JPH02146876A - 光センサの駆動方法 - Google Patents
光センサの駆動方法Info
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- JPH02146876A JPH02146876A JP63299462A JP29946288A JPH02146876A JP H02146876 A JPH02146876 A JP H02146876A JP 63299462 A JP63299462 A JP 63299462A JP 29946288 A JP29946288 A JP 29946288A JP H02146876 A JPH02146876 A JP H02146876A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- optical sensor
- driving
- voltage
- auxiliary electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/701—Line sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は光センサの駆動方法に係り、特にファクシミリ
やイメージスキャナ等の画1象情報入力部として用いら
れる光センサの駆動方法に関する。
やイメージスキャナ等の画1象情報入力部として用いら
れる光センサの駆動方法に関する。
(従来の技術)
近年、ファクシミリやイメージスキャナ等の画痕入力部
として画■情報の等倍読暇りを行う、等倍型ラインセン
サが注目されている。この等倍型ラインセンサ、原稿に
直接接触させて結慮光学系を不要とするかもり、 (は
結憬光学長が短い光学系をもつよう構成することにより
小型で低コスト化が可能であるという特徴を有している
。
として画■情報の等倍読暇りを行う、等倍型ラインセン
サが注目されている。この等倍型ラインセンサ、原稿に
直接接触させて結慮光学系を不要とするかもり、 (は
結憬光学長が短い光学系をもつよう構成することにより
小型で低コスト化が可能であるという特徴を有している
。
一般に等倍型ラインセンサは、実際の原稿と同程度の読
暇り長を有し、かつ所望の解1度が得られるよう多数の
元センサを高密度に配列形成して構成される。またこれ
ら多数の光センサPS。
暇り長を有し、かつ所望の解1度が得られるよう多数の
元センサを高密度に配列形成して構成される。またこれ
ら多数の光センサPS。
PSm e””ePsMXNは、gts図に示すように
通常N@ずつM個のプロVりに分割され、駆動電圧v0
を供給するスイフチX−・・・・・・XMと、信号電流
を嘔り出すスイイv f Y s・・・・・・YNとの
選択にす よp順次選択駆動(マトリクス駆動)される。これによ
り駆動用回路素子数の低減化と、それによるライセンサ
のコストの低減化が図られている。
通常N@ずつM個のプロVりに分割され、駆動電圧v0
を供給するスイフチX−・・・・・・XMと、信号電流
を嘔り出すスイイv f Y s・・・・・・YNとの
選択にす よp順次選択駆動(マトリクス駆動)される。これによ
り駆動用回路素子数の低減化と、それによるライセンサ
のコストの低減化が図られている。
このようなライセンサにおいては、情報を高速に読み出
。すことが要求される。そのためにはライセンサと構成
する多数の元センサがそれぞ、れ■光に対する1号電流
の応答性(光応答速度)に浸れていること、また■供給
された駆動電圧に対する信号電流の応答性(′It圧応
答速度)が良好であることが必要である。
。すことが要求される。そのためにはライセンサと構成
する多数の元センサがそれぞ、れ■光に対する1号電流
の応答性(光応答速度)に浸れていること、また■供給
された駆動電圧に対する信号電流の応答性(′It圧応
答速度)が良好であることが必要である。
そこで従来、上紀快求のひとつで、hる光応答速度の向
上を図りだ光センサとして、非晶質半導体−の−面に、
入射光強度に応じた導電率変化を検出するための21固
の主電極を設けるとともに、他面に絶縁1−を介して補
助電極を設け、これら21固の主゛成極と補助電極とに
より非晶質半導体層に電界をかけるように構成した光セ
ンサが提案されている(例えば特開昭58−18978
号公報)。
上を図りだ光センサとして、非晶質半導体−の−面に、
入射光強度に応じた導電率変化を検出するための21固
の主電極を設けるとともに、他面に絶縁1−を介して補
助電極を設け、これら21固の主゛成極と補助電極とに
より非晶質半導体層に電界をかけるように構成した光セ
ンサが提案されている(例えば特開昭58−18978
号公報)。
またこのような補助電極を備えた光センサにおいて、よ
りいりそうの光応答速度の向上を図るために、補助電極
に印加するバイアス′べ圧をセンサの読出期間と非読出
期間とで変えるようにした駆動方法が提案されている(
例えば特開昭63−1055号公報、特開昭60−23
9072号公報)。
りいりそうの光応答速度の向上を図るために、補助電極
に印加するバイアス′べ圧をセンサの読出期間と非読出
期間とで変えるようにした駆動方法が提案されている(
例えば特開昭63−1055号公報、特開昭60−23
9072号公報)。
第12図はこのような従来の光センサと、それを駆動す
るための屯源との接貌関係を示したものである。図示の
如く、絶縁基板1上に補助電極2tよぴ絶@−3が順次
積1され、その上にアモルファスシリコン(a−81:
H)等の非晶質半導体@4が形成されている。さらにこ
の非晶質半導体1−4上にオーミックコンタクト用のド
ーピング半導体1−5を介して一対の主電極6および7
が形成されている。この一対の主電極6および7の間の
領域は入射光の受光窓8となる。
るための屯源との接貌関係を示したものである。図示の
如く、絶縁基板1上に補助電極2tよぴ絶@−3が順次
積1され、その上にアモルファスシリコン(a−81:
H)等の非晶質半導体@4が形成されている。さらにこ
の非晶質半導体1−4上にオーミックコンタクト用のド
ーピング半導体1−5を介して一対の主電極6および7
が形成されている。この一対の主電極6および7の間の
領域は入射光の受光窓8となる。
この光センサは5例えばその非晶質半導体@4がn型(
1賊を言む〕でドーピング半導体15がn+ 、(、を
言む)の場合、同図に示すように主電極6の電位を基準
として主電極7に高電位の駆動電圧v0が印加され、補
助電極2には読出期間に低電位のバイアス電圧−■、
非読出期間に/(イアスミ圧−V* (l Vt
I < I Vtl )がスイッチ2を介して印加され
る。この場合には、主たるキャリアが電子であり、主電
極6がソース、主wt極7がドレインとしζ働く。動作
の詳・畑な説明および現象の一解釈については特開昭6
3−1055号公報に記載されているが、WR単に説明
すると受光窓8を通して非晶質半導体14に元が入射さ
れる4非晶′lL手4体−4にはその光量に対応した濃
度の′1子とホールが発生する、このため非晶質半導体
14の導電率が増加する。従りて、このとき、主゛鑞極
6および7間に駆動電圧v0を印加すればこの導電率の
変化に対応した1号電流を取り出すことができる。
1賊を言む〕でドーピング半導体15がn+ 、(、を
言む)の場合、同図に示すように主電極6の電位を基準
として主電極7に高電位の駆動電圧v0が印加され、補
助電極2には読出期間に低電位のバイアス電圧−■、
非読出期間に/(イアスミ圧−V* (l Vt
I < I Vtl )がスイッチ2を介して印加され
る。この場合には、主たるキャリアが電子であり、主電
極6がソース、主wt極7がドレインとしζ働く。動作
の詳・畑な説明および現象の一解釈については特開昭6
3−1055号公報に記載されているが、WR単に説明
すると受光窓8を通して非晶質半導体14に元が入射さ
れる4非晶′lL手4体−4にはその光量に対応した濃
度の′1子とホールが発生する、このため非晶質半導体
14の導電率が増加する。従りて、このとき、主゛鑞極
6および7間に駆動電圧v0を印加すればこの導電率の
変化に対応した1号電流を取り出すことができる。
ところが、非晶質半導体I14の中には元が入射されな
くなりたとき昏ζも電子および/またはホールが残留し
、それによる残留電流が流れ続ける。
くなりたとき昏ζも電子および/またはホールが残留し
、それによる残留電流が流れ続ける。
この残留電流は光応答速度の低下を招く。
このような光応答速度の遅れは特開昭58−17978
号公報に記載されているように、補助電極2にバイアス
電圧−VIを印加し、非晶質半導体1i14内の局在準
位を不治性lこすることにより若干改善される。さらに
また前述のように非読出期間に補助電極2にバイアス電
圧−■、を印加し、非晶質半導体1i14内に存在する
゛成子とホールの濃度を劣化させ、それによりて入射光
により発生した電子とホールの再結合を促進させると、
残留1流が本来の暗′成流レベルに到達するまでの時間
が短縮され、光応答速度はさらに向上する。
号公報に記載されているように、補助電極2にバイアス
電圧−VIを印加し、非晶質半導体1i14内の局在準
位を不治性lこすることにより若干改善される。さらに
また前述のように非読出期間に補助電極2にバイアス電
圧−■、を印加し、非晶質半導体1i14内に存在する
゛成子とホールの濃度を劣化させ、それによりて入射光
により発生した電子とホールの再結合を促進させると、
残留1流が本来の暗′成流レベルに到達するまでの時間
が短縮され、光応答速度はさらに向上する。
(発明が解決しようとする課題)
上記のような従来の元センサの駆動方法番こよると、光
応答速度については向上する。しかしながら元センサに
要求される他のひとつの安住である゛4圧応答速度につ
いては改善されないばかりか、むしろ補助電極なしの構
造の元センサに比べて悪くなりているという問題があり
た。これはこのような光センサに心安な二次電流の注入
が速やかになされていないためであると考えられる。
応答速度については向上する。しかしながら元センサに
要求される他のひとつの安住である゛4圧応答速度につ
いては改善されないばかりか、むしろ補助電極なしの構
造の元センサに比べて悪くなりているという問題があり
た。これはこのような光センサに心安な二次電流の注入
が速やかになされていないためであると考えられる。
電圧応答速度が遅いということは特にマ) IJ fク
ス駆動のラインセンサにおいて大きな問題となる。すな
わちマトリックス駆動のラインセンサでは前述のように
各党センサにはパルス状の駆動電圧が印加される。
ス駆動のラインセンサにおいて大きな問題となる。すな
わちマトリックス駆動のラインセンサでは前述のように
各党センサにはパルス状の駆動電圧が印加される。
この場合、この駆動電圧パルスに対する各党センサの信
号電流応答が遅いと、光センサを順次選択してシリアル
に1号を読み出して行った際lラインの読出し時間が極
めて長くなり、高速に信号を読出すことが不可能になる
。例えばGII[ファクシミリに用いられる場合、光セ
ンサの素子数は2000素子前後で、1ラインの読出し
時間は5 ms乃至10m5であるため、光センサの電
圧応答時間は2.5μs乃至5μs未満が要求されるこ
とになる。
号電流応答が遅いと、光センサを順次選択してシリアル
に1号を読み出して行った際lラインの読出し時間が極
めて長くなり、高速に信号を読出すことが不可能になる
。例えばGII[ファクシミリに用いられる場合、光セ
ンサの素子数は2000素子前後で、1ラインの読出し
時間は5 ms乃至10m5であるため、光センサの電
圧応答時間は2.5μs乃至5μs未満が要求されるこ
とになる。
しかしながら、従来の光センサの駆動方法では各党セン
サの駆動電圧fこ対するゴ号゛鑞流の応答はmsオーダ
と極めて遅く実用にはほど遠いレベルでありた。
サの駆動電圧fこ対するゴ号゛鑞流の応答はmsオーダ
と極めて遅く実用にはほど遠いレベルでありた。
本発明はこのよりな点iこ鑑みてなされたもので光応答
速度だけでなく電圧応答速度も向上する光センサの駆動
方法を提供することを目的とするものである。
速度だけでなく電圧応答速度も向上する光センサの駆動
方法を提供することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明は上記のような課題を解決すべくなされたもので
5半導体1−上に受光領域となる領域を隔てて一対の主
電極が設けられるとともに、少くとも前記受光領域とな
る領域に絶に11ilを介して補助電極が積j脅されて
なる元センサの前記主電極間に一定期間1[7電圧パル
スを印加するとともに、前記補助電極にバイアス電圧を
印加して前記主電極間を流れる信号電流を検出する光セ
ンサの駆動方法において、前記一対の主電極のうち前記
半導体層の電流3担うキャリアを注入する側の成極に。
5半導体1−上に受光領域となる領域を隔てて一対の主
電極が設けられるとともに、少くとも前記受光領域とな
る領域に絶に11ilを介して補助電極が積j脅されて
なる元センサの前記主電極間に一定期間1[7電圧パル
スを印加するとともに、前記補助電極にバイアス電圧を
印加して前記主電極間を流れる信号電流を検出する光セ
ンサの駆動方法において、前記一対の主電極のうち前記
半導体層の電流3担うキャリアを注入する側の成極に。
前記駆動電圧パルスを印加するようにしたものである。
また本暢明鍍同iiA動方法において、光センサの読出
期間に、前記一対の主″峨極のうち前記半導体を−の電
流を担うキャリアを注入する側の主1極の電位を実質的
に一定(こ保持し、他方の主電極に前記駆動電圧パルス
を印加するとともに、前記補助電極に、前記バイアス電
圧よりもさらに前記キャリアの注入させる電圧を印加す
るようにしたものである。
期間に、前記一対の主″峨極のうち前記半導体を−の電
流を担うキャリアを注入する側の主1極の電位を実質的
に一定(こ保持し、他方の主電極に前記駆動電圧パルス
を印加するとともに、前記補助電極に、前記バイアス電
圧よりもさらに前記キャリアの注入させる電圧を印加す
るようにしたものである。
さらにまた本発明は上記各駆動方法においてさらに前記
元センサの非読出期間の少くとも一部の期間に、前記キ
ャリアを住人させる主電極と補助電極との間の電位差が
前記読出期間よりもさらにキャリアの注入を促進させる
電位差となるよう駆動電圧とバイアス電圧の少くとも一
方を制置するようにしたものである。
元センサの非読出期間の少くとも一部の期間に、前記キ
ャリアを住人させる主電極と補助電極との間の電位差が
前記読出期間よりもさらにキャリアの注入を促進させる
電位差となるよう駆動電圧とバイアス電圧の少くとも一
方を制置するようにしたものである。
(作用)
このような本発明によると、光応答速度の効果を生かし
ながら%駆動電圧に対する1号成流の応答速度を向上さ
せることができる。これを従来の駆動方法と対比して説
明する。
ながら%駆動電圧に対する1号成流の応答速度を向上さ
せることができる。これを従来の駆動方法と対比して説
明する。
本発明者等が鋭意研究し解明した結果によると。
従来の光センサの駆動方法では、ドレイン電極に正の駆
動電圧を印加した瞬間には、半導体+fi内部の電界分
布としてはドレイン電極近傍のみに高電界がかかりて空
乏化するだけであり、ソース電極近傍の電界分布は変化
しない。このため半導体層に流れるべき信号電流を担う
キャリアである電子のソース電極からの注入がなされな
い。つまり、半導体層の極く近くに配皇された補助電極
とソース4極との間の電圧が一定に保たれているため、
ドレイン′醒極の+4電位変化による電気力線が補助′
1極に吸収されてしまい、ソース電極近傍の半導体層の
内部ポテンシャルは急激には変化できず1時間の経過と
とも薔こ誘電緩和fこより徐々に(数mgかかりて)変
化する。そしてこの変化に年なってソース電極からの1
子の注入が増大して定常′1流に到達するよう°になる
。このため、−tlE圧応答が遅くなるのである。
動電圧を印加した瞬間には、半導体+fi内部の電界分
布としてはドレイン電極近傍のみに高電界がかかりて空
乏化するだけであり、ソース電極近傍の電界分布は変化
しない。このため半導体層に流れるべき信号電流を担う
キャリアである電子のソース電極からの注入がなされな
い。つまり、半導体層の極く近くに配皇された補助電極
とソース4極との間の電圧が一定に保たれているため、
ドレイン′醒極の+4電位変化による電気力線が補助′
1極に吸収されてしまい、ソース電極近傍の半導体層の
内部ポテンシャルは急激には変化できず1時間の経過と
とも薔こ誘電緩和fこより徐々に(数mgかかりて)変
化する。そしてこの変化に年なってソース電極からの1
子の注入が増大して定常′1流に到達するよう°になる
。このため、−tlE圧応答が遅くなるのである。
これに対して本発明によれば、ソース電極(又は補助′
鑞極)にキャリアの注入を促進させるような適圧を印加
して補助1頂(又はソース電極)に対して電位変化を祖
こさせるため、ソース4極近傍の半4体層の内部ポテン
シャルが駆動重圧を印加した瞬間に変化してソースから
のキャリアの注入が起こる。従りて、信号電流は駆動電
圧変化に速かに応答して流れることが可能になる。
鑞極)にキャリアの注入を促進させるような適圧を印加
して補助1頂(又はソース電極)に対して電位変化を祖
こさせるため、ソース4極近傍の半4体層の内部ポテン
シャルが駆動重圧を印加した瞬間に変化してソースから
のキャリアの注入が起こる。従りて、信号電流は駆動電
圧変化に速かに応答して流れることが可能になる。
(実施例)
以下本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を説明するための図で、同図
(b)はライン状に配列された光センサの1素子分の概
略的平面図、同図(a)はそのA−A′ 線番ごおける
断面諺よぴ駆動電源との接続関係を示す図である。
(b)はライン状に配列された光センサの1素子分の概
略的平面図、同図(a)はそのA−A′ 線番ごおける
断面諺よぴ駆動電源との接続関係を示す図である。
まず元センサの構成について説明すると、図示のように
ガラス基板11上に、透光性の補助電極12が形成され
、その上に絶縁113を介して半導体1i14が形成さ
れている。また更にこの半導体1114上に受光領域と
なる領域を隔てて一対の主電極16.17がそれぞれオ
ーミックコンタクト用のドーピング半導体1i115を
介して形成されている6元はガラス基板11MIから入
射され透光性の補助電極12を介して半導体層14に入
射される。このような構成によると従来のよりな遮光性
の主電極間の受光窓を通して光を入射する光センサに比
べて半導体層14に入射されるフォトンの数を2倍程度
に増加させることができ、感度(信号電流)と光応答を
向上させることができる。またこれに加えて絶縁#13
、透光性補助電極12の厚さを屈折率と入射光の波長に
対して最適値に選ぶことにより半導体16115に入射
される光量を最大限に増加させ、S/N、光応答の向上
を図ることができる。またさらに、ガラス基板11の光
入射側の面にも所謂無反射コートと呼ばれる反射防止嗅
を設けると一層効果的である。
ガラス基板11上に、透光性の補助電極12が形成され
、その上に絶縁113を介して半導体1i14が形成さ
れている。また更にこの半導体1114上に受光領域と
なる領域を隔てて一対の主電極16.17がそれぞれオ
ーミックコンタクト用のドーピング半導体1i115を
介して形成されている6元はガラス基板11MIから入
射され透光性の補助電極12を介して半導体層14に入
射される。このような構成によると従来のよりな遮光性
の主電極間の受光窓を通して光を入射する光センサに比
べて半導体層14に入射されるフォトンの数を2倍程度
に増加させることができ、感度(信号電流)と光応答を
向上させることができる。またこれに加えて絶縁#13
、透光性補助電極12の厚さを屈折率と入射光の波長に
対して最適値に選ぶことにより半導体16115に入射
される光量を最大限に増加させ、S/N、光応答の向上
を図ることができる。またさらに、ガラス基板11の光
入射側の面にも所謂無反射コートと呼ばれる反射防止嗅
を設けると一層効果的である。
なお、主電極16.17を透光性とし、この主電極側か
ら光を入射してもよい。また光がガラス基板11側から
入射される場合は主電極16 、17を、また光が主電
極16.17側から入射される場合は、補助電極をそれ
ぞれ光反射性とすると、さらに光の有効利用が可能であ
る。
ら光を入射してもよい。また光がガラス基板11側から
入射される場合は主電極16 、17を、また光が主電
極16.17側から入射される場合は、補助電極をそれ
ぞれ光反射性とすると、さらに光の有効利用が可能であ
る。
このような元センサは例えば以下のような方法↑1
?製作することができる。すなわちまずガラス基板11
上にスパtり法によりITO(酸化インジウム・すず)
を70OA堆積させた後、フォトIJソゲラフイーによ
りパターニングし、補助電極1.2を形成する。そして
その上に絶縁−13として厚さ3500Aの5iUx:
Hliを、またこの絶縁jiilB上に半導体114と
して厚さ1μmのノンドープ水素化アモルファスシリコ
ン(a−8i:H)11を、さらにこの半導体1−14
上にドーピング半導体@15としてリンドープミー81
層Cn+4 )をそれぞれグロー放電分解法により連続
堆積する。
上にスパtり法によりITO(酸化インジウム・すず)
を70OA堆積させた後、フォトIJソゲラフイーによ
りパターニングし、補助電極1.2を形成する。そして
その上に絶縁−13として厚さ3500Aの5iUx:
Hliを、またこの絶縁jiilB上に半導体114と
して厚さ1μmのノンドープ水素化アモルファスシリコ
ン(a−8i:H)11を、さらにこの半導体1−14
上にドーピング半導体@15としてリンドープミー81
層Cn+4 )をそれぞれグロー放電分解法により連続
堆積する。
次にその上に真空蒸着法によりTl(チタン〕を300
OA堆積させた後、フォトリソグラフィーにより第1の
パターニングを行い、このTiのパターンをマスクにし
て補助電極の取り出し部等の不要な半導体層をドライエ
シチング法により除去する。この後再度フォトリソグラ
フィーによりTtに第2のパターニングを行りて主電極
16および17を形成し、さらに主電極をマスク番こし
て不安なドーピング半導体@15を除去することにより
完成する。
OA堆積させた後、フォトリソグラフィーにより第1の
パターニングを行い、このTiのパターンをマスクにし
て補助電極の取り出し部等の不要な半導体層をドライエ
シチング法により除去する。この後再度フォトリソグラ
フィーによりTtに第2のパターニングを行りて主電極
16および17を形成し、さらに主電極をマスク番こし
て不安なドーピング半導体@15を除去することにより
完成する。
次にかかる元センサの駆動方法の一実絶倒番こついて第
1図乃至第3図を参照して説明する。なお本実施例では
、半導体ra14がn(n−を庁む)型あるいは真性(
1型)で、ドーピング半導体層15がn型の場合を示す
。従りて、ここでは半導体1i114の電流を担う主た
るキャリアは電子である。かかる光センサを駆動するた
め(ζ、第1図に示すように駆eIE源21とバイアス
電源22が準備される。
1図乃至第3図を参照して説明する。なお本実施例では
、半導体ra14がn(n−を庁む)型あるいは真性(
1型)で、ドーピング半導体層15がn型の場合を示す
。従りて、ここでは半導体1i114の電流を担う主た
るキャリアは電子である。かかる光センサを駆動するた
め(ζ、第1図に示すように駆eIE源21とバイアス
電源22が準備される。
駆動型[21としては、例えばvl。=12ポル) (
V)の直atSが用いられ、そのプラス極は接地される
とともiこ、゛電流検出器18と介して主電極17に接
続される。またそのマイナス極はスイWfSXを介して
選択的(こ主電極16に接続される。従りて主電極16
がソース電極、また主電極17がトンイン電極となる。
V)の直atSが用いられ、そのプラス極は接地される
とともiこ、゛電流検出器18と介して主電極17に接
続される。またそのマイナス極はスイWfSXを介して
選択的(こ主電極16に接続される。従りて主電極16
がソース電極、また主電極17がトンイン電極となる。
一方、バイアス成源としては同じ(V11=12 Vの
直流゛1tfIAが用いられ、そのプラスが接地、マイ
ナス極が補助電極12に接続される。
直流゛1tfIAが用いられ、そのプラスが接地、マイ
ナス極が補助電極12に接続される。
第2図は上記のような電源の接続をラインセンサ全体に
適用した場合の構成を模式的に示したものである。図示
のよう憂こ多数の光センサPSIPS、、 ・・−・−
・PSMxNがN個(例えば32個)ずつM個(例えば
54個〕のプロVりに分割され。
適用した場合の構成を模式的に示したものである。図示
のよう憂こ多数の光センサPSIPS、、 ・・−・−
・PSMxNがN個(例えば32個)ずつM個(例えば
54個〕のプロVりに分割され。
各ブロックの対応する1個の光センサ例えばPl。
PN+1・・・・・・の各ソース電極16が共通接続さ
れ、スイッチSXsを介して選択的に駆動電源21に接
続される。他の光センサについても同様に共通接続され
、それぞれスイv ? S X @〜SXNを介して駆
動電源21に接続される。また各プロVりを構成するN
個の元センサ、例えば21〜PNの各ドレイン電極17
が共通接続されてスイッチSY1を介して電流噴出器1
8に接続される。他のブロックを構成するN個の光セン
チについても同様に共通接続されスイyfsyt〜SY
Mを介して電流検出器18に接続される。
れ、スイッチSXsを介して選択的に駆動電源21に接
続される。他の光センサについても同様に共通接続され
、それぞれスイv ? S X @〜SXNを介して駆
動電源21に接続される。また各プロVりを構成するN
個の元センサ、例えば21〜PNの各ドレイン電極17
が共通接続されてスイッチSY1を介して電流噴出器1
8に接続される。他のブロックを構成するN個の光セン
チについても同様に共通接続されスイyfsyt〜SY
Mを介して電流検出器18に接続される。
各元センサはスイv lfS XとSYとを選択的に切
り換えることにより順番に選択駆動され、シリアルな信
号電流として′電流噴出器18に取り出される。すなわ
ち例えばまずスイvfsYtを電流検出器18側Iこ切
り換え、その切り換えられた期間内にスイッチSXをS
X、から順番に1個ずつ例えば各5μ8間駆動電源21
[11!lに切り換え、 駆動電圧−vIoe印加し
ていくと、光センサがPS。
り換えることにより順番に選択駆動され、シリアルな信
号電流として′電流噴出器18に取り出される。すなわ
ち例えばまずスイvfsYtを電流検出器18側Iこ切
り換え、その切り換えられた期間内にスイッチSXをS
X、から順番に1個ずつ例えば各5μ8間駆動電源21
[11!lに切り換え、 駆動電圧−vIoe印加し
ていくと、光センサがPS。
からPSNまで順番に選択され、その信号電流がシリア
ルに電流検出器18に喉り出される。
ルに電流検出器18に喉り出される。
光センサPSNが選択駆動された時点(N=32′とし
たとき5X32=160μS経過時点〕でスイッチSY
Iを接地側に切り換え、かわりてスイッチSY、を電流
噴出器18側に切り換える。そして同様lこスイッチS
X r〜SXNを順番lこ駆動電源21側に切り喚え
ると次のブロックの光センサPSN+1・・・・・・が
選択駆動される。以下同様にして順次光センサが選択駆
動される。
たとき5X32=160μS経過時点〕でスイッチSY
Iを接地側に切り換え、かわりてスイッチSY、を電流
噴出器18側に切り換える。そして同様lこスイッチS
X r〜SXNを順番lこ駆動電源21側に切り喚え
ると次のブロックの光センサPSN+1・・・・・・が
選択駆動される。以下同様にして順次光センサが選択駆
動される。
従りて第1図の1個の光センサPSIについてみると、
この元センサにはgg3図に示すように。
この元センサにはgg3図に示すように。
補助電極12に一定のバイアス電圧WGが印加される一
方、ソース電極16にはスイv f S X tが駆動
電源21例1こ切り換えられる毎にパルス状の彰@電圧
Vsが印加されることになる。なおここでは元センサに
一定光が入射されている場合を示している。また信号電
流IDはスイv f S X tが切り換えられ駆動電
圧Vgが印加される都度流れるが、スイv f S Y
tが電流検出器18側Iこ切り換えられたときのみに
暇り出される。
方、ソース電極16にはスイv f S X tが駆動
電源21例1こ切り換えられる毎にパルス状の彰@電圧
Vsが印加されることになる。なおここでは元センサに
一定光が入射されている場合を示している。また信号電
流IDはスイv f S X tが切り換えられ駆動電
圧Vgが印加される都度流れるが、スイv f S Y
tが電流検出器18側Iこ切り換えられたときのみに
暇り出される。
さて、このような本発明の駆動方法によると信号の読出
期間T+に駆動電圧パルスVaがソース電極16に印加
されるので、従来の駆動方法の場合と違りてソース電極
16近傍の半導体114内部のポテンシャルが駆動電圧
パルスを印加した瞬間に変化してソース電極16からキ
ャリアの注入が起こる。このため信号電流I/は駆動電
圧パルスに高速に応答して流れることが可能となる。例
えば第4図(a)に示すよりなVIIX4!y電圧パル
スに対して従来では第4図(b)の曲線4目こ示すよう
薯こ″(圧応答速度がmsオーダーと極めて遅かりたの
に対し1本発明では同□□□の曲線42に示すように1
μ3以内で応答させることができる、 またこの実IIa例では、一定を立(接地電位〕に保た
れたトンイン電極17から1号電流が暇り出されており
、しかも信号電流読み出しのメイミングでは補助電極1
2の電位も一定に保たれているため、駆動電圧の変化に
伴ない過渡的に流れる大きなサイズ電流の噴出を最小限
に抑えることができる。すなわちS/N比の向上が図ら
れている。
期間T+に駆動電圧パルスVaがソース電極16に印加
されるので、従来の駆動方法の場合と違りてソース電極
16近傍の半導体114内部のポテンシャルが駆動電圧
パルスを印加した瞬間に変化してソース電極16からキ
ャリアの注入が起こる。このため信号電流I/は駆動電
圧パルスに高速に応答して流れることが可能となる。例
えば第4図(a)に示すよりなVIIX4!y電圧パル
スに対して従来では第4図(b)の曲線4目こ示すよう
薯こ″(圧応答速度がmsオーダーと極めて遅かりたの
に対し1本発明では同□□□の曲線42に示すように1
μ3以内で応答させることができる、 またこの実IIa例では、一定を立(接地電位〕に保た
れたトンイン電極17から1号電流が暇り出されており
、しかも信号電流読み出しのメイミングでは補助電極1
2の電位も一定に保たれているため、駆動電圧の変化に
伴ない過渡的に流れる大きなサイズ電流の噴出を最小限
に抑えることができる。すなわちS/N比の向上が図ら
れている。
第5図は本発明の他の実ilI!i例を説明するための
因である。この実施例は、前記実施例において更にいり
そうの光応答速度の向上を図りたもので。
因である。この実施例は、前記実施例において更にいり
そうの光応答速度の向上を図りたもので。
前記実施例と相違する点は、バイアス電[22の他lC
!圧−Vt* (l v+* I< IVtt l )
のバイアス電源23を備え、スイv f S Zにより
バイアス電源22と23とを切り換えて異なりたバイア
ス電圧vGを補助電極12に印加するようにした点であ
る。バイアス′鑞源22と23との切り換えは例えば第
6図のようなタイミングで行われる。すなわち読出期間
に光センサに−V、、(−12ボルト〕の駆動電圧パル
スVsと−Vts(−12ボルト)のバイアス電圧を印
加し、駆動′4流IDを絖み出したのち次の読出期間ま
での非読出期間において、駆動電圧パルスVsが印加さ
れている任意の期間TI(例えば1μS〕にスイy?s
Zをバイアス電源23側に切り換え、補助電極12にバ
イアス電圧−v■として例えば−7ボルトの電圧を印加
する。このような−vllよりもやや高い電圧−v1!
を補助電極12に印加すると、ソース電極16からの電
子の注入が促進され、注入された過剰の電子により非晶
質半導体@ l 4内に存在するホールの数が再結合で
減少するので、ホール(正電荷)密度は電圧−V t
tが印加される前の状態より減少する。正電荷が減少す
ることは負電荷が増加することと等価であり、半導体1
4内の空間電荷密度が負電荷方向に変化したことにより
、ソース電極からの電子の注入は電圧−vtl印加前に
比べて制限されt信号電流IDは急激に小さくなる。こ
の後、再び−v1□が印加されるまでの期間に光照射に
よりて発生したホールが非晶質半導体層14内に蓄積し
ていくことにより、空間電荷密度が正電荷方向に変化し
ていってソース1極16からの電子の注入が徐々に増加
し、ff1号電流は増加してくる。
!圧−Vt* (l v+* I< IVtt l )
のバイアス電源23を備え、スイv f S Zにより
バイアス電源22と23とを切り換えて異なりたバイア
ス電圧vGを補助電極12に印加するようにした点であ
る。バイアス′鑞源22と23との切り換えは例えば第
6図のようなタイミングで行われる。すなわち読出期間
に光センサに−V、、(−12ボルト〕の駆動電圧パル
スVsと−Vts(−12ボルト)のバイアス電圧を印
加し、駆動′4流IDを絖み出したのち次の読出期間ま
での非読出期間において、駆動電圧パルスVsが印加さ
れている任意の期間TI(例えば1μS〕にスイy?s
Zをバイアス電源23側に切り換え、補助電極12にバ
イアス電圧−v■として例えば−7ボルトの電圧を印加
する。このような−vllよりもやや高い電圧−v1!
を補助電極12に印加すると、ソース電極16からの電
子の注入が促進され、注入された過剰の電子により非晶
質半導体@ l 4内に存在するホールの数が再結合で
減少するので、ホール(正電荷)密度は電圧−V t
tが印加される前の状態より減少する。正電荷が減少す
ることは負電荷が増加することと等価であり、半導体1
4内の空間電荷密度が負電荷方向に変化したことにより
、ソース電極からの電子の注入は電圧−vtl印加前に
比べて制限されt信号電流IDは急激に小さくなる。こ
の後、再び−v1□が印加されるまでの期間に光照射に
よりて発生したホールが非晶質半導体層14内に蓄積し
ていくことにより、空間電荷密度が正電荷方向に変化し
ていってソース1極16からの電子の注入が徐々に増加
し、ff1号電流は増加してくる。
光センサに光が入射されている場合には上述の様になる
が、光が入射されなくなりた場合には−V、、印加後に
はホール(正の空間電荷ン密度は減少したままで信号電
流IDは小さいままに保たれる。
が、光が入射されなくなりた場合には−V、、印加後に
はホール(正の空間電荷ン密度は減少したままで信号電
流IDは小さいままに保たれる。
従りて、−V、、が印加され一定期間経過後、再度−v
llが印加される直前までの所定の期間の信号電流!D
を光センサの便号電流として検出することにより、入射
光の強度に正しく対応した出力を得ることができる。こ
れはすなわち光応答速度が向上したことに他ならない、
ちなみに照度100ルrクスの光を10m5間隔でIo
ms時間断続的に入射したとき、前記実施例のようにV
G;−12ボルド一定とした場合には第7図の曲線71
に示すように未だ35チありた残置信号電流が、VG=
−7ボルトのパルスを印加した場合には曲線72に示す
よりに10−以下にまで低減されるとともに、曲973
に示すように入射光強度に対する信号電流の直線性(す
二アリティー)も大きく改善された(r値で0.6から
0.95〜1.05まで改善された)。
llが印加される直前までの所定の期間の信号電流!D
を光センサの便号電流として検出することにより、入射
光の強度に正しく対応した出力を得ることができる。こ
れはすなわち光応答速度が向上したことに他ならない、
ちなみに照度100ルrクスの光を10m5間隔でIo
ms時間断続的に入射したとき、前記実施例のようにV
G;−12ボルド一定とした場合には第7図の曲線71
に示すように未だ35チありた残置信号電流が、VG=
−7ボルトのパルスを印加した場合には曲線72に示す
よりに10−以下にまで低減されるとともに、曲973
に示すように入射光強度に対する信号電流の直線性(す
二アリティー)も大きく改善された(r値で0.6から
0.95〜1.05まで改善された)。
なセ第7図の曲@71.72力)られかるように、補助
電極12に印加されるバイアス電圧VGを主電極16に
印加される駆動電圧Vsと略等しく設定した場合は、そ
うでない場合に比べて光電流を大きくとることができ、
残滓をより少なくすることができる。すなわち光応答速
度が向上する。
電極12に印加されるバイアス電圧VGを主電極16に
印加される駆動電圧Vsと略等しく設定した場合は、そ
うでない場合に比べて光電流を大きくとることができ、
残滓をより少なくすることができる。すなわち光応答速
度が向上する。
また、このバイアス電圧VGO値を大きくしていくと、
残滓は低減していくが、VGを大きくしすぎると、相対
的に負の空間電荷が過大となることにより、リニアリテ
ィーが逆に悪化する(低照m光でy値が1を大きく越え
る)よう憂こなりてしまう、しかし信号電流を検出する
周期の間(非読出期間)にVGを印加する回数を複数同
番こして増してやることにより、リニアリティーを悪化
させずに残(8)を低減させることができる。
残滓は低減していくが、VGを大きくしすぎると、相対
的に負の空間電荷が過大となることにより、リニアリテ
ィーが逆に悪化する(低照m光でy値が1を大きく越え
る)よう憂こなりてしまう、しかし信号電流を検出する
周期の間(非読出期間)にVGを印加する回数を複数同
番こして増してやることにより、リニアリティーを悪化
させずに残(8)を低減させることができる。
また、主電極間に駆動電圧が印加されていない期間中に
ソース電極と補助電極間ζこ印加されている電圧の値を
光センサの充電変換感度の変化に対応して変化させるこ
とにより、感度の変化を補償することができる。この電
圧の大きさ又は光電変洟感度と光応答感度の関係は必ず
しも全く独立のものではないが、比較的独立に制御でき
る駆動条件領域があり、光センサのステブラーロンスΦ
−効果と呼ばれる光入射によりて生じる感度およびリニ
アリティーの劣化も、この電圧を変化させることにより
救済することが可能である。
ソース電極と補助電極間ζこ印加されている電圧の値を
光センサの充電変換感度の変化に対応して変化させるこ
とにより、感度の変化を補償することができる。この電
圧の大きさ又は光電変洟感度と光応答感度の関係は必ず
しも全く独立のものではないが、比較的独立に制御でき
る駆動条件領域があり、光センサのステブラーロンスΦ
−効果と呼ばれる光入射によりて生じる感度およびリニ
アリティーの劣化も、この電圧を変化させることにより
救済することが可能である。
さらにまた、前記実施例では光応答速度の向上を図るた
め薔ζ補助電極12に選択的にバイアス電圧−vl、を
印加するよりにしているが、第9図に示すように、補助
電極12へのバイアス電圧は−v11と一定にしておき
、代わりlこソース電極16o11動を圧を選択的Ic
−Vmo (l Vmo I> l V+o I )l
こ切り換えるようにしても同様の効果が得られる。
め薔ζ補助電極12に選択的にバイアス電圧−vl、を
印加するよりにしているが、第9図に示すように、補助
電極12へのバイアス電圧は−v11と一定にしておき
、代わりlこソース電極16o11動を圧を選択的Ic
−Vmo (l Vmo I> l V+o I )l
こ切り換えるようにしても同様の効果が得られる。
この場合には例えば48図に示すように、新たに駆動電
源31を準備し、スイッチSXtで切り換えるようにす
れば容易に実現できる。また勿論、前記実施例(第5図
、第6図〕と本実施例(第8図、第9図)とを組合せる
ことも可能である。
源31を準備し、スイッチSXtで切り換えるようにす
れば容易に実現できる。また勿論、前記実施例(第5図
、第6図〕と本実施例(第8図、第9図)とを組合せる
ことも可能である。
要するに、キャリアを注入させる主電極と補助電極との
間の電位差が読出期間よりもさらにキャリアの注入を促
進させる電位となるよう駆動電圧とバイアス電圧の少く
とも一方を制御すればよい。
間の電位差が読出期間よりもさらにキャリアの注入を促
進させる電位となるよう駆動電圧とバイアス電圧の少く
とも一方を制御すればよい。
一方、第5図や第8図の構成において読出期間T、の一
部にも補助電極12へのバイアス電圧VGを−Vttに
切り換えたり、ソース電極16への駆動電圧Vsを−v
t、に切り換えたりしてもよい。
部にも補助電極12へのバイアス電圧VGを−Vttに
切り換えたり、ソース電極16への駆動電圧Vsを−v
t、に切り換えたりしてもよい。
第100詔よび第11図は本発明のさらIこ他の実施例
を示すものである。前記実施例では、読出期間に駆動電
圧パルスを光センサのソース電極に印加することにより
、電圧応答速度の向上を図りているが、この実施例では
b−Vllと接地電位の2つのバイアス電源を用意し、
駆動電圧パルスv。
を示すものである。前記実施例では、読出期間に駆動電
圧パルスを光センサのソース電極に印加することにより
、電圧応答速度の向上を図りているが、この実施例では
b−Vllと接地電位の2つのバイアス電源を用意し、
駆動電圧パルスv。
が供給される期間は接地電位を補助電極12に印加し、
駆動電圧パルスv0が供給されない期間は−v11の電
圧を補助電極12に印加するようにすることにより、従
来のよりに駆動電圧パルスを光センサのドレイン電極1
7側に印加した場合でも前記実施例と同様に電圧応答速
度が向上するようにしている。これは補助電極12の電
位が一■11から接地電位に変化することにより、ソー
ス電極16と補助電極12の間にソース電極16からの
電子の注入が促進される方向の立上りをもりな電圧波形
が生じるためである。
駆動電圧パルスv0が供給されない期間は−v11の電
圧を補助電極12に印加するようにすることにより、従
来のよりに駆動電圧パルスを光センサのドレイン電極1
7側に印加した場合でも前記実施例と同様に電圧応答速
度が向上するようにしている。これは補助電極12の電
位が一■11から接地電位に変化することにより、ソー
ス電極16と補助電極12の間にソース電極16からの
電子の注入が促進される方向の立上りをもりな電圧波形
が生じるためである。
なお上記方法に加え、さらにバイアス1!源v1゜を準
備し、前記実施例の場合と同様Iこ非読出期間中の駆動
電圧パルスが印加されている任意の期間T鵞 (例えば
lμS)に接地電位よりも高い。例えば7ボルトのバイ
アス電圧を補助電極に印加すれば、光応答速度をより向
上することができる。
備し、前記実施例の場合と同様Iこ非読出期間中の駆動
電圧パルスが印加されている任意の期間T鵞 (例えば
lμS)に接地電位よりも高い。例えば7ボルトのバイ
アス電圧を補助電極に印加すれば、光応答速度をより向
上することができる。
また約記実施例ではいずれも半導体層に流れる電流を担
うキャリアとして電子の場合について説明したが、ホー
ルの場合であるl型半導体又はP型半導体の場合につい
てはオーミvクコンタクト用のドーピング層をP型にし
、駆動電源の極性を逆極性にすることにより同様をこ実
施することができる。
うキャリアとして電子の場合について説明したが、ホー
ルの場合であるl型半導体又はP型半導体の場合につい
てはオーミvクコンタクト用のドーピング層をP型にし
、駆動電源の極性を逆極性にすることにより同様をこ実
施することができる。
以上のように木兄明擾こよれば、光応答の高速化を実現
しながら、ラインセンサとしてマトリックス駆動する場
合に必然である主電極間のパルス駆動に対しても十分に
速い応答を有する光センサの動作が可能となり、入射光
に正しく応答し、高速なラインセンサが実現できる。
しながら、ラインセンサとしてマトリックス駆動する場
合に必然である主電極間のパルス駆動に対しても十分に
速い応答を有する光センサの動作が可能となり、入射光
に正しく応答し、高速なラインセンサが実現できる。
第1図は本発明の一実施例になる光センサとそれを駆動
するための電源との接続関係を示す図、第2囚はライン
センサとそれを駆動するための電源との接続関係を示す
図、第3因は本発明の駆動方法を説明するための動作波
形図、第4図は光センサの電圧応答を示す波形図、第5
図は本発明の他の実施例を説明するための光センサとそ
れを駆動するための電源との接続関係を示す因、第6図
はその動作波形図、第7■は本発明による残ぼ信号電流
特性を示す図、第8図乃至第11図は本発明の更に他の
実施例を説明するための図、第12図は従来の駆動方法
を説明するための光センサとそれを駆動するための電源
との接続関係を示す図、第13因は従来のラインセンサ
とそれを駆動するための電源との接続関係を示す図であ
る。 1・・・ガラ 大基板。 2・・・補助電極、 3・・・絶 縁II。 4・・・半導体11゜ 5・・・ドーピングt% 16.17・・・主電唖、21・・・駆動電源、22.
23・・・バイアス電源、 8・・・電流検出器。
するための電源との接続関係を示す図、第2囚はライン
センサとそれを駆動するための電源との接続関係を示す
図、第3因は本発明の駆動方法を説明するための動作波
形図、第4図は光センサの電圧応答を示す波形図、第5
図は本発明の他の実施例を説明するための光センサとそ
れを駆動するための電源との接続関係を示す因、第6図
はその動作波形図、第7■は本発明による残ぼ信号電流
特性を示す図、第8図乃至第11図は本発明の更に他の
実施例を説明するための図、第12図は従来の駆動方法
を説明するための光センサとそれを駆動するための電源
との接続関係を示す図、第13因は従来のラインセンサ
とそれを駆動するための電源との接続関係を示す図であ
る。 1・・・ガラ 大基板。 2・・・補助電極、 3・・・絶 縁II。 4・・・半導体11゜ 5・・・ドーピングt% 16.17・・・主電唖、21・・・駆動電源、22.
23・・・バイアス電源、 8・・・電流検出器。
Claims (4)
- (1)半導体層上に受光領域となる領域を隔てて一対の
主電極が設けられるとともに、少くとも前記受光領域と
なる領域に絶縁層を介して補助電極が積層されてなる光
センサの前記主電極間に一定期間駆動電圧パルスを印加
するとともに、前記補助電極にバイアス電圧を印加して
前記主電極間を流れる信号電流を検出する光センサの駆
動方法において、 前記一対の主電極のうち前記半導体層の電流を担うキャ
リアを注入する側の電極に、前記駆動電圧パルスを印加
するようにしたことを特徴とする光センサの駆動方法。 - (2)前記補助電極に前記駆動電圧パルスと略等しい電
圧のバイアス電圧を印加することを特徴とする請求項1
記載の光センサの駆動方法。 - (3)半導体層上に受光領域となる領域を隔てて一対の
主電極が設けられるとともに、少なくとも前記受光領域
となる領域に絶縁層を介して補助電極が積層されてなる
光センサの前記補助電極に所定のバイアス電圧を印加す
るとともに前記主電極間に選択的に駆動電圧パルスを印
加して該主電極間を流れる信号電流を検出する光センサ
の駆動方法において、 前記光センサの読出期間に、前記一対の主電極のうち前
記半導体層の電流を担うキャリアを注入する側の主電極
の電位を実質的に一定に保持し、他方の主電極に前記駆
動電圧パルスを印加するとともに、前記補助電極に、前
記バイアス電圧よりもさらに前記キャリアの注入させる
電圧を印加するようにしたことを特徴とする光センサの
駆動方法。 - (4)前記光センサの非読出期間の少なくとも一部の期
間に、前記キャリアを注入させる主電極と補助電極との
間の電位差が前記読出期間よりもさらにキャリアの注入
を促進させる電位差となるよう前記駆動電圧とバイアス
電圧の少なくとも一方を制御することを特徴とする請求
項1又は3記載の光センサの駆動方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63299462A JPH02146876A (ja) | 1988-11-29 | 1988-11-29 | 光センサの駆動方法 |
| KR1019890017580A KR930002606B1 (ko) | 1988-11-29 | 1989-11-29 | 고속전압응답 이미지센서 구동방법 |
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