JPH02149935A - トラッキングエラー検出方法 - Google Patents
トラッキングエラー検出方法Info
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- JPH02149935A JPH02149935A JP30383788A JP30383788A JPH02149935A JP H02149935 A JPH02149935 A JP H02149935A JP 30383788 A JP30383788 A JP 30383788A JP 30383788 A JP30383788 A JP 30383788A JP H02149935 A JPH02149935 A JP H02149935A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 51
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910021532 Calcite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、光デイスク装置における光ヘッドのトラッ
キングエラー検出方法に関する。
キングエラー検出方法に関する。
[従来の技術]
従来より、光ヘッドのトラッキングエラー検出方法とし
て1ビーム法であるプッシュプル法および3ビーム法が
一般に知られている。
て1ビーム法であるプッシュプル法および3ビーム法が
一般に知られている。
[発明が解決しようとする課題]
前記プッシュプル法は、回路構成が単純であるという長
所があるが、トラッキングエラー信号がディスクの傾き
に対して影響を受は易く、つまりディスク面振れ特性が
悪く、トラッキング動作が安定しないという欠点がある
。また、3ビーム法は回路構成は単純であるが、3ビー
ムの角度調整が繁雑であり、光学系が複雑であり、また
、光効率が低いという欠点がある。
所があるが、トラッキングエラー信号がディスクの傾き
に対して影響を受は易く、つまりディスク面振れ特性が
悪く、トラッキング動作が安定しないという欠点がある
。また、3ビーム法は回路構成は単純であるが、3ビー
ムの角度調整が繁雑であり、光学系が複雑であり、また
、光効率が低いという欠点がある。
本発明は上記1ビーム法および3ビーム法の各欠点を解
消するためになされたもので、トラッキング動作が安定
であり、かつ光効率のよい新しいトラッキングエラー検
出方法を提供することを目的とする。
消するためになされたもので、トラッキング動作が安定
であり、かつ光効率のよい新しいトラッキングエラー検
出方法を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
上記課題を解決する本発明は、単一の光源から分離させ
てもしくは2つの光源により第1ビームおよび第2ビー
ムの2つのビームを形成し、両ビームをそれぞれディス
クのトラック上とトラック間に収束させ、それぞれの反
射光を各ビームにそれぞれ対応する第1光センサおよび
第2光センサに導き、両光センサにおいていずれもプッ
シュプル方式によるトラッキングエラー信号に相当する
第1基礎信号および第2基礎信号をそれぞれ得、この2
つの基礎信号間の減算からトラッキングエラー信号を得
ることを特徴とするトラッキングエラー検出方法である
。
てもしくは2つの光源により第1ビームおよび第2ビー
ムの2つのビームを形成し、両ビームをそれぞれディス
クのトラック上とトラック間に収束させ、それぞれの反
射光を各ビームにそれぞれ対応する第1光センサおよび
第2光センサに導き、両光センサにおいていずれもプッ
シュプル方式によるトラッキングエラー信号に相当する
第1基礎信号および第2基礎信号をそれぞれ得、この2
つの基礎信号間の減算からトラッキングエラー信号を得
ることを特徴とするトラッキングエラー検出方法である
。
[作用]
上記のトラッキングエラー検出方法において、第1ビー
ムはディスクのトラック上に収束し、その反射光が当該
第1ビームに対応する第1光センサに導かれ、第1光セ
ンサの出力として、プッシュプル方式によるトラッキン
グエラー信号に相当する第1基礎信号が得られる。一方
、第2ビームはディスクのトラック間に収束し、その反
射光が第2光センサに導かれ、第2光センサの出力とし
て、同じくプッシュプル方式によるトラッキングエラー
信号に相当する第2基礎信号が得られる。
ムはディスクのトラック上に収束し、その反射光が当該
第1ビームに対応する第1光センサに導かれ、第1光セ
ンサの出力として、プッシュプル方式によるトラッキン
グエラー信号に相当する第1基礎信号が得られる。一方
、第2ビームはディスクのトラック間に収束し、その反
射光が第2光センサに導かれ、第2光センサの出力とし
て、同じくプッシュプル方式によるトラッキングエラー
信号に相当する第2基礎信号が得られる。
そして、前記第1基礎信号と第2基礎信号との間で減算
した出力がトラッキングエラー信号として出力される。
した出力がトラッキングエラー信号として出力される。
前記第1基礎信号を与えるビームがトラック上に収束す
るものであるのに対して第2基礎信号を与えるビームは
トラック間に収束するものである(ただし通常のトラッ
キング動作ボが行われている場合)から、両基礎信号は
互いに位相が反転した出力を出す、したがって、両基礎
信号間で減算して得た出力はトラッキングエラー信号と
して有効である。一方、ディスクの面振れ(ディスクの
傾き)の影響は両基礎信号のいずれにも等しく出る。し
たがって、両基礎信号を減算して得た出力(トラッキン
グエラー信号)からはディスク面振れの影響が除かれる
。
るものであるのに対して第2基礎信号を与えるビームは
トラック間に収束するものである(ただし通常のトラッ
キング動作ボが行われている場合)から、両基礎信号は
互いに位相が反転した出力を出す、したがって、両基礎
信号間で減算して得た出力はトラッキングエラー信号と
して有効である。一方、ディスクの面振れ(ディスクの
傾き)の影響は両基礎信号のいずれにも等しく出る。し
たがって、両基礎信号を減算して得た出力(トラッキン
グエラー信号)からはディスク面振れの影響が除かれる
。
[実施例]
以下、本発明の一実施例を第1図〜第7図を参照して説
明する。
明する。
第1図は本発明方法を適用した一実施例の光ヘッドの光
学系構成図である0図において、1は単一の光源として
設けられたレーザダイオード、2はレーザダイオードl
から出射された散乱光を平行光にするコリメータレンズ
である。3は透過光の±1次回折光の一方を強く他方を
弱く出すいわゆるブラッグ回折格子であり、0次光と強
い1次回折光とを用いることにより、単一光源からのレ
ーザビーム(以下ビームという)を2つのビームに分割
するための2ビ一ム形成手段として配置している。4は
ディスクへの入射光を透過しディスクからの反射光を直
角に反射するビームスプリッタ、5は2つのビームをデ
ィスク6の信号面に収束させる対物レンズ、7はディス
ク6で反射し前記ビームスプリッタ4で直角に反射され
た反射光を集光する集光レンズ、8は非点収差の屈折を
させるために配置した斜め板である。この斜め板8は一
般的な非点収差式フォーカシングエラー検出法に用いる
シリンドリカルレンズと同様にビーム形状を距離により
縦長だ円から横長だ円に順次変化させる機能を果たすも
のである。この斜め板8の代わりに当然シリンドリカル
レンズを用いることができる、9は斜め板8を透過した
反射光を検出する光検出器である。
学系構成図である0図において、1は単一の光源として
設けられたレーザダイオード、2はレーザダイオードl
から出射された散乱光を平行光にするコリメータレンズ
である。3は透過光の±1次回折光の一方を強く他方を
弱く出すいわゆるブラッグ回折格子であり、0次光と強
い1次回折光とを用いることにより、単一光源からのレ
ーザビーム(以下ビームという)を2つのビームに分割
するための2ビ一ム形成手段として配置している。4は
ディスクへの入射光を透過しディスクからの反射光を直
角に反射するビームスプリッタ、5は2つのビームをデ
ィスク6の信号面に収束させる対物レンズ、7はディス
ク6で反射し前記ビームスプリッタ4で直角に反射され
た反射光を集光する集光レンズ、8は非点収差の屈折を
させるために配置した斜め板である。この斜め板8は一
般的な非点収差式フォーカシングエラー検出法に用いる
シリンドリカルレンズと同様にビーム形状を距離により
縦長だ円から横長だ円に順次変化させる機能を果たすも
のである。この斜め板8の代わりに当然シリンドリカル
レンズを用いることができる、9は斜め板8を透過した
反射光を検出する光検出器である。
第2図は2ビ一ム形成手段として、複屈折くさび3Aを
用いた他の実施例を示す、この複屈折くさび3Aは、入
射する光に対して2つの屈折光線が現れる複屈折現象を
生じる方解石や水晶などをくさび形状番こしたものであ
る。他の点に関しては第1図と同様である。
用いた他の実施例を示す、この複屈折くさび3Aは、入
射する光に対して2つの屈折光線が現れる複屈折現象を
生じる方解石や水晶などをくさび形状番こしたものであ
る。他の点に関しては第1図と同様である。
上記構成の光学系における2つのビームはディスク上に
第3図に示すように収束するように設定されている。す
なわち、一方のビーム(第1ビームと呼ぶ)はディスク
のトラック10上に収束しくその収束した光スポットを
S+で示す)、他方のビーム(第2ビームと呼ぶ)はト
ラック10とトラック10との間に収束する(そのトラ
ック間の光スポットを82で示す)ように調整されてい
る。
第3図に示すように収束するように設定されている。す
なわち、一方のビーム(第1ビームと呼ぶ)はディスク
のトラック10上に収束しくその収束した光スポットを
S+で示す)、他方のビーム(第2ビームと呼ぶ)はト
ラック10とトラック10との間に収束する(そのトラ
ック間の光スポットを82で示す)ように調整されてい
る。
また、前記光検出器9は、例えば第4図に示すように、
前記第1ビーム(S、)に対応する第1光センサ11と
、前記第2ビーム(S2)に対応する第2光センサ12
とからなり、前記第1光センサ10は2つのセグメント
E、Fに分割された2分割光センサであり、前記第2光
センサ11はフォーカシングエラー検出用として用いら
れる4つのセグメントA、B、C,Dに分割された4分
割光センサである。なお、実施例では、非点収差の屈折
をする斜め板8を配置しているので、前記2分割光セン
サ10の分割線と通常のプッシュプル方式の場合におけ
る2分割光センサの分割線とは互いに直角である(すな
わち向きが90度異なる)、なお、第3図の各光スポッ
トS、、S、に示した記号A’、B’、C’、D’、E
’、F’ (第5図におけるものも同じ)は、ディスク
上の光スポツト内のそれらの領域(A’など)で反射し
たものが、光センサ11または12の当該記号(A’な
ど)と同じ記号の各セグメントA、B、C,D、E。
前記第1ビーム(S、)に対応する第1光センサ11と
、前記第2ビーム(S2)に対応する第2光センサ12
とからなり、前記第1光センサ10は2つのセグメント
E、Fに分割された2分割光センサであり、前記第2光
センサ11はフォーカシングエラー検出用として用いら
れる4つのセグメントA、B、C,Dに分割された4分
割光センサである。なお、実施例では、非点収差の屈折
をする斜め板8を配置しているので、前記2分割光セン
サ10の分割線と通常のプッシュプル方式の場合におけ
る2分割光センサの分割線とは互いに直角である(すな
わち向きが90度異なる)、なお、第3図の各光スポッ
トS、、S、に示した記号A’、B’、C’、D’、E
’、F’ (第5図におけるものも同じ)は、ディスク
上の光スポツト内のそれらの領域(A’など)で反射し
たものが、光センサ11または12の当該記号(A’な
ど)と同じ記号の各セグメントA、B、C,D、E。
Fにそれぞれ対応することを示す。
次に、上記の光センサ11.12からの出力に基づくト
ラッキングエラー検出方法を説明すると、両光センサ1
1,12においていずれもプッシュプル方式によるトラ
ッキングエラー信号に相当する第1基礎信号TE、およ
び第2基礎信号TE、をそれぞれ得、この2つの基礎信
号間TE、、TE2の減算からトラッキングエラー信号
TEを得る。
ラッキングエラー検出方法を説明すると、両光センサ1
1,12においていずれもプッシュプル方式によるトラ
ッキングエラー信号に相当する第1基礎信号TE、およ
び第2基礎信号TE、をそれぞれ得、この2つの基礎信
号間TE、、TE2の減算からトラッキングエラー信号
TEを得る。
すなわち、次の演算によりトラッキングエラー信号TE
を得る。なお、光センサ11,12の各セグメントA、
13.C,D、E、Fのそれぞれの出力をA、B、C,
D、E、Fで表す。
を得る。なお、光センサ11,12の各セグメントA、
13.C,D、E、Fのそれぞれの出力をA、B、C,
D、E、Fで表す。
TE=TE、−TEま
ただし、TE、=E−F
TE2= (A+D)−(B+C)
これについて詳細に説明すると、光ヘッドがディスク半
径方向(第5図中のトラックおよび光スポットの図で左
右方向)に送られる時、第1基礎信号TE、は第5図の
(a>で示す出力となり、第2基礎信号TE、は同図の
(b)で示す出力となり、図示のように両者は互いに位
相が反転した出力を出す。第5図はディスク面振れがな
い場合であるが、ディスク面振れがある場合は、各基礎
信号T E + 、 TE 2の出力には第6図の(a
)、 (b)で示す通りゆらぎが生じる。しかし、両
者間で減算してトラッキングエラー信号TE (=TE
。
径方向(第5図中のトラックおよび光スポットの図で左
右方向)に送られる時、第1基礎信号TE、は第5図の
(a>で示す出力となり、第2基礎信号TE、は同図の
(b)で示す出力となり、図示のように両者は互いに位
相が反転した出力を出す。第5図はディスク面振れがな
い場合であるが、ディスク面振れがある場合は、各基礎
信号T E + 、 TE 2の出力には第6図の(a
)、 (b)で示す通りゆらぎが生じる。しかし、両
者間で減算してトラッキングエラー信号TE (=TE
。
TE、)を得ることにより、第7図のトラッキングエラ
ー信号出力図に示すように、ディスク面振れに基づく成
分が相殺されて、ディスク面振れの影響が除かれる。
ー信号出力図に示すように、ディスク面振れに基づく成
分が相殺されて、ディスク面振れの影響が除かれる。
なお、2分割された2つのビームの出力レベルには差が
あるので、その出力レベルに応じたゲイン調整を行って
上記の減算処理を行うと、トラッキングエラー信号がよ
り正確になる。すなわち、下記のように、一方の基礎信
号出力にゲイン調整としての係数αを掛けて減算を行う
。
あるので、その出力レベルに応じたゲイン調整を行って
上記の減算処理を行うと、トラッキングエラー信号がよ
り正確になる。すなわち、下記のように、一方の基礎信
号出力にゲイン調整としての係数αを掛けて減算を行う
。
TE=TE、−αTE。
一方、フォーカシングエラー検出については非点収差法
を採用している。すなわち、第2ビームのディスクでの
反射光を非点収差の屈折をさせる斜め板8を透過させて
受光する4分割光センサ12の出力から、次の式による
フォーカシングエラー信号FEを得る。
を採用している。すなわち、第2ビームのディスクでの
反射光を非点収差の屈折をさせる斜め板8を透過させて
受光する4分割光センサ12の出力から、次の式による
フォーカシングエラー信号FEを得る。
FB= (A+C)−(B+D)
ただし、必ずしもこの非点収差法による必要はなく、非
点収差法以外のフォーカシングエラー検出方法を採用し
てもよい。
点収差法以外のフォーカシングエラー検出方法を採用し
てもよい。
[発明の効果]
本発明は上記の通り構成されているので、次のような効
果を奏する。
果を奏する。
ディスクのトラック上に収束するビームに対応する第1
基礎信号とトラック間に収束するビームに対応する第2
基礎信号との間の減算によりトラッキングエラー信号を
得るので、ディスクの面振れによって生じた成分が減算
により相殺されてディスク面振れの影響が除かれ、トラ
ッキング動作の安定性が向上する。
基礎信号とトラック間に収束するビームに対応する第2
基礎信号との間の減算によりトラッキングエラー信号を
得るので、ディスクの面振れによって生じた成分が減算
により相殺されてディスク面振れの影響が除かれ、トラ
ッキング動作の安定性が向上する。
単一光源から2ビームを得る場合においては、単一の光
源から3つのビームを得る従来の3ビーム法より光効率
が高くなる。
源から3つのビームを得る従来の3ビーム法より光効率
が高くなる。
2つのビームをトラック上とトラック間とに収束させる
際の2つのビームの角度調整操作は、従来の3ビーム法
における3つのビームの角度調整と比べて容易であり、
調整作業が容易になる。
際の2つのビームの角度調整操作は、従来の3ビーム法
における3つのビームの角度調整と比べて容易であり、
調整作業が容易になる。
第1図は本発明方法を適用した一実施例の光ヘッドの光
学系構成図、第2図は他の実施例の光ヘッドの光学系構
成図、第3図は2つのビームのディスク上の収束位置の
説明図、第4図は光センサの分割パターンの説明図、第
5図〜第7図は本発明によるトラッキングエラー検出方
法の原理を説明するもので、第5図はディスク面振れが
ない場合における第1基礎信号出力(同図中の(a))
および第2基礎信号出力(同図中の(b))の説明図、
第6図はディスク面振れがある場合における第1基礎信
号出力(同図中の(a))および第2基礎信号(同図中
の(b))の図、第7図は第6図の第1、第2基礎信号
出力から得たトラッキングエラー信号出力の図である。 1・・・レーザダイオード(光源)、3・・・ブラッグ
回折格子、3A・・・複屈折くさび、6・・・ディスク
、8・・・斜め板、9・・・光検出器、10・・・トラ
ック、11・・・2分割光センサ(光センサ)。 12・・・4分割光センサ(光センサ)、TE・・・ト
ラッキングエラー信号、 TE、・・・第1基礎信号、 TE、・・・第2基礎信号。 第1図
学系構成図、第2図は他の実施例の光ヘッドの光学系構
成図、第3図は2つのビームのディスク上の収束位置の
説明図、第4図は光センサの分割パターンの説明図、第
5図〜第7図は本発明によるトラッキングエラー検出方
法の原理を説明するもので、第5図はディスク面振れが
ない場合における第1基礎信号出力(同図中の(a))
および第2基礎信号出力(同図中の(b))の説明図、
第6図はディスク面振れがある場合における第1基礎信
号出力(同図中の(a))および第2基礎信号(同図中
の(b))の図、第7図は第6図の第1、第2基礎信号
出力から得たトラッキングエラー信号出力の図である。 1・・・レーザダイオード(光源)、3・・・ブラッグ
回折格子、3A・・・複屈折くさび、6・・・ディスク
、8・・・斜め板、9・・・光検出器、10・・・トラ
ック、11・・・2分割光センサ(光センサ)。 12・・・4分割光センサ(光センサ)、TE・・・ト
ラッキングエラー信号、 TE、・・・第1基礎信号、 TE、・・・第2基礎信号。 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、単一の光源から分離させてもしくは2つの光源によ
り第1ビームおよび第2ビームの2つのビームを形成し
、両ビームをそれぞれディスクのトラック上とトラック
間に収束させ、それぞれの反射光を各ビームにそれぞれ
対応する第1光センサおよび第2光センサに導き、両光
センサにおいていずれもプッシュプル方式によるトラッ
キングエラー信号に相当する第1基礎信号および第2基
礎信号をそれぞれ得、この2つの基礎信号間の減算から
トラッキングエラー信号を得ることを特徴とするトラッ
キングエラー検出方法。 2、前記単一光源による2ビーム形成方法として、ブラ
ッグ回折格子を用いたことを特徴とする請求項1記載の
トラッキング制御方法。 3、前記単一光源による2ビーム形成方法として、複屈
折くさびを用いたことを特徴とする請求項1記載のトラ
ッキングエラー検出方法。 4、前記第1ビームに対応する第1光センサが2分割光
センサであり、前記第2ビームに対応する第2光センサ
がフォーカシングエラー検出用の4分割光センサであり
、第1、第2の両光センサにより6分割光センサが構成
されていることを特徴とする請求項1記載のトラッキン
グエラー検出方法。 5、上記2つの基礎信号間の減算に際して、第1ビーム
と第2ビームのビーム出力レベルに応じたゲイン調整を
行った後に上記減算を行うことを特徴とする請求項1、
2、3または4記載のトラッキングエラー検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63303837A JP2614504B2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | トラッキングエラー検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63303837A JP2614504B2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | トラッキングエラー検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02149935A true JPH02149935A (ja) | 1990-06-08 |
| JP2614504B2 JP2614504B2 (ja) | 1997-05-28 |
Family
ID=17925907
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63303837A Expired - Lifetime JP2614504B2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | トラッキングエラー検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2614504B2 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5856238A (ja) * | 1981-09-28 | 1983-04-02 | Sharp Corp | 磁気光学記録再生ヘツド |
| JPS58205930A (ja) * | 1982-05-25 | 1983-12-01 | Ricoh Co Ltd | トラツキング誤差検出装置 |
| JPS6194246A (ja) * | 1984-10-15 | 1986-05-13 | Sony Corp | 光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方法 |
| JPS62145545A (ja) * | 1985-12-18 | 1987-06-29 | Sharp Corp | ピツクアツプ装置 |
-
1988
- 1988-11-30 JP JP63303837A patent/JP2614504B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5856238A (ja) * | 1981-09-28 | 1983-04-02 | Sharp Corp | 磁気光学記録再生ヘツド |
| JPS58205930A (ja) * | 1982-05-25 | 1983-12-01 | Ricoh Co Ltd | トラツキング誤差検出装置 |
| JPS6194246A (ja) * | 1984-10-15 | 1986-05-13 | Sony Corp | 光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方法 |
| JPS62145545A (ja) * | 1985-12-18 | 1987-06-29 | Sharp Corp | ピツクアツプ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2614504B2 (ja) | 1997-05-28 |
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