JPH02126494A - Semiconductor memory device - Google Patents

Semiconductor memory device

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Publication number
JPH02126494A
JPH02126494A JP63279659A JP27965988A JPH02126494A JP H02126494 A JPH02126494 A JP H02126494A JP 63279659 A JP63279659 A JP 63279659A JP 27965988 A JP27965988 A JP 27965988A JP H02126494 A JPH02126494 A JP H02126494A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
refreshing
row address
ras
address strobe
refresh
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63279659A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinji Kawai
河井 伸治
Kazunari Inoue
一成 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP63279659A priority Critical patent/JPH02126494A/en
Publication of JPH02126494A publication Critical patent/JPH02126494A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To simplify a refreshing method and to hold storage even when a power failure occurs by executing refreshing under the standby state of a row address strobe without using an external cycle. CONSTITUTION:When the 'H' state of the row address strobe, the inverse of RAS continues for the period of a delay circuit 2, an oscillation circuit 1 is activated and generates a clock pulse. Further, this clock pulse works as the trigger pulse of a counter circuit 3 and executes increment for a row address for which refreshing and rewriting is to be executed. On the other hand, the cycle of the inverse of RAS in an interval part is started, and the series of refreshing is executed. Thus, the refreshing method can be simplified, and the storage can be held when the power failure occurs by executing the refreshing under the standby state of the row address strobe without using the external cycle.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は一ダイナミック型半導体記憶装置のリフレッ
シュ方法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a refresh method for a dynamic semiconductor memory device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、ダイナミック型半導体記憶装置(以下。 Conventionally, dynamic semiconductor memory devices (hereinafter referred to as "dynamic semiconductor memory devices")

DRAMという)では1次のような動作でリフレッシュ
が行なわれる。その動作例を第2図を使って説明する。
(DRAM) is refreshed using a primary operation. An example of its operation will be explained using FIG.

第2図で1はメモリセルキャパシタ(以下、C8という
)2はセンスアンプ、3はビット線(以下BLという)
、4はワード線(以下、WLという)、5は書き込み・
読み出し用トランジスタである。
In Figure 2, 1 is a memory cell capacitor (hereinafter referred to as C8), 2 is a sense amplifier, and 3 is a bit line (hereinafter referred to as BL).
, 4 is a word line (hereinafter referred to as WL), and 5 is a write line.
This is a read transistor.

まず、C8は揮発性であるので時間の経過とともにC3
の蓄積電荷が消えてしまう。そこで(4)のWLを活性
化させ(5)のゲートを開ける。するとBL及びBLの
電位が僅かに変化しはじめる。それを(2)のセンスア
ンプで増幅し再びC8に戻してWLを閉じる。これがリ
フレッシュ動作であり、このリフレッシュの方法として
例ばRASオンリーリフレッシュ、CASビフォアRA
Sリフレッシュ、ヒドンリフレッシュ等がある。
First, C8 is volatile, so over time C3
The accumulated charge of will disappear. Therefore, WL (4) is activated and gate (5) is opened. Then, the potentials of BL and BL begin to change slightly. It is amplified by the sense amplifier (2) and returned to C8 to close WL. This is a refresh operation, and examples of this refresh method include RAS only refresh, CAS before RA
There are S refresh, hidden refresh, etc.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

従来のリフレッシュ方法では、全て行アドレスストロー
ブをはじめ外部クロックを必要としていた。このためア
プリケーション上クロックの制御が複雑になる。また停
電時には、記憶保持ができなくなってしまう。
All conventional refresh methods require an external clock including a row address strobe. This makes clock control complicated in applications. Furthermore, in the event of a power outage, memory cannot be retained.

この発明は、上記のような問題点を解決するためになさ
れたもので、リフレッシュ方法の簡易化、それと停電時
の記憶保持を可能にしたものである。
This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and it simplifies the refresh method and makes it possible to maintain memory during a power outage.

[課題を解決するための手段] この発明に係る半導体記憶装置のリフレッシュ方法は、
行アドレスストローブがスタンドバイ状態で、外部サイ
クルを使わずリフレッシュが行なえるようにしたもので
ある。
[Means for Solving the Problems] A method for refreshing a semiconductor memory device according to the present invention includes:
The row address strobe is in a standby state so that refreshing can be performed without using an external cycle.

〔作用〕[Effect]

この発明における半導体記憶装置のリフレッシュ方法は
行アドレスストローブがスタンバイ状態のままであって
も、内部行アドレスストローブの発生によってリフレッ
シュを行うことができる。
According to the refresh method of a semiconductor memory device according to the present invention, even if the row address strobe remains in a standby state, refresh can be performed by generating an internal row address strobe.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、行アドレスストローブ(以下RASという
)のHの状態が、2の遅延回路の期間続くと、1の発振
回路が活性化しクロックパルスを発生する。そして、こ
のクロックパルスは3のカウンタ回路のトリがパルスと
して働き、リフレッシ、再書き込みをする行アドレスを
インクリメントする。一方、内部RASのサイクルが開
始し一連のリフレッシュが行なわれる。この時のタイミ
ング図を第31!S!1(a)で示し、その動作を説明
する。まず、内部RASが立ち下がるとワード線が立ち
上がり一次いでセンスクロックが活性化されメモリセル
の電位は完全なハイレベル(ローレベル)に再書き込み
される。ここで、この内部RAS信号によるリフレッシ
ュサイクル中に、外部RASが入ってきた場合が問題と
なる。第1図の例では、(1)外部RASがWLの立ち
上がりよりも前に入った場合と12)外部RASがWL
が立ち上がって入ってきた場合に分けて考える。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1st
In the figure, when the H state of the row address strobe (hereinafter referred to as RAS) continues for a period of delay circuit 2, oscillation circuit 1 is activated and generates a clock pulse. This clock pulse acts as a pulse for the counter circuit 3, and increments the row address for refreshing and rewriting. Meanwhile, the internal RAS cycle begins and a series of refreshes are performed. The timing diagram at this time is number 31! S! 1(a), and its operation will be explained. First, when the internal RAS falls, the word line rises, the sense clock is activated, and the potential of the memory cell is rewritten to a completely high level (low level). Here, a problem arises when external RAS comes in during the refresh cycle using this internal RAS signal. In the example in Figure 1, (1) the external RAS enters before the rise of WL, and 12) the external RAS enters before the rise of WL.
Let's consider separately the case where someone stands up and enters.

(1)の場合を第3図(b)、(2)の場合を第3図(
C)を使って説明する。まず、(1)の場合、メモリセ
ルの情報はトランスファーゲートを介してBLに伝達さ
れていないので外部RASを優先させて外部RASが立
ち下がりから内部RASを活性化させリフレッシュをす
る。(2)の場合は、内部RASによるセンスクロック
がスタンバイ状態になるのを待って内部RASを立ち下
げる。このようにして外部RASのサイクルに依存する
ことな(RASがスタンバイ状態でリフレッシュを行う
ことができる。
The case of (1) is shown in Figure 3 (b), and the case of (2) is shown in Figure 3 (
Explain using C). First, in case (1), since the information in the memory cell is not transmitted to the BL via the transfer gate, priority is given to the external RAS, and from the falling edge of the external RAS, the internal RAS is activated and refreshed. In the case of (2), the internal RAS is turned down after waiting for the sense clock generated by the internal RAS to enter the standby state. In this way, refresh can be performed while the RAS is in standby mode without depending on the external RAS cycle.

次に、停電時の記憶保持についてであるが、これは、例
えば内部電源によってバックアップしてやればよい。
Next, regarding memory retention in the event of a power outage, this can be achieved by backing up the memory using, for example, an internal power source.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように一本発明によれば、RASがスタンバイ状
態であっても内部RASによってリフレッシュが行なえ
るようにしたので、RASオンリーリフレッシュとか、
CASビフォアRASリフレッシュ等のように外部パル
スを使う必要がなくなり、リフレッシュ方法が簡易化で
きる。また。
As described above, according to the present invention, refresh can be performed by internal RAS even when RAS is in standby state, so RAS-only refresh, etc.
There is no need to use external pulses as in CAS before RAS refresh, and the refresh method can be simplified. Also.

内部電源でバックアップさえして右けば、停電になって
も記憶を保持することができる。
As long as it is backed up with an internal power supply, it can retain its memory even in the event of a power outage.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、この発明の一実施例を示す図、第2図は、メ
モリセル、センスアンプの構成図、第3図(a)はリフ
レッシュ動作のタイミング図、第3図(b)は外部RA
SがWLの立ち下がりよりも前に入った場合のリフレッ
シュ動作のタイミング図、第3図(C)は、外部RAS
がWLが立ち上がって入ってきた場合のリフレッシュ動
作のタイミング図を示す。 また第1図の1は発振回路、2は遅延回路、3はカウン
ター回路、第2図の1はメモリセルキャパシタ、2はセ
ンスアンプ、3はBL、4はWL−5は書き込み−読み
出し用トランジスターBLはビット線、WLはワード線
、RASは行アドレスストローブ、extRASは外部
行アドレスストローブ、1ntRAsは内部行アドレス
ストローブ、SOはセンスクロックである。 なお、各図中同一符号は、同一または相当部分を示す。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a configuration diagram of memory cells and sense amplifiers, FIG. 3(a) is a timing diagram of refresh operation, and FIG. 3(b) is an external R.A.
Figure 3 (C) is a timing diagram of the refresh operation when S enters before the falling edge of WL.
shows a timing diagram of a refresh operation when WL rises and enters. Further, 1 in Fig. 1 is an oscillation circuit, 2 is a delay circuit, 3 is a counter circuit, 1 in Fig. 2 is a memory cell capacitor, 2 is a sense amplifier, 3 is BL, 4 is WL, and 5 is a writing/reading transistor. BL is a bit line, WL is a word line, RAS is a row address strobe, extRAS is an external row address strobe, 1ntRAs is an internal row address strobe, and SO is a sense clock. Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] ダイナミック型半導体記憶装置において行アドレススト
ローブがスタンバイ状態で、リフレッシュ動作が行なえ
ることを特徴とするダイナミック型半導体記憶装置。
A dynamic semiconductor memory device characterized in that a refresh operation can be performed while a row address strobe is in a standby state.
JP63279659A 1988-11-05 1988-11-05 Semiconductor memory device Pending JPH02126494A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63279659A JPH02126494A (en) 1988-11-05 1988-11-05 Semiconductor memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63279659A JPH02126494A (en) 1988-11-05 1988-11-05 Semiconductor memory device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02126494A true JPH02126494A (en) 1990-05-15

Family

ID=17614068

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63279659A Pending JPH02126494A (en) 1988-11-05 1988-11-05 Semiconductor memory device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02126494A (en)

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