JPH02139954A - Lead frame and resin-sealed semiconductor device using same - Google Patents
Lead frame and resin-sealed semiconductor device using sameInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、リードフレーム、及びリードフレームに搭載
される半導体素子等を樹脂封止して成る樹脂封止型半導
体装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a lead frame and a resin-sealed semiconductor device in which a semiconductor element mounted on the lead frame is sealed with a resin.
(従来の技術)
従来、このような分野の技術としては、例えば第2図(
a)、(b)、(c)のようなものがあった。以下、そ
の構成を図を用いて説明する。(Prior art) Conventionally, as a technology in this field, for example, as shown in Fig. 2 (
There were things like a), (b), and (c). The configuration will be explained below using figures.
第2図(a)、(b)、(c)は従来の樹脂封止型半導
体装置の一構成例を示す図であり、同図(a)は平面図
、同図(b)はそのA−A線断面図、及び同図(c)は
そのB−B線断面図である。FIGS. 2(a), 2(b), and 2(c) are diagrams showing an example of the configuration of a conventional resin-sealed semiconductor device, in which FIG. 2(a) is a plan view and FIG. 2(b) is an A - A sectional view, and the same figure (c) is the BB sectional view.
この半導体装置は、プリント基板等の表面に半田等で固
着して使用されるもので、リードフレーム10、そのリ
ードフレーム10に搭載された半導体素子20、及びそ
れらを樹脂封止した樹脂部材30により構成されている
。リードフレーム10は、素子搭載部11、段差部12
aを有する素子搭載部11支持用の吊りリード12、及
び内方端部13a、外方端部13bを有する複数本のリ
ード13から成るもので、各リード13の内方端部13
aは素子搭載部11に近接した位置に配設され、外方端
部13bは略J形に折り曲げられている。、
このようなリードフレーム10が用いられた上記半導体
装置では、素子搭載部11上に半導体素子20がマウン
ト材21を介して固着されており、さらに半導体素子2
0の表面に形成された電極パッド部22とリード13の
内方端部13aとがワイヤ23で接続されている。これ
ら素子搭載部11、吊りリード12、リード13の内方
端部13a付近、半導体素子20等が、樹脂部材30を
用いて樹脂封止されている。ここで、樹脂部材30内に
埋設された吊りリード12には段差部12aが形成され
て、これに連結された素子搭載部11は内方端部13a
よりも所定間隔h、低位置に設定されている。This semiconductor device is used by being fixed to the surface of a printed circuit board or the like with solder or the like, and consists of a lead frame 10, a semiconductor element 20 mounted on the lead frame 10, and a resin member 30 in which they are sealed with resin. It is configured. The lead frame 10 includes an element mounting section 11 and a stepped section 12.
It consists of a suspension lead 12 for supporting the element mounting part 11 having a diameter of
a is arranged at a position close to the element mounting portion 11, and the outer end portion 13b is bent into a substantially J shape. In the semiconductor device using such a lead frame 10, the semiconductor element 20 is fixed on the element mounting part 11 via the mounting material 21, and the semiconductor element 20 is fixed on the element mounting part 11 via the mounting material 21.
The electrode pad portion 22 formed on the surface of the lead 13 and the inner end portion 13a of the lead 13 are connected by a wire 23. The element mounting portion 11, the hanging lead 12, the vicinity of the inner end 13a of the lead 13, the semiconductor element 20, etc. are sealed with resin using a resin member 30. Here, the suspension lead 12 embedded in the resin member 30 is formed with a stepped portion 12a, and the element mounting portion 11 connected to this is formed at an inner end 13a.
It is set at a lower position by a predetermined interval h than
以上のように構成される樹脂封止型半導体装置は、例え
ば次のようにして製造される。The resin-sealed semiconductor device configured as described above is manufactured, for example, as follows.
先ず、素子搭載部11、吊りリード12、複数本のリー
ド13等が枠部に支持固定されたリードフレーム10を
用意し、素子搭載部11上にマウント材21を用いて半
導体素子20を固着すると共に、その半導体素子20の
パッド電極部22とリード13の内方端部13aとをワ
イヤ23で接続する。モールド用金型を用いて、樹脂部
材30で半導体素子20等を樹脂封止した後、リードフ
レーム10の不要部分をリードフレーム10がら切断除
去すると共に、外方端部13bに曲げ加工を施してその
形状を略J形にすれば、第2図(a>、(b)、(c)
の構造を有する樹脂封止型半導体装置が得られる。First, a lead frame 10 in which an element mounting part 11, a hanging lead 12, a plurality of leads 13, etc. are supported and fixed to a frame part is prepared, and a semiconductor element 20 is fixed onto the element mounting part 11 using a mounting material 21. At the same time, the pad electrode portion 22 of the semiconductor element 20 and the inner end portion 13a of the lead 13 are connected with a wire 23. After resin-sealing the semiconductor element 20 and the like with the resin member 30 using a molding die, unnecessary parts of the lead frame 10 are cut and removed from the lead frame 10, and the outer end portion 13b is bent. If the shape is approximately J-shaped, Figure 2 (a>, (b), (c)
A resin-sealed semiconductor device having the structure is obtained.
このような樹脂封止型半導体装置では、次のような利点
をもっている。製造効率の向上化を図るためにシリコン
ウェハを大口径化する場合、反りや欠損等に対する機械
的強度を大きくするために、シリコンウェハの厚さを大
きく設定するため、そのシリコンウェハから形成される
半導体素子の厚さも増大する。そのため、ワイヤ23が
半導体素子20の周縁部に接触することによるショート
不良(以下、エツジショートという)が発生しやすくな
る。上記構成の半導体装置では、吊りリード12に段差
部12aを形成して素子搭載部11を内方端部13aよ
りも所定間隔h1低位置に設定しているので、エツジシ
ョートの発生を低減、回避することが可能である。Such a resin-sealed semiconductor device has the following advantages. When increasing the diameter of a silicon wafer in order to improve manufacturing efficiency, the thickness of the silicon wafer is set large in order to increase the mechanical strength against warping and defects, so the thickness of the silicon wafer is increased. The thickness of semiconductor devices also increases. Therefore, a short circuit failure (hereinafter referred to as an edge short) due to the wire 23 coming into contact with the peripheral edge of the semiconductor element 20 is likely to occur. In the semiconductor device having the above configuration, the step portion 12a is formed on the suspension lead 12 and the element mounting portion 11 is set at a position lower than the inner end portion 13a by a predetermined interval h1, thereby reducing and avoiding the occurrence of edge shorts. It is possible to do so.
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、上記構成のリードフレーム及びこれを用
いた樹脂封止型半導体装置では、第3図に示すような課
題があった。なお、第3図は従来の樹脂封止型半導体装
置の問題点を示す図である。(Problems to be Solved by the Invention) However, the lead frame having the above structure and the resin-sealed semiconductor device using the lead frame have a problem as shown in FIG. 3. Incidentally, FIG. 3 is a diagram showing problems with the conventional resin-sealed semiconductor device.
上記構成の半導体装置では、リードフレーム10におけ
る素子搭載部11を内方端部13aよりも低位置に設定
してエツジショートの発生を防止しているが、次のよう
な場合にはその防止が非常に困難となる。In the semiconductor device having the above configuration, the element mounting portion 11 of the lead frame 10 is set at a lower position than the inner end portion 13a to prevent the occurrence of edge short, but the prevention is not possible in the following cases. It becomes very difficult.
例えば、半導体素子20内における集積回路の大集積化
を図った場合、それに応じて半導体素子20も大型化さ
れるので、樹脂部材30内の吊りリード12の全長が短
くなり、十分な傾斜角を有する段差部12aが形成でき
なくなる。従って、第3図に示すように、素子搭載部1
1と内方端部13との高低差h1を満足に確保できなく
なり、エツジショート31の発生を促すことになる。ま
た、半導体素子20の大型化はワイヤ23の長さを縮小
させるので、ワイヤ23によるミスボンディングの発生
等により、エツジショート31の発生するおそれがあり
、それを解決することも困難であった。For example, when increasing the integration of integrated circuits within the semiconductor element 20, the semiconductor element 20 also becomes larger accordingly, so the overall length of the suspension leads 12 within the resin member 30 becomes shorter and a sufficient angle of inclination is required. The step portion 12a having the above structure cannot be formed. Therefore, as shown in FIG.
1 and the inner end portion 13 cannot be ensured satisfactorily, and the edge short 31 is encouraged to occur. Further, as the size of the semiconductor element 20 increases, the length of the wire 23 is reduced, so there is a risk that an edge short 31 may occur due to misbonding caused by the wire 23, and it is difficult to solve this problem.
なお、この対策として、樹脂部材30を大型化してその
樹脂部材30内の吊りリード12の長さを長くすること
によって、より大きな段差部12aを形成し、それによ
って高低差h1を大きくすることも考えられるが、この
ような方法では樹脂封止型半導体装置自体が大型化する
ため、技術的に満足できるものではなかった。Note that as a countermeasure against this, it is also possible to increase the size of the resin member 30 and increase the length of the suspension lead 12 within the resin member 30 to form a larger step portion 12a, thereby increasing the height difference h1. However, such a method would increase the size of the resin-sealed semiconductor device itself, so it was not technically satisfactory.
本発明は、前記従来技術が持っていた課題として、半導
体素子の大型化に伴い、エッジショートの発生を避ける
ことが困難な点について解決したリードフレーム及びこ
れを用いた樹脂封止型半導体装置を提供するものである
。The present invention provides a lead frame and a resin-sealed semiconductor device using the lead frame that solves the problem of the prior art, which is that it is difficult to avoid edge shorts as semiconductor elements become larger. This is what we provide.
(課題を解決するための手段)
前記課題を解決するために、請求項1の発明では、半導
体素子が搭載される素子搭載部と、前記素子搭載部に近
接した内方端部を有する複数本のリードと、枠部に接続
され前記リードを相互に連結するタイバーと、前記素子
搭載部を前記枠部に連結支持する吊りリードとを備えた
リードフレームにおいて、前記素子搭載部が前記内方端
部よりも低位置に位置するような段差部を前記吊りリー
ドの樹脂封止領域外に形成するようにしたものである。(Means for Solving the Problems) In order to solve the above problems, the invention of claim 1 provides an element mounting portion on which a semiconductor element is mounted, and a plurality of semiconductor devices having an inner end portion close to the element mounting portion. , a tie bar connected to a frame portion and interconnecting the leads, and a suspension lead connecting and supporting the element mounting portion to the frame portion, wherein the element mounting portion is connected to the inner end. A stepped portion located at a lower position than the lower portion is formed outside the resin-sealed region of the suspension lead.
請求項2の発明では、リードフレームを用いた樹脂封止
型半導体装置において、請求項1記載のリードフレーム
と、前記素子搭載部に固着され前記リードの内方端部に
ワイヤで接続された半導体素子と、前記半導体素子、素
子搭載部、ワイヤの全部及び前記リード、吊りリードの
一部を樹脂封止する樹脂部材とを備えたものである。According to a second aspect of the invention, there is provided a resin-sealed semiconductor device using a lead frame, the lead frame according to the first aspect, and a semiconductor fixed to the element mounting portion and connected to the inner end of the lead with a wire. The device includes an element, and a resin member that seals the semiconductor element, the element mounting portion, all of the wires, the leads, and a part of the suspension lead with resin.
(作用)
請求項1の発明によれば、以上のようにリードフレーム
を構成したので、吊りリードは、樹脂封止領域外で段差
部を形成することにより、吊りリードに連結支持される
素子搭載部をリードの内方端部よりも十分に低位置に位
置させる働きがある。(Function) According to the invention of claim 1, since the lead frame is configured as described above, the suspension lead can be mounted with an element connected and supported by the suspension lead by forming a stepped portion outside the resin-sealed area. The function is to position the part at a position sufficiently lower than the inner end of the lead.
これにより、例えば素子搭載部に半導体素子を搭載し、
この半導体素子と内方端部とをワイヤでボンディングす
る場合、その作業が容易かつ正確になる。With this, for example, a semiconductor element can be mounted on the element mounting part,
When bonding the semiconductor element and the inner end portion with wire, the work becomes easy and accurate.
また、請求項2の発明では、請求項1の発明によるリー
ドフレームを用いるようにしたので、そのリードフレー
ムは、リードフレームにおける素子搭載部を内方端部に
対して充分低位置に設定しているため、例えば素子搭載
部に搭載される半導体素子が大型化された場合でも、ワ
イヤと半導体素子との間に発生するおそれのあるエツジ
ショートを著しく低減、回避する働きがある。従って、
前記課題を解決できるのである。Further, in the invention of claim 2, since the lead frame according to the invention of claim 1 is used, the element mounting portion of the lead frame is set at a sufficiently low position with respect to the inner end. Therefore, even if the semiconductor element mounted on the element mounting section becomes larger, for example, the edge short circuit that may occur between the wire and the semiconductor element can be significantly reduced and avoided. Therefore,
The above problem can be solved.
(実施例)
第1図、第4図、第5図及び第6図は本発明の第1の実
施例に係るリードフレーム及びこれを用いた樹脂封止型
半導体装置の構成を示す図であり、第1図はその要部斜
視図、第4図は第1図の平面図、第5図は第4図のC−
Cl、i断面図、及び第6図は第4図のD−D線断面図
である。(Embodiment) FIGS. 1, 4, 5, and 6 are diagrams showing the structure of a lead frame and a resin-sealed semiconductor device using the lead frame according to a first embodiment of the present invention. , FIG. 1 is a perspective view of the main part, FIG. 4 is a plan view of FIG. 1, and FIG.
Cl, i sectional view, and FIG. 6 are sectional views taken along line D-D in FIG. 4.
この半導体装置は、第1図及び第4図等に示すように、
リードフレーム40、そのリードフレーム40に搭載さ
れたMOS)−ランジスタ等からなる半導体素子50、
及びそれらを樹脂封止した熱硬化性の樹脂部材60、例
えばエポキシ樹脂、シリコーン樹脂により構成されてい
る。リードフレーム40は、銅合金、或いは鉄とニッケ
ルの合金等の導電性の金属板から成るもので、その略中
夫に素子搭載部41を有し、さらにその素子搭載部41
に近接した位置に複数本のり−ド42が配設されている
。該リード42は、樹脂封止される内方端部42aと、
この内方端部42aに延設された外方端部42bとで構
成されるもので、各リード42がタイバー43−1によ
り連結支持され、さらにそのタイバー43−1が枠部4
4に支持固定されている。また、この枠部44にはタイ
バー43−1の他にも前記素子搭載部41を支持する吊
りリード45が連結され、さらにその吊りリード45は
樹脂部材60による樹脂封止領域外に設けられたタイバ
ー43−2によってタイバー43−1に連結されている
。これらタイバー43−1゜43−2には樹脂封止の際
に、樹脂部材6oのパリを抑止する役割もある。また、
第6図に示すように、素子搭載部41がリード42の内
方端部42aよりも所定間隔h2、低位置に設定するた
めに、樹脂封止領域外における吊りリード45に段差部
45aが形成されると共に、それに応じてタイバー43
−2にも段差部43−2aが形成されている。This semiconductor device, as shown in FIGS. 1 and 4,
A lead frame 40, a semiconductor element 50 including a MOS transistor mounted on the lead frame 40, a transistor, etc.
and a thermosetting resin member 60 in which they are sealed with resin, such as epoxy resin or silicone resin. The lead frame 40 is made of a conductive metal plate such as a copper alloy or an alloy of iron and nickel, and has an element mounting portion 41 approximately in the middle thereof.
A plurality of boards 42 are arranged close to each other. The lead 42 has an inner end 42a sealed with resin,
Each lead 42 is connected and supported by a tie bar 43-1, and the tie bar 43-1 is connected to the frame portion 42b.
4 is supported and fixed. In addition to the tie bars 43-1, a suspension lead 45 for supporting the element mounting section 41 is connected to the frame section 44, and the suspension lead 45 is provided outside the resin sealing area of the resin member 60. It is connected to tie bar 43-1 by tie bar 43-2. These tie bars 43-1 and 43-2 also have the role of preventing the resin member 6o from cracking during resin sealing. Also,
As shown in FIG. 6, in order to set the element mounting portion 41 at a lower position by a predetermined interval h2 than the inner end portion 42a of the lead 42, a stepped portion 45a is formed on the suspension lead 45 outside the resin-sealed area. and tie bar 43 accordingly.
-2 also has a stepped portion 43-2a formed therein.
以上のように構成されるリードフレーム40の製造は、
例えば銅合金等から成る金属板を、プレス加工、エツチ
ング加工等によって所定の平面形状にした後、プレス加
工等を用いてタイバー43−2及び吊りリード45にそ
れぞれ段差部43−2a及び45aを形成することによ
り、行うことができる。The manufacturing of the lead frame 40 configured as described above is as follows:
For example, a metal plate made of copper alloy or the like is formed into a predetermined planar shape by pressing, etching, etc., and then step portions 43-2a and 45a are formed on the tie bar 43-2 and the suspension lead 45, respectively, using pressing, etc. This can be done by doing this.
このようなリードフレーム40を用いた上記樹脂封止型
半導体装置の構成について、第1図、第4図〜第6図を
用いて以下に説明する。The structure of the resin-sealed semiconductor device using such a lead frame 40 will be described below with reference to FIGS. 1 and 4 to 6.
上記樹脂封止型半導体装置では、素子搭載部41上に半
導体素子50が銀−エポキシ系接着剤等からなるマウン
ト材51を介して固着されており、さらに半導体素子5
0の表面に形成された複数個の電極パッド部52が金線
等からなるワイヤ53によって各リード42の内方端部
42aにボンディングされている。素子搭載部41、リ
ード42の内方端部42a付近、吊りリード45の一部
、半導体素子50、電極パッド部52、及びワイヤ53
は、樹脂部材60によって樹脂封止されている。このよ
うに前記リードフレーム40を用いているため、例えば
第5図、第6図に示すように、素子搭載部41が内方端
部42aに対して所定間隔h2、低位置に位置している
。In the resin-sealed semiconductor device, the semiconductor element 50 is fixed on the element mounting part 41 via a mounting material 51 made of silver-epoxy adhesive, etc.
A plurality of electrode pad portions 52 formed on the surface of the lead 42 are bonded to the inner end portions 42a of each lead 42 by wires 53 made of gold wire or the like. Element mounting part 41, inner end 42a vicinity of lead 42, part of suspension lead 45, semiconductor element 50, electrode pad part 52, and wire 53
is resin-sealed with a resin member 60. Since the lead frame 40 is used in this manner, the element mounting portion 41 is located at a lower position by a predetermined distance h2 with respect to the inner end portion 42a, as shown in FIGS. 5 and 6, for example. .
以上のように構成される樹脂封止型半導体装置の一製造
方法例を第1図、第4図〜第6図、第7図(a)、(b
)を用いて説明する。なお、第7図(a)、(b)はモ
ールド用金型を用いて第1図のように成形された樹脂部
材60の概略の側面図であり、同図(a)はそのリード
42側の側面図、及び同図(b)はその吊りリード45
側の側面図である。An example of a manufacturing method for a resin-sealed semiconductor device configured as described above is shown in FIGS. 1, 4 to 6, and 7(a), (b).
). 7(a) and 7(b) are schematic side views of the resin member 60 molded as shown in FIG. 1 using a mold, and FIG. 7(a) is a side view of the lead 42 side. and the side view of the same figure (b) are the suspension leads 45.
FIG.
先ず、上金型と下金型とで構成される図示しないモール
ド用金型を用意しておく。このモールド用金型は、例え
ば第1図に示すように、リードフレーム40の内方端部
42a及び吊りリード45を上、下金型で挾持した状態
で、樹脂部材60をモールド成形するためのものである
。そこで例えば、第7図(a>に示すように、上金型と
下金型とでモールド成形する際に内方端部42aを挾み
込む間隙の部分、即ちパーティングライン6〇−1の形
状が直線となるように、上、下金型の形状を設定する。First, a molding die (not shown) consisting of an upper die and a lower die is prepared. For example, as shown in FIG. 1, this molding die is used for molding a resin member 60 with the inner end 42a of the lead frame 40 and the suspension lead 45 being held between upper and lower dies. It is something. Therefore, for example, as shown in FIG. 7 (a), when molding is performed between the upper mold and the lower mold, the gap between the inner end 42a, that is, the parting line 60-1. Set the shape of the upper and lower molds so that the shape is a straight line.
一方、第7図(b)に示すように、吊りリード45側の
側面にあたるところでは、そのパーティングライン60
−1が段差部43−2aを有するタイバー43−2の形
状とほぼ一致するように、上、下金型の形状を設定して
おく。On the other hand, as shown in FIG. 7(b), on the side surface of the hanging lead 45, the parting line 60
The shapes of the upper and lower molds are set so that -1 approximately matches the shape of the tie bar 43-2 having the stepped portion 43-2a.
このようにすれば、樹脂部材60をモールド成形する際
に、上、下金型間から漏出するエポキシ樹脂等のパリを
タイバー43−2によって効果的に抑止することが可能
となる。In this way, when the resin member 60 is molded, it becomes possible to effectively prevent particles of epoxy resin or the like leaking from between the upper and lower molds using the tie bar 43-2.
次に、第1図等に示すように、リードフレーム40の素
子搭載部41上にマウント材51を用いて半導体素子5
0を固着すると共に、その半導体素子50のパッド電極
部52とリード42の内方端部42aとをワイヤ53で
接続する。前記モールド用金型を・用いて、リード42
の内方端部42a付近、半導体素子50及びワイヤ53
等をエポキシ樹脂等で樹脂封止して樹脂部材60を形成
すれば、第1図の樹脂封止型半導体装置が得られる。そ
の後、リードフレーム40の不要部分を切り離し、樹脂
部材60の外部における吊りり−ド45、及びタイバー
43−1.43−2を切除することにより、各リード4
2を夫々分離状悪とする。さらに、分離された各リード
42の外方端部42bを所定方向に折り曲げれば、その
外方端部42bが直接、プリント基板等の回路に平面付
は可能な樹脂封止型半導体装置とすることができる。Next, as shown in FIG.
At the same time, the pad electrode portion 52 of the semiconductor element 50 and the inner end portion 42a of the lead 42 are connected with a wire 53. Using the molding die, the lead 42
near the inner end 42a, the semiconductor element 50 and the wire 53
If the resin member 60 is formed by resin-sealing with epoxy resin or the like, the resin-sealed semiconductor device shown in FIG. 1 can be obtained. After that, by cutting off unnecessary parts of the lead frame 40 and cutting off the hanging door 45 and tie bars 43-1, 43-2 on the outside of the resin member 60, each lead 4
2 are considered separate evils. Furthermore, by bending the outer end portions 42b of each separated lead 42 in a predetermined direction, the outer end portions 42b can be directly flat-attached to a circuit such as a printed circuit board, resulting in a resin-sealed semiconductor device. be able to.
本実施例では、次のような利点を有している。This embodiment has the following advantages.
i) リード42側40において、吊りリード45の段
差部45aを樹脂封止領域外に形成しであるため、吊り
リード45を十分に変形して大きな段差部45aを形成
することができる。そのため、吊りリード45に連結さ
れた素子搭載部41を内方端部42aに対して、例えば
第6図に示す所定間隔h2のように充分低位置に位置さ
せることが可能となる。従って、このリードフレーム4
0を用いて樹脂封止型半導体装置を製造した場合、例え
ば素子搭載部41に搭載される半導体素子50が大型化
されても、ワイヤ53と半導体素子50との間に発生す
るエツジショートを防止することが可能となる。また、
素子搭載部41が内方端部42aに対して充分低い位置
にあるため、内方端部42aと電極パッド部52とを接
続するワイヤ53の長さを十分に長くすることができる
ようになる。これにより、ワイヤ53による接続作業が
容易かつ正確になるという効果も期待できる。i) Since the stepped portion 45a of the suspension lead 45 is formed outside the resin sealing region on the lead 42 side 40, the suspension lead 45 can be sufficiently deformed to form a large stepped portion 45a. Therefore, it is possible to position the element mounting portion 41 connected to the suspension lead 45 at a sufficiently low position with respect to the inner end portion 42a, for example, at a predetermined distance h2 shown in FIG. Therefore, this lead frame 4
When a resin-sealed semiconductor device is manufactured using 0, for example, even if the semiconductor element 50 mounted on the element mounting part 41 becomes larger, edge shorts that occur between the wire 53 and the semiconductor element 50 can be prevented. It becomes possible to do so. Also,
Since the element mounting portion 41 is located at a sufficiently low position relative to the inner end portion 42a, the length of the wire 53 connecting the inner end portion 42a and the electrode pad portion 52 can be made sufficiently long. . This can also be expected to make the connection work using the wire 53 easier and more accurate.
ii) 本実施例のリードフレームを製造する場合、
その製造工程は従来の製造工程を何ら複雑化させること
はない。また、本実施例の樹脂封止型半導体装置を製造
する場合、予め第7図(a)、(b)に示すパーティン
グライン60−1が樹脂部材60に形成されるモールド
用金型を用意しておけば、既存の製造装置を利用したほ
ぼ従来通りの製造工程を経ることによってその製造を行
うことが可能である。ii) When manufacturing the lead frame of this example,
The manufacturing process does not complicate conventional manufacturing processes in any way. Further, when manufacturing the resin-sealed semiconductor device of this embodiment, a molding die in which a parting line 60-1 shown in FIGS. 7(a) and 7(b) is formed on the resin member 60 is prepared in advance. If this is done, it is possible to manufacture it through a substantially conventional manufacturing process using existing manufacturing equipment.
次に、本発明の第2の実施例について説明する。Next, a second embodiment of the present invention will be described.
第8図、第9図及び第10図は本発明の第2の実施例に
係るリードフレーム及びこれを用いた樹脂封止型半導体
装置の構成を示す図で、第8図はその要部斜視図、第9
図は第8図の平面図、及び第10図は第9図のE−E線
断面図であり、第1図中の要素と共通の要素には同一の
符号が付されている。8, 9, and 10 are diagrams showing the structure of a lead frame and a resin-sealed semiconductor device using the same according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a perspective view of the main parts thereof. Figure, No. 9
8 is a plan view of FIG. 8, and FIG. 10 is a cross-sectional view taken along the line E--E of FIG. 9. Elements common to those in FIG. 1 are given the same reference numerals.
このリードフレーム40a及び樹脂封止型半導体装置が
第1図のものと異なる点は、リードフレーム40aにお
いて、吊りリード45、タイバー43−1間にタイバー
43−2が配設されていない点である。このような構造
のリードフレーム40aでは、これを用いて樹脂封止型
半導体装置を製造する際に、枠部44がタイバー43−
2の代りに樹脂部材60のパリを抑止する働きを有して
いる。この場合、樹脂部材60のモールド成形に用いる
モールド用金型は、吊りリード45側の側面部が吊りリ
ード45及び枠部44の形状に即した構造となるように
すれば良い。リードフレーム40a及び樹脂封止型半導
体装置をこのような構造にしても、第1の実施例とほぼ
同様の作用、効果が得られる。The difference between this lead frame 40a and the resin-sealed semiconductor device from that shown in FIG. 1 is that in the lead frame 40a, a tie bar 43-2 is not disposed between the hanging lead 45 and the tie bar 43-1. . In the lead frame 40a having such a structure, when manufacturing a resin-sealed semiconductor device using the lead frame 40a, the frame portion 44 is attached to the tie bar 43-
Instead of 2, it has the function of suppressing the breakage of the resin member 60. In this case, the molding die used for molding the resin member 60 may have a structure in which the side surface on the suspension lead 45 side conforms to the shapes of the suspension lead 45 and the frame portion 44. Even if the lead frame 40a and the resin-sealed semiconductor device have such a structure, substantially the same functions and effects as in the first embodiment can be obtained.
尚、本発明は図示の実施例に限定されず、種々の変形が
可能である。その変形例としては、例えば次のようなも
のがある。Note that the present invention is not limited to the illustrated embodiment, and various modifications are possible. Examples of such modifications include the following.
■ リードフレーム40.40aの形状等は図示のもの
に限定されず、例えば樹脂封止領域外の吊りリード45
において、十分な傾斜角を有する段差部45aの形成が
困難な場合は、枠部44にも段差部を成形することによ
り、素子搭載部41を内方端部42aよりも充分低位置
に位置付けすることが可能である。■ The shape of the lead frame 40, 40a is not limited to that shown in the drawings, and for example, the shape of the lead frame 40, 40a is not limited to that shown in the figure.
In this case, if it is difficult to form the stepped portion 45a with a sufficient inclination angle, the element mounting portion 41 is positioned sufficiently lower than the inner end portion 42a by forming a stepped portion on the frame portion 44 as well. Is possible.
■ 上記第1.第2の実施例では、複数本のり−ド42
を素子搭載部41の対向する2方向に配設したが、これ
に限定されず、例えば素子搭載部41の周囲4方向に配
設しても良い。■ No. 1 above. In the second embodiment, a plurality of boards 42
Although they are arranged in two opposing directions of the element mounting section 41, the present invention is not limited thereto, and they may be arranged in four directions around the element mounting section 41, for example.
■ 樹脂部材60の形状は樹脂封止型半導体装置の用途
等に応じて、種々の変形が可能である。(2) The shape of the resin member 60 can be modified in various ways depending on the application of the resin-sealed semiconductor device.
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、請求項1の発明のリードフ
レームによれば、樹脂封止領域外において吊りリードに
段差部を形成するようにしたので、素子搭載部を内方端
部よりも十分低位置に位置付けすることが可能となり、
例えば素子搭載部に半導体素子を搭載して半導体素子と
内方端部とをワイヤでボンディングする際にその作業が
容易かつ正確になり、その作業能率の向上化が図れる。(Effects of the Invention) As described above in detail, according to the lead frame of the invention of claim 1, the step portion is formed on the suspension lead outside the resin-sealed area, so that the element mounting portion is moved inward. It is possible to position it at a position sufficiently lower than the end,
For example, when a semiconductor element is mounted on the element mounting part and the semiconductor element and the inner end are bonded with a wire, the work becomes easier and more accurate, and the work efficiency can be improved.
請求項2の発明の樹脂封止型半導体装置によれば、請求
項1記載のリードフレームを用いるようにしたので、例
えば素子搭載部に搭載される半導体素子が大型化されて
も、その半導体素子とワイヤとの接触による電気的不良
を回避することができるようになり、良好なボンディン
グ性を有する信頼性の高い樹脂封止型半導体装置を提供
することが可能となる。According to the resin-sealed semiconductor device according to the second aspect of the invention, the lead frame according to the first aspect is used. It becomes possible to avoid electrical defects caused by contact between the wire and the wire, and it becomes possible to provide a highly reliable resin-sealed semiconductor device with good bonding properties.
第1図は本発明の第1の実施例に係るリードフレーム及
びこれを用いた樹脂封止型半導体装置の要部斜視図、第
2図(a)、(b)、(c)は従来の樹脂封止型半導体
装置の一構成例を示す図、第3図は従来の樹脂封止型半
導体装置の問題点を示す図、第4図は第1図の平面図、
第5図は第4図のC−C線断面図、第6図は第4図D−
D線断面図、第7図(a)、(b)は第1図における樹
脂部材60の側面図、第8図は本発明の第2の実雄側に
係るリードフレーム及びこれを用いた樹脂封止型半導体
装置の要部斜視図、第9図は第8図の平面図、及び第1
0図は第9図のE−E線断面図である。
40.40a・・・・・・リードフレーム、41・・・
・・・素子搭載部、42・・・・・・リード、42a・
・・・・・内方端部、43−1.43−2・・・・・・
タイバー、44・・・・・・枠部、45・・・・・・吊
りリード、45a・・・・・・段差部、50・・・・・
・半導体素子、53・・・・・・ワイヤ、60・・・・
・・樹脂部材。FIG. 1 is a perspective view of main parts of a lead frame and a resin-sealed semiconductor device using the lead frame according to the first embodiment of the present invention, and FIGS. 2(a), (b), and (c) are conventional A diagram showing an example of the configuration of a resin-sealed semiconductor device, FIG. 3 is a diagram showing problems with a conventional resin-sealed semiconductor device, and FIG. 4 is a plan view of FIG. 1.
Figure 5 is a sectional view taken along the line C-C in Figure 4, and Figure 6 is a cross-sectional view taken along line D-- in Figure 4.
7(a) and 7(b) are side views of the resin member 60 in FIG. 1, and FIG. 8 is a lead frame according to the second actual male side of the present invention and a resin seal using the same. FIG. 9 is a perspective view of the main parts of a stop-type semiconductor device, and FIG. 9 is a plan view of FIG.
FIG. 0 is a sectional view taken along line E-E in FIG. 9. 40.40a...Lead frame, 41...
...Element mounting part, 42...Lead, 42a.
...Inner end, 43-1.43-2...
Tie bar, 44...Frame part, 45...Hanging lead, 45a...Step part, 50...
・Semiconductor element, 53... Wire, 60...
...Resin parts.
Claims (1)
載部に近接した内方端部を有する複数本のリードと、枠
部に接続され前記リードを相互に連結するタイバーと、
前記素子搭載部を前記枠部に連結支持する吊りリードと
を備えたリードフレームにおいて、 前記素子搭載部が前記内方端部よりも低位置に位置する
ような段差部を前記吊りリードの樹脂封止領域外に形成
したことを特徴とするリードフレーム。 2、請求項1記載のリードフレームと、前記素子搭載部
に固着され前記リードの内方端部にワイヤで接続された
半導体素子と、前記半導体素子、素子搭載部、ワイヤの
全部及び前記リード、吊りリードの一部を樹脂封止する
樹脂部材とを備えたことを特徴とする樹脂封止型半導体
装置。[Scope of Claims] 1. An element mounting part on which a semiconductor element is mounted, a plurality of leads having inner ends close to the element mounting part, and a frame part connected to the leads to mutually connect them. tie bar and
In a lead frame including a suspension lead that connects and supports the element mounting portion to the frame portion, a step portion in which the element mounting portion is located at a lower position than the inner end portion is sealed with a resin of the suspension lead. A lead frame characterized in that it is formed outside the stop area. 2. A lead frame according to claim 1, a semiconductor element fixed to the element mounting part and connected to an inner end of the lead with a wire, the semiconductor element, the element mounting part, all of the wires, and the lead; 1. A resin-sealed semiconductor device comprising: a resin member that seals a portion of a suspension lead with resin.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63294115A JPH02139954A (en) | 1988-11-21 | 1988-11-21 | Lead frame and resin-sealed semiconductor device using same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63294115A JPH02139954A (en) | 1988-11-21 | 1988-11-21 | Lead frame and resin-sealed semiconductor device using same |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02139954A true JPH02139954A (en) | 1990-05-29 |
Family
ID=17803484
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63294115A Pending JPH02139954A (en) | 1988-11-21 | 1988-11-21 | Lead frame and resin-sealed semiconductor device using same |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02139954A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011243626A (en) * | 2010-05-14 | 2011-12-01 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor module and method of manufacturing the same |
| IT202000005767A1 (en) * | 2020-03-18 | 2021-09-18 | St Microelectronics Srl | MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR PRODUCTS |
-
1988
- 1988-11-21 JP JP63294115A patent/JPH02139954A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011243626A (en) * | 2010-05-14 | 2011-12-01 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor module and method of manufacturing the same |
| IT202000005767A1 (en) * | 2020-03-18 | 2021-09-18 | St Microelectronics Srl | MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR PRODUCTS |
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