JPH02129330U - - Google Patents

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JPH02129330U
JPH02129330U JP3817189U JP3817189U JPH02129330U JP H02129330 U JPH02129330 U JP H02129330U JP 3817189 U JP3817189 U JP 3817189U JP 3817189 U JP3817189 U JP 3817189U JP H02129330 U JPH02129330 U JP H02129330U
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shuttle
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defective product
section
transports
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Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Discharge Of Articles From Conveyors (AREA)
  • Reciprocating Conveyors (AREA)
  • Intermediate Stations On Conveyors (AREA)
  • Branching, Merging, And Special Transfer Between Conveyors (AREA)
  • Sorting Of Articles (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案による実施例の構成図、第２
図は第１図のシヤトル１Ａ，１Ｂの駆動機構の部
分拡大説明図、第３図から第５図は第１図のシヤ
トル１Ａ，１Ｂの動作説明図、第６図は第１図と
第９図の時間関係説明図、第７図はシヤトル１Ａ
の制御用フローチヤート、第８図はシヤトル１Ｂ
の制御用フローチヤート、第９図は従来技術によ
るシヤトル機構の構成図、第１０図は第９図のシ
ヤトル１Ａと搬送路２Ａの部分拡大図である。 １Ａ，１Ｂ……シヤトル、２Ａ，２Ｂ……搬送
路、３Ａ，３Ｂ……不良品測定部、４Ａ，４Ｂ…
…良品収容部、５Ａ，５Ｂ……良品収容部、６Ａ
，６Ｂ……ベルト、７Ａ，７Ｂ……モータ、８…
…ガイドレール。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 搬送路の下に配置される不良品収容部と、 不良品収容部の第１の端部に配置され、良品の
    ＩＣを収容する第１の良品収容部と、 不良品収容部の第２の端部に配置され、良品の
    ＩＣを収容する第２の良品収容部と、 搬送路からのＩＣを第１の良品収容部または不
    良品収容部に搬送する第１のシヤトルと、 搬送路からのＩＣを第２の良品収容部または不
    良品収容部に搬送する第２のシヤトルとを備え、 第１のシヤトルがＩＣを第１の良品収容部に搬
    送するときは第２のシヤトルが搬送路からの次の
    ＩＣを受け取り、 第２のシヤトルがＩＣを第２の良品収容部に搬
    送するときは第１のシヤトルが搬送路からの次の
    ＩＣを受け取ることを特徴とするダブルシヤトル
    によるＩＣ収容機構。
JP1989038171U 1989-03-31 1989-03-31 ダブルシャトルによるｉｃ収容機構 Expired - Lifetime JPH0745453Y2 (ja)

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JPH02129330U true JPH02129330U (ja) 1990-10-25
JPH0745453Y2 JPH0745453Y2 (ja) 1995-10-18

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JP2009139221A (ja) * 2007-12-06 2009-06-25 Yokogawa Electric Corp オートハンドラ
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JPS4911820U (ja) * 1972-05-04 1974-01-31

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