JPH02122618A - 不純物拡散装置 - Google Patents
不純物拡散装置Info
- Publication number
- JPH02122618A JPH02122618A JP27785688A JP27785688A JPH02122618A JP H02122618 A JPH02122618 A JP H02122618A JP 27785688 A JP27785688 A JP 27785688A JP 27785688 A JP27785688 A JP 27785688A JP H02122618 A JPH02122618 A JP H02122618A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ultraviolet rays
- chamber
- silicon substrate
- support element
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置の製造工程において用いられる不純
物拡散装置に関する。
物拡散装置に関する。
従来、この種の不純物拡散装置は第3図に示すように炉
芯管11と、この炉芯管11上に設けられた均熱板12
と、ヒータ13と、炉芯管11内を所定の温度に保つ為
の温度コントローラ(図示せず)とから構成されており
、シリコン基板16はボート14に載置され、更にこの
ボート14はマザーボート15により炉芯管11内に挿
入され、所定枚数のシリコン基板が一度に処理されるよ
うに構成されていた。
芯管11と、この炉芯管11上に設けられた均熱板12
と、ヒータ13と、炉芯管11内を所定の温度に保つ為
の温度コントローラ(図示せず)とから構成されており
、シリコン基板16はボート14に載置され、更にこの
ボート14はマザーボート15により炉芯管11内に挿
入され、所定枚数のシリコン基板が一度に処理されるよ
うに構成されていた。
上述した従来の不純物拡散装置では、シリコン基板の所
定の枚数が一度に処理されるバッチ処理式の構造となっ
ている為、少量多品種化が進むにつれ、不純物拡散装置
でのロスタイムが多くなり、製造期間が長くなるという
欠点がある。
定の枚数が一度に処理されるバッチ処理式の構造となっ
ている為、少量多品種化が進むにつれ、不純物拡散装置
でのロスタイムが多くなり、製造期間が長くなるという
欠点がある。
本発明の不純物拡散装置は、チャンバーと、前記チャン
バー内に設けられシリコン基板を支持する支持体と、前
記シリコン基板を加熱するための紫外線または高周波照
射手段と、前記シリコン基板の温度を検出し前記紫外線
または高周波照射手段の出力を制御する温度制御手段と
を含んで構成される。
バー内に設けられシリコン基板を支持する支持体と、前
記シリコン基板を加熱するための紫外線または高周波照
射手段と、前記シリコン基板の温度を検出し前記紫外線
または高周波照射手段の出力を制御する温度制御手段と
を含んで構成される。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第一の実施例の断面図である。
第1図において、チャンバー1内にはシリコン基板3を
支持する支持体4が設けられており、その上部には、例
えば50〜1100nの波長を有する紫外線を発生する
光源2が設けられている。
支持する支持体4が設けられており、その上部には、例
えば50〜1100nの波長を有する紫外線を発生する
光源2が設けられている。
そして、チャンバー1の外部には、この光源2とシリコ
ン基板の裏面に接するように設けられた熱センサ(図示
せず)に接続する温度コントローラー5が設けられてい
る。なお6はガス導入管である。
ン基板の裏面に接するように設けられた熱センサ(図示
せず)に接続する温度コントローラー5が設けられてい
る。なお6はガス導入管である。
このように構成された第1の実施例によれば、支持体4
上に支持されたシリコン基板3は、照射された紫外線を
Siが吸収して熱エネルギーに変換するため紫外線によ
り加熱されることになる。
上に支持されたシリコン基板3は、照射された紫外線を
Siが吸収して熱エネルギーに変換するため紫外線によ
り加熱されることになる。
そして、その加熱温度は温度コントローラー5により制
御されるため、シリコン基板3は1枚づつ所定の熱処理
がなされる。従ってシリコン基板への不純物拡散及び酸
化膜の形成は、精度よくしかも短時間に行なわれる。
御されるため、シリコン基板3は1枚づつ所定の熱処理
がなされる。従ってシリコン基板への不純物拡散及び酸
化膜の形成は、精度よくしかも短時間に行なわれる。
第2図は本発明の第2の実施例の断面図である。
この第2の実施例における不純物拡散装置は、シリコン
基板を加熱するために高周波を用いるものである。すな
わち、Siが吸収する高周波を高周波発生機7により発
生させ、導波管2を介してチャンバー1内の支持体4上
に支持されたシリコン基板3上に照射し、熱エネルギー
に変換し、温度コントローラー5により所定の温度に保
つように構成されており、必要に応じて、ガス導入管6
よりチャンバー1内にガスを注入し、処理する。
基板を加熱するために高周波を用いるものである。すな
わち、Siが吸収する高周波を高周波発生機7により発
生させ、導波管2を介してチャンバー1内の支持体4上
に支持されたシリコン基板3上に照射し、熱エネルギー
に変換し、温度コントローラー5により所定の温度に保
つように構成されており、必要に応じて、ガス導入管6
よりチャンバー1内にガスを注入し、処理する。
又、チャンバー1は空洞共振器の機能を有するように構
成されており、シリコン基板3上で高周波パワーが最大
になるように調整することにより省エネルギー化が可能
である。
成されており、シリコン基板3上で高周波パワーが最大
になるように調整することにより省エネルギー化が可能
である。
以上説明したように本発明は、チャンバー内に設けられ
た支持体と、この支持体上のシリコン基板を加熱するた
めの紫外線または高周波照射手段と、温度制御手段とに
より不純物拡散装置を構成することにより、シリコン基
板上への酸化膜の形成および不純物の拡散を1枚づつ処
理できるため、シリコン基板の処理待ち時間を減少させ
たり、処理ロット数を多くできる等の効果がある。
た支持体と、この支持体上のシリコン基板を加熱するた
めの紫外線または高周波照射手段と、温度制御手段とに
より不純物拡散装置を構成することにより、シリコン基
板上への酸化膜の形成および不純物の拡散を1枚づつ処
理できるため、シリコン基板の処理待ち時間を減少させ
たり、処理ロット数を多くできる等の効果がある。
従って半導体装置の製造期間を短縮することができる。
第1図及び第2図は本発明の第1及び第2の実施例の断
面図、第3図は従来の不純物拡散装置の一例の断面図で
ある。 1、IA・・・チャンバー 2・・・光源、3・・・シ
リコン基板、4・・・支持体、5・・・温度コントロー
ラー、6・・・ガス導入管、7・・・高周波発生機、8
・・・導波管、11・・・炉芯管、12・・・均熱管、
13・・・ヒーター 14・・・ボート、15・・・マ
ザーボート、16・・・シリコン基板。
面図、第3図は従来の不純物拡散装置の一例の断面図で
ある。 1、IA・・・チャンバー 2・・・光源、3・・・シ
リコン基板、4・・・支持体、5・・・温度コントロー
ラー、6・・・ガス導入管、7・・・高周波発生機、8
・・・導波管、11・・・炉芯管、12・・・均熱管、
13・・・ヒーター 14・・・ボート、15・・・マ
ザーボート、16・・・シリコン基板。
Claims (1)
- チャンバーと、前記チャンバー内に設けられシリコン
基板を支持する支持体と、前記シリコン基板を加熱する
ための紫外線または高周波照射手段と、前記シリコン基
板の温度を検出し前記紫外線または高周波照射手段の出
力を制御する温度制御手段とを含むことを特徴とする不
純物拡散装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27785688A JPH02122618A (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | 不純物拡散装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27785688A JPH02122618A (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | 不純物拡散装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02122618A true JPH02122618A (ja) | 1990-05-10 |
Family
ID=17589232
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27785688A Pending JPH02122618A (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | 不純物拡散装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02122618A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07211666A (ja) * | 1994-01-20 | 1995-08-11 | Yutaka Ishikawa | 不純物低温拡散方法及び不純物低温拡散装置 |
| KR100327174B1 (ko) * | 1994-08-25 | 2002-07-31 | 가부시키가이샤 도끼와 | 화장품인출용기 |
-
1988
- 1988-11-01 JP JP27785688A patent/JPH02122618A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07211666A (ja) * | 1994-01-20 | 1995-08-11 | Yutaka Ishikawa | 不純物低温拡散方法及び不純物低温拡散装置 |
| KR100327174B1 (ko) * | 1994-08-25 | 2002-07-31 | 가부시키가이샤 도끼와 | 화장품인출용기 |
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