JPH02126532A - 電子放出素子 - Google Patents
電子放出素子Info
- Publication number
- JPH02126532A JPH02126532A JP63278707A JP27870788A JPH02126532A JP H02126532 A JPH02126532 A JP H02126532A JP 63278707 A JP63278707 A JP 63278707A JP 27870788 A JP27870788 A JP 27870788A JP H02126532 A JPH02126532 A JP H02126532A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- thin
- electron
- insulator layer
- metal layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電子顕微鏡、電子ビーム露出装置、CRT等
、各種電子ビーム応用装置の電子発生源として利用でき
る電子放出素子に関する。
、各種電子ビーム応用装置の電子発生源として利用でき
る電子放出素子に関する。
従来の技術
電子ビーム装置、例えば電子顕微鏡やCRT等における
電子発生源として、従来熱陰極からの熱電子放出が用い
られていた。しかし、この様な熱陰極を用いた電子放出
は加熱手段が必要であったり、加熱によるエネルギーロ
スがある等問題があった。そこで、加熱によらない電子
放出素子の研究、いわゆる冷陰極に関する研究が行われ
、いくつかの型の電子放出素子が提案されてきた。
電子発生源として、従来熱陰極からの熱電子放出が用い
られていた。しかし、この様な熱陰極を用いた電子放出
は加熱手段が必要であったり、加熱によるエネルギーロ
スがある等問題があった。そこで、加熱によらない電子
放出素子の研究、いわゆる冷陰極に関する研究が行われ
、いくつかの型の電子放出素子が提案されてきた。
たとえば、PN接合に逆バイアス電圧を印加し。
電子なだれ降伏現象を起こさせて素子外へ電子を放出さ
せるものや、電界集中の生じ易い形状の金属に対し電圧
を印加して局所的に高密度な電界を発生させ、金属から
素子外へ電子を放出させる電界効果型のものや、金属−
絶縁体層−金属層の構成で、この2つの金属の間に電圧
を印加することてより、トンネル効果で絶縁体層を通過
してきた電子を金属層から素子外へ放出させるMIM型
のもの等の電子放出素子が提案されてきた。
せるものや、電界集中の生じ易い形状の金属に対し電圧
を印加して局所的に高密度な電界を発生させ、金属から
素子外へ電子を放出させる電界効果型のものや、金属−
絶縁体層−金属層の構成で、この2つの金属の間に電圧
を印加することてより、トンネル効果で絶縁体層を通過
してきた電子を金属層から素子外へ放出させるMIM型
のもの等の電子放出素子が提案されてきた。
上記冷陰極のうちMIM型電子放出素子に関して第4図
を用いて詳しく説明する。
を用いて詳しく説明する。
MIM型の電子放出素子は、第4図に示すように金属層
41上に薄い絶縁体層42を介して薄い金属層43が積
層形成された構造を有している。
41上に薄い絶縁体層42を介して薄い金属層43が積
層形成された構造を有している。
そして、電源44によって金属層43の仕事関数より大
きな″電圧を金属層41および金属層43に印加するこ
とによって、絶縁体層42をトンネルした電子のうち真
空準位より大きなエネルギーを有するものが金属層43
表面から放出電子45として放出される。なお、高い放
出効果を得るためには。
きな″電圧を金属層41および金属層43に印加するこ
とによって、絶縁体層42をトンネルした電子のうち真
空準位より大きなエネルギーを有するものが金属層43
表面から放出電子45として放出される。なお、高い放
出効果を得るためには。
絶縁体層42を絶縁破壊が生じない範囲で、また金属層
43を電流が十分流れる範囲で、各々可能な限り薄く形
成することが望ましい。
43を電流が十分流れる範囲で、各々可能な限り薄く形
成することが望ましい。
このMIM型電子放出素子としては、従来テレビジョン
学会電子装置研究委員会資料の[トンネルカソードを用
いた陰極線管J (1968年4月30日)で提示され
ている第5図のような構成のものや、特開昭63−67
17号公報に記載されている第6図のような構成のもの
がある。即ち、第5図のものは、ガラス基板51上にA
lの金属層52を形成し、その上に絶縁体層53として
Al2O3、絶縁体層54としてSiOを形成し、更愕
その上にAuの金属層55を形成した構成であり、金属
層52と金属層550間に電圧を印加することにより、
金属層55の電子放出領域56から電子を放出させるも
のである。また、第6図のものは、基板61の上に金属
層62を形成し、さらにその上に絶縁体層63を形成す
る。そして、金属層62の方向と直角方向に金属層64
を形成し、金属層62と金属層64との間に電圧を印す
ロすることにより、金属層62と金属層64の交叉する
領域から電子を放出させるものである。
学会電子装置研究委員会資料の[トンネルカソードを用
いた陰極線管J (1968年4月30日)で提示され
ている第5図のような構成のものや、特開昭63−67
17号公報に記載されている第6図のような構成のもの
がある。即ち、第5図のものは、ガラス基板51上にA
lの金属層52を形成し、その上に絶縁体層53として
Al2O3、絶縁体層54としてSiOを形成し、更愕
その上にAuの金属層55を形成した構成であり、金属
層52と金属層550間に電圧を印加することにより、
金属層55の電子放出領域56から電子を放出させるも
のである。また、第6図のものは、基板61の上に金属
層62を形成し、さらにその上に絶縁体層63を形成す
る。そして、金属層62の方向と直角方向に金属層64
を形成し、金属層62と金属層64との間に電圧を印す
ロすることにより、金属層62と金属層64の交叉する
領域から電子を放出させるものである。
発明が解決しようとする課題
しかし、従来提案されていた上記MIM型電子放出素子
は、その構成上、トンネルによって電子が透過する薄い
絶縁体層および、電子が放出される薄い金属層が、凹凸
を持った下地の上に形成されているため、形成された絶
縁体層および金属層も凹凸を持ち、その膜厚が不均一と
なり、その特性が不安定となる傾向にあった。特に、薄
い金属層は凹凸があると、その段差の部分で亀裂による
導通不良や、膜厚不均一による特性劣化が生じ易く、ま
た、これらをアレー化して複数個形成すると、各素子の
特性の不均一が著しくなるという課題があった。本発明
はこのような従来技術の課題を解決することを目的とす
る。
は、その構成上、トンネルによって電子が透過する薄い
絶縁体層および、電子が放出される薄い金属層が、凹凸
を持った下地の上に形成されているため、形成された絶
縁体層および金属層も凹凸を持ち、その膜厚が不均一と
なり、その特性が不安定となる傾向にあった。特に、薄
い金属層は凹凸があると、その段差の部分で亀裂による
導通不良や、膜厚不均一による特性劣化が生じ易く、ま
た、これらをアレー化して複数個形成すると、各素子の
特性の不均一が著しくなるという課題があった。本発明
はこのような従来技術の課題を解決することを目的とす
る。
課題を解決するだめの手段
第1の本発明は、一部凸状に形成された導電層と、その
凸状に形成された導電層の上に形成された薄い第1の絶
縁体層と、前記導電層の上に形成され、前記薄い第1の
絶縁体層表面と同一平面となるように形成された第2の
絶縁体層と、前記2つの部分の絶縁体層上に形成された
金属層とを有するものである。
凸状に形成された導電層の上に形成された薄い第1の絶
縁体層と、前記導電層の上に形成され、前記薄い第1の
絶縁体層表面と同一平面となるように形成された第2の
絶縁体層と、前記2つの部分の絶縁体層上に形成された
金属層とを有するものである。
また、第2の本発明は、基板と、その上の所定の部分に
形成された導電層と、前記導電層上に形成された薄い第
1の絶縁体層と、前記薄い第1の絶縁体層表面と同一平
面となるように基板上の所定の部分に形成された第2の
絶縁体層と、前記2つの部分の絶縁体層上に形成された
金属層とを有するものである。
形成された導電層と、前記導電層上に形成された薄い第
1の絶縁体層と、前記薄い第1の絶縁体層表面と同一平
面となるように基板上の所定の部分に形成された第2の
絶縁体層と、前記2つの部分の絶縁体層上に形成された
金属層とを有するものである。
作 用
本発明は上記構成により、薄い絶縁体層と電子が放出さ
れる薄い金属層とを、凹凸の無い、均一な膜として形成
することができるため、段差の部分での亀裂や素子の特
性の不安定性および劣化の無い、良好な電子放出素子を
提供することができるものであり、アレー化して複数個
形成しても、各素子の特性の不均一性の無い、良好な電
子放出素子を提供することができるものである。
れる薄い金属層とを、凹凸の無い、均一な膜として形成
することができるため、段差の部分での亀裂や素子の特
性の不安定性および劣化の無い、良好な電子放出素子を
提供することができるものであり、アレー化して複数個
形成しても、各素子の特性の不均一性の無い、良好な電
子放出素子を提供することができるものである。
実施例
以下、本発明について図面を用いて詳細に説明する。
第1図は本発明の第1の実施例における電子放出素子の
概略断面図である。
概略断面図である。
同図において、 11は導電層、12は薄い絶縁体層、
13は絶縁体層、 14は金属層、 15は電子放出
領域を示す。本発明の電子放出素子は、導電層11の一
部が凸状に形成され、この導電層11の凸状部分の上に
薄い絶縁体層12が、また凸状部分以外の導電層11の
上には、薄い絶縁体層120表面と同一平面となるよう
な厚さに絶縁体層13が形成されている。さらに、この
2つの部分の絶縁体層12および13の上に薄い金属層
14が形成されている。そして、金属層14を“+”、
導電層11を“−”に電圧を印加することにより、電子
放出領域15の下側の薄い絶縁体層12に強電界を形成
し、導電層11より電子を引き出し、薄い絶縁体層12
の中をトンネル現象によって金属層14に電子を透過さ
せ、金属層15の仕事関数以上のエネルギーを持った電
子を電子放出領域15より放出させる。
13は絶縁体層、 14は金属層、 15は電子放出
領域を示す。本発明の電子放出素子は、導電層11の一
部が凸状に形成され、この導電層11の凸状部分の上に
薄い絶縁体層12が、また凸状部分以外の導電層11の
上には、薄い絶縁体層120表面と同一平面となるよう
な厚さに絶縁体層13が形成されている。さらに、この
2つの部分の絶縁体層12および13の上に薄い金属層
14が形成されている。そして、金属層14を“+”、
導電層11を“−”に電圧を印加することにより、電子
放出領域15の下側の薄い絶縁体層12に強電界を形成
し、導電層11より電子を引き出し、薄い絶縁体層12
の中をトンネル現象によって金属層14に電子を透過さ
せ、金属層15の仕事関数以上のエネルギーを持った電
子を電子放出領域15より放出させる。
本発明の構成により、段差の部分が無くなるため薄い絶
縁体層12と金属層14とが平面状に形成でき、容易に
その膜厚の均一化が図れ、その結果素子特性の安定化を
図ることができた。
縁体層12と金属層14とが平面状に形成でき、容易に
その膜厚の均一化が図れ、その結果素子特性の安定化を
図ることができた。
次に第2図(al〜+g+を用いて1本発明の電子放出
素子の製造工程を示す。まず、ガラス基板21の上に導
電層22として1例えばAt、Ta等からなる金属を、
例えば抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッター
蒸着法等により、膜厚0.1〜1μm程度形成した(第
2図(a))。次に、導電層22の上に5通常のフォト
リソグラフィー技術によってレジスト層23を形成しく
第2図(b))、そして、例えばイオンミーリング法、
湿式エツチング法等により導電層22を厚さd、例えば
0.05〜0.5μm程度エツチングしく第2図(C)
)、さらにその上に例えば5iOz、Al 203.T
azOs等の絶縁物を例えば電子ビーム蒸着法、スパッ
ター蒸着法等で厚さdだけ形成した後(第2図(d))
、レジスト層23をリフトオフして除去した(第2図(
e))。次に酸素雰囲気中での熱酸化、あるいは陽極酸
化等で薄い絶縁体層25、例えばAlz03あるいはT
a 205を厚t、例えば、50〜200八程度形成し
た(第2図(f))。そして、前記2つの部分の絶縁体
層24および25の上に金属層26、例えばAμ。
素子の製造工程を示す。まず、ガラス基板21の上に導
電層22として1例えばAt、Ta等からなる金属を、
例えば抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッター
蒸着法等により、膜厚0.1〜1μm程度形成した(第
2図(a))。次に、導電層22の上に5通常のフォト
リソグラフィー技術によってレジスト層23を形成しく
第2図(b))、そして、例えばイオンミーリング法、
湿式エツチング法等により導電層22を厚さd、例えば
0.05〜0.5μm程度エツチングしく第2図(C)
)、さらにその上に例えば5iOz、Al 203.T
azOs等の絶縁物を例えば電子ビーム蒸着法、スパッ
ター蒸着法等で厚さdだけ形成した後(第2図(d))
、レジスト層23をリフトオフして除去した(第2図(
e))。次に酸素雰囲気中での熱酸化、あるいは陽極酸
化等で薄い絶縁体層25、例えばAlz03あるいはT
a 205を厚t、例えば、50〜200八程度形成し
た(第2図(f))。そして、前記2つの部分の絶縁体
層24および25の上に金属層26、例えばAμ。
AI 、Mo 、W等を抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸
着法、スパッター蒸着法等により、厚さ50〜200八
程度形成し、本発明の電子放出素子を形成した(第2図
(g))。その結果、均一な電子放出特性で、安定性の
良い電子放出素子を得た。
着法、スパッター蒸着法等により、厚さ50〜200八
程度形成し、本発明の電子放出素子を形成した(第2図
(g))。その結果、均一な電子放出特性で、安定性の
良い電子放出素子を得た。
なお、上述の実際例においては導電層の下に基板を有す
る例を示したが、基板がなくても本発明の効果を失うも
のではない。
る例を示したが、基板がなくても本発明の効果を失うも
のではない。
次に、本発明の第2の実施例について説明する。
第3図は本発明の第2の実施例における電子放出素子の
概略断面図であり、31は基板、32は導電層、33は
絶縁体層、34は薄い絶縁体層、35は金属層を示す。
概略断面図であり、31は基板、32は導電層、33は
絶縁体層、34は薄い絶縁体層、35は金属層を示す。
本実施例の電子放出素子の構成は基板31上の所定の部
分に導電層32が形成され、この導電層32の上に薄い
絶縁体層34が形成されており、さらに、基板31上で
導電層32が形成されている部分以外の所定の部分に絶
縁体層33が、薄い絶縁体層340表面と同一平面とな
るように形成されている0そして1、この2つの部分の
絶縁体層33および34の上に薄い金属層35が形成さ
れた構成となっている。本発明の電子放出素子は、第1
の実施例における製造工程の導電層を凸状にエツチング
した後の工程と全く同様の方法で作成することができ、
その結果電子放出素子の特性は均一で全く安定した、良
好なものであった。
分に導電層32が形成され、この導電層32の上に薄い
絶縁体層34が形成されており、さらに、基板31上で
導電層32が形成されている部分以外の所定の部分に絶
縁体層33が、薄い絶縁体層340表面と同一平面とな
るように形成されている0そして1、この2つの部分の
絶縁体層33および34の上に薄い金属層35が形成さ
れた構成となっている。本発明の電子放出素子は、第1
の実施例における製造工程の導電層を凸状にエツチング
した後の工程と全く同様の方法で作成することができ、
その結果電子放出素子の特性は均一で全く安定した、良
好なものであった。
なお、ここでは単体の電子放出素子に関する実施例を述
べたが、電子放出素子を複数個形成したアレー化された
ものに関しても本発明の効果は発揮される。
べたが、電子放出素子を複数個形成したアレー化された
ものに関しても本発明の効果は発揮される。
発明の効果
以上のように本発明は、薄い第1の絶縁体層と第2の絶
縁体層との表面を段差の無い同一平面とし、かつ、この
上に形成した金属層を凹凸の無い膜とすることにより、
段差の部分での亀裂の無い、均一な膜が得られ、電子放
出素子として特性の安定した、均一なものとすることが
できた。また、アレー化して複数個電子放出素子を形成
しても。
縁体層との表面を段差の無い同一平面とし、かつ、この
上に形成した金属層を凹凸の無い膜とすることにより、
段差の部分での亀裂の無い、均一な膜が得られ、電子放
出素子として特性の安定した、均一なものとすることが
できた。また、アレー化して複数個電子放出素子を形成
しても。
各素子の特性は不均一性の無い、良好な電子放出素子を
提供することができる。
提供することができる。
第1図は本発明の第1の実施例における電子放出素子の
概略断面図、第2図(a+〜(mは本発明の第1の実施
例における電子放出素子の作成工程断面図、第3図は本
発明の第2の実施例における電子放出素子の概略断面図
、第4図、第5図、第6図は従来の電子放出素子の概略
断面図である。 11、22.32・・・導電層、 12.13.24.
25.33゜34・・・絶縁体層、14.26.35・
・・金属層、 21.31・・・基板。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名菓 図 第 図 (0’1 第 図 第 図 ■■■■■ 第 図 55會^冶 第 図
概略断面図、第2図(a+〜(mは本発明の第1の実施
例における電子放出素子の作成工程断面図、第3図は本
発明の第2の実施例における電子放出素子の概略断面図
、第4図、第5図、第6図は従来の電子放出素子の概略
断面図である。 11、22.32・・・導電層、 12.13.24.
25.33゜34・・・絶縁体層、14.26.35・
・・金属層、 21.31・・・基板。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名菓 図 第 図 (0’1 第 図 第 図 ■■■■■ 第 図 55會^冶 第 図
Claims (2)
- (1)一部凸状に形成された導電層と、その凸状に形成
された導電層の上に形成された薄い第1の絶縁体層と、
前記導電層の上に形成され、前記薄い第1の絶縁体層表
面と同一平面となるように形成された第2の絶縁体層と
、前記2つの部分の絶縁体層上に形成された金属層とを
有することを特徴とする電子放出素子。 - (2)基板と、前記基板上の所定の部分に形成された導
電層と、前記導電層上に形成された薄い第1の絶縁体層
と、前記薄い第1の絶縁体層表面と同一平面となるよう
に、前記基板上の所定の部分に形成された第2の絶縁体
層と、前記2つの部分の絶縁体層上に形成された金属層
とを有することを特徴とする電子放出素子。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63278707A JPH02126532A (ja) | 1988-11-04 | 1988-11-04 | 電子放出素子 |
| EP19890120124 EP0367195A3 (en) | 1988-10-31 | 1989-10-30 | Mim cold-cathode electron emission elements and methods of manufacture thereof |
| US07/429,526 US5202605A (en) | 1988-10-31 | 1989-10-31 | Mim cold-cathode electron emission elements |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63278707A JPH02126532A (ja) | 1988-11-04 | 1988-11-04 | 電子放出素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02126532A true JPH02126532A (ja) | 1990-05-15 |
Family
ID=17601072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63278707A Pending JPH02126532A (ja) | 1988-10-31 | 1988-11-04 | 電子放出素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02126532A (ja) |
-
1988
- 1988-11-04 JP JP63278707A patent/JPH02126532A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5214346A (en) | Microelectronic vacuum field emission device | |
| US5192240A (en) | Method of manufacturing a microelectronic vacuum device | |
| US5757344A (en) | Cold cathode emitter element | |
| JPH0636680A (ja) | ダイヤモンドフイルム電子源を用いた電子素子 | |
| KR19980063544A (ko) | 열-대-행 누출을 감소시키는 전계방사 장치의 제조방법 | |
| JP3094459B2 (ja) | 電界放出型カソードアレイの製造方法 | |
| JP3033179B2 (ja) | 電界放出型エミッタ及びその製造方法 | |
| JPH02126532A (ja) | 電子放出素子 | |
| JP3033178B2 (ja) | 電界放出型エミッタ | |
| JP3086445B2 (ja) | 電界放出素子の形成方法 | |
| JPH02306520A (ja) | 電子放出素子 | |
| JP3079086B2 (ja) | 電界放射型電子源の製造方法 | |
| JPH04206124A (ja) | 電子放出素子の製造方法 | |
| JPH0428138A (ja) | 電子放出素子およびその製造方法 | |
| JPH02121227A (ja) | 電子放出素子及びその製造方法 | |
| KR100282261B1 (ko) | 전계방출 캐소드 어레이 및 이의 제조방법 | |
| JPH02170327A (ja) | 電子放出素子 | |
| JPH02172127A (ja) | 電子放出素子およびその製造方法 | |
| KR100405971B1 (ko) | 전계방출소자의 집속전극 구조 및 형성방법 | |
| JP3156265B2 (ja) | 機能性電子放出素子の製造方法 | |
| JPH0233823A (ja) | 電子放出素子 | |
| JPH01311534A (ja) | 電子放出素子及びそれを用いた発光素子 | |
| JPH02239537A (ja) | 電子放出素子 | |
| KR100246254B1 (ko) | 실리사이드를 에미터와 게이트로 갖는 전계 방출 소자의 제조방법 | |
| JP3539305B2 (ja) | 電界放射型電子源およびその製造方法 |