにのみ前記演算手段が作動するようにした
   特許請求の範囲第４項に記載の眼科用測定装置。 ６ 前記対物レンズの保護カバーの内面に、前記
   反射部材を設けた特許請求の範囲第１項に記載の
   眼科用測定装置。