JPH02129572A - board tester - Google Patents
board testerInfo
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- JPH02129572A JPH02129572A JP63284502A JP28450288A JPH02129572A JP H02129572 A JPH02129572 A JP H02129572A JP 63284502 A JP63284502 A JP 63284502A JP 28450288 A JP28450288 A JP 28450288A JP H02129572 A JPH02129572 A JP H02129572A
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、部品実装前のプリント基板、あるいはLSI
・チップ部品等を実装後のプリント基板の不良摘出検査
を行うためのボードテスタに関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention is applicable to printed circuit boards or LSI chips before component mounting.
- This relates to a board tester for inspecting printed circuit boards to detect defects after mounting chip components, etc.
従来の技術
近年、プリント基板の高密度実装技術の進歩により、部
品実装前のプリント基板、あるいはLSIやチップ部品
等を実装後のプリント基板の不良摘出検査を行うための
ボードテスタが重要な位置を占めるようになった。以下
図面を参照しながら、上述した従来のボードテスタの一
例について説明する。第3図は、従来のボードテスタの
構成を示すものである。第3図において、1は検査する
プリント基板で、入出力信号用テストラウンド2゜3と
、グランド用テストラウンド4と、電源用テストラウン
ド5を有している。6はボードテスタ台で、入出力信号
用テストピン7.8と、グランド用テストピン9と、電
源用テストピン10を有している。各テストピン7 、
8 、9 、10は、各テストラウンド2.3,4.5
に接触する形になっており、さらに入出力信号用テスト
ピン7.8はテスタ12に接続し、グランド用テストピ
ン9と電源用テストピン10は電源13に接続する。1
5は電源スイッチ、17は押さえ棒である。以上のよう
に構成されたボードテスタについて、以下その動作につ
いて説明する。まず、押さえ棒17でプリント基板lを
ボードテスタ台6に押さえつけ、各テストピン7.8.
9.10を各テストラウンド2,3,4゜5に接触させ
る0次に電源スイッチ15をONにして電源13から、
グランド用テストピン9と電源用テストピン10を介し
てグランド用テストラウンド4と電源用テストラウンド
5の間に電源電圧を加える。プリント基板1に電源電圧
が加えられたところで、入出力信号用テストピン7.8
を介して入出力信号用テストラウンド2.3とテスタ1
2の間で入出力信号のやりとりを行い、プリント基板1
の不良摘出検査を行う。検査後は、電源スイッチ15を
OFFした後にプリント基板1をボードテスタ台6から
外す。Conventional technology In recent years, with the advancement of high-density mounting technology for printed circuit boards, board testers have become important for inspecting printed circuit boards before components are mounted, or after mounting LSI and chip components. began to occupy An example of the conventional board tester mentioned above will be described below with reference to the drawings. FIG. 3 shows the configuration of a conventional board tester. In FIG. 3, reference numeral 1 denotes a printed circuit board to be inspected, which has a test round 2.3 for input/output signals, a test round 4 for ground, and a test round 5 for power supply. Reference numeral 6 denotes a board tester stand, which has test pins 7 and 8 for input/output signals, test pins 9 for ground, and test pins 10 for power supply. Each test pin 7,
8, 9, 10 are each test round 2.3, 4.5
Furthermore, the input/output signal test pins 7 and 8 are connected to the tester 12, and the ground test pins 9 and the power supply test pins 10 are connected to the power supply 13. 1
5 is a power switch, and 17 is a presser bar. The operation of the board tester configured as described above will be explained below. First, press the printed circuit board l against the board tester stand 6 with the presser bar 17, and press each test pin 7.8.
9. Touch the 10 to each test round 2, 3, 4°5 Next, turn on the power switch 15 and from the power supply 13,
A power supply voltage is applied between the ground test round 4 and the power supply test round 5 via the ground test pin 9 and the power supply test pin 10. When the power supply voltage is applied to the printed circuit board 1, the input/output signal test pins 7.8
Test round 2.3 and tester 1 for input and output signals through
The input/output signals are exchanged between the printed circuit board 1 and the printed circuit board 1.
Conduct inspection to remove defects. After the test, the printed circuit board 1 is removed from the board tester stand 6 after turning off the power switch 15.
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記のような構成では、1)グランド用テ
ストピンと電源用テストピンの間に電源電圧を加えたま
ま、検査するプリント基板をボードテスタ台に装着した
り、ボードテスタ台から外したりすると、接触のし方に
よってプリント基板に実装されたLSI等を破壊する恐
れがあるので、プリント基板をボードテスタ台に装着し
た後で電源電圧を加え、ボードテスタ台から外す前に電
源を切るために、電源スイッチを手動で操作する必要が
あり面倒である。2)テストピンがプリント基板上のテ
ストラウンドに接触していることを確認できないので、
接触不良によってボードテスタが思わぬ誤動作をする可
能性がある。という課題を有していた。本発明は上記課
題に鑑み、電源スイッチを自動で操作し、かつテストピ
ンの接触不良による誤動作を防ぐ機能をもつボードテス
タを提供するものである。Problems to be Solved by the Invention However, in the above configuration, 1) the printed circuit board to be tested is mounted on the board tester stand while the power supply voltage is applied between the ground test pin and the power supply test pin, or If you remove it from the board, there is a risk of destroying the LSI etc. mounted on the printed circuit board depending on the contact method, so please apply the power voltage after mounting the printed circuit board on the board tester stand, and before removing it from the board tester stand. In order to turn off the power, it is necessary to manually operate the power switch, which is cumbersome. 2) Since it cannot be confirmed that the test pin is in contact with the test round on the printed circuit board,
The board tester may malfunction unexpectedly due to poor contact. There was a problem with this. In view of the above problems, the present invention provides a board tester having a function of automatically operating a power switch and preventing malfunctions due to poor contact of test pins.
課題を解決するための手段
上記課題を解決するために本発明のボードテスタは、電
源用テストピンが少しスライドしたところで電源スイッ
チを切り換える手段と、すべてのテストピンがプリント
基板の各テストラウンドに接触していることを確認する
手段を備えるものである。Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the board tester of the present invention has a means for switching the power switch when the power test pin slides a little, and a means for switching the power switch when the power test pin slides a little, and a means for all the test pins to contact each test round of the printed circuit board. The system shall be equipped with a means to confirm that the
作用
本発明は上記した構成によって、検査するプリント基板
の各テストラウンドに各テストピンが接触している間に
電源スイッチが自動で0N10FFするので、プリント
基板に実装されたLSI等の部品を破壊する心配がなく
、手動で電源スイッチを操作する必要もない、また、す
べてのテストピンがプリント基板の各テストラウンドに
接触していることを確認してから不良摘出検査を行うの
で、テストピンの接触不良によるボードテスタの思わぬ
誤動作をひきおこす心配もない。Effect of the present invention With the above-described configuration, the power switch is automatically turned 0N10FF while each test pin is in contact with each test round of the printed circuit board to be inspected, so that parts such as LSIs mounted on the printed circuit board are destroyed. There is no need to worry, and there is no need to manually operate the power switch.Also, the test pins are not contacted because the test is performed after confirming that all test pins are in contact with each test round on the printed circuit board to identify defects. There is no need to worry about unexpected malfunctions of the board tester due to defects.
実施例
以下本発明の一実施例のボードテスタについて、図面を
参照しながら説明する。第1図は本発明の第1の実施例
におけるボードテスタの構成を示すものである。第1図
において、lは検査するプリント基板で、入出力信号用
テストラウンド2.3と、グランド用テストラウンド4
と、電源用テストラウンド5を有している。6はボード
テスタ台で、入出力信号用テストピン7.8と、グラン
ド用テストピン9と、電源用テストピン10を有してい
る。各テストピン7.8.9.10は、各テストラウン
ド2,3.4.5に接触する形になっている。また、電
源用テストピン10の内部には接触確認用ピン11を有
している。入出力信号用テストピン7.8はテスタ12
に接続し、グランド用テストピン9と電源用テストピン
10は電源13に接続する。EXAMPLE Hereinafter, a board tester according to an example of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows the configuration of a board tester in a first embodiment of the present invention. In Figure 1, l is the printed circuit board to be inspected, test round 2.3 for input/output signals and test round 4 for ground.
and test round 5 for power supply. Reference numeral 6 denotes a board tester stand, which has test pins 7 and 8 for input/output signals, test pins 9 for ground, and test pins 10 for power supply. Each test pin 7.8.9.10 is configured to contact a respective test round 2, 3.4.5. Moreover, a contact confirmation pin 11 is provided inside the power supply test pin 10 . Test pins 7 and 8 for input/output signals are tester 12
The ground test pin 9 and the power supply test pin 10 are connected to the power supply 13.
電源用テストピン10と、その内部の接触確認用ピン1
1は共に接触i認装置14に接続し、その出力で電源ス
イッチ15を切り換える。さらに、テストピン7.8,
9.10はすべてインピーダンス測定装置16に接続し
ている。17は押さえ棒である0以上のように構成され
たボードテスタについて、以下その動作を説明する。ま
ず、押さえ棒17でプリント基板1をボードテスタ台6
に押さえつけると、各テストピン7.8.9.10が各
テストラウンド2.3,4.5に接触する。やがて各テ
ストピン7.8,9.10が少しスライドしたところで
電源用テストピン10が、内部の接触確認用ピン11に
接触し、そのことを接触確認装置14で電気的に検知し
て電源スイッチ15をONにする。この瞬間に電源13
からグランド用テストピン9と電源用テストピン10を
介して電源電圧がプリント基板1のグランド用テストラ
ウンド4と電源用テストラウンド5の間に加えられる。Power supply test pin 10 and internal contact confirmation pin 1
1 are both connected to the contact i recognition device 14, and the power switch 15 is switched by the output thereof. Furthermore, test pin 7.8,
9 and 10 are all connected to the impedance measuring device 16. The operation of the board tester configured as 0 or more, where 17 is a presser bar, will be explained below. First, use the presser bar 17 to hold the printed circuit board 1 on the board tester stand 6.
When pressed, each test pin 7.8.9.10 contacts each test round 2.3, 4.5. Eventually, when each test pin 7.8, 9.10 slides a little, the power supply test pin 10 contacts the internal contact confirmation pin 11, which is electrically detected by the contact confirmation device 14 and the power switch is activated. Turn on 15. Power supply 13 at this moment
A power supply voltage is applied between the ground test round 4 and the power supply test round 5 of the printed circuit board 1 via the ground test pin 9 and the power supply test pin 10.
こうすることで、各テストピン7.8.9.10が各テ
ストラウンド2.3゜4.5に接触した後でプリント基
板1に電源電圧が加えられるので、プリント基板1に実
装されたLSI等を破壊してしまう心配がない。インピ
ーダンス測定装置16では、プリント基板1をボードテ
スタ台6に押さえつけた状態で、入出力信号用テストピ
ン7.8とグランド用テストピン9の間のインピーダン
ス、又は入出力信号用テストピン7.8と電源用テスト
ピン10の間のインピーダンスを測定し、あらかじめ測
定しておいた値と比較することで各テストピン7.8.
9.10と各テストラウンド2. 3. 4. 5の間
の接触不良の有無を調べる。接触不良がある場合はイン
ピーダンスは無限大になる。テストピンの接触不良がな
いことを確認したうえで次に、入出力信号用テストピン
7.8を介して入出力信号用テストラウンド2゜3とテ
スタ12の間で入出力信号のやりとりを行い、プリント
基板1の不良摘出検査を行う。なお、検査終了後もプリ
ント基板1の各テストラウンド2゜3.4.5が各テス
トピン7.8.9.10から離れる前に、電源用テスト
ピン10と接触確認用ピン11の接触が外れて電源スイ
ッチ15がOFFになるので、プリント基板1に実装さ
れたLSI等を破壊してしまう心配がない。以上のよう
に本実施例によれば、電源用テストピン10の内部の接
触確認用ピン11と、接触確認用ピン11と電源用テス
トピンlOの両方に接続してその出力で電源スイッチ1
5を制御する接触確認装置14を設けることにより、検
査するプリント基板1の各テストラウンド2゜3.4.
5に各テストピン7.8,9.10が接触している間に
電源スイッチ15が自動で0N10FFするので、プリ
ント基板lに実装されたLSI等の部品を破壊する心配
がなく、手動で電源スイッチ15を操作する必要もない
。また、各テストピン7.8,9.10に接続するイン
ピーダンス測定装置1!116を設けることにより、各
テストピン7.8゜9、lOとプリント基板lの各テス
トラウンド2゜3.4.5の間の接触不良の有無を確認
できる。By doing this, the power supply voltage is applied to the printed circuit board 1 after each test pin 7.8.9.10 contacts each test round 2.3° 4.5, so that the LSI mounted on the printed circuit board 1 There is no need to worry about destroying the etc. The impedance measurement device 16 measures the impedance between the input/output signal test pin 7.8 and the ground test pin 9, or the input/output signal test pin 7.8, with the printed circuit board 1 pressed against the board tester stand 6. By measuring the impedance between the test pin 10 and the power supply test pin 10 and comparing it with the value measured in advance, each test pin 7.8.
9.10 and each test round 2. 3. 4. Check for poor contact between 5 and 5. If there is a poor contact, the impedance becomes infinite. After confirming that there is no poor contact between the test pins, next, input/output signals are exchanged between the input/output signal test round 2゜3 and the tester 12 via the input/output signal test pins 7.8. , the printed circuit board 1 is inspected for defects. In addition, even after the inspection is completed, before each test round 2゜3.4.5 of the printed circuit board 1 leaves each test pin 7.8.9.10, contact between the power supply test pin 10 and the contact confirmation pin 11 is confirmed. Since the power switch 15 is turned off when it comes off, there is no fear that the LSI etc. mounted on the printed circuit board 1 will be destroyed. As described above, according to this embodiment, the contact confirmation pin 11 inside the power supply test pin 10 is connected to both the contact confirmation pin 11 and the power supply test pin lO, and the output is used to connect the power switch 1.
5, each test round of the printed circuit board 1 to be inspected 2.3.4.
Since the power switch 15 automatically turns 0N10FF while each test pin 7.8, 9.10 is in contact with the test pin 5, there is no need to worry about destroying parts such as LSI mounted on the printed circuit board l, and you can manually turn the power on. There is no need to operate the switch 15. Also, by providing an impedance measuring device 1!116 connected to each test pin 7.8, 9.10, each test round 2.3.4. It is possible to check whether or not there is poor contact between 5 and 5.
以下本発明の第2の実施例について、図面を参照しなが
ら説明する。第2図は、本発明の第2の実施例における
ボードテスタの構成を示すものである。第2図において
、1は検査するプリント基板で、入出力信号用テストラ
ウンド2.3と、グランド用テストラウンド4と、電源
用テストラウンド5を有している。6はボードテスタ台
で、入出力信号用テストピン7.8と、グランド用テス
トピン9と、電源用テストピン10を有している。各テ
ストピン7.8.9.10は、各テストラウンド2.
3. 4. 5に接触する形になっている。また電源用
テストピンlOの内部には接触(il認用ピン11を有
している。入出力用テストピン7.8はテスタ12に接
続し、グランド用テストピン9と電源用テストピン10
は電源13に接続する。電源用テストピン10と、その
内部の接触確認用ピン11は共に接触確認装置14に接
続し、その出力で電源スイッチ15を切り換える。17
は押さえ棒である6以上は第1図の構成と同様なもので
ある。A second embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 shows the configuration of a board tester according to a second embodiment of the present invention. In FIG. 2, reference numeral 1 denotes a printed circuit board to be inspected, which has test rounds 2 and 3 for input/output signals, test rounds 4 for ground, and test rounds 5 for power supply. Reference numeral 6 denotes a board tester stand, which has test pins 7 and 8 for input/output signals, test pins 9 for ground, and test pins 10 for power supply. Each test pin 7.8.9.10 is used for each test round 2.
3. 4. It is shaped like it touches 5. In addition, the power supply test pin IO has a contact pin 11 inside.The input/output test pins 7.8 are connected to the tester 12, and the ground test pin 9 and the power supply test pin 10 are connected to the test pin 12.
is connected to the power supply 13. Both the power supply test pin 10 and the contact confirmation pin 11 inside thereof are connected to a contact confirmation device 14, and the power switch 15 is switched by the output thereof. 17
6 is a presser bar, and the structure above is similar to that shown in FIG.
第1図の構成と異なるのは、第1図のインピーダンス測
定装置16を無くし、代わりに入出力信号用テストピン
7.8とグランド用テストピン9の内部に各々接触確認
用ピン7a、8a、9aを設け、さらに各テストピン7
.8.9と各接触確認用ピン?a、8a、9aの両方に
接続する各々の接触不良検査装置7b、Bb、gbを設
けた点である0以上のように構成されたボードテスタに
ついて、以下その動作を説明する。まず、押さえ棒17
でプリント基板lをボードテスタ台6に押さえつけると
、各テストピン7.8.9.10が各テストラウンド2
,3.4.5に接触する。やがて各テストピン7.8.
9.10が少しスライドしたところで内部の接触確認用
ピン7at 8a、9a各テストピン7.8.9が接
触し、そのことを各々の接触不良検査装置で電気的に検
知して、各テストピン7.8.9と各テストラウンド2
.3.4の間の接触不良の無いことを確認する。同時に
接触確認装置14の出力によって電源13の電源スイッ
チ15がONになり、電源電圧がグランド用テストピン
9と電源用テストピン10を介してグランド用テストラ
ウンド4と電源用テストラウンド5の間に加えられる。What is different from the configuration in FIG. 1 is that the impedance measuring device 16 in FIG. 1 is removed, and instead, contact confirmation pins 7a, 8a, 9a, and each test pin 7
.. 8.9 and each contact confirmation pin? The operation of the board tester configured as above 0, which is provided with contact failure inspection devices 7b, Bb, and gb connected to both of a, 8a, and 9a, will be described below. First, presser bar 17
When the printed circuit board l is pressed against the board tester stand 6, each test pin 7, 8, 9, 10 is connected to each test round 2.
, 3.4.5. Eventually each test pin 7.8.
When 9.10 slides a little, the internal contact confirmation pins 7at 8a and 9a each test pin 7.8.9 come into contact, and this is electrically detected by each contact failure inspection device, and each test pin 7.8.9 and each test round 2
.. 3. Confirm that there is no poor contact between 4 and 4. At the same time, the power switch 15 of the power supply 13 is turned on by the output of the contact confirmation device 14, and the power supply voltage is applied between the ground test round 4 and the power supply test round 5 via the ground test pin 9 and the power supply test pin 10. Added.
電源電圧が加えられたところで、入出力信号用テストピ
ン7.8を介して入出力信号用テストラウンド2.3と
テスタ12の間で入出力信号のやりとりを行い、プリン
ト基板1の不良摘出検査を行う0以上のように入出力信
号用テストピン7.8とグランド用テストピン9の内部
に各々接触確認用ピン7a、8a、9aを設け、さらに
各テストピン7.8.9と各接触確認用ピン?a、8a
、9aの両方に接続する各々の接触不良検査装置7b、
8b、9bを設けることにより、各テストピン7.8.
9とプリント基板1の各テストラウンド2.3.4の間
の接触不良の有無を知ることができる。When the power supply voltage is applied, input/output signals are exchanged between the input/output signal test round 2.3 and the tester 12 via the input/output signal test pins 7.8, and the printed circuit board 1 is inspected for defects. Contact confirmation pins 7a, 8a, and 9a are provided inside the input/output signal test pin 7.8 and the ground test pin 9, respectively, as described above, and each test pin 7.8.9 and each contact Confirmation pin? a, 8a
, 9a, each contact failure inspection device 7b,
8b, 9b, each test pin 7.8.
9 and the printed circuit board 1 in each test round 2.3.4.
発明の効果
以上のように本発明によれば、電源用テストピンがテス
トラウンドに接触して少しスライドしたところで電源ス
イッチを切り換える手段を設けることにより、検査する
プリント基板に実装されたLSI等を破壊する心配がな
くなり、手動で電源スイッチを操作する必要もなくなる
。また、すべてのテストピンがプリント基板の各テスト
ラウンドに接触していることを確認する手段を設けるこ
とにより、テストピンの接触不良によるボードテスタの
思わぬ誤動作をひきおこす心配もなくなる。Effects of the Invention As described above, according to the present invention, by providing a means for switching the power switch when the power test pin contacts the test round and slides a little, it is possible to destroy the LSI etc. mounted on the printed circuit board to be tested. There is no longer any need to worry about this, and there is no need to manually operate the power switch. Further, by providing means for confirming that all test pins are in contact with each test round of the printed circuit board, there is no need to worry about unexpected malfunctions of the board tester due to poor contact of the test pins.
第1図は、本発明の第1の実施例におけるボードテスタ
の構成図、第2図は本発明の第2の実施例におけるボー
ドテスタの構成図、第3図は従来のボードテスタの構成
図である。
1・・・・・・プリント基板、2.3・・・・・・入出
力信号用テストラウンド、4・・・・・・グランド用テ
ストラウンド、5・・・・・・電源用テストラウンド、
6・・・・・・ボードテスタ台、7.8・・・・・・入
出力信号用テストピン、9・・・・・・グランド用テス
トピン、10・・・・・・電源用テストピン、11・・
・・・・接触確認用ピン、12・・・・・・テスタ、1
3・・・・・・電源、14・・・・・・接触li!認装
置、15・・・・・・電源スイッチ、16・・・・・・
インピーダンス測定装置、17・・・・・・押さえ棒、
7a、8a、9a・・・・・・接触確認用ピン、7b、
8b、9b・・・・・・接触不良検査装置。
代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名l−°プリ
ント11次
2〜−S”−テストラウンド
6− テストむ
7〜10− テストピン
tf−−−*隅確認、用ピッ
15−−− t ′1原スイッチ
第2
図
f−−プリント基」艮
2〜−5− テストラウンド
1−m−テスト臼
7−/l−−テストピン
に邊、9tt、lf−−1り−J璽罠爪ピンts−−−
* ”a スイフテFIG. 1 is a block diagram of a board tester according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of a board tester according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a block diagram of a conventional board tester. It is. 1...Printed circuit board, 2.3...Test round for input/output signals, 4...Test round for ground, 5...Test round for power supply,
6...Board tester stand, 7.8...Test pin for input/output signals, 9...Test pin for ground, 10...Test pin for power supply , 11...
...Contact confirmation pin, 12...Tester, 1
3...Power supply, 14...Contact li! Authentication device, 15...Power switch, 16...
Impedance measuring device, 17...presser bar,
7a, 8a, 9a... Contact confirmation pin, 7b,
8b, 9b... Contact defect inspection device. Name of agent Patent attorney Shigetaka Awano 1 person l-°Print 11th 2~-S''-Test round 6-Test 7-10-Test pin TF---* Corner confirmation, pin 15--- t'1 Original switch 2nd figure f--Printed base" 议2~-5-Test round 1-M-Test mortar 7-/l--Beside the test pin, 9tt, lf--1 ri-J trap Claw pin ts---
*”a Swifte
Claims (5)
用テストピンと、電源用テストピンと、これらテストピ
ンを固定するボードテスタ台と、全ての入出力信号用テ
ストピンに接続されるテスタと、グランド用テストピン
と電源用テストピンに接続される電源と、電源スイッチ
と、電源用テストピンがテストラウンドに接触して少し
スライドしたところで電源スイッチを切り換える手段と
、検査するプリント基板をボードテスタ台に押さえつけ
るための押さえ棒を備えたボードテスタ。(1) one or more input/output signal test pins, ground test pins, power supply test pins, a board tester stand to which these test pins are fixed, and a tester connected to all input/output signal test pins; A power supply connected to the ground test pin and power test pin, a power switch, a means to switch the power switch when the power test pin touches the test round and slides a little, and a printed circuit board to be tested on the board tester stand. A board tester equipped with a presser bar for pressing down.
しスライドしたところで電源スイッチを切り換える手段
が、電源用テストピンの内部に設置された接触確認用ピ
ンと、この接触確認用ピンと電源用テストピンの両方に
接続されてその出力で電源スイッチを制御する接触確認
装置からなる特許請求の範囲第1項記載のボードテスタ
。(2) The means for switching the power switch when the power supply test pin contacts the test round and slides a little is a contact confirmation pin installed inside the power supply test pin, and a contact confirmation pin and the power supply test pin. The board tester according to claim 1, comprising a contact confirmation device connected to both of the contact confirmation devices and controlling a power switch with its output.
用テストピンと、電源用テストピンと、これらテストピ
ンを固定するボードテスタ台と、全ての入出力信号用テ
ストピンに接続されるテスタと、グランド用テストピン
と電源用テストピンに接続される電源と、電源スイッチ
と、検査するプリント基板をボードテスタ台に押さえつ
けるための押さえ棒と、すべてのテストピンがプリント
基板の各テストラウンドに接触していることを確認する
手段を備えたボードテスタ。(3) one or more input/output signal test pins, ground test pins, power supply test pins, a board tester stand to which these test pins are fixed, and a tester connected to all input/output signal test pins; The power supply connected to the ground test pin and the power supply test pin, the power switch, the holding bar for holding the printed circuit board to be tested on the board tester stand, and all the test pins touching each test round of the printed circuit board. A board tester with a means to confirm that
ウンドに接触していることを確認する手段が、すべての
テストピンに接続されるインピーダンス測定装置より構
成される特許請求の範囲第3項記載のボードテスタ。(4) The means for confirming that all the test pins are in contact with each test round of the printed circuit board comprises an impedance measuring device connected to all the test pins. board tester.
ウンドに接触していることを確認する手段が、すべての
n個のテストピン内部のn個の接触確認用ピンと、各テ
ストピンとその内部の各接触確認用ピンの両方が接続す
るn個の接触確認装置からなる特許請求の範囲第3項記
載のボードテスタ。(5) The means for confirming that all the test pins are in contact with each test round of the printed circuit board is the n contact confirmation pins inside all n test pins, each test pin and each The board tester according to claim 3, comprising n contact confirmation devices to which both of the contact confirmation pins are connected.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63284502A JPH02129572A (en) | 1988-11-10 | 1988-11-10 | board tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63284502A JPH02129572A (en) | 1988-11-10 | 1988-11-10 | board tester |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02129572A true JPH02129572A (en) | 1990-05-17 |
Family
ID=17679341
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63284502A Pending JPH02129572A (en) | 1988-11-10 | 1988-11-10 | board tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02129572A (en) |
-
1988
- 1988-11-10 JP JP63284502A patent/JPH02129572A/en active Pending
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