JPH0214771B2 - - Google Patents

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JPH0214771B2
JPH0214771B2 JP57162162A JP16216282A JPH0214771B2 JP H0214771 B2 JPH0214771 B2 JP H0214771B2 JP 57162162 A JP57162162 A JP 57162162A JP 16216282 A JP16216282 A JP 16216282A JP H0214771 B2 JPH0214771 B2 JP H0214771B2
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JP
Japan
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shutter
exposure
opening operation
time
amount
Prior art date
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JP57162162A
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JPS5952246A (ja
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Keiichiro Sakado
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Nikon Corp
Original Assignee
Nippon Kogaku KK
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Publication date
Application filed by Nippon Kogaku KK filed Critical Nippon Kogaku KK
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Priority to US06/533,598 priority patent/US4512657A/en
Publication of JPS5952246A publication Critical patent/JPS5952246A/ja
Publication of JPH0214771B2 publication Critical patent/JPH0214771B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/7055Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
    • G03F7/70558Dose control, i.e. achievement of a desired dose

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Control Of Exposure In Printing And Copying (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、感光材を塗布したウエハ又はフオト
マスク上にパターンを露光する装置に関し、特
に、その露光量に制御装置に関する。
近年、半導体素子、特にIC製造においては、
回路パターンの微細化が要求され、ウエハ上に
1μm以下の線幅を有するパターンを焼き付ける
装置、いわゆる露光装置も高精度な露光制御が望
まれてきた。
一般に、ウエハ又はフオトマスクに回路パター
ンの像を露光する露光装置では、被露光物として
ウエハ上に塗布された感光材料(フオトレジス
タ)に、常に一定の露光量を与えることが望まし
い。このような露光装置の概略を第1図に示す。
第1図においては、露光用の光源、例えば水銀
ランプ1の光が集光レンズ2によつて集光された
後、シヤツタとなる回転板3を介して、コンデン
サーレンズ5、投影レンズ8をへて、2次元移動
可能なステージ10に載置されたウエハ9(フオ
トマスクでもよい。)に至るような、投影式の露
光装置を示す。回転板3は、例えば4分割して、
遮光部(図中の斜線部)と透過部を交互に設け、
回転駆動機構、例えばパルスモータ4によつて一
方向(図中、時計回り)に回転され、ロータリー
シヤツタとして働く。回路パターンを有するガラ
ス基板7(レテイクルやフオトマスク)は、コン
デンサーレンズ5と投影レンズ8の間に配置さ
れ、ランプ1からの照明光によつて照射されたガ
ラス基板7のパターン領域7aがウエハ9の上に
結像する。又、光電検出器6は、ランプ1からの
照明光の一部の光強度を測定するような光電変換
素子であり、シヤツタを経た光を測光するよう
に、ガラス基板7の上方に領域7aを遮光しない
ように設けられ、その出力は露光制御のために使
われる。このような装置では、機構上シヤツタの
開閉動作時間が長く、数msec.〜数10msec.に及
ぶ。また、露光動作に伴う光強度(検出器6で検
出した値、又はウエハ9上で測定した値)の変化
を第2図に示す。第2図で、横軸に露光時間、縦
軸に光強度を取り、台形状の折線AとBは、光源
のランプの劣化によるちがいを表わす。ランプが
新しく、光強度が大きいと、折線Aのように、ま
たランプが劣化して光強度が小さいと折線Bのよ
うになる。尚、台形の上底部すなわちシヤツタの
全開時の光強度をLN、LOとする。このように、
台形状の光強度特性を有するのは、シヤツタの開
閉動作時間に基づいている。これは、第1図で示
したような回転板3が1/4回転する時間によつて
生じるものである。回転板3の遮光部が光をさえ
ぎつている状態から、回転板3が1/4回転して、
光を完全に透過する状態までにかかる時間(シヤ
ツタ開放時間)は、第2図では時間ta−tpである。
尚、回転板3の回転開始時をtpとしてある。そし
て、時間ta−tpが経過後、回転板3を光が完全に
透過する(このことを、以後シヤツタ全開と呼
ぶ。)ので、光強度LN、又はLOとして安定する。
そして、所定の露光時間後、すなわち時刻tb又は
時刻tdから回転板3がさらに1/4回転して、遮光
部によつて光がさえぎられる。光が完全に遮光さ
れる時刻は、時刻tc、又はteである。尚、シヤツ
タの構造上、開放動作時間と、閉成動作時間はほ
ぼ等しいので、時間tc−tbと時間te−tdは共に等し
く、かつ時間ta−tpともほぼ等しくなる。
この光強度特性に示したように、普通このよう
な装置では、フオトレジスタへの総露光量を一定
にするため、ランプの明るさに応じて露光時間を
変えている。そこで、従来の露光制御について、
第3図により説明する。第3図において、光電検
出器6の光電出力は増幅器11によつて増幅され
た後、抵抗12、コンデンサ14、増幅器13に
よる積分器に入力する。積分器の出力が、露光量
に比例した値、いわゆる光量積分値である。この
積分器の出力は、比較器15によつて、あらかじ
め定めた適正露光量としての目標値(基準電圧)
Esと比較される。一方、フリツプフロツプ回路1
6は、露光動作の開始時点でセツトされ、シヤツ
タ駆動回路17によつて、モータ等を駆動してシ
ヤツタを開く。シヤツタが開いた後、上述の如く
光量積分値が基準電圧Esに達すると、比較器15
の出力が反転してフリツプフロツプ回路16がリ
セツトされる。このリセツトにより、駆動回路1
7は、モータ等をさらに回転して、シヤツタを閉
じる。こうして、ランプの明るさが変わつても光
量積分値が、一定値になるように、シヤツタは制
御される。ここで、その時の露光量を第4図のグ
ラフに示す。第4図のグラフで横軸に第2図と同
一の時間軸を取り、縦軸に露光量、すなわち光量
積分値を取る。露光開始時tpから時刻taまでは、
第2図のように、シヤツタの開放動作時間であ
り、露光量はなだらかに上昇していく。時刻ta
ら時刻tb、又は時刻tdまでは、シヤツタ全開期間
である。尚、露光量AとBは第2図で示したよう
に、光源の光強度が大きいときと、小さいときを
示す。そして露光量A、又はBが目標値Esに達す
ると、シヤツタ閉じ動作が始まる。しかしなが
ら、シヤツタが完全に閉じるまでの時間tc−tb
又はte−tdにも、ウエハ9は露光されることにな
り、その結果、ウエハ9に与えられた総露光量は
Ep、又はEp′となり、所定の目標値EsよりもEp
Es又はEp′−Esだけ超過することになる。
光源の光強度が常に一定であれば超過分を予測
して、総露光量を決定できるが、実際には、ラン
プの劣化に伴い光源の明るさは大きく変化する。
従つて、第4図に示したように、時間tc−tbと時
間te−tdは同じでも、超過分は変化してしまう。
この超過分の変化(Ep−Ep′)は、光源の光強度
が小さく、露光時間が十分に長い場合には無視で
きる。しかし、光源の光強度が大きくなり、全露
光量中に占める、シヤツタの閉じ動作時間中の露
光量の割合が大きくなつた場合、超過分の変化
(Ep−Ep′)による総露光量の変動は重要な問題と
なる。一般に、露光量の制御として、総露光量の
変動は数%以下が必要とされるが、上述の場合、
従来のような装置では、超過分に対する配慮がな
されていないので、長期間に渡つて、安定した露
光量を得ることができない欠点を有していた。
そこで本発明は、従来の欠点を解決し、光源の
光強度にかかわらず常に総露光量を一定にするよ
うに制御する露光装置を提供することを目的とし
ている。
すなわち、このような目的を達成するための本
発明の露光制御装置は、 光源から被露光物への照明光の通過と遮断のた
めに開閉するシヤツタと; 該シヤツタを通過した前記照明光の一部の強度
を検出する光電検出器と; 該光電検出器の出力信号に基づいて前記シヤツ
タの開放動作開始時点から前記被露光物に与えら
れる露光量に対応した値を測定する測定回路と; 該測光回路によつて測定された値が、適正露光
量に対応して予じめ設定された値に達したとき、
前記シヤツタの閉成動作を開始する駆動手段と; 前記シヤツタの開放動作開始時点から開放動作
完了時点までの間に前記被露光物に与えられる露
光量と、前記シヤツタの閉成動作開始時点から閉
成動作完了時点までの間に前記被露光物に与えら
れる露光量との比を1:nとしたとき、前記シヤ
ツタの開放動作開始時点から開放動作完了までの
間の前記測光回路の測光感度を、前記シヤツタの
全開時における測光感度のほぼ(1+n)倍に切
り替える制御手段とを備えてなるもので、シヤツ
タの開放動作開始から開放完了までの間に、その
シヤツタが閉成動作を開始してから閉成完了する
までの間にウエハに与えられる露光量分を予じめ
重畳した形で露光量を測定できるので、正確な露
光制御が果されると共にシヤツタをその最高速に
まで制御し得るものである。
前記測光回路は、前記光電検出器の出力信号を
積分して露光量に対応した値を出力する積分回路
と、前記シヤツタの開放動作開始時点から開放動
作完了までの間だけ、前記制御手段に応答して前
記積分回路の積分感度を(1+n)倍に高める切
り替え素子とを備えている。
また前記積分回路は、前記光電検出器の出力信
号の大きさに対応した周波数でパルス発振する電
圧・周波数変換器と、該発振パルスを計数するデ
ジタルカウンタとで構成され、前記切り替え素子
によつて前記光電検出器の出力信号の大きさに対
する発振周波数の変換比を(1+n)倍に切り替
えるものである。
本発明を実施例図面と共に詳述すれば以下の通
りである。
第5図において、第1図ないし第3図と同一符
号は同効のものを示し、前記測光回路は、光電検
出器6、増幅器11、補正用増幅器20、スイッ
ツ21、電圧・周波数コンバータ23、およびカ
ウンタ24によつて構成され、前記駆動手段は、
比較器25、開閉駆動制御回路27、およびパル
スモータ4によつて構成され、前記制御手段は、
前記スイツチ21の制御のために前記開閉駆動制
御回路27内に設けられた制御要素(詳細は後
述)で構成され、前記補正用増幅器20を含む切
り替え素子としての前記スイツチ21を制御する
ものである。すなわち、詳述すれば、光電検出器
6からの光強度信号を増幅する増幅器11に直列
に補正用増幅器20が接続され、両増幅器11と
20の各出力は、半導体アナログスイツチ等のス
イツチ21で選択的に切換えられて電圧・周波数
コンバータ23に入力され、露光量として測定さ
れるようになつている。カウンタ24は、このコ
ンバータ23の出力パルス数を計数し、露光量設
定器26に予じめ設定された適正露光量値に対応
する値と前記カウンタ24の計数結果とが比較器
25で比較され、両者が一致したときに比較器2
5がシヤツタ閉成信号S1を出力するようになされ
ている。このシヤツタ閉成信号S1と、別に図示し
ない操作手段からのシヤツタ開放信号S2とは、シ
ヤツタの開閉駆動制御回路27に入力され、駆動
制御回路27はこれら信号S1かS2かのいずれか一
方が入力されたときにシヤツタ3を1/4回転させ
るために所定のパルス数の駆動信号S3をパルスモ
ータ4に出力すると共に、少なくともシヤツタ開
放信号S2が入力されたときにはその入力時点すな
わちシヤツタの開放動作開始時点から、予じめシ
ヤツタ機構上定まつている開放完了に達するまで
の時間にわたり、スイツチ21を接点A側つまり
増幅器20側に切替えておくための切替信号S4
も出力する。すなわちこの駆動制御回路27は、
増幅器11と20およびコンバータ23とカウン
タ24を含む測光回路に対し、比較器25と共に
測光露光量が設定値に等しくなつたときにシヤツ
タ3の閉成動作を開始する駆動手段を構成すると
同時に、スイツチ21と共に前記シヤツタの開放
動作開始時点から開放完了までの間の測光回路の
露光量測定値が前記シヤツタの閉成動作開始時点
から閉成完了までの間の超過露光量を重畳した値
に相当するものとなるように前記シヤツタの開放
動作開始時点から開放完了までの間にわたり測光
回路の測光感度を制御する制御手段を構成してい
る。そして、この実施例では測光感度の制御を前
記切り替え素子を構成するスイツチ21が接点A
側に切替つている間にわたり測光回路の総合増幅
度を高くし、前記光電検出器6の出力信号の大き
さに対する電圧・周波数コンバータ23による発
振周波数の変換比を1+n倍に切り替えることで
果している。
駆動制御回路27は例えば第6図に示す回路構
成を備えている。第6図において、シヤツタ閉成
信号S1と開放信号S2はフリツプフロツプ100に
入力されると共にオアゲート101に入力されて
いる。尚、以下の説明においては信号S1,S2とも
に論理レベル「H」を正論理として扱う。シヤツ
タ閉成信号S1はフリツプフロツプ100のリセツ
ト入力端に、シヤツタ開放信号S2はフリツプフロ
ツプ100のセツト入力端にそれぞれ入力され、
オアゲート101の出力はもうひとつのフリツプ
フロツプ102のセツト入力端に接続されてい
る。フリツプフロツプ102の出力は、発振器1
04の出力パルスをゲートするためのアンドゲー
ト103に接続され、アンドゲート103の出力
信号はバツフアアンプ105を介してパルスモー
タ4の駆動信号S3となる。このアンドゲート10
3の出力信号はまたカウンタ106で計数され、
シヤツタ3が1/4回転するのに必要なパルス数に
等しいデジタル値が予じめ設定されているレジス
タ107の出力と比較器108で比較されるよう
になつている。比較器108はカウンタ106の
計数値がレジスタ107の設定デジタル値と一致
したときに一致パルスを出力してフリツプフロツ
プ102の出力状態を反転させるものである。ま
たフリツプフロツプ100と102の出力はそれ
ぞれアンドゲート109に入力され、これらが共
に「H」のときのみ切替信号S4を「H」にする。
スイツチ21はこの切替信号S4が「H」のときに
接点A側に、また「L」のときに接点B側に切替
えられる。従つて本実施例では、フリツプフロツ
プ100,102、オアゲート101、およびア
ンドゲート109によつて本発明の制御手段が構
成されている。
第5図と第6図に示した実施例の動作を説明す
ると、まず始めにシヤツタ3は閉じているものと
し、フリツプフロツプ100および102ともに
その出力は「L」、カウンタ24と106はとも
に計数値が零であるとする。この状態においてシ
ヤツタ開放信号S2を「H」にすると、フリツプフ
ロツプ100および102の各出力が「H」にな
る。このためアンドゲート109の出力すなわち
切替信号S4が同時に「H」となり、スイツチ21
は接点A側に切替つて増幅器11と20が直列に
挿入されることで測光感度が高められる。
増幅器20の利得については、シヤツタ3の特
性が例えば第4図に示したように開放動作時間
(ta−tp)が閉成動作時間(tc−tb)又は(te−td
とほぼ等しく、且つシヤツタ開放の立上りとシヤ
ツタ閉成の降下の傾きが同じなら増幅器20の利
得は2倍でよい。一般的には時間(ta−tp)の間
にウエハに与えられる露光量と(tc−tb)又は
(te−td)の間にウエハに与えられる露光量との
比に応じて増幅器20の利得が定められ、この比
が前述のように1:1なら利得は2、比が1:n
なら増幅器20の利得は(1+n)である。従つ
て実際には、前記開放動作時間と閉成動作時間の
比やシヤツタ立上りの傾き(シヤツタ開放動作速
度)と降下の傾き(シヤツタ閉成動作速度)との
比など、個々のシヤツタの機構上の特性に応じて
増幅器20の利得を定めればよく、これはシステ
ムに個有の定数として定まるものである。
さて、フリツプフロツプ102の出力が「H」
になると、アンドゲート103はゲートを開き、
発振器104の出力パルスがバツフアアンプ10
5を介し駆動信号S3として出力され、これにより
パルスモータ4がそのパルスに対応して回転す
る。同時にカウンタ24はシヤツタ3の開放動作
開始時点からの露光量を計数し、カウンタ106
も発振器出力パルスの計数を開始する。その後、
時間taでシヤツタ3が開放完了となり、比較器1
08が一致パルスを出力し、フリツプフロツプ1
02の出力が「L」に反転すると共に切替信号S4
も「L」になる。従つて時点ta以降はスイツチ2
1が接点B側に切替られた状態となる。
このようにしてカウンタ24は、時間tpからta
までの間に、増幅器20で高ゲインにされた状態
で、つまりシヤツタ閉成動作時間内での超過露光
量を予じめ重畳した形で露光量の計数をしてしま
い、そして時点ta以降は増幅器20を通さずに露
光量の計数を続ける。設定器26の適正露光量設
定値とその計数値とが一致する時点tbで比較器2
5の出力すなわちシヤツタ閉成信号S1が「H」と
なり、これによつてフリツプフロツプ100がリ
セツトされて出力が「L」となる。またフリツプ
フロツプ102はこの「H」レベルの閉成信号S1
によつて再び反転してその出力を「H」とし、従
つて前述と同様にしてパルスモータ4を駆動して
シヤツタ3をさらに1/4回転させる。このときは、
フリツプフロツプ100の出力が「L」となつて
いるからアンドゲート109の出力すなわち切替
信号S4は「L」のままである。
第7図は以上に述べた第5図と第6図の実施例
による露光制御特性図で、特性XとX′は光源の
光強度が高い場合、YとY′は光強度が低下した
場合である。また特性XとYはカウンタ24によ
つて測定される露光量変化を示し、特性X′と
Y′はガラス基板7(レテイクルやマスク)に実
際に到達する露光量変化、すなわちウエハに与え
られた露光量の時間的な変化を示している。第7
図で横軸はシヤツタ開放動作開始時点tpからの時
間経過を、縦軸は露光量を示し、Esは適正露光量
である。第7図に明らかなように、時点tpから開
放完了時点taまでの間は、前述の如く超過露光量
の重畳測定のための高ゲイン化により、特性Xと
X′或いはYとY′で傾きが異なつている。第7図
において特性XとX′に関して超過露光量に相当
する分は(Es−Es3)であり、この(Es−Es3)と
ta時点での嵩上げ分(Es2−Es1)とが等しくなる
ように増幅器20の利得が定められているわけで
ある。勿論特性YとY′に関しても同じである。
このように時点tpからtaまでの間に、予じめ超
過露光量に相当する分を嵩上げして測光してしま
うので、シヤツタ3が開放完了後は、設定した適
正露光量との単純な比較だけで正確な露出制御が
達成されるとともに、回路構成の複雑化を避ける
ことができる。
また第7図において特性XまたはYが適正露光
量Esに達したのち、カウンタ24はシヤツタの閉
成動作中の露光量を計数して出力を増加するが、
この閉成動作の開始時点tb又はtd以降のカウンタ
24の計数値は露出制御に関しては意味をもたな
い。そこで第6図の回路においてフリツプフロツ
プ102の出力を直接切替信号S4として取出し、
フリツプフロツプ100とアンドゲート109と
を省いた形に変形してもよい。このようにすると
シヤツタ3の開放動作時間中(tpからtaまで)と
閉成動作時間中(tbからtcまで、またはtdからte
で)との双方でスイツチ21が接点A側に切替え
られて測光感度が高まるが、閉成動作時間中の測
光感度の上昇は前述の如く露出制御に何等影響を
与えることはなく、フリツプフロツプ100とア
ンドゲート109が省略できるという回路構成の
簡略化の利点を享受できることになる。
第8図は本発明のもうひとつの実施例を示すも
ので、第5図と同一符号のものは同効のものを示
す。この実施例では露光量の測定をアナログ方式
で行なうようにしてあり、スイツチ21の出力を
アンプ30とコンデンサ31による積分回路に入
力している。この積分回路のアンプ30からの出
力は、いわゆる光量積分値であり、スイツチ21
が接点A側に切替つている間にわたり、補正増幅
器20によつて積分感度が例えば(1+n)倍に
高められることになる。この積分値はアナログコ
ンパレータ32によつて適正露光値に対応した設
定電圧Vrと比較され、両者が一致したときにコ
ンパレータ32から前述と同様のシヤツタ閉成信
号S1を出力させるようにしてある。その他につい
ては第5図の場合と同様であるのでこれ以上の説
明は省略する。
このように露光量の測定をアナログ方式で行な
うことにより、デジタル方式の場合に比べて回路
構成を極めて小さくコンパクトにすることができ
る。
第9図は第8図の実施例に対する変形を示す部
分回路図で、増幅器20を用いてゲインを変える
代りに、増幅器11の直後に抵抗R1とR2を接続
してこれら抵抗のいずれかをスイツチ21で切替
えて積分回路に接続するようにしてある。すなわ
ち、第9図の回路では、測光感度を切り替える素
子として抵抗R1,R2とスイツチ21とを組合わ
せ、アナログ積分回路の積分感度(時定数)を切
り替えている。これら2つの抵抗の抵抗値はR1
>R2に定められており、スイツチ21がA接点
側にあるときの抵抗R2とコンデンサ31とで定
まる時定数よりも小さくなりその結果積分の感度
が高くなるようにされている。前述したようにシ
ヤツタ3の開放動作時の立上り特性と閉成動作時
の降下特性とが等しい場合、すなわち時間(ta
tp)の間での露光量と時間(tc−tb)又は(te
td)の間での露光量とが等しい場合は、R1/R2
=2になるように定められていることはもはや詳
述するまでもない。
このようにアナログ方式の場合に積分回路の時
定数を切替えるようにすることによつて増幅器2
0が省略でき、回路はさらに小規模のものですむ
ようになる。
尚、以上に述べた各実施例では、シヤツタ3の
駆動用のパルスモータ4は等速度で回転するもの
としており、このため、シヤツタ3の開放動作時
と閉成動作時の露光強度特性の立上りと降下は第
10図aに示すように直線的である。ところでパ
ルスモータ4を、高い周波数のパルス信号で急に
回転させようとしても正常な始動は果されず、い
わゆる脱調を起すなど、応答性の問題が懸念され
るが、これはパルスモータ4の駆動を例えばマイ
クロコンピユータ等によつて可変速制御して、第
10図bに示すようにシヤツタ開放開始時のtp
点からta時点まで立上りを滑らかにし(スローア
ツプ)、またシヤツタ閉成開始時のtb時点からtc
点まで降下を滑らかにする(スローダウン)こと
で解決できる。この場合、(ta−tp)=(tc−tb)で
あつても、開放動作中の露光量(tpからtaまでの
間の斜線部面積)と、閉成動作中の露光量(tb
らtcまでの間の斜線部面積)との比が1:1では
なくなつてしまうが、その比を1:nとすると、
この比自体は前述の如くシステム定数として固有
の一定値となるから、例えば前述第5図又は第8
図の実施例では増幅器20の利得を(1+n)に
設定しておけばよく、また前述第9図の例では抵
抗R1とR2の比R1/R2を(1+n)に設定してお
けばよく、さらには(ta−tp)≠(tc−tb)であつ
ても同様にその比(ta−tp)/(tc−tb)がシヤツ
タ3の駆動時に常に一定値であるなら増幅器20
の利得や抵抗R1とR2の比によつて補正が可能で
ある。
また本発明においてシヤツタ駆動用のモータは
実施例に挙げたパルスモータに限るものではな
く、例えば直流モータを用いるように変形しても
よい。この場合、駆動制御回路27では発振器1
04の代りに直流電源を設け、カウンタ106と
レジスタ107および比較器108の代りにシヤ
ツタ開閉状態を検出するフオトカプラ等の出力信
号を用いればよい。
さらに本発明は露光装置であれば投影式に限ら
ず利用し得るものである。
本発明は叙上のようであり、シヤツタの開放動
作中すなわち開放開始時点から開放完了までの間
に、シヤツタの閉成動作中すなわち閉成開始時点
から閉成完了までの間に被露光体に与えられる露
光量相当分をシヤツタ開放動作中に重畳測定する
ので、シヤツタの開放完了直後に適正露光値に達
した場合でも直ちにシヤツタ閉成動作が開始され
るなど、極めて正確な露光制御が可能であり、ま
た例えばシヤツタの開放完了直前に適正露光値を
越えるような場合であつても、シヤツタは開放完
了状態で停止することなくそのまま直ちに閉成動
作に移行することができるようになり、シヤツタ
がその駆動系を含む機構自体の特性で定まる最高
速まで制御され得るという利点も得られるもので
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、露光装置の概略構成を示す斜視図、
第2図は、光源による露光強度の特性を示す線
図、第3図は、従来の露光制御装置の回路ブロツ
ク図、第4図は、従来の露光制御特性を示す線
図、第5図は、本発明の一実施例に係る露光制御
装置の回路ブロツク図、第6図は、その一部の駆
動制御回路の構成例を示す回路ブロック図、第7
図は、本発明による露光制御特性を示す線図、第
8図は、本発明のもうひとつの実施例を示す回路
ブロツク図、第9図は前図の例の変形例を示す要
部の回路ブロツク図、第10図a,bは等速駆動
の場合と可変速駆動の場合のシヤツタ開閉動作に
よる露光強度特性を示す線図である。 3:シヤツタ、4:パルスモータ、6:光電検
出器、11,20……増幅器、21:スイツチ、
23:電圧・周波数コンバータ、24:カウン
タ、25:比較器、26:露光量設定器、27:
駆動制御回路、30:アンプ、31:コンデン
サ、32:アナログコンパレータ、R1,R2:抵
抗、100,102:フリツプフロツプ、10
1:オアゲート、103,109:アンドゲー
ト、104:発振器、105:バツフアアンプ、
106:カウンタ、107:レジスタ、108:
比較器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光源から被露光物への照明光の通過と遮断の
    ために開閉するシヤツタと; 該シヤツタを通過した前記照明光の一部の強度
    を検出する光電検出器と; 該光電検出器の出力信号に基づいて前記シヤツ
    タの開放動作開始時点から前記被露光物に与えら
    れる露光量に対応した値を測定する測光回路と; 該測光回路によつて測定された値が、適正露光
    量に対応して予じめ設定された値に達したとき、
    前記シヤツタの閉成動作を開始する駆動手段と; 前記シヤツタの開放動作開始時点から開放動作
    完了時点までの間に前記被露光物に与えられる露
    光量と、前記シヤツタの閉成動作開始時点から閉
    成動作完了時点までの間に前記被露光物に与えら
    れる露光量との比を1:nとしたとき、前記シヤ
    ツタの開放動作開始時点から開放動作完了までの
    間の前記測光回路の測光感度を、前記シヤツタの
    全開時における測光感度のほぼ(1+n)倍に切
    り替える制御手段とを備えたことを特徴とする露
    光制御装置。 2 前記測光回路が、前記光電検出器の出力信号
    を積分して露光量に対応した値を出力する積分回
    路と、前記シヤツタの開放動作開始時点から開放
    動作完了までの間だけ、前記制御手段に応答して
    前記積分回路の積分感度を(1+n)倍に高める
    切り替え素子とを備えたことを特徴とする特許請
    求の範囲第1項に記載の露光制御装置。 3 前記積分回路が、前記光電検出器の出力信号
    の大きさに対応した周波数でパルス発振する電
    圧・周波数変換器と、該発振パルスを計数するデ
    ジタルカウンタとで構成され、前記切り替え素子
    によつて前記光電検出器の出力信号の大きさに対
    する発振周波数の変換比を(1+n)倍に切り替
    えることを特徴とする特許請求の範囲第2項に記
    載の露光制御装置。
JP57162162A 1982-09-20 1982-09-20 露光制御装置 Granted JPS5952246A (ja)

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