JPH02129093A - Crystal growth equipment for Group 2-6 compound semiconductors - Google Patents

Crystal growth equipment for Group 2-6 compound semiconductors

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Publication number
JPH02129093A
JPH02129093A JP28048088A JP28048088A JPH02129093A JP H02129093 A JPH02129093 A JP H02129093A JP 28048088 A JP28048088 A JP 28048088A JP 28048088 A JP28048088 A JP 28048088A JP H02129093 A JPH02129093 A JP H02129093A
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JP
Japan
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crystal
vapor pressure
chamber
temperature
source
Prior art date
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Application number
JP28048088A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Kato
裕幸 加藤
Michihiro Sano
道宏 佐野
Yasuo Okuno
奥野 保男
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Stanley Electric Co Ltd
Original Assignee
Stanley Electric Co Ltd
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Publication date
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  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Abstract] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、結晶成長装置に関し、特にIt−VI族化合
物半導体の結晶成長装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a crystal growth apparatus, and particularly to a crystal growth apparatus for It-VI group compound semiconductors.

[従来の技術J 従来、ハロゲンガスを用いた]−vl族化合物半導体の
気相結晶成長が知られている。この例を第2図(A)、
(B)に示す。
[Prior Art J] Conventionally, vapor phase crystal growth of -vl group compound semiconductors using halogen gas is known. This example is shown in Figure 2 (A).
Shown in (B).

第2図(A)に示すように、石英アンプル21の下部に
ソース結晶粉末23と輸送剤としてのヨウ素等のハロゲ
ン25を入れ、アングル上部にテーパ(θ=60〜70
℃)を付け、その上にシート結晶27、石英棒29を配
し、真空封入した。
As shown in FIG. 2(A), a source crystal powder 23 and a halogen 25 such as iodine as a transport agent are placed in the lower part of a quartz ampoule 21, and a taper (θ=60 to 70
°C), a sheet crystal 27 and a quartz rod 29 were placed thereon, and vacuum sealed.

この成長アンプルを所定の温度分布を有する縦型炉中に
垂直に配置し、第2図(B)に示すような温度分布を設
定する。温度差により対流拡散が起こり、高温部、低温
部で以下の反応が起こる。
This growth ampoule is placed vertically in a vertical furnace having a predetermined temperature distribution, and the temperature distribution is set as shown in FIG. 2(B). Convective diffusion occurs due to the temperature difference, and the following reactions occur in the high temperature and low temperature areas.

高jm : RIIRVI 十X 2→RIIX2+1
/2Rv■2低;晶:RriRV、+X2←RrLX2
+1/2 Rv。
High jm: RIIRVI 10X 2→RIIX2+1
/2Rv■2 low; Akira: RriRV, +X2←RrLX2
+1/2 Rv.

R・・■族原子 ] R・・VI族原子 ■ X・・・ハロゲン原子 この反応により高温部ではソース材料のハロゲン化が起
こり、低温部では再びソース材料を析出してハロゲンガ
スが生じる。このようにしてソー  構成元素の蒸気圧
を制御しつつ、高純度、高品位ス材料の輸送が行われ、
シート結晶上に結晶成長  の■−■族化合物半導体結
晶を気相成長できる結させる。           
          晶成長装置を提供することである
R... Group VI atom] R... Group VI atom ■ X... Halogen atom This reaction causes halogenation of the source material in the high temperature area, and the source material is precipitated again in the low temperature area to generate halogen gas. In this way, the vapor pressure of the constituent elements is controlled, and high-purity, high-grade materials are transported.
A crystal-grown ■-■ group compound semiconductor crystal is formed on the sheet crystal by vapor phase growth.
An object of the present invention is to provide a crystal growth apparatus.

[発明が解決しようとする課題] 以上のような従来技術によれば: (1)、輸送剤としてヨウ素等のハロゲンを使うのでそ
れが結晶成長中に高濃度に取り込まれるため、高純度な
結晶が成長できない、 (2)、また、高い蒸気圧を持つヨウ素を大量にアンプ
ル内に投入するため、成長時の成長容器内の蒸気圧か高
くアンプル爆発の危険性がある、(3)、また、高い蒸
気圧を持つヨウ素を大量にアンプル内に投入するため、
構成元素の蒸気圧を制御できないため、化学量論的組成
からのずれが大きく、高品位な結晶の成長ができない。
[Problems to be Solved by the Invention] According to the prior art as described above: (1) Since halogen such as iodine is used as a transport agent, it is taken in at a high concentration during crystal growth, resulting in high purity crystals. (2) Also, since a large amount of iodine with a high vapor pressure is put into the ampoule, the vapor pressure inside the growth container during growth is high and there is a risk of the ampoule exploding (3). , in order to put a large amount of iodine with high vapor pressure into the ampoule,
Since the vapor pressure of the constituent elements cannot be controlled, there is a large deviation from the stoichiometric composition, making it impossible to grow high-quality crystals.

本発明の目的は、輸送用ハロゲンを用いず、高純度、高
品位の■−■族化合物半導体結晶を気相成長できる結晶
成長装置を提供することである。
An object of the present invention is to provide a crystal growth apparatus capable of vapor-phase growth of high-purity, high-quality compound semiconductor crystals of the ■-■ group without using halogen for transportation.

本発明の他の目的は、■−■族化合物半導体の[課題を
解決するための手段] 実効的に断面積の小さな領域を介して接続された高温室
および低温室を有し、該高温室に■−■族化合物半導体
のソース結晶を、かつ該低温室にヒートシンクとその上
に■−■族化合物半導体のシート結晶を配置し、さらに
実効的に断面積の小さな管で該実効的に断面積め小さな
領域に接続され、II−Vt族化合物半導体の構成元素
を含む蒸気圧源を収めた蒸気圧制御室を有し、真空に封
じた■−■族化合物半導体結晶成長装置。
Another object of the present invention is to provide a high-temperature chamber and a low-temperature chamber that are effectively connected to each other through a region having a small cross-sectional area. A source crystal of a ■-■ group compound semiconductor is placed in the cold room, a heat sink is placed in the low temperature chamber, and a sheet crystal of a ■-■ group compound semiconductor is placed on top of the heat sink, and the effective cross-section is further placed in a tube with a small effective cross-sectional area. A ■-■ group compound semiconductor crystal growth apparatus that is connected to a small stacked area, has a vapor pressure control chamber containing a vapor pressure source containing constituent elements of a II-Vt group compound semiconductor, and is sealed in a vacuum.

[作用] ハロゲンガスを用いずにIf−Vt族化合物半導体を真
空に封じているため、ハロゲン化物を取り込むことなく
U−Vt族化合物半導体の結晶か成長する。
[Operation] Since the If-Vt group compound semiconductor is sealed in a vacuum without using halogen gas, the crystal of the U-Vt group compound semiconductor grows without incorporating a halide.

輸送剤としての蒸気圧の高いハロゲンを投入していない
ので、結晶成長時のアングル内圧力を低減することがで
きる。
Since halogen, which has a high vapor pressure, is not used as a transport agent, the pressure inside the angle during crystal growth can be reduced.

温度勾配による濃度拡散によって、シート結晶上に結晶
成長する。また気相で供給されたソース原子がシート結
晶上を泳動することにより、エピタキシャル結晶が成長
する。
Crystals grow on sheet crystals due to concentration diffusion due to temperature gradients. Further, source atoms supplied in the gas phase migrate on the sheet crystal, thereby growing an epitaxial crystal.

また、シート結晶室の上部の実効的に断面積の小さな領
域に、蒸気圧制御室を接続することにより、シート結晶
室中で成長している結晶に直接、構成元素の蒸気圧を印
加することにより蒸気圧制御を行い、化学量論的組成か
らのずれを制御できる。
In addition, by connecting a vapor pressure control chamber to a region with an effectively small cross-sectional area at the top of the sheet crystal chamber, it is possible to directly apply the vapor pressure of the constituent elements to the crystal growing in the sheet crystal chamber. The vapor pressure can be controlled by controlling the deviation from the stoichiometric composition.

[実施例〕 第1図<A)、(B)に本発明の結晶成長装置1の概略
図を示す、結晶成長装置1はII−Vt族化合物半導体
のソース結晶2が配されているソース結晶室3、シート
(種)結晶4が配されているシート結晶室5、II−V
t族化合物半導体の構成元素ないしその化合物の蒸気圧
源6を配した蒸気圧制御室7を有し、かつソース結晶室
(高温室)3とシート結晶室(低温室)5が、中間に石
英の無垢棒9を挿入することにより形成された実効的に
小さな断面積を有する空間11で接続されている。
[Example] Figures 1A and 1B show schematic diagrams of a crystal growth apparatus 1 of the present invention. chamber 3, sheet crystal chamber 5 in which sheet (seed) crystal 4 is arranged, II-V
It has a vapor pressure control chamber 7 in which a vapor pressure source 6 of a constituent element or its compound of a T-group compound semiconductor is disposed, and a source crystal chamber (high temperature chamber) 3 and a sheet crystal chamber (low temperature chamber) 5 are arranged with quartz in between. They are connected by a space 11 having an effectively small cross-sectional area formed by inserting a solid rod 9.

シート結晶室5下部にカーホン、PBN、石英等の熱伝
導率の高い材質をヒートシンク13として配置しその上
にシート結晶4を配置する。シート結晶4の上にシート
結晶止め17として円筒状の石英管を配置・してシート
結晶4がヒートシンク13上に確実に密着するようにす
る。
A material with high thermal conductivity such as carphone, PBN, quartz, etc. is arranged as a heat sink 13 in the lower part of the sheet crystal chamber 5, and the sheet crystal 4 is arranged thereon. A cylindrical quartz tube is placed on top of the sheet crystal 4 as a sheet crystal stopper 17 to ensure that the sheet crystal 4 is in close contact with the heat sink 13.

さらに、シート結晶室(低温室)5の上部の実効的に断
面積の小さな領域11に実効的に断面積の小さな管8に
より接続された蒸気圧制御室7を設ける。
Furthermore, a vapor pressure control chamber 7 is provided which is connected to a region 11 of an effectively small cross-sectional area in the upper part of the sheet crystal chamber (low-temperature chamber) 5 by a pipe 8 of an effectively small cross-sectional area.

この結晶装置1に第1図(B)に示すような温度分布を
設定する。ソース結晶2はソース温度T1に保たれ、一
定の原料蒸気圧を発生する。構成元素ないしその化合物
6は蒸気圧源温度T2に保たれ、構成元素の蒸気圧をソ
ース結晶室3に供給する、ここではTI >T2であり
、蒸気圧制御室7の温度を調整することでシート結晶室
5内の構成元素の蒸気圧を制御できる。シート結晶4は
、TI >T3である結晶成長温度T3に保たれる。
A temperature distribution as shown in FIG. 1(B) is set in this crystallization apparatus 1. The source crystal 2 is maintained at a source temperature T1 and generates a constant raw material vapor pressure. The constituent elements or their compounds 6 are kept at the vapor pressure source temperature T2, and the vapor pressure of the constituent elements is supplied to the source crystal chamber 3. Here, TI > T2, and by adjusting the temperature of the vapor pressure control chamber 7. The vapor pressure of the constituent elements within the sheet crystal chamber 5 can be controlled. The sheet crystal 4 is maintained at a crystal growth temperature T3 where TI>T3.

ソース結晶室3から輸送されてきた気相材料がシート結
晶4上にエピタキシャルに成長する。蒸気圧制御室7を
細い管8によって実効的に断面積の小さな領域に接続し
、シート結晶室5内で成長している結晶に直接蒸気圧制
御成分を供給できる構造をとることにより、結晶を成長
の際に蒸気圧制御を行ない、成長結晶の化学量論的組成
を制御可能にした。
The gas phase material transported from the source crystal chamber 3 grows epitaxially on the sheet crystal 4. By effectively connecting the vapor pressure control chamber 7 to a region with a small cross-sectional area through a thin pipe 8 and adopting a structure in which vapor pressure control components can be directly supplied to the crystals growing in the sheet crystal chamber 5, crystals can be grown. By controlling the vapor pressure during growth, we were able to control the stoichiometric composition of the grown crystal.

n −vi族化合物半導体の代表例としてZn Seを
例にとり、この装置による結晶成長を説明する。
Crystal growth using this apparatus will be explained using ZnSe as a representative example of an n-vi group compound semiconductor.

第1図(A)に示した構造を有する石英アングル10の
底部のヒートシンク13上に、シート結晶4としてスラ
イシング、ラッピング、ポリシングおよびケミカルエチ
ングを行なった( lll1面Zn5e単結晶を配し、
円筒状の石英管17でシート結晶4を固定する。また蒸
気圧源6として、Zn5eの構成元素であるZnあるい
はSeを蒸気圧制御室7に入れる。アングル本体のシー
ト結晶室5上にスペーサ9を支持するためのくぼみ18
を形成し、スペーサ9として石英の無垢棒を挿入し、そ
の周囲に実効的に小さな断面積の領域11を作る。スペ
ーサ9の上にソース結晶2として成長温度より低温で合
成されたZn5e多結晶、例えばCVD多結晶インゴッ
トを配し、例えば10−67゜r「以上の高真空で真空
封入した。
Slicing, lapping, polishing and chemical etching were performed as a sheet crystal 4 on the heat sink 13 at the bottom of the quartz angle 10 having the structure shown in FIG. 1(A).
The sheet crystal 4 is fixed with a cylindrical quartz tube 17. Further, as a vapor pressure source 6, Zn or Se, which is a constituent element of Zn5e, is introduced into the vapor pressure control chamber 7. A recess 18 for supporting the spacer 9 on the sheet crystal chamber 5 of the angle body
A solid quartz rod is inserted as a spacer 9, and a region 11 with an effectively small cross-sectional area is created around it. A Zn5e polycrystal synthesized at a temperature lower than the growth temperature, for example, a CVD polycrystalline ingot, was placed on the spacer 9 as the source crystal 2, and sealed under a high vacuum of, for example, 10-67° r.

この成長アンプルを第1図(B)に示すような所定の温
度分布を有する縦型炉中に垂直に設置する。アンプルの
各部が所定温度になると、ソース結晶室3内でソース結
晶2から蒸発した蒸気は1次原料ガスを構成し、実効的
に断面積の小さな領域を介してシート結晶室5に供給さ
れる。
This growth ampoule is vertically placed in a vertical furnace having a predetermined temperature distribution as shown in FIG. 1(B). When each part of the ampoule reaches a predetermined temperature, the vapor evaporated from the source crystal 2 in the source crystal chamber 3 constitutes the primary raw material gas, and is effectively supplied to the sheet crystal chamber 5 through a region with a small cross-sectional area. .

一方、蒸気圧制御室7からは制御された蒸気圧が実効的
に断面積の小さな領域11に供給され、上述の1次原料
ガスと共に所望の構成の原料カスを構成する。
On the other hand, the controlled vapor pressure is effectively supplied from the vapor pressure control chamber 7 to a region 11 having a small cross-sectional area, and together with the above-mentioned primary material gas, forms material waste having a desired configuration.

シート結晶4は、このような原料ガスが温度差により輸
送されるようにソース結晶2より低い温度に設定されて
おり、狭い領域11を通って供給された原料ガスをうけ
てエピタキシャル成長を生じさせる。
The sheet crystal 4 is set at a lower temperature than the source crystal 2 so that the raw material gas is transported by the temperature difference, and receives the raw material gas supplied through the narrow region 11 to cause epitaxial growth.

このように蒸気圧制御下で温度差により高温室(ソース
結晶室)3から低温室(シート結晶室)5に実効的に断
面積の小さな領域11を介してソース材料が気相の状態
で輸送される。シート結晶4はヒートシンク13により
熱的冷却をうけ、その上に結晶が成長する。
In this way, the source material is transported in a vapor phase from the high temperature chamber (source crystal chamber) 3 to the low temperature chamber (sheet crystal chamber) 5 via the area 11 with a small cross-sectional area due to the temperature difference under vapor pressure control. be done. The sheet crystal 4 is thermally cooled by the heat sink 13, and the crystal grows thereon.

成長速度は、成長温度T3、温度差ΔT=TIT3に依
存するが、例えば成長温度950°C5温度差50°C
において約10μm/hr程度の成長速度が得られる。
The growth rate depends on the growth temperature T3 and the temperature difference ΔT=TIT3, but for example, if the growth temperature is 950°C5 and the temperature difference is 50°C.
A growth rate of about 10 μm/hr can be obtained.

第3図に、本発明の池の実施例を示す。アンプル10の
径がスペーサ9の上で大きくされ、広いソース結晶室3
を確保している。また蒸気圧制御室7がヒートシンク1
3よりも下に配置されている。
FIG. 3 shows an embodiment of the pond of the present invention. The diameter of the ampoule 10 is increased on the spacer 9, and the source crystal chamber 3 is wide.
is ensured. In addition, the vapor pressure control chamber 7 is the heat sink 1
It is placed below 3.

1構造例として、主アンプル10の高さhlを約240
〜250nn、主アンプル10の底からスペーサ9上面
、すなわちソース結晶室3までの高さh2は約2001
111、カーボン製ヒートシンク13の高さh3は約1
0011、スペーサ9の厚さdは約40〜501Iであ
る。主アングル10の上部ソース結晶室3の幅広部の径
は121nφ、スペーサ9より下の幅狭部の径は811
φであり、断面積の小さな管8の径は3.5+11φ、
蒸気圧制御室7の径は5Ill■φである。約1〜4g
のソース結晶2と径8111φ、厚さ0,5〜1.01
1のシート結晶4を投入し、ソース結晶2の温度T1を
1000〜1100℃、成長温度T3を900〜100
0℃、蒸気圧源の温度T2を500〜600°Cに制御
し、径8nmφ、厚さ10〜1511の成長結晶を得た
As an example of one structure, the height hl of the main ampoule 10 is approximately 240 mm.
~250nn, and the height h2 from the bottom of the main ampoule 10 to the top surface of the spacer 9, that is, the source crystal chamber 3, is approximately 2001 nm.
111, the height h3 of the carbon heat sink 13 is approximately 1
0011, the thickness d of the spacer 9 is about 40-501I. The diameter of the wide part of the upper source crystal chamber 3 of the main angle 10 is 121nφ, and the diameter of the narrow part below the spacer 9 is 811nφ.
φ, and the diameter of the pipe 8 with a small cross-sectional area is 3.5+11φ,
The diameter of the vapor pressure control chamber 7 is 5Ill■φ. Approximately 1-4g
Source crystal 2 with a diameter of 8111φ and a thickness of 0.5 to 1.01 mm.
1 sheet crystal 4 is introduced, the temperature T1 of the source crystal 2 is set to 1000 to 1100°C, and the growth temperature T3 is set to 900 to 100°C.
A grown crystal with a diameter of 8 nmφ and a thickness of 10 to 1511 mm was obtained by controlling the temperature T2 of the vapor pressure source to 500 to 600°C at 0°C.

なお、蒸気圧制御室7に不純物も投入して、不純物ドー
プした結晶を成長してもよい。
Note that an impurity may also be introduced into the vapor pressure control chamber 7 to grow an impurity-doped crystal.

第4図(A)、(B)に成長速度の蒸気圧依存性の例を
示す、第4図(A)はノンドープの場合であり、亜鉛圧
pznか増加するにつれて成長速度が小さくなる。4T
Orr以下では約2μm/hr以下に落ちる。第4図(
B)はInドープの場合を示す。
FIGS. 4(A) and 4(B) show examples of the vapor pressure dependence of the growth rate. FIG. 4(A) shows the case of non-doping, and the growth rate decreases as the zinc pressure pzn increases. 4T
Below Orr, the rate drops to about 2 μm/hr or less. Figure 4 (
B) shows the case of In doping.

1nドーグの場合、亜鉛圧の増加と共に成長速度が減少
するのはノンドープの場合と同様であるが、成長速度の
絶対値が約1桁低くなっている。
In the case of 1n dope, the growth rate decreases as the zinc pressure increases, as in the non-doped case, but the absolute value of the growth rate is about one order of magnitude lower.

以上、Zn5eを例にとり説明してきたが、本装置が他
の■−■族化合物半導体についても応用できることは言
うまでもない。
Although the above explanation has been made using Zn5e as an example, it goes without saying that the present device can also be applied to other group compound semiconductors.

すなわち、1nSeと同様の性質を有する1nS 、 
CdS 、 2nTe、 CdSe等において同一の成
長原理で結晶成長することが可能である。なお、蒸気圧
制御元素としては、所望の電気伝導形に適するようにい
ずれの構成元素を用いることらできる。
That is, 1nS, which has properties similar to 1nSe,
It is possible to grow crystals of CdS, 2nTe, CdSe, etc. using the same growth principle. Note that as the vapor pressure control element, any constituent element can be used as appropriate for the desired electrical conductivity type.

なお、縦型炉を用いた成長を示したが横型炉でもよい、
すなわち水平方向に温度分布を有する炉を構成し、この
中に横方向に長いアンプルを挿入する。アンプル内で、
高温室であるソース結晶室、低温室であるシート結晶室
を狭い連結部を介して横方向に並べて接続し、狭い連結
部に細い管を介して蒸気圧制御室を接続する点は上述の
実施例同様である。
Although growth using a vertical furnace is shown, a horizontal furnace may also be used.
That is, a furnace having a horizontal temperature distribution is constructed, and a horizontally long ampoule is inserted into the furnace. Inside the ampoule,
The source crystal chamber, which is a high temperature chamber, and the sheet crystal chamber, which is a cold chamber, are connected side by side through a narrow connection section, and the vapor pressure control chamber is connected to the narrow connection section through a thin pipe, as described above. Same as the example.

上述の実施例においては、蒸気圧制御室を実効的に断面
積の小さな領域11の接続箇所より低温側に配置してい
るが、高温側に配置する場合もある。またアングルは炉
内に設定後、結晶成長中は移動しない。
In the above-described embodiment, the vapor pressure control chamber is placed on the lower temperature side than the connection point of the area 11 having an effectively small cross-sectional area, but it may be placed on the high temperature side. Also, once the angle is set in the furnace, it will not move during crystal growth.

[発明の効果] ソース材料がシート結晶まで輸送される雰囲気が真空で
あり、ハロゲン等の輸送媒体を含んでいないので高純度
な高品位結晶が得られる。
[Effects of the Invention] Since the atmosphere in which the source material is transported to the sheet crystal is vacuum and does not contain a transport medium such as halogen, a high-purity, high-quality crystal can be obtained.

また、成長時の圧力は低く、アンプル爆発の危険性は少
ない。
In addition, the pressure during growth is low and the risk of ampoule explosion is low.

高温室と低温室が実効的に小さな断面積を有する接続部
により接続され、熱的には分離しているので、結晶成長
の際、ソース材料の組成元素の組成を容易に制御できる
Since the high temperature chamber and the low temperature chamber are effectively connected by a connection having a small cross-sectional area and are thermally separated, the composition of the constituent elements of the source material can be easily controlled during crystal growth.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図(A)、(B)は本発明の実施例による1l−V
I族化合物半導体の結晶成長装置を示し、(A)は概略
断面図、(B)は温度分布図、第2図(A>、(B)は
従来例によるIf−VI族1ヒ合物半導体の結晶成長装
置を示し、(A>は概略断面図、(B)は温度分布図、 第3図は本発明の他の実施例によるII−VI族化合物
半導体の結晶成長装置の概略断面図、第4図(A)、(
B)はノンドープとInドープの時の成長速度のIn圧
依存性を示すグラフである。 スペーサ 小さな断面積を有する空間 ヒートシンク
FIGS. 1(A) and (B) show 1l-V according to an embodiment of the present invention.
2 shows a crystal growth apparatus for group I compound semiconductors, (A) is a schematic cross-sectional view, (B) is a temperature distribution diagram, and FIGS. 2 (A>, (B) are conventional If-VI group 1 compound semiconductors (A> is a schematic cross-sectional view, (B) is a temperature distribution diagram, and FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of a crystal growth apparatus for a II-VI group compound semiconductor according to another embodiment of the present invention. Figure 4 (A), (
B) is a graph showing the In pressure dependence of the growth rate in non-doped and In-doped cases. Spatial heat sink with spacer small cross section

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)、実効的に断面積の小さな領域を介して接続され
た高温室および低温室を有し、該高温室にII−VI族化合
物半導体のソース結晶を配置し、かつ該低温室にヒート
シンクとその上にII−VI族化合物半導体のシート結晶を
配置し、さらに実効的に断面積の小さな管で該実効的に
断面積の小さな領域に接続され、II−VI族化合物半導体
の構成元素を含む蒸気圧源を収めた蒸気圧制御室を有し
、真空に封じたことを特徴とするII−VI族化合物半導体
用結晶成長装置。
(1) A high-temperature chamber and a low-temperature chamber are effectively connected through a region with a small cross-sectional area, a source crystal of a II-VI compound semiconductor is placed in the high-temperature chamber, and a heat sink is provided in the low-temperature chamber. A sheet crystal of a II-VI group compound semiconductor is placed thereon, and a tube with an effectively small cross-sectional area is connected to the area of the effectively small cross-sectional area, and the constituent elements of the II-VI group compound semiconductor are placed on top of the sheet crystal. 1. A crystal growth apparatus for a group II-VI compound semiconductor, characterized in that it has a vapor pressure control chamber containing a vapor pressure source containing a vapor pressure source, and is sealed in a vacuum.
JP28048088A 1988-11-08 1988-11-08 Crystal growth equipment for Group 2-6 compound semiconductors Pending JPH02129093A (en)

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JP28048088A JPH02129093A (en) 1988-11-08 1988-11-08 Crystal growth equipment for Group 2-6 compound semiconductors

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