JPH02125672A - ジョセフソン接合素子及びその製造方法 - Google Patents
ジョセフソン接合素子及びその製造方法Info
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- JPH02125672A JPH02125672A JP63279694A JP27969488A JPH02125672A JP H02125672 A JPH02125672 A JP H02125672A JP 63279694 A JP63279694 A JP 63279694A JP 27969488 A JP27969488 A JP 27969488A JP H02125672 A JPH02125672 A JP H02125672A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、高温酸化物超電導薄膜を用いたジョセフソン
接合素子及びその製造方法に関する。
接合素子及びその製造方法に関する。
(ロ)従来の技術
ジョセフソン接合素子は、その高速性、低消費電力性の
ため半導体をしのぐ高速素子として期待され、ジョセフ
ソンコンピュータの試作が精力的に進められている(″
ジョセフソン。コンピューター技術”パリティ別冊NQ
1.1986、P40〜P17)。
ため半導体をしのぐ高速素子として期待され、ジョセフ
ソンコンピュータの試作が精力的に進められている(″
ジョセフソン。コンピューター技術”パリティ別冊NQ
1.1986、P40〜P17)。
現在試作されている素子構造は、ニオブ(Nb)あるい
は窒化ニオブ(N b N)の間に、ご(薄い絶縁膜を
挟んだトンネル接合型のものが主流を占めている。
は窒化ニオブ(N b N)の間に、ご(薄い絶縁膜を
挟んだトンネル接合型のものが主流を占めている。
(・・)発明が解決しようとする課題
1足来のジョセフソン接合素子は、液体ヘリウム温度で
動作することを前提としている。これに対して、最近発
見された高温酸化物超電導体を用いたジョセフソン接合
素子を作成することができれば、液体窒素温度での動作
が可能となり、実用性、経済性が苦しく向上する。
動作することを前提としている。これに対して、最近発
見された高温酸化物超電導体を用いたジョセフソン接合
素子を作成することができれば、液体窒素温度での動作
が可能となり、実用性、経済性が苦しく向上する。
ところが、高温酸化物超電導体はコヒーレンス長が10
人ときわめて短いため、絶縁膜の厚みを同程度まで薄く
することが困難で、トンネル型接合の作成には成功して
いなかった。
人ときわめて短いため、絶縁膜の厚みを同程度まで薄く
することが困難で、トンネル型接合の作成には成功して
いなかった。
本発明はかかる点に鑑み発明されたものにして、トンネ
ル型接合のジョセフソン素子及びその製造方法の提供を
課題とする。
ル型接合のジョセフソン素子及びその製造方法の提供を
課題とする。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明によるジョセフソン接合素子は、高温酸化物超を
導体L n B a r Cu so +−aと、この
超電導体と同一の結晶構造を有する非超電導体PrBa
rc u +O+−aと、の積層構造からなるもので
ある。
導体L n B a r Cu so +−aと、この
超電導体と同一の結晶構造を有する非超電導体PrBa
rc u +O+−aと、の積層構造からなるもので
ある。
また、本発明によるその素子の製造方法は、MBE装置
の成長室内で、高温酸化物超電導体LnB a rc
u 、ot−aと、この超電導体と同一の結晶構造を有
する非超電導体P r B a tc u so v−
aとを連続的に形成することを特徴とするものである。
の成長室内で、高温酸化物超電導体LnB a rc
u 、ot−aと、この超電導体と同一の結晶構造を有
する非超電導体P r B a tc u so v−
aとを連続的に形成することを特徴とするものである。
(+)作 用
非超電導体i’ r Ba、Cu5O+−zは、高温酸
化物超電導体L n B a zc u 、0 ?−#
と結晶構造が同一であり、互いにエピタキシャル成長が
可能である。このため、非超電導体の膜厚は、結晶の配
向性を保持したまま任意になし得、t、n以外は構成元
素が共通であり、相互拡散などで高温酸化物超、[導体
のMi電導性を阻害することがない。
化物超電導体L n B a zc u 、0 ?−#
と結晶構造が同一であり、互いにエピタキシャル成長が
可能である。このため、非超電導体の膜厚は、結晶の配
向性を保持したまま任意になし得、t、n以外は構成元
素が共通であり、相互拡散などで高温酸化物超、[導体
のMi電導性を阻害することがない。
また、高温酸化物超電導体と非超電導体とを同じM B
E装置で連続的に形成することができる。
E装置で連続的に形成することができる。
(・・)実施例
本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
この図面において、成長室l内には準備室2がら基板3
が挿入されており、成長室1は到達真空度1xlO−’
Paであり、ターボポンプ4、イオンポンプ5及び液体
窒素ンユラウド11にて超高真空が形成される。前記基
板としてマグネシア(Mgo)を用いた。
が挿入されており、成長室1は到達真空度1xlO−’
Paであり、ターボポンプ4、イオンポンプ5及び液体
窒素ンユラウド11にて超高真空が形成される。前記基
板としてマグネシア(Mgo)を用いた。
成長室lは5個の分子線源6を有し、LnBa) Cu
s Oy−z及びPrBamCu5O+−aの構成元
素である金属バリウム(Ba)、銅(Cu)、プラセオ
ジウム(Pr)、希土類元素(Ln)及び固体酸素源(
Sb、0.)が用意され、各分子線源6から個別に原子
又は分子で基板3に照射されるようになっている。希土
類元素(Ln)はY、 La、Nd、Sm、Eu、G
d、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも
一種が用いられる。
s Oy−z及びPrBamCu5O+−aの構成元
素である金属バリウム(Ba)、銅(Cu)、プラセオ
ジウム(Pr)、希土類元素(Ln)及び固体酸素源(
Sb、0.)が用意され、各分子線源6から個別に原子
又は分子で基板3に照射されるようになっている。希土
類元素(Ln)はY、 La、Nd、Sm、Eu、G
d、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも
一種が用いられる。
存分子線源6の前には、成長速度制御器7にて制御され
るシャッター8が取付けられている。
るシャッター8が取付けられている。
以上の構成において、600〜650℃に加熱した基板
3上に、超電導薄膜LnBa、Cu30t、を形成する
際には、Prの分子線源6の前のシャッター8のみが閉
じられ、他のシャッターは全て開かれる。代表的な成長
速度は1人/秒程度である。この場合の基板3の結晶の
成長は、第2図に示すように、各分子線源6から出発し
た原子又は分子が基板3の方に飛んでいき、基板3に衝
突する。すると、基板上で一部再蒸発するものもあるが
、多くは基板表面近傍にとどまり、熟エネルギーを基板
3に4えながら動き回り、捕獲中心で原r−村又は原子
集団を捕獲し、核を形成し、この績はつぎつぎ到着する
原子と合体して安定核となり、順次成長していく。S
b s Osはこの合体時に、酸素のみが取り込まれ、
sb又はsboが基板゛3から飛散する。かくして超電
導薄;漢を厚み0.2μmに形成した。
3上に、超電導薄膜LnBa、Cu30t、を形成する
際には、Prの分子線源6の前のシャッター8のみが閉
じられ、他のシャッターは全て開かれる。代表的な成長
速度は1人/秒程度である。この場合の基板3の結晶の
成長は、第2図に示すように、各分子線源6から出発し
た原子又は分子が基板3の方に飛んでいき、基板3に衝
突する。すると、基板上で一部再蒸発するものもあるが
、多くは基板表面近傍にとどまり、熟エネルギーを基板
3に4えながら動き回り、捕獲中心で原r−村又は原子
集団を捕獲し、核を形成し、この績はつぎつぎ到着する
原子と合体して安定核となり、順次成長していく。S
b s Osはこの合体時に、酸素のみが取り込まれ、
sb又はsboが基板゛3から飛散する。かくして超電
導薄;漢を厚み0.2μmに形成した。
この超電導薄膜の形成に続いて、Lnのシャッター8を
閉じると同時にPrのシャンク−を開き、1重続的に絶
縁膜として機能するPr、Ba+Cu、O+9を数10
秒で厚み23〜35人に形成した。
閉じると同時にPrのシャンク−を開き、1重続的に絶
縁膜として機能するPr、Ba+Cu、O+9を数10
秒で厚み23〜35人に形成した。
その後再びPrのシャッター8を閉じ、Lnのシャッタ
ーを開けて超電導薄膜を形成した。
ーを開けて超電導薄膜を形成した。
このようにしてトンネル型ジョセフソン接合素fを得た
。第3図はこの素子の模式断面図であフ、基板3上に高
温酸化物超電導薄膜LnBa。
。第3図はこの素子の模式断面図であフ、基板3上に高
温酸化物超電導薄膜LnBa。
Ctl 10 +−19、非超電導薄膜PrBa+Cu
+()+−alo及び高温酸化物超電導薄膜LnBa。
+()+−alo及び高温酸化物超電導薄膜LnBa。
Ckl 30 t −a 9を順次積層したものである
。
。
而して、超1を等薄膜9の電気抵抗特性を測定したとこ
ろ、第4図の特性を得た。この図面はLnとしてY、E
r、Ho、Dy、Gdを用いた場合を示しているが、こ
れ以外にLa、Nd、Sm、Ell、Tm、Yb、Lu
を用いて超電導薄膜9を形成してもよい。これらの元素
を含む超電導薄膜9はいずれも第6図に示すX線(Cu
−Ka線)回折特性を有し、結晶構造が同じである。
ろ、第4図の特性を得た。この図面はLnとしてY、E
r、Ho、Dy、Gdを用いた場合を示しているが、こ
れ以外にLa、Nd、Sm、Ell、Tm、Yb、Lu
を用いて超電導薄膜9を形成してもよい。これらの元素
を含む超電導薄膜9はいずれも第6図に示すX線(Cu
−Ka線)回折特性を有し、結晶構造が同じである。
非超電導薄膜10の電気抵抗特性を第5図に示す。また
、この非超電導!V膜lOのX線(Cu−Ka線)回折
特性を第7図に示す。第6図及び第7図から、肉薄膜9
と10は同じ結晶構造をもつことがわかる。
、この非超電導!V膜lOのX線(Cu−Ka線)回折
特性を第7図に示す。第6図及び第7図から、肉薄膜9
と10は同じ結晶構造をもつことがわかる。
尚、実施例において、分子状態で照射される固(本酸素
源としてsb、o、を用いたが、これに代ってAs、O
,を用いることもできる。特にAS+Oiはsb、o、
に比し低い温度で照射するのに好ましい。
源としてsb、o、を用いたが、これに代ってAs、O
,を用いることもできる。特にAS+Oiはsb、o、
に比し低い温度で照射するのに好ましい。
(ト)発明の効果
本発明によれば、絶縁膜となる非超電導体Pr1(a
rc u 、o +−1の膜厚を、高温酸化物超電導体
1、n Ra + Cu so +−#のコヒーレンス
長程度にしたトンネル型ジョセフソン接合素子を提供す
ることができる。また、その高温酸化物超電導体と非超
電導体を連続的に形成することにより、ジョセフソン接
合素子の製造が容易になる。
rc u 、o +−1の膜厚を、高温酸化物超電導体
1、n Ra + Cu so +−#のコヒーレンス
長程度にしたトンネル型ジョセフソン接合素子を提供す
ることができる。また、その高温酸化物超電導体と非超
電導体を連続的に形成することにより、ジョセフソン接
合素子の製造が容易になる。
第1図はM B E装置の模式図、第2図はM B E
装置における基板上の薄膜の形成状況の説明図、第3図
はジョセフソン接合素子の模式断面図、第1図及び第5
図は高温酸化物超電導体及び非超電る。 3・・基板、9・・・高温酸化物超電導体、10・・・
非超電導体。
装置における基板上の薄膜の形成状況の説明図、第3図
はジョセフソン接合素子の模式断面図、第1図及び第5
図は高温酸化物超電導体及び非超電る。 3・・基板、9・・・高温酸化物超電導体、10・・・
非超電導体。
Claims (2)
- (1)高温酸化物超電導体LnBa_2Cu_3O_7
_−_■と、 この超電導体と同一の結晶構造を有する非超電導体Pr
Ba_2Cu_3O_7_−_■と、の積層構造からな
るジョセフソン接合素子。 但し、LnはY、La、Nd、Sm、Eu、Gd、Dy
、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも一種であ
る。 - (2)MBE装置の成長室内で、高温酸化物超電導体L
nBa_2Cu_3O_7_−■と、この超電導体と同
一の結晶構造を有する非超電導体PrBa_2Cu_3
O_7_−_■とを連続的に形成することを特徴とする
ジョセフソン素子の製造方法。 但し、LnはY、La、Nd、Sm、Eu、Gd、Dy
、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも一種であ
る。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63279694A JPH02125672A (ja) | 1988-11-04 | 1988-11-04 | ジョセフソン接合素子及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63279694A JPH02125672A (ja) | 1988-11-04 | 1988-11-04 | ジョセフソン接合素子及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02125672A true JPH02125672A (ja) | 1990-05-14 |
Family
ID=17614572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63279694A Pending JPH02125672A (ja) | 1988-11-04 | 1988-11-04 | ジョセフソン接合素子及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02125672A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0570105A (ja) * | 1991-09-17 | 1993-03-23 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 酸化物超電導薄膜 |
| JPH0575171A (ja) * | 1991-09-17 | 1993-03-26 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 超電導接合 |
| JPH0585705A (ja) * | 1991-09-26 | 1993-04-06 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 酸化物超電導薄膜 |
| WO1994025969A1 (en) * | 1993-04-30 | 1994-11-10 | Varian Associates, Inc. | High-temperature josephson junction and method |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6413777A (en) * | 1987-07-07 | 1989-01-18 | Sharp Kk | Josephson element |
| JPH01272171A (ja) * | 1988-02-02 | 1989-10-31 | Thomson Csf | 超伝導材料でできた薄層をもつ素子及びその製造方法 |
| JPH0221676A (ja) * | 1988-07-08 | 1990-01-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 超伝導体のトンネル接合 |
-
1988
- 1988-11-04 JP JP63279694A patent/JPH02125672A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6413777A (en) * | 1987-07-07 | 1989-01-18 | Sharp Kk | Josephson element |
| JPH01272171A (ja) * | 1988-02-02 | 1989-10-31 | Thomson Csf | 超伝導材料でできた薄層をもつ素子及びその製造方法 |
| JPH0221676A (ja) * | 1988-07-08 | 1990-01-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 超伝導体のトンネル接合 |
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| US5399881A (en) * | 1993-04-30 | 1995-03-21 | Varian Associates, Inc. | High-temperature Josephson junction and method |
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