JPH0323977B2 - - Google Patents
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- JPH0323977B2 JPH0323977B2 JP56152082A JP15208281A JPH0323977B2 JP H0323977 B2 JPH0323977 B2 JP H0323977B2 JP 56152082 A JP56152082 A JP 56152082A JP 15208281 A JP15208281 A JP 15208281A JP H0323977 B2 JPH0323977 B2 JP H0323977B2
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- optical
- photodetector
- track
- light beam
- optical system
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光デイスク等の光学的情報記録再生装
置、特に情報トラツクからの回折光を利用した光
学的トラツク追跡装置に関するものである。
置、特に情報トラツクからの回折光を利用した光
学的トラツク追跡装置に関するものである。
光デイスク等の光学的情報記録再生装置におい
て用いられる情報トラツクの追跡装置として、光
源（例えばHe−Neレーザ、半導体レーザ）の波
長λに対してトラツクの溝またはピツトの深さが
λ／４からずれるとトラツク溝のエツジにより回
折光の非対称性が生じることを利用してトラツキ
ング制御信号を検出し、トラツク追跡を行なう装
置が知られている。この装置ではトラツクと平行
に配置された２つの光検出器でトラツク溝からの
回折光束を受光し、この２つの光検出器の出力差
をとることによりトラツキング制御信号を検出し
ている。しかし、検出器の位置が絞りこみレンズ
の遠視野領域にあるため、トラツキング制御のた
めに光スポツトを動かすと、これに伴なつて光検
出器面上の回折光束も振られ、この振れ分がトラ
ツキング制御信号に偏差成分として現われる。こ
のため正常なトラツク追跡が行なわれなくなると
いう欠点が生じる。
て用いられる情報トラツクの追跡装置として、光
源（例えばHe−Neレーザ、半導体レーザ）の波
長λに対してトラツクの溝またはピツトの深さが
λ／４からずれるとトラツク溝のエツジにより回
折光の非対称性が生じることを利用してトラツキ
ング制御信号を検出し、トラツク追跡を行なう装
置が知られている。この装置ではトラツクと平行
に配置された２つの光検出器でトラツク溝からの
回折光束を受光し、この２つの光検出器の出力差
をとることによりトラツキング制御信号を検出し
ている。しかし、検出器の位置が絞りこみレンズ
の遠視野領域にあるため、トラツキング制御のた
めに光スポツトを動かすと、これに伴なつて光検
出器面上の回折光束も振られ、この振れ分がトラ
ツキング制御信号に偏差成分として現われる。こ
のため正常なトラツク追跡が行なわれなくなると
いう欠点が生じる。
かかる装置は特開昭49−60702号に示されてお
り、第１図および第２図を用いて説明する。
り、第１図および第２図を用いて説明する。
第１図は回折光を利用したトラツク追跡装置の
概略構成を示す図である。レーザ１から出た光ビ
ームはレンズ２により平行光となり、プリズム３
および絞りこみレンズ４を通過してデイスク５面
上に1μｍφ程度のスポツト状に収束される。デ
イスク５面上には凹凸の情報トラツク５１が設け
られている。光スポツト６はトラツク５１のエツ
ジで回折され、この回折反射光は絞りこみレンズ
４、プリズム３を通り、トラツクを左右にはさむ
如く配置された２つの光検出器７ａ，７ｂに受光
される。反射光の回折成分は、光スポツトとトラ
ツクの位置関係によつて両光検出器上の光量にア
ンバランスを生じるため、両検出器の出力差を検
出することにより光スポツトとトラツクの相対位
置を検出できる。光検出器７ａ，７ｂからの２つ
の出力は差動増幅器８によつて差分され、この出
力はトラツキング制御回路９へ導かれ、絞りこみ
レンズ４に取り付けられたアクチユエータ１０を
制御することによりレンズ４を微動してトラツク
追跡を行なう。しかしトラツク追跡のため絞りこ
みレンズ４が移動すると、光軸の移動に伴なつて
検出器面上でも回折光束が移動する。すなわち、
デイスク面上でスポツトを距離ｄだけ動かす場合
には反射光束の光軸は光検出器面上を2dだけ移
動することになる。このため差動して得られる信
号には光スポツトの中心とトラツクの中心とのず
れδを示すトラツキング制御信号と、レンズ４が
ｄだけ移動したことにより、回折光束が光検出器
７面上を平行移動することによつて生じる偏差成
分が重畳されることになる。
概略構成を示す図である。レーザ１から出た光ビ
ームはレンズ２により平行光となり、プリズム３
および絞りこみレンズ４を通過してデイスク５面
上に1μｍφ程度のスポツト状に収束される。デ
イスク５面上には凹凸の情報トラツク５１が設け
られている。光スポツト６はトラツク５１のエツ
ジで回折され、この回折反射光は絞りこみレンズ
４、プリズム３を通り、トラツクを左右にはさむ
如く配置された２つの光検出器７ａ，７ｂに受光
される。反射光の回折成分は、光スポツトとトラ
ツクの位置関係によつて両光検出器上の光量にア
ンバランスを生じるため、両検出器の出力差を検
出することにより光スポツトとトラツクの相対位
置を検出できる。光検出器７ａ，７ｂからの２つ
の出力は差動増幅器８によつて差分され、この出
力はトラツキング制御回路９へ導かれ、絞りこみ
レンズ４に取り付けられたアクチユエータ１０を
制御することによりレンズ４を微動してトラツク
追跡を行なう。しかしトラツク追跡のため絞りこ
みレンズ４が移動すると、光軸の移動に伴なつて
検出器面上でも回折光束が移動する。すなわち、
デイスク面上でスポツトを距離ｄだけ動かす場合
には反射光束の光軸は光検出器面上を2dだけ移
動することになる。このため差動して得られる信
号には光スポツトの中心とトラツクの中心とのず
れδを示すトラツキング制御信号と、レンズ４が
ｄだけ移動したことにより、回折光束が光検出器
７面上を平行移動することによつて生じる偏差成
分が重畳されることになる。
この偏差成分の大きさは、光学系の構成、光検
出器の大きさ、その配置に大きく依存するもので
ある。
出器の大きさ、その配置に大きく依存するもので
ある。
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり
光検出器面上での回折光束の振れによつて生じる
偏差成分を軽減し、もつてより正確なトラツク追
跡を達成し得る光学的トラツク追跡装置を提供す
ることを目的とする。
光検出器面上での回折光束の振れによつて生じる
偏差成分を軽減し、もつてより正確なトラツク追
跡を達成し得る光学的トラツク追跡装置を提供す
ることを目的とする。
まず、本発明の原理を説明する。第２図ａ，
ｂ，ｃは絞りこみレンズによつて絞りこまれたス
ポツトとトラツクの位置関係を示す図であり、第
２図ａはスポツト６の中心がトラツク５１の中央
にある場合（この状態をPCとする）、第２図ｂは
スポツト６の中心がトラツク５１の中心より片側
にズレている場合（この状態をPLとする）、第２
図ｃはスポツト６の中心がトラツク５１の中心よ
り第２図ｂの場合と反対側にずれている場合
（PR）を示す。第３図はPC、PL、PRの各々の状態
における、光検出器面上における回折光の光量分
布を示す図である。図において、点Ｏはレンズの
移動が０の時の回折光束の中心であり、横軸は光
検出器面上の位置を示し、（トラツクは紙面に対
して垂直の方向に延在しているものとする）、た
て軸は各位置における光量を示す。またＡは回折
光束の光検出器面上での直径を表わす。スポツト
の中央がトラツクの中央にある場合、すなわち、
PCの状態では、回折光の０次光成分が中央にあ
らわれ、ほぼ対称な光量分布を示す。一方、PR、
PLのようにスポツトの中心がトラツクの中心か
らずれると、光量分布が非対称性を示す。したが
つて同図７ａ，７ｂのように２個の光検出器をト
ラツクをはさむ如くトラツク方向に対して対称に
配置し、その出力の差分信号をとることによりス
ポツトのトラツクズレ情報が得られ、この情報に
よりトラツキング制御を行なうことができる。
尚、中央に現われる０次光成分の大きさはトラツ
ク（またはピツト）の深さなどにより異なること
がある。
ｂ，ｃは絞りこみレンズによつて絞りこまれたス
ポツトとトラツクの位置関係を示す図であり、第
２図ａはスポツト６の中心がトラツク５１の中央
にある場合（この状態をPCとする）、第２図ｂは
スポツト６の中心がトラツク５１の中心より片側
にズレている場合（この状態をPLとする）、第２
図ｃはスポツト６の中心がトラツク５１の中心よ
り第２図ｂの場合と反対側にずれている場合
（PR）を示す。第３図はPC、PL、PRの各々の状態
における、光検出器面上における回折光の光量分
布を示す図である。図において、点Ｏはレンズの
移動が０の時の回折光束の中心であり、横軸は光
検出器面上の位置を示し、（トラツクは紙面に対
して垂直の方向に延在しているものとする）、た
て軸は各位置における光量を示す。またＡは回折
光束の光検出器面上での直径を表わす。スポツト
の中央がトラツクの中央にある場合、すなわち、
PCの状態では、回折光の０次光成分が中央にあ
らわれ、ほぼ対称な光量分布を示す。一方、PR、
PLのようにスポツトの中心がトラツクの中心か
らずれると、光量分布が非対称性を示す。したが
つて同図７ａ，７ｂのように２個の光検出器をト
ラツクをはさむ如くトラツク方向に対して対称に
配置し、その出力の差分信号をとることによりス
ポツトのトラツクズレ情報が得られ、この情報に
よりトラツキング制御を行なうことができる。
尚、中央に現われる０次光成分の大きさはトラツ
ク（またはピツト）の深さなどにより異なること
がある。
第４図は第３図のPCの状態（実線）および、
PCの状態でアクチユエータ１０により、絞りこ
みレンズ４がｄだけ移動した状態（P′C、破線で
図示）を示す。レンズ４がｄだけ移動することに
より、回折光束の光軸は光検出器の面上で２ｄだ
け移動する。このような状態では、トラツク中心
とスポツトの位置ズレがないにもかかわらず、図
示の７ａと７ｂのように２個の光検出器が非常に
近接している場合、その差動信号は第４図斜線部
の各部分I1〜I3を用いて （I2＋I3）−I1 となり、偽の差動信号が発生する。これが、偏差
信号として、トラツキング制御の正常な動作を妨
げることになる。第４図ではトラツクずれのない
PCの場合を示しているが、トラツクずれのある
PL、PRのばあいにも、同様な偏差信号が重畳さ
れる。
PCの状態でアクチユエータ１０により、絞りこ
みレンズ４がｄだけ移動した状態（P′C、破線で
図示）を示す。レンズ４がｄだけ移動することに
より、回折光束の光軸は光検出器の面上で２ｄだ
け移動する。このような状態では、トラツク中心
とスポツトの位置ズレがないにもかかわらず、図
示の７ａと７ｂのように２個の光検出器が非常に
近接している場合、その差動信号は第４図斜線部
の各部分I1〜I3を用いて （I2＋I3）−I1 となり、偽の差動信号が発生する。これが、偏差
信号として、トラツキング制御の正常な動作を妨
げることになる。第４図ではトラツクずれのない
PCの場合を示しているが、トラツクずれのある
PL、PRのばあいにも、同様な偏差信号が重畳さ
れる。
本発明はこの偏差信号を低減させるため、第４
図の７a′，７b′の如く、２個の光検出器をｗだけ
離して配置することを特徴としている。このよう
な幅ｗの不感帯を設けることにより、差動信号は
ほぼI3となり、偏差信号を低減させることができ
る。
図の７a′，７b′の如く、２個の光検出器をｗだけ
離して配置することを特徴としている。このよう
な幅ｗの不感帯を設けることにより、差動信号は
ほぼI3となり、偏差信号を低減させることができ
る。
不感帯の幅ｗはレンズの最大移動量をdnとす
ると、回折光束の光検出器面上での直径Ａよりも
小さくかつ、検出器面上での回折光束の光軸の移
動距離（2dn×２）よりも大きい、つまり Ａ＞ｗ＞4dn の範囲にとる。すなわち、第５図に斜線で示され
る部分に２個の光検出器をトラツクをはさむ如く
トラツクの方向に対して対称に配置する。なお、
第５図においてトラツクは図面の上下方向に延在
するものとする。なお上式において、dnは光デ
イスク装置の場合、一般にデイスクの最大偏心量
に対応する。ｗは上記範囲内で大きくとるほど０
次光しや断の効果は増大するが大きくとりすぎる
とトラツキング情報も減少するため、実際には両
者の兼ねあいから最適値を選ぶ。
ると、回折光束の光検出器面上での直径Ａよりも
小さくかつ、検出器面上での回折光束の光軸の移
動距離（2dn×２）よりも大きい、つまり Ａ＞ｗ＞4dn の範囲にとる。すなわち、第５図に斜線で示され
る部分に２個の光検出器をトラツクをはさむ如く
トラツクの方向に対して対称に配置する。なお、
第５図においてトラツクは図面の上下方向に延在
するものとする。なお上式において、dnは光デ
イスク装置の場合、一般にデイスクの最大偏心量
に対応する。ｗは上記範囲内で大きくとるほど０
次光しや断の効果は増大するが大きくとりすぎる
とトラツキング情報も減少するため、実際には両
者の兼ねあいから最適値を選ぶ。
第６図ｃは検出器面上での回折光束の直径Ａを
５mmの場合、サイズ1.0×2.5mmの光検出器を用
い、不感帯幅を０mm（第６図ａ）および1.5mm
（第６図ｂ）としたとき、レンズ移動（偏心）に
よつて発生する偏差信号を計算機シミユレーシヨ
ンによつて求めた結果を示す。
５mmの場合、サイズ1.0×2.5mmの光検出器を用
い、不感帯幅を０mm（第６図ａ）および1.5mm
（第６図ｂ）としたとき、レンズ移動（偏心）に
よつて発生する偏差信号を計算機シミユレーシヨ
ンによつて求めた結果を示す。
なお、第６図ｃはトラツクピツチが1.6μｍ、ト
ラツク深さがλ／６、光源の波長λが0.8μｍ、絞
りこみレンズの口径が５mm、絞りこみレンズの開
口数が0.5である場合の結果である。
ラツク深さがλ／６、光源の波長λが0.8μｍ、絞
りこみレンズの口径が５mm、絞りこみレンズの開
口数が0.5である場合の結果である。
図において、点線で示される曲線αが第６図ａ
の場合を示し、実線で示される曲線βが第６図ｂ
の場合を示す。第６図ｃによれば、不感帯幅ｗを
1.5mmとることにより、不感帯のない場合に比べ
てレンズ移動量が±200μｍのときに発生する偏
差信号が約1/2に低減するのがわかる。
の場合を示し、実線で示される曲線βが第６図ｂ
の場合を示す。第６図ｃによれば、不感帯幅ｗを
1.5mmとることにより、不感帯のない場合に比べ
てレンズ移動量が±200μｍのときに発生する偏
差信号が約1/2に低減するのがわかる。
デイスク偏心量に対応するdnは、レーザ光を
回転するデイスク上にデイスクのトラツクピツチ
程度のスポツト径に絞つて照射させ、その反射光
を光検出器で受け、その出力を低域フイルタにと
おすと、デイスク回転中にスポツトがトラツクを
横切つた状態を表わす信号が得られ、この信号か
らデイスクの一回転中にレーザ光が横切るトラツ
クの数にトラツクピツチを乗ずることにより測定
することができる。
回転するデイスク上にデイスクのトラツクピツチ
程度のスポツト径に絞つて照射させ、その反射光
を光検出器で受け、その出力を低域フイルタにと
おすと、デイスク回転中にスポツトがトラツクを
横切つた状態を表わす信号が得られ、この信号か
らデイスクの一回転中にレーザ光が横切るトラツ
クの数にトラツクピツチを乗ずることにより測定
することができる。
第７図ａは第１図の光学的トラツク追跡装置に
用いられる本発明の光検出器の一実施例を示す図
である。なお、第７図ａの光検出器は第１図にお
いて、レンズ４の口径を５mm、開口数を0.5、焦
点距離を4.3mmの場合の一例である。第７図ａに
おいて７a′および７b′は光検出器の受光面であ
る。本実施例ではデイスクの最大偏心量を0.2mm
とし、不感帯幅ｗを0.9mmとしたものである。な
お、第７図ａにおいて、トラツクは図面の上下方
向に延在しており、受光面７a′，７b′はトラツク
の方向に対して対称に配置される。即ち、受光面
７a′と７b′の線対称軸OXがトラツクの方向に平行
になるように配置される。第７図ｂの実線β′は第
７図ａの光検出器を用いた場合のレンズ移動距離
によつて発生する偏差信号の換算偏位を示したも
のである。なお、第７図ｂの点線α′は第７図ａと
同一サイズの光検出器で不感帯幅ｗを0.06mmとし
た時の特性を示す。これによれば、レンズ移動距
離200μｍのとき、不感帯幅ｗをレンズ移動距離
の４倍以上とることにより、偏差信号が半分以下
に減少している。
用いられる本発明の光検出器の一実施例を示す図
である。なお、第７図ａの光検出器は第１図にお
いて、レンズ４の口径を５mm、開口数を0.5、焦
点距離を4.3mmの場合の一例である。第７図ａに
おいて７a′および７b′は光検出器の受光面であ
る。本実施例ではデイスクの最大偏心量を0.2mm
とし、不感帯幅ｗを0.9mmとしたものである。な
お、第７図ａにおいて、トラツクは図面の上下方
向に延在しており、受光面７a′，７b′はトラツク
の方向に対して対称に配置される。即ち、受光面
７a′と７b′の線対称軸OXがトラツクの方向に平行
になるように配置される。第７図ｂの実線β′は第
７図ａの光検出器を用いた場合のレンズ移動距離
によつて発生する偏差信号の換算偏位を示したも
のである。なお、第７図ｂの点線α′は第７図ａと
同一サイズの光検出器で不感帯幅ｗを0.06mmとし
た時の特性を示す。これによれば、レンズ移動距
離200μｍのとき、不感帯幅ｗをレンズ移動距離
の４倍以上とることにより、偏差信号が半分以下
に減少している。
第７図ａの実施例では光検出器を回折光束の内
部のみに配置したが、本発明はこれに限定される
ものではない。たとえば第８図ａに示されるよう
に、不感帯幅ｗをレンズの最大移動距離dnの４
倍以上とりさえすれば、光検出器を回折光束より
も大きくしても良い。また、光検出器の形状も必
ずしも長方形である必要はない。たとえば第８図
ｂに示されるような形状にすることもできる。
部のみに配置したが、本発明はこれに限定される
ものではない。たとえば第８図ａに示されるよう
に、不感帯幅ｗをレンズの最大移動距離dnの４
倍以上とりさえすれば、光検出器を回折光束より
も大きくしても良い。また、光検出器の形状も必
ずしも長方形である必要はない。たとえば第８図
ｂに示されるような形状にすることもできる。
なお、第８図ａ，ｂにおいてトラツクは図面の
上下方向に延在しており、受光面７a′と７b′の線
対称軸OXがトラツクの方向とほぼ平行になるよ
うに配置される。以上の如く本発明の光学的トラ
ツク追跡装置に用いられる検出器は中央に絞りこ
みレンズの最大移動距離dnの４倍より大きく、
かつ光検出器面上での回折光束の直径Ａより小さ
い幅ｗの不感帯を有し、その不感帯に関して両側
に線対称に配置された少なくとも２個の受光部か
らなり、不感帯がトラツクの方向に平行になるよ
うに配置すればよいのである。
上下方向に延在しており、受光面７a′と７b′の線
対称軸OXがトラツクの方向とほぼ平行になるよ
うに配置される。以上の如く本発明の光学的トラ
ツク追跡装置に用いられる検出器は中央に絞りこ
みレンズの最大移動距離dnの４倍より大きく、
かつ光検出器面上での回折光束の直径Ａより小さ
い幅ｗの不感帯を有し、その不感帯に関して両側
に線対称に配置された少なくとも２個の受光部か
らなり、不感帯がトラツクの方向に平行になるよ
うに配置すればよいのである。
以上の説明においては光検出器、７ａ，７ｂに
入射する光束は平行光束としているが、本発明は
平行光束に限定されるものではない。例えば、第
９図ａまたは、ｂに示されるように、光検出器７
ａ，７ｂの前に、凸レンズ１１または凹レンズ１
２を入れることによつて光検出器に入射する回折
光束を収束または発散させて、回折光束の径を縮
小または拡大させる場合もある。この場合の不感
帯幅ｗは幾何光学的な比例計算から以下のように
指定される。すなわち、レンズ１１または１２の
焦点距離をｆ、各々のレンズの主焦点を１３，１
４とし、各主焦点から光検出器までの距離をｈと
すると、光検出器７の不感帯幅ｗを Ａ＞ｗ＞4dn・ｈ／ｆ とすればよい。ここでdnはレンズ４の最大移動
距離であり、Ａは光検出器面上での回折光束の直
径であり、レンズ１１、または１２の入射光束が
直径Ｂの平行光束であれば、Ａ＝Ｂ×ｈ／ｆとなる。
入射する光束は平行光束としているが、本発明は
平行光束に限定されるものではない。例えば、第
９図ａまたは、ｂに示されるように、光検出器７
ａ，７ｂの前に、凸レンズ１１または凹レンズ１
２を入れることによつて光検出器に入射する回折
光束を収束または発散させて、回折光束の径を縮
小または拡大させる場合もある。この場合の不感
帯幅ｗは幾何光学的な比例計算から以下のように
指定される。すなわち、レンズ１１または１２の
焦点距離をｆ、各々のレンズの主焦点を１３，１
４とし、各主焦点から光検出器までの距離をｈと
すると、光検出器７の不感帯幅ｗを Ａ＞ｗ＞4dn・ｈ／ｆ とすればよい。ここでdnはレンズ４の最大移動
距離であり、Ａは光検出器面上での回折光束の直
径であり、レンズ１１、または１２の入射光束が
直径Ｂの平行光束であれば、Ａ＝Ｂ×ｈ／ｆとなる。
以上、本発明によれば光デイスク等のトラツク
追跡装置において、トラツキング情報を含まず、
かつトラツキングに悪影響を及ぼす０次光をしや
断することにより、トラツキング偏差信号を低減
することができる。
追跡装置において、トラツキング情報を含まず、
かつトラツキングに悪影響を及ぼす０次光をしや
断することにより、トラツキング偏差信号を低減
することができる。
第１図は従来および本発明に係る光学的トラツ
ク追跡装置の概略構成を示す図、第２図ａ，ｂ，
ｃはそれぞれ光スポツトとトラツクの位置関係を
示す図、第３図は光検出器面上の光量分布を示す
図、第４図は本発明の原理を説明するための図、
第５図は本発明装置に用いられる光検出器を配置
する領域を示す図、第６図ａ，ｂおよびｃ本発明
の効果を説明するための図、第７図ａは本発明装
置に用いられる光検出器の一例を示す図、第７図
ｂは絞りこみレンズの移動距離と偏差信号換算偏
位との関係を示す図、第８図ａ，ｂはそれぞれ本
発明装置に用いられる光検出器の他の例を示す
図、第９図ａ，ｂはそれぞれ本発明の他の実施例
を示す図である。
ク追跡装置の概略構成を示す図、第２図ａ，ｂ，
ｃはそれぞれ光スポツトとトラツクの位置関係を
示す図、第３図は光検出器面上の光量分布を示す
図、第４図は本発明の原理を説明するための図、
第５図は本発明装置に用いられる光検出器を配置
する領域を示す図、第６図ａ，ｂおよびｃ本発明
の効果を説明するための図、第７図ａは本発明装
置に用いられる光検出器の一例を示す図、第７図
ｂは絞りこみレンズの移動距離と偏差信号換算偏
位との関係を示す図、第８図ａ，ｂはそれぞれ本
発明装置に用いられる光検出器の他の例を示す
図、第９図ａ，ｂはそれぞれ本発明の他の実施例
を示す図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光源と上記光源から光束を絞り込み光学系を
介して所定の記録面に設けられたトラツクへ収束
スポツトとして導く第１の光学手段と、上記トラ
ツクからの回折光束を検出する２つの受光部から
なる光検出器と、上記回折光束を上記絞り込み光
学系を介して上記光検出器へ導く第２の光学手段
と、上記光検出器の差動出力信号によつて上記収
束スポツトと上記トラツクとのずれを検出する手
段と、上記検出手段の出力に応じて上記絞り込み
光学系を移動させて、上記収束スポツトと上記ト
ラツクとのずれを修正する手段とを備えてなる光
学的トラツク追跡装置において、該２つの受光部
は、上記トラツク方向に対して対称に、上記回折
光束の光検出器面上での直径より小さくかつ上記
回折光束の光軸の光検出器面上での移動距離より
大きい距離だけ分離して配置されていることを特
徴とする光学的トラツク追跡装置。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の光学的トラツク
追跡装置において、上記第２の光学手段は、上記
回折光束を上記光検出器へ平行光束として導くと
共に、上記受光部は上記回折光束の光検出器面上
での直径をＡ、上記絞りこみ光学系の最大移動距
離をdmとするとき、不等式 Ａ＞ｗ＞4dm を満足する距離ｗだけ分離して配置されているこ
とを特徴とする光学的トラツク追跡装置。 ３ 特許請求範囲第１項記載の光学的トラツク追
跡装置において、上記第２の光学手段は上記回折
光束を収束光学系を介して上記光検出器へ導くと
共に、上記受光部は、上記回折光束の光検出器面
上での直径をＡ、上記絞り込み光学系の最大移動
距離をdm、上記収束光学系の焦点距離をｆ、上
記収束光学系の焦点から上記光検出器までの距離
をｈとするとき、不等式 Ａ＞ｗ＞4dm・ｈ／ｆ を満足する距離ｗだけ分離して配置されているこ
とを特徴とする光学的トラツク追跡装置。 ４ 特許請求範囲第１項記載の光学的トラツク追
跡装置において、上記第２の光学手段は上記回折
光束を発散光学系を介して上記光検出器へ導くと
共に、上記受光部は上記回折光束の光検出器面上
での直径をＡ、上記絞り込み光学系の最大移動距
離をdm、上記発散光学系の焦点距離をｆ、上記
発散光学系の焦点から上記光検出器までの距離を
ｈとするとき、不等式 Ａ＞ｗ＞4dm・ｈ／ｆ を満足する距離ｗだけ分離して配置されているこ
とを特徴とする光学的トラツク追跡装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15208281A JPS5856235A (ja) | 1981-09-28 | 1981-09-28 | 光学的トラツク追跡装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15208281A JPS5856235A (ja) | 1981-09-28 | 1981-09-28 | 光学的トラツク追跡装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5856235A JPS5856235A (ja) | 1983-04-02 |
| JPH0323977B2 true JPH0323977B2 (ja) | 1991-04-02 |
Family
ID=15532655
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15208281A Granted JPS5856235A (ja) | 1981-09-28 | 1981-09-28 | 光学的トラツク追跡装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5856235A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0366032A (ja) * | 1989-08-04 | 1991-03-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学ヘッド |
| JPH0770073B2 (ja) * | 1989-08-04 | 1995-07-31 | 松下電器産業株式会社 | 光学ヘッド |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5250130B2 (ja) * | 1974-02-20 | 1977-12-22 |
-
1981
- 1981-09-28 JP JP15208281A patent/JPS5856235A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5856235A (ja) | 1983-04-02 |
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