JPH02147840A - 多波長螢光・燐光分析方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （技術分野） この発明は、多波長螢光・燐光分析方法およびその装置
に関するものである。さらに詳しくは、この発明は、液
体クロマトグラフィーまたはフローインジェクション分
析のフローセル内の試料成分に螢光または燐光を発生さ
せ、その螢光または燐光を多波長同時に高感度に検出し
て分析する多波長螢光・燐光分析方法およびその装置に
関するものである。

（背景技術） 従来より測定試料の分離分析には高速液体クロマトグラ
フィー（ＨＰＬＣ）等の液体クロマトグラフィーやフロ
ーインジェクション分析（ＰＴＡ）が広く利用されてお
り、その検出系としては単一波長の分析だけでなく多波
長同時の分析も行われるようになっている。

そのような分析装置の例としては、色ガラスフィルター
を用いるものが知られている。しかしながら、この色ガ
ラスフィルターを用いた装置は光学系の明るさの点では
優れているものの装置の機楕が複雑であり、また観測時
間が非常に長くなるという欠点を有する。

また、光エネルギーを特定次数の回折光に集中すること
ができる反射回折格子を用いた多波同時分析装置も提案
されているが、この装置はＦ数が大きいので微弱光の検
出が困難であり、また、装置が大型化するという欠点も
有する。

一方、分光分析に関しては、近年ダイオードアレイを用
いたフーリエ分光法の利用が種々の分野で試みられてい
る。しかしダイオードの雑音が大きいために、その利用
は分光分析する光が比較的強い場合に限られており、微
弱光の分析を要する液体クロマトグラフィーやフローイ
ンジェクション分析の分析系で満足に利用できるものと
はなっていない。

そのため、液体クロマトグラフィーやフローインジェク
ション分析において、多波長同時分析が行われるように
なってきたとはいっても、容易には高感度分析を行うこ
とができないのが実状であった。

（発明の目的） この発明は、以上の通りの事情を踏まえてなされたもの
であり、液体クロマトグラフィーまたはフローインジェ
クション分析の検出系において、高感度の多波長同時分
析を容易に行えるようにし、多面的かつ詳細な分析情報
を得られるようにすることを目的としている。さらに詳
しくは、この発明は、螢光・燐光の多波長同時分析を行
なうことのできる方法と、そのための装置を提供するこ
とを目的としている。

（発明の開示） この発明は、上記の目的を実現する方法として、試料を
液体クロマトグラフィーによって分離し、フローセル内
の分離した試料成分に螢光または燐光を発生させ、その
螢光または燐光を検出する分析方法において、螢光また
は燐光の検出装置として、螢光または燐光を点状光源ま
たは線状光源とする集光光学系、点状光源または線状光
源の位置に焦点を有するコリメートレンズ、コリメート
レンズを透過した光を分光する透過型回折格子、透過型
回折格子を透過１〜た光を集光する集光レンズおよび集
光レンズの焦点位置に設置した一次元検出器または二次
元検出器を有してなる多波長検出装置を使用することを
特徴とする多波長螢光・燐光分析方法を提供する６ また、試料を液体クロマトグラフィーによって分ＭＬ、
フローセル内の分離した試料成分に螢光または燐光を発
生させ、その螢光または燐光を検出する分析方法におい
て、螢光または燐光の検出装置どして、螢光または燐光
を二光束に分割１．て干渉縞を結像させる二光束分割干
渉光学系および結像した干渉縞を検出する入射光子計数
型の一次元検出器または二次元検出器を有してなる空間
的インターフェログラムタイプのフーリエ分光検出装置
を使用することを特徴とする多波長螢光・燐光分析方法
をＵ供する。

また、試料を液体クロマトグラフィーによって分離し、
フローセル内の分離した試料成分に螢光または燐光を発
生させ、その螢光または燐光を検出する分析方法におい
て、螢光または燐光の検出装置として、螢光または燐光
を二光束に分割して干渉縞を結像させる二光束分割干渉
光学系と、その干渉縞のインコヒーレント像である空間
的インターフェログラムをコヒーレント像に変換するイ
ンクし−レント像・コヒーレント像変換装置と、コヒー
レント像に変換した空間的インターフェロダラムを実時
間でフーリエ変換してその空間周波数分布を二次元光量
分布に変換するフーリエ変換光学系と、二次元光量分布
を読取る読取り手段とを有してなるフーリエ実時間分光
装置を使用することを特徴とする多波長螢光・燐光分析
方法を提供する。

さらに、フローインジェクション分析のフローセル内で
成分試料に螢光または燐光を発生させ、その螢光または
燐光を検出する分析方法において、螢光または燐光の検
出装置として、上記のいずれかに記載の検出装置を使用
する多波長螢光・燐光分析方法を１お供する。

また、これらの方法を好適に実施する装置として、試料
を成分に分離する液体クロマトグラフィーと、分離した
試料成分に螢光または燐光を発生させ、その螢光または
燐光を検出する検出装置とからなる分析装置において、
螢光または燐光の検出装置が、上記のいずれかに記載の
検出装置からなる多波長螢光・燐光分析装置を提供する
。

また、試料成分に螢光または燐光を発生させ、（の螢光
または燐光を検出する検出装置を備えたフロー・インジ
ェクション分析器からなる分析装置においで、螢光まｆ
、：は燐光の検出装置が、上記のいずれかに記載の検出
装置かからなる多波長螢光・燐光分析装置を提供する。

この発明は、液体クロマトグラフィーまたはフローイン
ジェクショ〉・分析の検出系の螢光・燐光検出装置とし
９て、この発明者らが開発した多波長検出器（特願昭６
３　　ｉ　２１９９０号［高感度分光装置」、特願昭６
２　２６８３１６号１楼微弱光分光装置」、特願昭６３
−１７９１６１号Ｆフーリエ実時間分光装置」参照）を
応用するものであり、それにより高感度の螢光分光およ
び燐光分光の螢光分光および燐光分光の多波長同時分析
を可能にするものである。

この発明においては、液体クロマトグラフィーまたはフ
ローインジェクション分析の流路構成自体は従来の方法
あるいは装置を利用することができ、また、その検出系
で試料成分に螢光あるは燐光を発生させる方法も従来と
同様にすることかぐきる。たとえば、検出系は、７０−
セル内の試料成分に励起光を照射する励起光光源、その
励起光の窓射と遮断を行うチョッパー、励起光の照射に
より試料成分から発せられる螢光あるいは燐光を検出す
る検出装置を備えなものどすることができる８ この発明は、このような検出系の検出装置として、以下
に図面に基づいて説明するような特定の検出装置を使用
する。

第１図（ａ）は、この発明で検出装置として使用する、
透過回折光格子を利用１．た多波長検出装Ｕ（Ｉ）の光
学配置図である。

この多波長検出装置（Ｉ＞は、液体クロマトグラフィー
等の検出用フローセル（１）内の試料成分に励起光を照
射する励起光源（２）と、励起光源（２）からの照射光
を開閉するチョッパー（３）と共に備えてあり、励起光
の照射により試料から発せられる螢光または燐光（［、
）を集光光学系（４）により点状光源または線状光源と
し、点状光源または線状光源（１２）とした光を分光分
析するようになっている０分光分析を行う光学系として
は、点状光源または線状光源（［２）の位置に焦点を有
する開口数の小さいコリメートレンズ（５）、そのコリ
メートレンズ（５）を透過した光を分光する透過型回折
格子（６）、透過型回折格子（６）を透過した光を集光
する集光レンズ（７）および集光レンズ（７）の焦点位
置に設置した一次元検出器または二次元検出器（８ｒ）
が設けである。また、−次元検出器または二次元検出器
（８りの出力側にはコンピュータ（９りが接続しである
。

この集光光学系（４）としては、検出用フローセル（１
）からの螢光または燐光（Ｌｌ）を点状または線状に集
光できるものを使用する。たとえば検出用フローセル（
１）上にピンポールまたはスリットを設けてそのフロー
セル（１）からの光を絞ることにより点状光源または線
状光源とするものでもよいし、あるいは検出用フローセ
ル（１）の形状に適合した集光窓をもち射出端が点状ま
たは線状になっているライトコネクターをそのフローセ
ル（１）上に設置するというものでもよい。ただし、高
感度検出を必要とする場合には試料成分からの螢光また
は燐光を効率高く集光できるものが好ましい、゛そのよ
うな集光光学系（４）の例としては、たとえば第２図（
ａ）に示すように、楕円面鏡（Ｈ＋）の一方の焦点（Ｆ
ｌ）に直線状の検出用フローセル（１）を配し、他方の
焦点（Ｆ２）にスリット（Ｓ）を配して試料成分からの
光を線状光源（し２）とするもの、あるいは第２図（ｂ
）に示すように、凹面鏡（Ｈ２）の鏡面に平行に蛇行状
の検出用フローセル（１）を配し、その結像位置にスリ
ット（Ｓ）を配して試料成分からの光を線状光源（［２
）とするものなどをあげることができる。

また、このような多波長検出装置（Ｉ）において試料成
分からの光を一次元検出器または二次元検出器（８りに
より検出するに際しては、集光レンズ（７）から射出す
る回折光が第１図（ａ）に実線で示した０次光（１１）
や破線で示した十と−の１次光（Ｆ４）のように干渉縞
を形成するので、−次元検出器または二次元検出器（８
ｔ）をコリメートレンズ（５）および集光レンズ（７）
の光軸からシフトさせ、それら回折光が検出器の中心に
くるように調整する。なおこの調整は、第１図（ｂ）に
示すように、コリメートレンズ（５）および集光レンズ
（７）に対する透過型回折格子（６）の設置角度を調整
することにより行ってもよい。

一次元検出器または二次元検出器（８Ｉ）としては、多
波長を同時に検出できる高感度のものを使用する。この
ような−次元検出器の例としては、光電面から放出され
る電子をマイクロチャンネルプレートで増倍し、増倍し
た電子を螢光面で発光させ、発光した螢光面をダイオー
ドアレイで検出する検出器（ｒＳＭＡＪプリンストンイ
ンスツルメンツ社製、「ＤＲ８Ｓ」トラコルノーザン社
製等）や、チャージカップルドデバイス（ＣＣＤ）ある
いはプラズマカップルドデバイス（ＰＣＤ）を利用した
検出器（［冷却型ＣＣＤカメラ」、「マルチチャンネル
」浜松ホトニクス株式会社製等）をあげることができる
。また、二次元検出器の例としては、光電面から放出さ
れる電子をマイクロチャンネルプレートで増倍し、増倍
した電子を位置検出器で検出する検出器（ｒＰｒＡｓ（
光子計数型面ｆ！ｔｌ測装置）」浜松ホトニクス株式会
社製、ｒ　Ｐ　Ｓ　Ｄ　Ｊ　Ｓ、Ｓ、Ｌ、社製等）や、
光電面から放出される電子をマイクロチャンネルグレー
トで増倍し、増倍した電子を螢光面で発光させ、発光し
た螢光面をビジコンで検出する検出器（ｒＶＩＭ（顕微
鏡用画像処理装置）」浜松ホトニクス株式会社製等）を
あげることができる。

以上のように、集光光学系（４）、透過型回折格子（６
）および−次元または二次元検出器（８Ｘ）を組み合わ
せた多波長検出装置（Ｉ）からなるこの発明の検出系は
次のように優れた作用を実現する。

すなわち、検出すべき試料成分からの螢光あるいは燐光
を点状光源または線状光源としてコリノー１−レンズ（
５）に入射させるので、コリメートレンズ（５）はその
光を高い平行度の光線にして透過型回折格子（６）に入
射させ、透過型回折格子（６）がその分解能を１−分に
発揮するようになる。またコリメートレンズ（５）と集
光レンズ（７）との間隔は透過型回折格子（６）の挿入
が可能であるかぎり近接させることができるので、装置
の小型化が実現する。さらに二１１メートレンズ（５）
と集光レンズ（７）にはＦ数の小さい明るいレンズを使
用することができるので、両レンズの合成系となる光学
系全体の明るさを−Ｆ分にきくすることができ、微弱光
の検出が容易となる。また、透過型回折格子（６）によ
り分光した発光光を多波長同時に検出できる高感度の一
次元検出器または二次元検出器（８Ｉ）により検出しコ
ンピュータ（９Ｉ）により分析するので微弱光の多波長
同時分析が可能となる。

第３図（ａ）は、上記の多波長検出装置（Ｉ）に代えて
、この発明で検出装置として使用するフーリエ分光検出
装置（ＩＩ）の例を示す光学配置図である。

このフーリエ分光検出装置（ｎ）も、上記の多波長検出
袋Ｗ＜Ｉ）と同様に、検出用フローセル（１）内の試料
成分に励起光を照射する励起光源（２）と、励起光源（
２）からの照射光を開閉するチョッパー（３）と共に設
置してあり、多波長検出装置（Ｉ）と同様の集光光学系
（４）を有している。

集光光学系（４）により点状光源または線状光源とした
螢光または燐光を分光分析する光学系としては、その螢
光または燐光を二光束に分割して干渉縞を結像させる二
光束分割干渉光字系が、コリメートレンズ（１０）、所
定の偏光成分だけを透過させる１０光子（１１）、入射
光を相互に直交する偏光成分に分けるウォラストンプリ
ズム（１２）、検光子（１３）および結像レンズ（１４
）からなっており、また、結像した干渉縞を検出する一
次元または二次元検出器（８１）がコンピュータ（９Ｋ
）に接続している光子受光位置検出可能な二次元光子計
数装置からなっている。

このフーリエ分光検出装Ｗ（ｎ）の二光束分割干渉光学
系は、第３図（ｂ）に示すように、四角光路コモンバス
干渉計から構成してもよい、すなわち、試料成分に励起
光源（２）からチョッパー（３）を介して照射光を照射
し、発生させた螢光または燐光を、集光光学系（４）に
より集光した後、コリメートレンズ（１０“）に入射さ
せ、さらにビームスプリッタ−（ＢＳ）に入射させて二
光束とし、その二光束をミラー（Ｈ，、Ｈｂ、Ｈ，）で
構成される四角光路を逆回りさせ、ビームスプリッタ−
（８３１）により再び合わせ、結像レンズ（１４’）に
より一次元または二次元検出器（８Ｉ）上に干渉縞を結
像さぜるようにする。

二光束分割干渉光学系としては、この他、三角光路コモ
ンバス干渉計やマイケルソン干渉計も利用することがで
きるが、光学系が明るく、また干渉縞が振動等の外部影
響を受は難く安定的に得られるという点から、上記のウ
ォラストンプリズムを利用した光学系あるいは四角光路
コモンバス干渉計から構成するのが好ましい。

このようなフーリエ分光検出装置（Ｉ［）に使用する検
出器（８Ｉ）としては、入射光子計数型の一次元または
二次元検出器を使用する。この検出器は、入射光子の数
を計数化し画像化して極微弱光を多波長同時検出を行う
ものであり、その検出に際しては画像信号をコンピュー
タでフーリエ変換し、インターフェログラムの空間周波
数分布の分析を行うものである。具体的には、前述の多
波長検出袋Ｈ（Ｉ）に使用する検出器と同様のものをコ
ンピュータと共に使用することができる。

以上のようなフーリエ分光検出装置（ｎ）からなるこの
発明の検出系は次のように優れた作用を実現する。すな
わち、その二光束分割干渉光学系においては、試料成分
からの螢光または燐光の干渉縞を形成し、その干渉縞を
入射光子計数型の高感度の一次元検出器または二次元検
出器に入射させる。−次元検出器または二次元検出器に
おいては、この干渉縞が螢光または燐光に含まれる各波
長成分の干渉縞を重合ぜた空間的インターフエログラム
となっていることから、その干渉縞の空間周波数分布の
分析（フーリエ変換）を行い、試料成分からの螢光また
は燐光の多波長同時分析を可能とする。

また、このような検出を可動部分の操作をすることなく
行うので、振動等の外部影響を受けにくい上、検出操作
を容易にでき、長時間の信号の積算を行うことを可能と
する。

第４図は、上記の多波長検出装置（Ｉ）あるいはフーリ
エ分光検出装置（ｎ）に代えて、この発明で検出装置と
して使用するフーリエ実時間分光装置（Ｉ［）の例を示
す光学配置図である。

このフーリエ実時間分光装置（ＩＩ［＞も、上記２つの
検出装置（工、■）と同様に、検出用フローセル（１）
内の試料成分対して励起光源（２）からチョッパー（３
）を介して励起光を照射し、それにより発生する螢光ま
たは燐光を集光光学系（４）により点状または線状に集
光し、分光分析するようになっている。

第４図に示したように、このフーリエ実時間分光装置（
ＩＩＩ）の光学配置は、四角光路コモンバス干渉計から
なる二光束分割干渉光学系（ｉ）、空間光変調管（ＭＳ
ＬＨ）等からなるインコヒーレント像・コヒーレント像
変換装置（ｉｉ）、フーリエ変換レンズ（１）等の光学
系からなるフーリエ変換光学系（ｉｉｉ）および光電検
出器からなる読取り手段（ｉｖ）からなっている。

この二光束分割干渉光学系ｍとして配した四角光路コモ
ンバス干渉計は、前記第３図（ｂ）に示したフーリエ分
光検出装置（ＩＩ）の二光束分割干渉光学系として使用
する四角光路コモンバス干渉計と同様に構成できる。二
光束分割干渉光学系ｍとしては、この他にもフーリエ分
光検出装置（ｎ）と同様に、ウォラストンプリズムを用
いた光学系や三角光路コモンバス干渉計あるいはマイケ
ルソン干渉計も使用することができるが、光学系の明る
さや干渉縞の安定性の点から、四角光路コモンパス干渉
計を使用するのが好ましい。

なお、このような二光束分割干渉光学系ｍにフローセル
（１）からの螢光または燐光を入射させる集光光学系（
４）も、前述の２つの検出装置（Ｉ、■）の集光光学系
（４）と同様に構成することができる。

二光束分割干渉光学系ｍにより結像した干渉縞をインコ
ヒーレント像からコヒーレント像に変換するインコヒー
レント像・コヒーレント像変換装置（ｉｉ）としては、
第４図に示したように、空間光変調管（ＭＳＩＭ）等を
使用して梢成することができる。

この空間光変調管（８３１８）は、光電面（ｐｃ）、加
速・集束電極系（図示せず）およびマイクロチャンネル
グレー）　（ＨＣＰ）を通常のイメージインデンジファ
イヤーと同様に梢成し、通常のイメージインデンジファ
イヤーの螢光面にかえてｌ、＋ＮｂＯ５等の電気光学結
晶板（ＥＯＣ）を取り付けたものである。また、このマ
イクロチャンネルプレート（ＨＣＰ）と電気光学結晶板
（ＥＯＣ）との間には、結晶表面電荷を制御するための
メツシュ状の二次電子捕集電極（図示せず）が設けてあ
り、さらに電気光学結晶板（ＦＯＣ）の電荷蓄積面には
、読出し光の反射効率を上げるために、誘電体ミラーが
コーティングしである。

このような空間光変調管（８３１Ｍ）においては、その
光電面（ｐｃ）が二光束分割干渉計（ｉ）からの干渉縞
の結像面に位置し、その干渉縞（空間インターフェログ
ラムのインコヒーレン１へ像）を受光すると、そのイン
コヒーレント像は光電子像に変換され、さらにマイクロ
チャンネルグレート（ＨＣＰ）により数千倍から数万倍
に増倍されて電気光学結晶板（ＥＯＣ）の表面に電荷パ
ターンを形成する。この電荷パターンは電気光学結晶板
（ＥＯＣ）を横切る電界を変化させ、電気光学効果によ
り電気光学結晶板（ＥＯＣ）の屈折率を変化させる（複
屈折性）。

フーリエ実時間分光装置（Ｉ［［）のインコヒーレント
像・コヒーレント像変換袋ｆｉ（ｉｉ）においては、こ
のように屈折率が変化した電気光学結晶板（ＥＯＣ）に
レーザの直線偏光を照射し、その反射光の開光状態の変
化を利用してコヒーレント像を形成する。すなわち、レ
ーザー光源（［＾）がらのレーザ光をビームエクスパン
ダ−（ＢＥ）によりビーム径を拡大し、開光器（Ｐ）に
より直線偏光にして電気光Ｔ結晶板（ＥＯＣ）に照射す
る。するとこの直線偏光は、電気光学結晶板（ＥＯＣ）
の表面の誘電体ミラーにて、電気光学結晶板（ＥＯＣ）
の屈折率の変化に応じた調光状態となって反射する。そ
こで、その反射光をビームスプリッタ−（ＢＳ２）によ
り第３図中下方へ反射させ、検光子（八）を透過させて
コヒーレントｆ々を形成する。

なお、インコヒーレント像・コヒーレント像変換装置（
ｉｉ）としては、上記のように空間光変調管（Ｈ３ＬＨ
）等からなる光字系を使用する曲、電気光字結晶板の二
光束分割干渉計（ｉ）ｆｉｌに誘電体ミラーコーディン
グを介して光導電性半導体膜を積層し、その積層体の両
側に透明電極を張り付けたもの等も使用することができ
る。

フーリエ実時間分光装置（Ｉ）のフーリエ変換光学系（
ｉｉｉ）は、インコヒーレント像・コヒーレント像変換
装置（ｉｉ）により得たコヒーレント像をフーリエ変換
して二次元光量分布にする光学系であり、フーリエ変換
レンズ（，９）等から構成することができる。この場合
、フーリエ変換レンズ（Ｊりに係る光学配置は常法に従
うことができ、その前焦点には電気光学結晶板（ＦＯＣ
）がくるようにすることが好ましい。このフーリエ変換
レンズ（、ｔ’）にインコヒーレントｆ象・コヒーレン
ト像変換装置（１１）からのコし−リン１−像を入射さ
せると、そのフーリエ変換ｌ／ンズ（１）の後焦点面に
空間的インターフェログラムの空間周波数分布に応じた
二次元光量分布を形成することができる。

読取り手段（ｉｖ）は、上記のようにしてフーリエ変換
光学系（ｉｉｉ）で形成した二次元光量分布を検出し、
その空間的インターフェロダラムの空間周波数分布を求
めるものであり、フーリエ変換レンズ（ｊ）の後焦点面
にフォトダイオード、ＣＣＤ等からなる光電検出器を設
置することにより構成することができる。

このように二光束分割干渉光学系（ｉ）、インコヒーレ
ント像・コヒーレント像変換装置（ｉｉ）、フーリエ変
換光学系（ｉｉｉ）および読取り手段（ｉｖ）からなる
フーリエ実時間分光装！（１）は、次のような優れた作
用を実現する。すなわち、二光束分割干渉光学系（ｉ）
では試料成分から発する螢光または燐光から干渉縞を形
成するやそして、インコヒーレント像・コヒーレント像
変換装置（ｉｉ）およびフーリエ変換光学系（ｉｉｉ）
では、その干渉縞を、：１ンピユータ等に、よるフーリ
エ変換演算や画像処理によることなく、その比較的簡単
な光学的手段にＪ：って検出し、さらに空間周波数分布
を分析し、実時間での多波長同時分析を可能とする。

なお、以−Ｈの多波長検出装置（■）、フーリエ分光検
出装置（ＩＮ）およびフーリエ実時間分光装置（ＩＩＩ
）の説明においては、いずれも螢光分析と頬光析の方法
を区別することなく述べたが、螢光分析は励起光の照射
下で試料成分が発する光を分光し、よな、燐光分析は励
起光を試料成分に照射後その照射を遮ＩＵ１シた場合に
試ｒＪ成分が遅れて発する光を分光すればよいことはい
うまでもない。

（発明の効果） 以上、詳しく説明したように、この発明によれば、液体
クロマｌ−グラフィーまたは７０−インジェクション分
析の分析系に、高感度な螢光分光および燐光分光の多波
長同時分析を行うことができる特定の検出装置を使用す
るので、容易に高感度かつ多面的な分析情報が得られる
ようになる。１、νに、検出装置と１．７フ一リエ実時
間分光装置を使用する場合には、実時間で高感度かつ多
面的な分析情報が得られるようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）、　（ｂ）は、それぞれこの発明の多波長
螢光・燐光分析装置に使用する多波長検出装置の光学配
置図である。 第２図（ａ）、　（ｂ）は、それぞれこの発明の検出装
置に使用する集光光学系の斜視図である。 第３図（ａ）、　（ｂ）は、それぞれこの発明の多波長
螢光・燐光分析装置に使用するフーリエ分光検出装置の
光学配置図である。 第４図は、この発明のフーリエ実時間分光装置〃の光学
配置図である。 ■・・・多波長検出装置 ■・・・フーリエ分光検出装置 ■・・・フーリエ実時間分光装置 ｉ・・・二光束分割干渉光学系および ｉｉ・・・イン３し−レント像・コヒーレント像変換装
置 ｉ・・・フーリエ変換光学系 ■・・・読取り手段 １・・・検出用フローセル ２・・・励起光光源 ３・・・チ　ョ　ッ　パ　− ４・・・集光光学系 ５・・・コリメートレンズ ６・・・透過型回折格子 ７・・・集光レンズ ８（，８ｇ・・・−次元検出器または二次元検出器９＋
　、９ｇ・・・コンピュータ ０．１０′・・・コリメートレンズ ト・・偏　　　光　　　子 ２・・・ウォラストンプリズム ３・・・検　　光　　子 ４．１４′・・・結像レンズ 第　　１　　図 （ａ） Ａ・・・検　　光　　子 ＩＡ・・・レーザー光源 ＢＥ・・・ビームエクスパングー ＢＳ　＋　、　ＢＳｚ・・・ビームスプリッタ−Ｆｌ、
［２・・・焦　　点 ［１・・・フローセルからの螢光または燐光［３・・・
点状光源または線状光源 Ｅ、・・・０　　　次　　光 ［４・・・１　　　次　　光 １・・・フーリエ変換レンズ Ｈ＋　　・・・楕　　円　　面　　鏡 Ｈ２・・・凹　　　面　　　鏡 ８３１Ｍ・・・空間光変調管 ＰＣ・・・光　　電　　面 ＨＣＰ・・・マイクロチャンネルプレートＥＯＣ・・・
電気光学結晶板 Ｐ・・・偏　　　光　　　器 Ｓ・・・ス　　　リ　　　ッ　　　ト 代理人　弁理士　　西　　澤　利 夫 第 （ｂ） 図 第 図 （ａ） （ｂ） 第 （ａ） 図

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）試料を液体クロマトグラフィーによって分離し、
   フローセル内の分離した試料成分に螢光または燐光を発
   生させ、その螢光または燐光を検出する分析方法におい
   て、螢光または燐光の検出装置として、螢光または燐光
   を点状光源または線状光源とする集光光学系、点状光源
   または線状光源の位置に焦点を有するコリメートレンズ
   、コリメートレンズを透過した光を分光する透過型回折
   格子、透過型回折格子を透過した光を集光する集光レン
   ズおよび集光レンズの焦点位置に設置した一次元検出器
   または二次元検出器を有してなる多波長検出装置を使用
   することを特徴とする多波長螢光・燐光分析方法。
2. （２）試料を液体クロマトグラフィーによつて分離し、
   フローセル内の分離した試料成分に螢光または燐光を発
   生させ、その螢光または燐光を検出する分析方法におい
   て、螢光または燐光の検出装置として、螢光または燐光
   を二光束に分割して干渉縞を結像させる二光束分割干渉
   光学系および結像した干渉縞を検出する入射光子計数型
   の一次元検出器または二次元検出器を有してなる空間的
   インターフェログラムタイプのフーリエ分光検出装置を
   使用することを特徴とする多波長螢光・燐光分析方法。
3. （３）試料を液体クロマトグラフィーによつて分離し、
   フローセル内の分離した試料成分に螢光または燐光を発
   生させ、その螢光または燐光を検出する分析方法におい
   て、螢光または燐光の検出装置として、螢光または燐光
   を二光束に分割して干渉縞を結像させる二光束分割干渉
   光学系と、その干渉縞のインコヒーレント像である空間
   的インターフェログラムをコヒーレント像に変換するイ
   ンコヒーレント像・コヒーレント像変換装置と、コヒー
   レント像に変換した空間的インターフェログラムを実時
   間でフーリエ変換してその空間周波数分布を二次元光量
   分布に変換するフーリエ変換光学系と、二次元光量分布
   を読取る読取り手段とを有してなるフーリエ実時間分光
   装置を使用することを特徴とする多波長螢光・燐光分析
   方法。
4. （４）フローインジェクション分析のフローセル内で成
   分試料に螢光または燐光を発生させ、その螢光または燐
   光を検出する分析方法において、螢光または燐光の検出
   装置として、請求項（１）ないし（３）いずれがに記載
   の検出装置を使用する多波長螢光・燐光分析方法。
5. （５）試料を成分に分離する液体クロマトグラフィーと
   、分離した試料成分に螢光または燐光を発生させ、その
   螢光または燐光を検出する検出装置とからなる分析装置
   において、螢光または燐光の検出装置が、請求項（１）
   ないし（３）のいずれかに記載の検出装置からなること
   を特徴とする多波長螢光・燐光分析装置。
6. （６）試料成分に螢光または燐光を発生させ、その螢光
   または燐光を検出する検出装置を備えたフローインジェ
   クション分析器からなる分析装置において、螢光または
   燐光の検出装置が、請求項（１）ないし（３）のいずれ
   かに記載の検出装置からなる多波長螢光・燐光分析装置
   。