JPH0212135A - 第2高調波発生素子 - Google Patents
第2高調波発生素子Info
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- JPH0212135A JPH0212135A JP16080488A JP16080488A JPH0212135A JP H0212135 A JPH0212135 A JP H0212135A JP 16080488 A JP16080488 A JP 16080488A JP 16080488 A JP16080488 A JP 16080488A JP H0212135 A JPH0212135 A JP H0212135A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 16
- 229910003327 LiNbO3 Inorganic materials 0.000 abstract description 19
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- 229910012463 LiTaO3 Inorganic materials 0.000 abstract description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 13
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/35—Non-linear optics
- G02F1/37—Non-linear optics for second-harmonic generation
- G02F1/377—Non-linear optics for second-harmonic generation in an optical waveguide structure
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光デイスクメモリやCDプレーヤ等に使用さ
れる第2高調波発生(SHG)素子に関する。
れる第2高調波発生(SHG)素子に関する。
(従来の技術)
第2高調波発生(SHG)素子とは、非線形光学効果を
もつ光学結晶材料の非線形光学効果を利用して波長λの
レーザを1/2λの波長に変換する素子であって、出力
する光の波長が1/2となり、記録密度を4倍にするこ
とができるため、光デイスクメモリを始めとして、CD
プレーヤ、レーザプリンタ。
もつ光学結晶材料の非線形光学効果を利用して波長λの
レーザを1/2λの波長に変換する素子であって、出力
する光の波長が1/2となり、記録密度を4倍にするこ
とができるため、光デイスクメモリを始めとして、CD
プレーヤ、レーザプリンタ。
フォトリソグラフィー等に応用されつつある。
従来、SHG素子には、高出力レーザを光源とし、非線
形光学結晶のバルク単結晶が用いられてきた。
形光学結晶のバルク単結晶が用いられてきた。
しかし、近年、光デイスク装置、レーザプリンタ等の装
置全体を小型化する要求が強いこと、ガスレーザは光変
調のため外部に変澗器が必要であるのに対し、半導体レ
ーザは直接変調が可能であること、及び半導体レーザは
ガスレーザに比べて安価で取扱が容易であること等の理
由により、光源としてガスレーザに代えて半導体レーザ
が主に用いられるようになっている。
置全体を小型化する要求が強いこと、ガスレーザは光変
調のため外部に変澗器が必要であるのに対し、半導体レ
ーザは直接変調が可能であること、及び半導体レーザは
ガスレーザに比べて安価で取扱が容易であること等の理
由により、光源としてガスレーザに代えて半導体レーザ
が主に用いられるようになっている。
半導体レーザを光源とする場合、数mWから数十mWの
入力光で高い変換効率を得る必要上、薄膜導波路構造の
SHG素子が用いられる。すなわち、薄膜導波路を用い
た第2高調波光の発生は、■薄膜に集中した光のエネル
ギーを利用できること、■光波が薄膜内に閉じ込められ
、広がらないために長い距離にわたって相互作用を行な
わせ得ること、■バルクでは位相整合できない物質でも
薄膜のモード分散を利用することにより位相整合ができ
ること、などの利点を有するからである(深山、宮崎;
電子通信学会技術研究報告、0QE75−6 (197
5)、宮崎、星野、赤尾;電磁界理論研究会資料、EM
T−78−5(1978))。
入力光で高い変換効率を得る必要上、薄膜導波路構造の
SHG素子が用いられる。すなわち、薄膜導波路を用い
た第2高調波光の発生は、■薄膜に集中した光のエネル
ギーを利用できること、■光波が薄膜内に閉じ込められ
、広がらないために長い距離にわたって相互作用を行な
わせ得ること、■バルクでは位相整合できない物質でも
薄膜のモード分散を利用することにより位相整合ができ
ること、などの利点を有するからである(深山、宮崎;
電子通信学会技術研究報告、0QE75−6 (197
5)、宮崎、星野、赤尾;電磁界理論研究会資料、EM
T−78−5(1978))。
ところで、非線形光学効果をもつ光学結晶材料としては
、ニオブ酸リチウム(LiNbOa )、タンタル酸リ
チウム(LiTaO,)、KTiOPO4,KNbO,
、Ha、 NaNb、0.s、 Ba、LiNb、0.
s等があるが、上記のように薄膜導波路構造とするため
には、光導波路を形成することが必要である。そして、
良質な光導波路を形成できる材料としては、LiNbO
3が最も適している。
、ニオブ酸リチウム(LiNbOa )、タンタル酸リ
チウム(LiTaO,)、KTiOPO4,KNbO,
、Ha、 NaNb、0.s、 Ba、LiNb、0.
s等があるが、上記のように薄膜導波路構造とするため
には、光導波路を形成することが必要である。そして、
良質な光導波路を形成できる材料としては、LiNbO
3が最も適している。
しかし、従来のLiNbO3材料を使用し、Ti拡散、
プロトン交換、外拡散等の方法で光導波路を形成した場
合、半導体レーザ光源波長(λ=0.82〜0.84μ
m)でSHGを行なうための位相整合を取ることができ
ないという問題があった(山田、宮崎;電子情報通信学
会技術研究報告、MW87〜113 (1988) )
。
プロトン交換、外拡散等の方法で光導波路を形成した場
合、半導体レーザ光源波長(λ=0.82〜0.84μ
m)でSHGを行なうための位相整合を取ることができ
ないという問題があった(山田、宮崎;電子情報通信学
会技術研究報告、MW87〜113 (1988) )
。
すなわち、位相整合とは、入射レーザ光の導波路中での
屈折率(実効屈折率)と、第2高調波光の実効屈折率と
を一致させることであるが、物質の屈折率は、一般に波
長によって変化するため、入射レーザ光波長を変化させ
ることによって、位相整合条件も変化し、LiNbO3
材料の場合には0.82〜0.84μmの半導体レーザ
光源波長では位相整合が不可能になるのである。
屈折率(実効屈折率)と、第2高調波光の実効屈折率と
を一致させることであるが、物質の屈折率は、一般に波
長によって変化するため、入射レーザ光波長を変化させ
ることによって、位相整合条件も変化し、LiNbO3
材料の場合には0.82〜0.84μmの半導体レーザ
光源波長では位相整合が不可能になるのである。
(解決すべき課題)
本発明者は、LiNbO3材料を使用し、半導体レーザ
光源を用いて、基本波光と第2高調波光の位相整合をと
れるように種々検討した結果、基板としてLiTa0□
を用い、その上にLiNbO3薄膜を形成し。
光源を用いて、基本波光と第2高調波光の位相整合をと
れるように種々検討した結果、基板としてLiTa0□
を用い、その上にLiNbO3薄膜を形成し。
これに導波路を設けることにより位相整合が可能となる
ことを見出し、本発明を完成するに至ったもので、本発
明の目的は、LiNbO3材料により、半導体レーザ光
の第2高調波発生が可能な素子を提供するにある。
ことを見出し、本発明を完成するに至ったもので、本発
明の目的は、LiNbO3材料により、半導体レーザ光
の第2高調波発生が可能な素子を提供するにある。
(課題を解決するための手段)
本発明は、波長が0.82〜0.84μmのレーザ光を
基本波光源波長とし、LiTaO3単結晶基板上に膜厚
が3.7〜9.0μmのLiNbO3結晶導波層が形成
されてなり、結晶の光学軸(Z軸)に対するレーザ光の
入射角を±O″〜±35°に設定したことを特徴とする
第2高調波発生素子である。
基本波光源波長とし、LiTaO3単結晶基板上に膜厚
が3.7〜9.0μmのLiNbO3結晶導波層が形成
されてなり、結晶の光学軸(Z軸)に対するレーザ光の
入射角を±O″〜±35°に設定したことを特徴とする
第2高調波発生素子である。
すなわち、本発明の第2高調波発生素子の層構造を図示
すると、第1図のようになり、LiTaO3よりなる単
結晶基板層1の上にLiNbO3よりなる導波層2を設
け、更に導波層2の上面に空気の上層部3の三層誘電体
導波路を構成するものであって、各層における屈折率は
、第1表に示すようなものである。
すると、第1図のようになり、LiTaO3よりなる単
結晶基板層1の上にLiNbO3よりなる導波層2を設
け、更に導波層2の上面に空気の上層部3の三層誘電体
導波路を構成するものであって、各層における屈折率は
、第1表に示すようなものである。
第 1 表
基本波波長
0.83μm
表中、no 、 neはそれぞれ、常光線、異常光線に
対する屈折率である。また、Vは基本波、2vは第2高
調波を示す。
対する屈折率である。また、Vは基本波、2vは第2高
調波を示す。
なお、実際の導波層及び基板層の屈折率は、導波路の作
成方法により多少変動するため、ここに示した値は代表
例であり、絶対的なものではない。
成方法により多少変動するため、ここに示した値は代表
例であり、絶対的なものではない。
第1表の屈折率の値を用いて第2高調波発生についての
位相整合条件を計算したところ、位相整合角(結晶の光
学軸に対するレーザ光の入射角)の範囲がθ〜35°、
そのときの導波層の膜厚は3.7〜9μmとなる。
位相整合条件を計算したところ、位相整合角(結晶の光
学軸に対するレーザ光の入射角)の範囲がθ〜35°、
そのときの導波層の膜厚は3.7〜9μmとなる。
そして、本発明の第2高調波発生素子の最も好ましい条
件としては、LiNbO3結晶導波層の膜厚が3.7〜
3.8 μm、 LiTaO3単結晶の光学軸(Z軸)
に対するレーザ光の入射角がO°±0.5°である場合
である。なお、この場合、各層の屈折率は第1表に示し
た値であることが好ましい。
件としては、LiNbO3結晶導波層の膜厚が3.7〜
3.8 μm、 LiTaO3単結晶の光学軸(Z軸)
に対するレーザ光の入射角がO°±0.5°である場合
である。なお、この場合、各層の屈折率は第1表に示し
た値であることが好ましい。
この場合、単結晶基板層の結晶の光学軸(Z軸)の方位
に対するレーザ光の入射角は、約0°(光軸方向伝搬)
であるため、入射角の許容誤差範囲が広くなるという利
点を有する。
に対するレーザ光の入射角は、約0°(光軸方向伝搬)
であるため、入射角の許容誤差範囲が広くなるという利
点を有する。
次に、本発明に係る第2高調波発生素子の製造方法とし
ては、基板層の上にスパッタリングなどの公知の薄膜作
成技術を使用することによって容易に導波層を形成する
ことができる。そして、導波層上にフォトリソグラフィ
ーとRFスパッタリングによりTi導波路パターンを形
成し、これをエツチングマスクとしてイオンビームエツ
チングすることにより作成する等の方法をとることがで
きる。
ては、基板層の上にスパッタリングなどの公知の薄膜作
成技術を使用することによって容易に導波層を形成する
ことができる。そして、導波層上にフォトリソグラフィ
ーとRFスパッタリングによりTi導波路パターンを形
成し、これをエツチングマスクとしてイオンビームエツ
チングすることにより作成する等の方法をとることがで
きる。
(実施例)
以下、本発明に係る第2高調波発生素子の作成方法を第
2図及び第3図を参照しつつ詳細に説明する。
2図及び第3図を参照しつつ詳細に説明する。
[実施例1]
厚さ0.5mmのXカットLiTaO3単結晶ウェハー
をワイヤーカッターで切断して、5mm X 5mmの
基板1とした。このとき、切断方向は、それぞれ単結晶
のY軸と2軸に沿う方向とした。このLiTaO3基板
上にRF(高周波)スパッタリング法により、約4μm
の厚さのLiNbO3単結晶薄膜2を形成した。更に、
イオンビームエツチングを行ない、LiNbO3薄膜を
エツチングして厚さ3.7μmの導波層を形成した。
をワイヤーカッターで切断して、5mm X 5mmの
基板1とした。このとき、切断方向は、それぞれ単結晶
のY軸と2軸に沿う方向とした。このLiTaO3基板
上にRF(高周波)スパッタリング法により、約4μm
の厚さのLiNbO3単結晶薄膜2を形成した。更に、
イオンビームエツチングを行ない、LiNbO3薄膜を
エツチングして厚さ3.7μmの導波層を形成した。
このようにして、LiTaO3単結晶薄板1とLiNb
0゜単結晶薄膜2からなるスラブ型導波路を形成した。
0゜単結晶薄膜2からなるスラブ型導波路を形成した。
このスラブ型導波路に対して、波長0.83μmの半導
体レーザ光を入射させたところ、波長0.415μmの
第2高調波が発生した。このときの第2高調波発生の変
換効率は半導体レーザ光入射パワー20mVに対して2
X 10−’であった。
体レーザ光を入射させたところ、波長0.415μmの
第2高調波が発生した。このときの第2高調波発生の変
換効率は半導体レーザ光入射パワー20mVに対して2
X 10−’であった。
[実施例2]
厚さ0.5+*+aのXカットLiTaO3単結晶ウェ
ハーをワイヤーカッターで切断して、5mm X 5m
taの基板1とした。このとき、切断方向は、それぞれ
単結晶のY軸と2軸に沿う方向とした。このLiTaO
3基板上にRF(高周波)スパッタリング法により、約
4μmの厚さのLiNbO3単結晶薄膜2を形成した。
ハーをワイヤーカッターで切断して、5mm X 5m
taの基板1とした。このとき、切断方向は、それぞれ
単結晶のY軸と2軸に沿う方向とした。このLiTaO
3基板上にRF(高周波)スパッタリング法により、約
4μmの厚さのLiNbO3単結晶薄膜2を形成した。
このLiNb0゜単結晶薄膜2上に、通常のフォトリソ
グラフィー技術とRF(高周波)スパッタリング法によ
り、約4μm、幅5μmのTi薄膜からなるパターン3
を形成した。このTiパターン3をエツチングマスクと
してイオンビームエツチングを行ない、 LiNbO3
薄膜をエツチングして幅5μmのチャンネル型導波層4
を形成した。
グラフィー技術とRF(高周波)スパッタリング法によ
り、約4μm、幅5μmのTi薄膜からなるパターン3
を形成した。このTiパターン3をエツチングマスクと
してイオンビームエツチングを行ない、 LiNbO3
薄膜をエツチングして幅5μmのチャンネル型導波層4
を形成した。
最後に、残ったTiマスクを除去してLiTaO3単結
晶薄板1とLiNbO3単結晶薄膜4からなるチャンネ
ル型導波路を形成した。
晶薄板1とLiNbO3単結晶薄膜4からなるチャンネ
ル型導波路を形成した。
このチャンネル型導波路に対して、波長0.83μmの
半導体レーザ光を入射させたところ、波長0.415μ
mの第2高調波が発生した。このときの第2高調波発生
の変換効率は半導体レーザ光入射パワー20+5w1C
対しテ4 X 10−’ 1’あった。
半導体レーザ光を入射させたところ、波長0.415μ
mの第2高調波が発生した。このときの第2高調波発生
の変換効率は半導体レーザ光入射パワー20+5w1C
対しテ4 X 10−’ 1’あった。
(効 果)
以上述べたように、LiTaO3単結晶基板上にt、1
Nbo、薄膜からなる導波層を設けることにより、従来
不可能であったLiNbO3材料による0、8μm帯半
導体レーザ光の第2高調波発生を可能にし、光デイスク
メモリやCDプレーヤ等広く利用することができる。
Nbo、薄膜からなる導波層を設けることにより、従来
不可能であったLiNbO3材料による0、8μm帯半
導体レーザ光の第2高調波発生を可能にし、光デイスク
メモリやCDプレーヤ等広く利用することができる。
第1図は、本発明に係る第2高調波発生素子の導波路構
造を示した説明図、第2図および第3図は、本発明に係
る第2高調波発生素子の製造工程を説明した図である。 I LiTaO3基板 2 LJbOa薄膜 3 Ti薄膜 4 LxNbO,導波層
造を示した説明図、第2図および第3図は、本発明に係
る第2高調波発生素子の製造工程を説明した図である。 I LiTaO3基板 2 LJbOa薄膜 3 Ti薄膜 4 LxNbO,導波層
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 波長が0.82〜0.84μmのレーザ光を基本波
光源波長とし、LiTaO_3単結晶基板上に膜厚が3
.7〜9.0μmのLiNbO_3結晶導波層が形成さ
れてなり、結晶の光学軸(Z軸)に対するレーザ光の入
射角を±0°〜±35°に設定したことを特徴とする第
2高調波発生素子。 2 LiNbO_3結晶導波層の膜厚3.7〜3.8μ
mである請求項第1項記載の第2高調波発生素子。 3 LiTaO_3単結晶の光学軸(Z軸)に対するレ
ーザ光の入射角が0°±0.5°である請求項第1項記
載の第2高調波発生素子。 4 LiNbO_3導波層およびLiTaO_3単結晶
基板層の屈折率が第1表に示すごとくであり、LiNb
O_3導波層の膜厚が3.7〜3.8μm、LiTaO
_3単結晶の光学軸(Z軸)に対するレーザ光の入射角
が0°±0.5°である請求項第1項記載の第2高調波
発生素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16080488A JPH0212135A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 第2高調波発生素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16080488A JPH0212135A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 第2高調波発生素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0212135A true JPH0212135A (ja) | 1990-01-17 |
Family
ID=15722800
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16080488A Pending JPH0212135A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 第2高調波発生素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0212135A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992009917A1 (fr) * | 1990-11-30 | 1992-06-11 | Ibiden Co., Ltd. | Couche mince de monocristal de niobate de lithium |
| US5158823A (en) * | 1990-06-22 | 1992-10-27 | Ibide Co., Ltd. | Second harmonic wave generating device |
| US5371812A (en) * | 1992-01-21 | 1994-12-06 | Ibden Co., Ltd. | Waveguide type optical directional coupler |
| EP1176458A3 (en) * | 2000-07-27 | 2003-03-19 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical waveguide element |
| WO2014203931A1 (ja) * | 2013-06-21 | 2014-12-24 | 株式会社村田製作所 | 光制御素子 |
-
1988
- 1988-06-30 JP JP16080488A patent/JPH0212135A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5158823A (en) * | 1990-06-22 | 1992-10-27 | Ibide Co., Ltd. | Second harmonic wave generating device |
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| US5315432A (en) * | 1990-11-30 | 1994-05-24 | Ibiden Co., Ltd. | Thin film of lithium niobate single crystal |
| EP0515682B1 (en) * | 1990-11-30 | 2000-01-05 | Ibiden Co., Ltd. | Thin film of lithium niobate single crystal |
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