JPH02142000A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
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- JPH02142000A JPH02142000A JP63295172A JP29517288A JPH02142000A JP H02142000 A JPH02142000 A JP H02142000A JP 63295172 A JP63295172 A JP 63295172A JP 29517288 A JP29517288 A JP 29517288A JP H02142000 A JPH02142000 A JP H02142000A
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- Read Only Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Non-Volatile Memory (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
(イレーザブル及プログラマブル・リード・オンリー
・メモリ)に利用して有効な技術に関するものである。
って書き込みデータを入力し、制御信号により書き込み
モードとしてメモリセルへの書き込みを行う。この書き
込み動作が終了すると、制御信号によりベリファイ (
読み出し)モードとして上記書き込んだアドレスのメモ
リセルの読み出しを行い書き込み装置(EPROMライ
ター)において上記書き込みデータと読み出しデータと
の比較を行うという書き込みの確認を行う。このような
EPROMに関しては、例えば■日立製作所昭和63年
8月発行「日立ICメモリデータブッり1頁743〜頁
839がある。
モードの指定がなされる。それ故、EPROMがマイク
ロコンピュータシステムに組み込まれた状態(オンボー
ド状態)で、マイクロプロセッサ等から書き込みを行う
とすると、比較的長い時間を要する書き込み時間の間、
マイクロプロセッサ等自身が上記制御信号を生成し続け
る必要がある。したがって、この間、マイクロプロセッ
サ等の動作が実質的に行われなくなってしまうため、シ
ステムのスルーブツトが極端に悪化してしまうという問
題がある。
定を自動化した半導体記憶装置を提供することにある。
、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
が変化させられる不揮発性記憶素子がマトリックス配置
されてなるメモリアレイに対する書き込み時間が内部回
路で形成された時間信号に従い設定されるとともに、そ
の書き込み終了の後に動作モードを自動的にベリファイ
モードに切り換えるようにする。
部回路で管理し、その書き込み動作終了後に自動的にベ
リファイモードに切り換えられるから、書き込み確認を
伴う書き込み動作制御が簡単になる。
例のブロック図が示されている。同図の各回路ブロック
は、公知の半導体集積回路の製造技術よって、単結晶シ
リコンのような1個の半導体基板上において形成される
。
様にワード線とデータ線との各交差点にコントロールゲ
ートとフローティングゲートとを有するスタックドゲー
ト構造の不揮発性記憶素子が配置されてなり、上記記憶
素子のコントロールゲートはワード線に、ドレインはデ
ータ線に、ソースには回路の接地電位点pこそれぞれ結
合されている。同図においては、上記のメモリアレイM
ARYとそれに関連する入出力回路は1ビツト分のみが
示されている。それ故、EPROM全体として8ビツト
のように複数ビットの単位で読み出しを行う場合には、
同図のようなメモリアレイMARYと入出力回路が8組
のように複数組設けられるものである。
ドレス信号を受けて、内部アドレス信号を形成する。こ
の実施例では、特に制限されないが、後述するようなオ
ートベリファイモード等のために上記内部アドレス信号
は一旦アドレスラッチ回路ADLに取り込まれる。
ス信号は、ロウデコーダ回路LDCに供給され、ここで
その解読が行われる。ロウデコーダ回路LDCは、上記
アドレス信号を解読して、メモリアレイMARYの1本
のワード線を選択する。上記内部アドレス信号のうち、
Y系(カラム系)のアドレス信号は、カラムデコーダ回
路CDCに供給され、ここでその解読が行われる。カラ
ムデコーダ回路CDCは、上記アドレス信号を解読して
データ線選択信号を形成する。カラム選択ゲート回路C
8Gは、上記データ線選択信号によりスイッチ制御され
るスイフチMO5FETから構成され、選択された1本
のデータ線を共通データ線に接続させる。上記記憶素子
の書き込み動作においては、そのドレインとコントロー
ルゲートに比較的高い電圧を供給することが必要である
。
み動作のために5V系の比較的低いレベルのデコード出
力を受けて、約12V系の高いレベルに変換するレベル
変換機能を持つ。
ページプログラム機能が設けられる場合、上記カラム選
択ゲート回路C8Gは、複数のデータ線を複数の共通デ
ータ線に接続させる構成を採る。そして、上記複数の共
通データ線にはデータラッチ回路が設けられ、それぞれ
にシリアルに書き込みデータを取り込んだ後に上記カラ
ム選択ゲート回路C3Gを通して複数のデータ線にパラ
レルに書き込み信号が伝えられるようにする。このよう
なアドレス構成では、上記カラムデコーダ回路CDCは
、第1と第20カラムデコーダ回路に分割され、第1の
カラムデコーダ回路により上記カラム選択ゲート回路C
8Gの選択信号を形成し、書き込み動作では第2のカラ
ムデコーダ回路により上記複数のデータラッチ回路の選
択信号を形成し、読み出し動作では複数からなる共通デ
ータ線のうちの1つを選択する読み出しゲート回路の選
択信号を形成する。
れる。このデータラッチ回路DLは、上記のようなペー
ジプログラムモードのためではな(、オートへりファイ
モードのためにだけ用いられる場合、書き込みデータの
記憶用に設けられる。
場合には、1つのデータラッチ回路から構成され、上記
のようなページプログラムモードを付加する場合には、
複数個のデータラッチ回路から構成される。
される書き込みデータや、後述するオートベリファイモ
ード時のコマンドデータの取り込みのためにも用いられ
る。それ故、データ入カバソファDIBの出力信号は、
上記データラッチ回路DLの他、オートベリファイ制御
回路AVCNTにも供給される。
ータDiと、オートベリファイモードでの読み出し信号
であるセンスアンプSAの出力信号Doとはデータ比較
回路EORに供給される。
うな一致/不一致回路から構成され、上記書き込みデー
タと読み出しデータとを比較して、−敗/不一致信号を
形成する。すなわち、データ比較回路EORは、オート
ベリファイモードのとき、上記データの比較をしてその
一致/不一致の判定を行うものである。
、書き込み時間の設定や書き込み動作からベリファイモ
ードへの移行等のようなシーケンシャルな動作タイミン
グ信号を形成する。
ROで形成された基本パルスを分周して、設定された書
き込み条件に応じた書き込み時間にされた単位の書き込
みパルスの生成、内部回路をベリファイモードに切り換
えるベリファイパルス等を形成する。出力カウンタ回路
CCTRは、上記書き込みパルスを計数して、実質的な
書き込み時間の設定に用いられる。
プイネーブル信号CE及び出力イネーブル信号OEとを
受けて、内部の動作に必要な各種の制御信号やタイミン
グ信号を形成する。
高電圧検出機能が設けられ、端子CEからは高電圧を含
む3値の入力信号が供給される。
の設定に利用される。
ベリファイモードを説明するためのタイミング図が示さ
れている。
ネーブル信号CEを高電圧とした状態で、出力イネーブ
ル信号OEをロウレベルにすることにより、制御回路C
0NTはオートベリファイモードであると認識する。こ
れにより、オートベリファイコマンド取り込み信号AC
Dがハイレヘルにアサートされ、入出力端子I10から
コマンドが入力され、次に説明するようなコマンドラッ
チ回路に取り込まれる。
図が示されている。
I10から供給される8ビー/ トからなるコマンドデ
ータDOないしD7に対応した8個のランチ回路FFO
ないしFF7から構成される。
して例示的に示され、同様な構成からなる他のラッチ回
路FF0−FF4等は点線によるブランクボックスで表
している。
用クロックドインバータ回路CNlと、情報保持(帰還
)用クロックドインバータ回路CN2及び上記クロック
ドインバータ回路CN2の入力と出力にその出力と一方
とがそれぞれ結合されたナンド(NAND)ゲート回路
G1とから構成され、その出力部にはインバータ回路N
1とN2が縦列形態に接続されて、上記信号AP、 A
Pを出力する。上記クロックドインバータ回路CN1と
CN2とは、上記オートベリファイモードセット時に発
生されるオートベリファイコマンド取り込み信号ACD
とACDにより相補的に動作状態にされる。すなわち、
信号ACDがハイレベル(論理“1”)とき、入力用ク
ロックドインバータ回路CNIが動作状態とになり、帰
還用クロックドインバータ回路CN2が出力ハイインピ
ーダンスの非動作状態になる。そして、上記取り込み信
号ACDがハイレベルからロウレベル(論理“0”)な
ると入力用クロックドインバータ回路CNIが出力ハイ
インピーダンスの非動作状態になり、その反転信号AC
Dがハイレベルになす帰還用クロックドインバータ回路
CN2が動作状態になってオートベリファイモードのと
き論理“0”にされるコマンドデータD7の保持動作を
行う。なお、ノアゲート回路G1には、電圧vppが書
き込み用の高電圧にされるときハイレベルにされる信号
VPが供給されているので、上記オートベリファイモー
ドの設定には、上記電圧■ppが高電圧であることが条
件とされる。したがって、上記高電圧vppが5V又は
0■にされる書き込み動作以外のときには、信号VPO
ロウレベルにより上記ラッチ回路FF7はリセット状態
にされる。
間の設定のために用いられる。すなわち、ラッチ回路F
F3とFF4により保持された上記2ビツトの信号D3
とD4が、ナントゲート回路とインバータ回路からなる
デコーダ回路に入力され、T100、TO25、TO5
0及びT2O0の4通りの単位の書き込みパルス時間の
設定が行われる。
み回数の設定のために用いられる。すなわち、ランチ回
路FFOないしFF2により保持された上記3ビツトの
信号DOないしD2が、ノアゲート回路からなるデコー
ダ回路に入力され、NOIないしN15等のような実質
的に5通りの最大書き込み回数の設定が行われる。
うち、1ビツトを用いて後述するように内部動作状態の
出力を許可する信号として用いられる。
いられる高電圧検出回路の一実施例の回路図が示されて
いる。
に結合され、この人力バッファを通して内部信号ceが
形成される。
め、次のような高電圧検出回路の入力端子に結合される
。すなわち、上記端子CEから供給される電圧信号は、
ダイオード形態のMO3FETQIOとQllを通して
レベルシフトされ、PチャンネルMO3FETQI 2
とNチャンネルMO3FETQI 3からなるCMOS
インバータ回路の動作電圧とされる。上記CMOSイン
バータ回路を構成するMO3FETQI 2とQ13の
ゲートには、特に制限されないが、定常的に電源電圧V
ccが供給される。上記NチャンネルMO3FETQ1
3のコンダクタンスは、比較的小さく設定される。それ
故、端子CBが電源電圧Vccのような比較的低いレベ
ルのとき、PチャンネルMO3FETQI 2がオフ状
態にされること等に応じて出力信号HCEは回路の接地
電位のようなロウレベルにされる。これに対して、上記
端子CEに電源電圧Vcc以上の所定の高電圧が供給さ
れた状態では、MO3FETQI O,Ql 1及び上
記MO3FETQI OとQllを通した動作電圧がそ
のしきい値電圧以上にされることによってPチャンネル
MO3FETQI 2がオン状態にされ、その合成コン
ダクタンスと、上記ゲートに供給される電源電圧により
オン状態にされるNチャンネルMO3FETQI 3の
コンダクタンス比に従って出力信号HCEがハイレベル
にされる。この信号HCEは、PチャンネルMO3FE
TQI 4゜Ql5とNチャンネルMO3FETQI
6とQl7からなるナントゲート回路の一方の入力であ
るMO3FETQI 4とQl6のゲートに供給される
。上記ナントゲート回路の他方の入力であるMO3FE
TQ15とQl7のゲートには、前記のように高電圧v
ppに書き込み用の高電圧が供給されていることを示す
制御信号VPが供給される。
能な状態のとき、上記端子CBに対応した高電圧検出回
路の出力信号が有効にされる。
子の他、同図に括弧で示したように特定のアドレス端子
Atに設けて、アドレス信号として3値入力を行い、各
種モードの設定に利用するものとしてもよい。
ドに加えて書き込み時間の短縮化のためにページプログ
ラムモードが設定されると、次のようにして書き込みデ
ータがシリアルに入力される。上記ページプログラムモ
ードの設定は、上記残り1ビツトのコマンドデータを用
いるか、上記端子CEとOEの組み合わせから設定され
る。
と、出力イネーブル信号OEのロウレベルをクロックと
して、アドレス端子からアドレス信号を供給するととも
に、入出力端子I10から書き込みデータDIないしD
4をシリアルに供給する。すなわち、上記信号OEのロ
ウレベルに同期してページプログラムデークラッチ制御
信号PDLCが生成され、これを基に上記アドレス信号
Ajに従ってデータランチ信号DLLないしDL4が発
生される。すなわち、上位ビットのアドレス信号At(
H)は、一定のアドレス信号とされ、例えば下位2ビツ
トのアドレス信号Aj(L)により指示されたアドレス
A1〜A4に対応してデータラッチ信号DLIないしD
L4が生成されることにより、データラッチ回路が指定
されて書き込みデータDiないしD4が各データラッチ
回路にシリアルに取り込まれる。
ージプログラムモードにおいて用いられるデータラッチ
回路DPIないしDF4と、書き込みアンプWBの一実
施例の回路図が示されている。
バッファDIBを構成するノア(N。
iCが供給される。それ故、制御信号DiCがロウレベ
ル(論理“0”)とき、上記ノアゲート回路G4からな
るデータ入力バッファDIBの動作が有効とされ、その
出力信号がインバータ回路N4を通して次のデータラン
チ回路DPIないしDF4の入力端子に共通に供給され
る。上記外部端子I10は、他方において、データ出カ
バソファDOBの出力端子に結合されている。
れ分割されたメモリブロックに対応して設けられる。1
つのメモリブロックに対応したデータラッチ回路DPI
は、入力用クロックドインバータ回路CN3と、情報保
持(帰還)用クロックドインバータ回路CN4及び上記
クロックドインバータ回路CN3の入力と出力にその出
力と一方とがそれぞれ結合されたナントゲート回路G2
とから構成され、その出力部にはノアゲート回路G3か
らなる出力回路が設けられる。上記クロックドインバー
タ回路CN3とCN4とは、ページプログラムモードの
ときに、上記アドレス信号Ajに従って時系列的に発生
されるデータランチ信号DLLにより相補的に動作状態
にされる。すなわち、データラッチ信号DLIがハイレ
ベルとき、入力用クロックドインバータ回路CN3が動
作状態とになり、帰還用クロックドインバータ回路CN
4が出力ハイインピーダンスの非動作状態になる。そし
て、データラッチ信号DLIがハイレベルからロウレベ
ルなると、入力用クロックドインバータ回路CN3が出
力ハイインピーダンスの非動作状態になり、帰還用クロ
ックドインバータ回路CN4が動作状態になって上記取
り込んだデータの保持動作を行う。他のメモリブロック
に対応したデータラッチ回路DF2ないしDF4は、上
記同様な回路により構成される。ただし、その制御信号
としては、データランチ信号DL2ないしDL4とされ
る。
ート回路02等の他方の入力には、データラッチリセッ
ト信号DLR3が供給される。すなわち、この信号DL
R3がロウレベルにされると、ナントゲート回路02等
の出力が保持情報に無関係にハイレベルになり、各ラッ
チ回路DPIないしDF4が全てリセットされる。
ノアゲート回路03等の他の入力には、ノーマルプログ
ラムモードのときに形成されるデータライト制御信号D
WIないしDW4が供給される。上記ノアゲート回路0
3等の更に他の入力には、ライトイネーブル信号WEが
供給される。
に設けられるノアゲート回路03等は、ライトイネーブ
ル信号WEがロウレベルにされる書き込みモードとき実
質的に動作状態にされる。
号DWIないしDW4が全てロウレベルにされるからラ
ッチ回路DPIないしDF4に保持されたデータが、書
き込みアンプWBを通して対応するデータ線に伝えられ
、4ビツト(E F ROM全全体しては4バイト)の
単位での一括書き込み(ページプログラム)が行われる
。また、ノーマルプログラムモードであるなら、上記信
号DL1ないしDL4が全てハイレベルにされるから各
ラッチ部を書き込みデータがスルーし、アドレス指定情
報に従ってロウレベルにされる1つのデータライト制御
信号DWiに対応したノアゲート回路のみがゲートを開
くので、書き込みアンプWAを通して対応するデータ線
に伝えられ、1ビツト(EPROM全ROM1バイト)
の単位でのノーマル書き込みが行われる。
により構成される。上記ノアゲート回路03等から出力
されるデータラッチ回路の出力信号は、人力インバータ
回路N3に供給される。このインバータ回路N3等の出
力信号は、そのゲートに定常的に電源電圧Vccが供給
されるデイプレッシッン型MO3FETQ1等を通して
高レベルの書き込み信号を伝えるスイッチ制御信号YW
1ないしYW4を形成する出力アンプの入力に伝えられ
る。出力アンプは、電源電圧Vccのような比較的低い
レベルの信号振幅を高電圧vppのような高レベルの信
号振幅に変換するレベル変換機能を持つ。これらのスイ
ッチ制御信号YWI等は、それに対応する共通データ線
に伝える書き込みMOSFETのスイッチ制御信号とさ
れる。
レベルなら、入力インバータ回路N3の出力信号がロウ
レベルになり、出力アンプを通して高電圧VPflのよ
うなハイレベルの出力信号を形成する。これこより、そ
れに対応したデータ線には高レベルの書き込み信号が供
給されることになる。これに対して、上記ラッチ回路D
PIからの出力信号がロウレベルなら、入力インバータ
回路N3の出力信号がハイレベルになり、デイプレッシ
ョン型MO3FETQ1等をオフ状態とする。
まで上昇して回路の接地電位のようなロウレベルの出力
信号を形成する。
ートプログラムモードにとなり、第1回目の書き込み動
作が行われる。
−レータROの動作が有効になって、クロックパルスC
LKを発生する。分周カウンタ回路PCTRは、上記ク
ロックパルスCLKを受けて、例えば4ビツトからなる
計数出力TPIないしTP4を形成して、制御回路C0
NTに伝える。
定された書き込み時間信号と上記計数出力TPIないし
TP4からオートベリファイライト信号AWEを発生さ
せる。この実施例では、クロックパルスCLKの8周期
分の時間が書き込み時間として設定されている例が示さ
れている。内部のライトイネーブル信号WEも上記信号
AWEに対応してロウレベルにされる。
同時に書き込まれるというオートプログラムN1が実行
される。
線の電位が、書き込みデータ線電位引き抜きパルスφD
l+により高速に引き抜かれて読み出し動作に備える。
ド信号AVRがロウレベルにアサートされる。
人力されて、上記ページプログラムモードの下位2ビツ
トのアドレス信号Ajに対応した2ビツトからなるオー
トベリファイアドレス信号AVAOとAVAIが形成さ
れる。上記オートベリファイリード信号AVRと上記ク
ロックパルスCLKからオートベリファイ比較データ取
り込みクロックAVERが形成される。そして、上記ア
ドレス信号AVAOとAVAIが図示しないデコーダ回
路によりデコードされて、上記クロックAVERに同期
したデータラッチ選択信号DRF 1ないしDRF4が
時系列的に発生される。これにより、データラッチ回路
に保持されているデータDIないしD4の選択が行われ
る。
ンスアンプの活性化パルスSACが形成され、上記アド
レスラッチ回路ADLに保持されているアドレス信号A
tにより指定されるいる4ビツトからなる読み出し信号
のうち、上記アドレス信号AVAOとAVAIのデコー
ド出力により1ビツトが指定されて、上記データラッチ
回路からの出力DIないしD4とともに、データ比較回
路EORに入力される。データ比較回路EORは、それ
が一致したなら、言い換えるならば、書き込みが確認さ
れたならオートベリファイバス信号A■PSをロウレベ
ルにする。第2A図では、不一致の例が示されている。
レベルにすると、その間内部状態SCが端子I10から
出力される。
ーケンスの内容等が出力される。これにより、後述する
ようなマイクロプロセッサMPUは、適当なタイミング
でEPROMの動作状態を読み出して監視することがで
きる。
レベルなら、第2B図のように、第2回目N2書き込み
動作が行われる。
オートベリファイライトイネーブル信号AWE (WE
)がロウレベルにされて、前記第2A図と同様にコマン
ドデータD3とD4により設定された時間だけ書き込み
動作が行われ、その書き込み動作の終了ととともに高電
位にされたデータ線の電位が、書き込みデータ線電位引
き抜きパルスφ、Dにより高速に引き抜かれて読み出し
動作に備える。そして、上記電位引き抜きの後に再びオ
ートベリファイリード信号AVRがロウレベルにアサー
トされ、前記同様なオートベリファイモードが実行され
る。
PSがロウレベルにアサートされると、メモリセルへの
書き込みが確認されたので、引き続き第2C図に示すよ
うなオーバープログラムモードに移行する。
は、上記書き込みに要したのと同じ時間だけ書き込むよ
うにする。そのため、上記のように2回で書き込みが確
認された場合には、2回分のオーバープログラム(追い
込み書き込み)NlとN2が実行される。このオーバー
プログラム動作の終了により、オートプログラムエンド
信号APRが出力されて、単位のオートベリファイモー
ドが終了する。上記のようなオートベリファイモードの
終了のタイミングで出力イネーブル信号OEをロウレベ
ルにして内部状態の読み出しを行うと、上記終了タイミ
ングで出力されるステータス情報がSCからSCoのよ
うに変化するものとなる。
た最大書き込み回数を限度して上記オートベリファイバ
ス信号AVPSが出力されるまで、上記同様な単位の書
き込み動作とベリヘアイ動作とが繰り返して行われる。
の単位の書き込みに対応した追い込み書き込みが行われ
るものとなる。カウンタ回路CCTRにより計数された
書き込み回数が上記設定された書き込み回数を超えると
、制御回路C0NTは書き込み不能とし判断してその旨
が含まれるメモリエンド信号MEをデータ出力バッファ
DOBを通して出力させる。この信号MEは、上記のよ
うに正常に書き込みが行われて終了した場合もその旨を
含むように出力されるものである。
回路C0NTからデータ出力バッファDOBを通して出
力されることになる。それ故、データ出力バッファDO
Bの入力部には、マルチプレクサ回路が設けれら、その
動作モードに応じてセンスアンプSAからの読み出し信
号、上記内部状態の出力、オートベリファイ終了信号等
を選択的に出力する。
るマイクロコンピュータシステムの一実施例の概略ブロ
ック図が示されている。
介してRAM (ランダム・アクセス・メモリ) 、R
OM (リード・オンリー・メモリ)及びEPROMが
接続される。上記バスBUSには、マイクロプロセッサ
MPUにより生成されたアドレス信号を伝えるアドレス
バスと、各装置間でデータの授受のために用いられるデ
ータバス及び各種制御信号を伝えるコントロールバスか
らなる。
ァイ機能を備えており、未書き込みの記憶エリアを持つ
ものである。
なる場合、マイクロプロセッサMPU。
板等の実装基板に搭載される。それ故、EPROMが実
装される実装基板には、書き込み用の高電圧vppを発
生させる電源回路が搭載されるものである。この電源回
路としては、チャージポンプ回路等を利用して、5vの
ような比較的低い電源電圧から約12Vのような高い電
圧を発生させる回路を用いるものとしてもよい。また、
上記EPROMの実装基板には、特に制限されないが、
書き込み制御回路が設けられる。この書き込み制御回路
は、マイクロプロセッサMPUからの書き込み動作が指
示されると、前記のようなオートベリファイ設定のため
の制御信号CEとOEを発生させる。このとき、マイク
ロプロセッサMPUがEPROMの連続したアドレスへ
の書き込みを行うときには、書き込み短縮化のためにペ
ージプログラムモードが指示される。それ故、上記書き
込み制御回路は、それに応じたページプログラムモード
の設定も行う。
レス信号のうち、上位アドレス信号Aiは前記のように
ラッチ回路に保持するとともに、下位のアドレス信号に
応じて4バイトのデータがシリアルに入力される。この
ようなデータの入力は、マイクロプロセッサMPUから
みれば、RAMに対する書き込みと同様な動作に行われ
る。上記のようなデータの入力の後に書き込み制御回路
が上記チップイネーブル信号CEをロウレベルに維持す
るので、EPROMでは前記のようなオートベリファイ
モードが実行される。
ROMをアクセスして他のデータ処理のための動作を行
うことができる。例えば、前記のようなEPROM内部
においてオートプログラムエンド信号APRが形成され
、単位のオートベリファイモードが終了すると、マイク
ロプロセッサMPUに割り込み等をかけてEPROMの
アクセスを促して書き込み終了又は書き込み不能を知ら
せる。これにより、システムのスループットの大幅な向
上が可能になる。また、EPROMの実装基板にRAM
等からなるバッファメモリを設け、それにマイクロプロ
セッサMPUから一連のデータを書き込んでおいて、そ
れをEPROMに連続して書き込むようにしてもよい。
るとき、マイクロプロセッサMPUは、出力イネーブル
信号OEをロウレベルにすることによりEPROMの内
部動作状態を何時でも読み出して知ることができるもの
である。
EPROMでは、上記のようにマイクロプロセッサMP
Uからの書き込みが簡単に行える。
ターにより書き込みが行われる従来のEPROMに比べ
て、その用途の拡大を図るとこができるものとなる0例
えば、EPROMの特徴であるデータの不揮発性を生か
して、マイクロプロセッサMPUが処理した不揮発化し
たいデータの保持が簡単になる。
示されている。この実施例においては、オートベリファ
イモードの設定がチップイネ−フル信号CEと出力イネ
ーブル信号OEのタイミングで行われる。すなわち、第
1図に示されている制御回路C0NTは、第7図に示さ
れているように、出力イネーブル信号OEがロウレベル
にされている期間に、チップイネーブル信号CEがハイ
レベルからロウレベルに変化され、その後再びハイレベ
ルに変化されることによって、オートベリファイモード
であると認識する。この認識をすると、制御回路C0N
Tは、例えば第3図に示されているラッチ回路FF7に
対してオートベリファイモードを示すデータをセントし
て、オートベリファイモードに入るようにする。また、
この実施例においては、オートベリファイモードに設定
されたことが外部から判別できるようにするために、デ
ータ入出力端子I10にデータDoutを出力するよう
にされている。このデータDoutは、チップイネーブ
ル信号CEがハイレベルに保持され、出力イネーブル信
号OEがハイレベルからロウレベルにされることによっ
て、出カバソファDOBから出力されるメモリセルのデ
ータ、すなわち、ベリファイモードによって読み出され
るデータDoutに関連したデータである。すなわち、
このベリファイモードによって読み出されたデータDo
uLが、オートベリファイモードに設定されると、出力
バッファDOBによって位相反転され、出カバソファD
OBから再びデータDoutとして出力される。
コマンドをEPROMの外部から与える必要が無(なり
、誤ってモード設定をしてしまうことを防ぐことが可能
となる。
る。すなわち、 (1)電気的な書き込み情報に従ってしきい値電圧が変
化させられる不揮発性記憶素子がマトリックス配置され
てなるメモリアレイに対する書き込み時間が内部回路で
形成された時間信号に従い設定されるとともに、その書
き込み終了の後に動作モードを自動的にベリファイモー
ドに切り換えるようにすることにより、書き込み時間を
メモリ自身が内部回路で管理し、その書き込み動作終了
後に自動的にベリファイモードに切り換えられるから、
書き込み確認を伴う書き込み動作制御が簡単になるとい
う効果が得られる。
込まれた状態でマイクロプロセッサ等からの書き込みが
可能になるという効果が得られる。
較を行い一致/不−敗信号を出力する構成を採ることに
よって、いわゆる高速アルゴリズムによる書き込みが可
能になり、過剰な書き込みによる素子特性の劣化等を防
止することができるという効果が得られる。
リファイモードでのデータ比較を省略できるから、完全
に書き込みが終了するまでマイクロプロセッサを他のデ
ータ処理に振り向けることができるからシステムのスル
ープットの向上を図ることができるという効果が得られ
る。
体的に説明したが、本願発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、EPROMと
しては、ベリファイモードのとき読み出し信号を外部に
出力する構成であってもよい。この場合には、外部のマ
イクロプロセッサ又は書き込み装置により書き込みデー
タとの一致/不一致の判定が行われるものとなる。
書き込み時間の設定が内部で行われるからマイクロプロ
セッサ等による書き込みが簡単になるものである。
イネーブル信号CEの高電圧を利用するもの他、出力イ
ネーブル信号OBやアドレス端子の高電圧を利用するも
のや、チップイネーブル信号CEと出力イネーブル信号
OEのタイミング、例えばOEのロウレベルへの変化タ
イミングで信号CEのハイレベル又はロウレベルを判定
する等のように信号のタイミングを利用するもの、ある
いは単純に制御端子を追加するもの等種々の実施例形態
を採ることができる。上記のように3値入力機能や信号
のタイミングを利用する場合には、動作モードの多様化
に伴う制御端子数の増加を防止することができる。ペー
ジプログラムモードはより多くのデータの一括書き込み
を行うものとしてもよいし逆に省略されてもよい。
冗長ワード線又はデータ線を設けて不良があったワード
線又はデータ線の救済を行うようにするものであっても
よい。
他、電気的に消去も行われる各種EEPROMに対して
も同様に適用することができるものである。これらの半
導体記憶装置は、1チツプのマイクロコンピュータ等の
ような半導体集積回路装置に内蔵されるものであっても
よい。
て得られる効果を簡単に説明すれば、下・記の通りであ
る。すなわち、電気的な書き込み情報に従ってしきい値
電圧が変化させられる不揮発性記憶素子がマトリックス
配置されてなるメモリアレイに対する書き込み時間が内
部回路で形成された時間信号に従い設定されるとともに
、その書き込み終了の後に動作モードを自動的にベリフ
ァイモードに切り換えるようにすることにより、書き込
み時間をメモリ自身が内部回路で管理し、その書き込み
動作終了後に自動的にベリファイモードに切り換えられ
るから、書き込み確認を伴う書き込み動作制御が簡単に
なる。
を示すブロック図、 第2A図は、そのオートベリファイモードの設定から第
1回目の書き込みとベリファイモードまでを説明するた
めのタイミング図、 第2B図は、第2回目の書き込みとベリファイモードを
説明するためのタイミング図、第2C図は、追加書き込
み動作と終了動作を説明するためのタイミング図、 第3図は、そのコマンドデークラッチ回路の一実施例を
示す回路図、 第4図は、この発明に係るEPROMが用いられるマイ
クロコンピュータシステムの一実施例の概略ブロック図
、 第5図は、ページプログラムに用いられるデータラッチ
回路の一実施例を示す回路図、第6図は、高電圧検出回
路の一実施例を示す回路図、 第7図は、この発明の他の一実施例を示すタイミング図
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、電気的な書き込み情報に従ってしきい値電圧が変化
させられる不揮発性記憶素子がマトリックス配置されて
なるメモリアレイを含み、所定の制御信号の入力により
、内部回路で書き込み時間が設定されるとともにその書
き込みの後に自動的に読み出しモードに切り換えられる
というオートベリファイ機能を備えてなることを特徴と
する半導体記憶装置。 2、上記オートベリファイモードでの読み出し動作は、
内部に設けられたラッチ回路に記憶された書き込みデー
タとその読み出しモードにより読み出されたデータとを
内部比較回路で比較して、その比較結果を出力するもの
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
導体記憶装置。 3、上記不揮発性記憶素子は、EPROMを構成するも
のであることを特徴とする特許請求の範囲第1又は第2
項記載の半導体記憶装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29517288A JP2648840B2 (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 半導体記憶装置 |
| KR1019890016269A KR0166061B1 (ko) | 1988-11-22 | 1989-11-10 | 반도체 기억장치 |
| US08/282,313 US5434819A (en) | 1988-11-22 | 1994-07-29 | Semiconductor memory device having an automatically activated verify function capability |
| US08/455,152 US5544098A (en) | 1988-11-22 | 1995-05-31 | Semiconductor memory device having an automatically activated verify function capability |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29517288A JP2648840B2 (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02142000A true JPH02142000A (ja) | 1990-05-31 |
| JP2648840B2 JP2648840B2 (ja) | 1997-09-03 |
Family
ID=17817164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29517288A Expired - Lifetime JP2648840B2 (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 半導体記憶装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5434819A (ja) |
| JP (1) | JP2648840B2 (ja) |
| KR (1) | KR0166061B1 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0676586A (ja) * | 1991-12-19 | 1994-03-18 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置及びこれを用いた記憶システム |
| EP0547640A3 (en) * | 1991-12-19 | 1997-08-27 | Toshiba Kk | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
| EP0600151A3 (en) * | 1992-12-03 | 1998-11-11 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US5920508A (en) * | 1997-02-26 | 1999-07-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device |
| US6781895B1 (en) | 1991-12-19 | 2004-08-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
| JP2011141790A (ja) * | 2010-01-08 | 2011-07-21 | Seiko Epson Corp | 誤り検出器、誤り検出器を有する半導体装置、誤り検出器を有する半導体装置を用いた情報処理装置及び誤り検出方法 |
| JP2016115385A (ja) * | 2014-12-10 | 2016-06-23 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、記憶装置及び電子機器 |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2648840B2 (ja) * | 1988-11-22 | 1997-09-03 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
| US5844842A (en) * | 1989-02-06 | 1998-12-01 | Hitachi, Ltd. | Nonvolatile semiconductor memory device |
| US5195100A (en) * | 1990-03-02 | 1993-03-16 | Micro Technology, Inc. | Non-volatile memory storage of write operation identifier in data sotrage device |
| US6287484B1 (en) | 1992-11-12 | 2001-09-11 | Robert Hausslein | Iontophoretic material |
| JPH07210445A (ja) * | 1994-01-20 | 1995-08-11 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置およびコンピュータ |
| JP2790061B2 (ja) * | 1994-10-28 | 1998-08-27 | 日本電気株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
| JPH0955098A (ja) * | 1995-08-15 | 1997-02-25 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
| KR100209364B1 (ko) * | 1995-10-27 | 1999-07-15 | 김영환 | 메모리장치 |
| US5640361A (en) * | 1996-05-01 | 1997-06-17 | Hewlett-Packard Company | Memory architecture |
| JP3846748B2 (ja) * | 1996-07-17 | 2006-11-15 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
| US5835704A (en) * | 1996-11-06 | 1998-11-10 | Intel Corporation | Method of testing system memory |
| US5949261A (en) | 1996-12-17 | 1999-09-07 | Cypress Semiconductor Corp. | Method and circuit for reducing power and/or current consumption |
| US5936973A (en) * | 1996-12-23 | 1999-08-10 | Cypress Semiconductor Corp. | Test mode latching scheme |
| US5954818A (en) * | 1997-02-03 | 1999-09-21 | Intel Corporation | Method of programming, erasing, and reading block lock-bits and a master lock-bit in a flash memory device |
| US6035401A (en) * | 1997-02-03 | 2000-03-07 | Intel Corporation | Block locking apparatus for flash memory |
| JP2001006387A (ja) * | 1999-06-18 | 2001-01-12 | Mitsubishi Electric Corp | テスト回路を備える半導体装置および半導体装置の試験装置 |
| US6834323B2 (en) | 2000-12-26 | 2004-12-21 | Intel Corporation | Method and apparatus including special programming mode circuitry which disables internal program verification operations by a memory |
| US6732306B2 (en) * | 2000-12-26 | 2004-05-04 | Intel Corporation | Special programming mode with hashing |
| US7007131B2 (en) * | 2000-12-27 | 2006-02-28 | Intel Corporation | Method and apparatus including special programming mode circuitry which disables internal program verification operations by a memory |
| DE10327284B4 (de) * | 2003-06-17 | 2005-11-03 | Infineon Technologies Ag | Prüflesevorrichtung für Speicher |
| US8997255B2 (en) * | 2006-07-31 | 2015-03-31 | Inside Secure | Verifying data integrity in a data storage device |
| US8352752B2 (en) * | 2006-09-01 | 2013-01-08 | Inside Secure | Detecting radiation-based attacks |
| US20080061843A1 (en) * | 2006-09-11 | 2008-03-13 | Asier Goikoetxea Yanci | Detecting voltage glitches |
| JP5137550B2 (ja) * | 2007-12-12 | 2013-02-06 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置及びその制御方法 |
| US11915125B2 (en) | 2019-10-31 | 2024-02-27 | SK Hynix Inc. | Arithmetic devices for neural network |
| US11386947B2 (en) | 2019-10-31 | 2022-07-12 | SK Hynix Inc. | Arithmetic devices conducting auto-load operation for writing the activation functions |
| US11676651B2 (en) | 2019-10-31 | 2023-06-13 | SK Hynix Inc. | Arithmetic devices conducting auto-load operation |
| JP2022128812A (ja) * | 2021-02-24 | 2022-09-05 | キオクシア株式会社 | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2828855C2 (de) * | 1978-06-30 | 1982-11-18 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Wortweise elektrisch umprogrammierbarer, nichtflüchtiger Speicher sowie Verfahren zum Löschen bzw. Einschreiben eines bzw. in einen solchen Speicher(s) |
| JPS58169395A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-05 | Fujitsu Ltd | 書き替え可能なrom管理方式 |
| US4460982A (en) * | 1982-05-20 | 1984-07-17 | Intel Corporation | Intelligent electrically programmable and electrically erasable ROM |
| JPS6151695A (ja) * | 1984-08-22 | 1986-03-14 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
| JPS6180597A (ja) * | 1984-09-26 | 1986-04-24 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
| JPS628397A (ja) * | 1985-07-03 | 1987-01-16 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
| JPH0713879B2 (ja) * | 1985-06-21 | 1995-02-15 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
| JPS6252798A (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-07 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
| JPS62164299A (ja) * | 1986-01-13 | 1987-07-20 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロコンピユ−タ装置 |
| JPS62188100A (ja) * | 1986-02-13 | 1987-08-17 | Mitsubishi Electric Corp | 紫外線消去型プログラマブルromの書込方法 |
| JPS62205599A (ja) * | 1986-03-05 | 1987-09-10 | Nec Corp | 書込可能読出専用記憶回路 |
| JPS62236199A (ja) * | 1986-04-07 | 1987-10-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電気的消去型半導体不揮発性メモリ |
| JP2510521B2 (ja) * | 1986-06-18 | 1996-06-26 | 株式会社日立製作所 | Eeprom装置 |
| US5053990A (en) * | 1988-02-17 | 1991-10-01 | Intel Corporation | Program/erase selection for flash memory |
| JP2648840B2 (ja) * | 1988-11-22 | 1997-09-03 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
-
1988
- 1988-11-22 JP JP29517288A patent/JP2648840B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-11-10 KR KR1019890016269A patent/KR0166061B1/ko not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-07-29 US US08/282,313 patent/US5434819A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-05-31 US US08/455,152 patent/US5544098A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6781895B1 (en) | 1991-12-19 | 2004-08-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
| EP0547640A3 (en) * | 1991-12-19 | 1997-08-27 | Toshiba Kk | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
| US7139201B2 (en) | 1991-12-19 | 2006-11-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
| US6967892B2 (en) | 1991-12-19 | 2005-11-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
| JPH0676586A (ja) * | 1991-12-19 | 1994-03-18 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置及びこれを用いた記憶システム |
| US6288945B1 (en) | 1992-12-03 | 2001-09-11 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| EP1158536A3 (en) * | 1992-12-03 | 2002-08-14 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device |
| US6563738B2 (en) | 1992-12-03 | 2003-05-13 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US6611464B2 (en) | 1992-12-03 | 2003-08-26 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US6618288B2 (en) | 1992-12-03 | 2003-09-09 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US6646920B2 (en) | 1992-12-03 | 2003-11-11 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US6414874B2 (en) | 1992-12-03 | 2002-07-02 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| EP0600151A3 (en) * | 1992-12-03 | 1998-11-11 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US5920508A (en) * | 1997-02-26 | 1999-07-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device |
| JP2011141790A (ja) * | 2010-01-08 | 2011-07-21 | Seiko Epson Corp | 誤り検出器、誤り検出器を有する半導体装置、誤り検出器を有する半導体装置を用いた情報処理装置及び誤り検出方法 |
| JP2016115385A (ja) * | 2014-12-10 | 2016-06-23 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、記憶装置及び電子機器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR900008527A (ko) | 1990-06-04 |
| KR0166061B1 (ko) | 1999-02-01 |
| US5544098A (en) | 1996-08-06 |
| US5434819A (en) | 1995-07-18 |
| JP2648840B2 (ja) | 1997-09-03 |
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| R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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