JPH0215393Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0215393Y2 JPH0215393Y2 JP1982161118U JP16111882U JPH0215393Y2 JP H0215393 Y2 JPH0215393 Y2 JP H0215393Y2 JP 1982161118 U JP1982161118 U JP 1982161118U JP 16111882 U JP16111882 U JP 16111882U JP H0215393 Y2 JPH0215393 Y2 JP H0215393Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- acoustic wave
- surface acoustic
- stem
- approximately
- adhesive member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の技術分野〕
本考案は弾性表面波デバイスに係り、特にステ
ムの形状に関するものである。
ムの形状に関するものである。
第1図a,bを参照して、弾性表面波デバイス
を説明する。第1図aにおいて、LiTaO3,
LiNbO3、セラミツク等からなる圧電性基板2の
一主面上に互いに噛み合つたくし形の入力電極3
と、この入力電極3に連結されたシールド電極4
と、このシールド電極4を介して入力電極3に対
接され、同じく互いに噛み合つたくし形の出力電
極5とが配置され、弾性表面波素子1が構成され
ている。また、入力電極3は、ボンデイング線9
により絶縁ピン6と突起7に電気的に接続されて
いる。一方、出力電極5も、ボンデイング線9に
より絶縁ピン6に電気的に接続されている。
を説明する。第1図aにおいて、LiTaO3,
LiNbO3、セラミツク等からなる圧電性基板2の
一主面上に互いに噛み合つたくし形の入力電極3
と、この入力電極3に連結されたシールド電極4
と、このシールド電極4を介して入力電極3に対
接され、同じく互いに噛み合つたくし形の出力電
極5とが配置され、弾性表面波素子1が構成され
ている。また、入力電極3は、ボンデイング線9
により絶縁ピン6と突起7に電気的に接続されて
いる。一方、出力電極5も、ボンデイング線9に
より絶縁ピン6に電気的に接続されている。
第1図bにおいて、弾性表面波素子1は基台例
えばステム12上に硬化後の厚さ略20μm乃至略
30μmの接着部材11を介して載置されている。
また、絶縁ピン6はステム12に絶縁性接着剤1
4を介して貫通植設されている。また突起7に対
応するステム12の裏面15に凹部16が設けら
れ、この凹部にはアースピン13が導電性接着剤
例えば銀ロウ17を介してステム12に植設され
ている。また、ステム12は通常、矢印19の方
向から打ち抜きプレス製形しているので、弾性表
面波素子1が配置されている側のステム12の面
の周縁部は丸味18を帯びている。この後、第2
図に示す通り、ステム12上へシエル20をかぶ
せて気密封じをし、弾性表面波デバイス21が完
成される。この時、ステム12上の丸味18があ
るので、設計時よりもシエル20とステム12と
の接合面積が略20%乃至略25%減少しシエル20
とステム12とが完全に接合しない欠点があつ
た。また、従来の弾性表面波デバイス21の重大
な欠点として第1図bにおいて、ステム12は方
向19から打ち抜きプレス製形されているので、
ステム12の弾性表面波素子1が配置されている
ステム面22に高低の差が略15μm乃至略40μm
の凹凸(以下うねりと称す)が発生する。このう
ねりにより、接着部材11の厚さが一定でなくな
り、即ち接着部材12の厚さが略15μm乃至略
40μmとなり場所によつては接着部材11の厚さ
が10μm以下の部分が顕著に発生する。この場
合、圧電性基板2内を伝播するスプリアス成分の
バルク波は、接着部材11により吸収されにくく
なる問題を有する。さらに、接着部材11の厚さ
が一定でなくなるので弾性表面波素子1と接着部
材11との接着強度の分布は略0.7kg乃至略2.5Kg
であり接着強度1kg以下となる部位が存在する
と、振動などの要因によりステム12から弾性表
面波素子1が乖離する現象が顕著に見られた。
えばステム12上に硬化後の厚さ略20μm乃至略
30μmの接着部材11を介して載置されている。
また、絶縁ピン6はステム12に絶縁性接着剤1
4を介して貫通植設されている。また突起7に対
応するステム12の裏面15に凹部16が設けら
れ、この凹部にはアースピン13が導電性接着剤
例えば銀ロウ17を介してステム12に植設され
ている。また、ステム12は通常、矢印19の方
向から打ち抜きプレス製形しているので、弾性表
面波素子1が配置されている側のステム12の面
の周縁部は丸味18を帯びている。この後、第2
図に示す通り、ステム12上へシエル20をかぶ
せて気密封じをし、弾性表面波デバイス21が完
成される。この時、ステム12上の丸味18があ
るので、設計時よりもシエル20とステム12と
の接合面積が略20%乃至略25%減少しシエル20
とステム12とが完全に接合しない欠点があつ
た。また、従来の弾性表面波デバイス21の重大
な欠点として第1図bにおいて、ステム12は方
向19から打ち抜きプレス製形されているので、
ステム12の弾性表面波素子1が配置されている
ステム面22に高低の差が略15μm乃至略40μm
の凹凸(以下うねりと称す)が発生する。このう
ねりにより、接着部材11の厚さが一定でなくな
り、即ち接着部材12の厚さが略15μm乃至略
40μmとなり場所によつては接着部材11の厚さ
が10μm以下の部分が顕著に発生する。この場
合、圧電性基板2内を伝播するスプリアス成分の
バルク波は、接着部材11により吸収されにくく
なる問題を有する。さらに、接着部材11の厚さ
が一定でなくなるので弾性表面波素子1と接着部
材11との接着強度の分布は略0.7kg乃至略2.5Kg
であり接着強度1kg以下となる部位が存在する
と、振動などの要因によりステム12から弾性表
面波素子1が乖離する現象が顕著に見られた。
本考案の弾性表面波デバイスは、上述の問題点
に鑑みて、弾性表面波素子とステムとを接着する
接着部材の厚さを一定にすることにある。
に鑑みて、弾性表面波素子とステムとを接着する
接着部材の厚さを一定にすることにある。
本考案の弾性表面波デバイスは、弾性表面波素
子が載置固定されるステム面の凹凸を略10μm以
下にすることにより、弾性表面波素子とステムと
を接着する接着部材の厚さを一定にするものであ
る。
子が載置固定されるステム面の凹凸を略10μm以
下にすることにより、弾性表面波素子とステムと
を接着する接着部材の厚さを一定にするものであ
る。
本考案の弾性表面波デバイスの基本的構造は第
1図a,bと同様なので詳細な説明は省略する。
1図a,bと同様なので詳細な説明は省略する。
本考案の弾性表面波デバイス31は、弾性表面
波素子1を接着部材11を介してステム12に載
置固定されたステム面33のうねりが略10μm以
下の平坦を有する。また、このステム面33に対
向するステム裏面34の周縁部35はステム裏面
35から打ち抜きプレスをしたために丸味35を
帯びている。
波素子1を接着部材11を介してステム12に載
置固定されたステム面33のうねりが略10μm以
下の平坦を有する。また、このステム面33に対
向するステム裏面34の周縁部35はステム裏面
35から打ち抜きプレスをしたために丸味35を
帯びている。
上述の構造の弾性表面波デバイス31はステム
面33のうねりが略10μm以下とされているの
で、接着部材12の硬化後の厚さは略20μm乃至
略30μmが容易に得られる。また、うねりが略
10μmの部分がステム面33に発生しても接着部
材12の厚さは略10μm乃至略30μmにすぎない。
従つて、本考案の弾性表面波デバイス31では、
圧電性基板2内を伝播するスプリアス成分のバル
ク波は、接着部材11により均一に吸収される。
その上、振動などの要因によりステム面33から
弾性表面波素子1が乖離する現象はほとんど見ら
れなくなつた。この理由は、接着部材11の厚さ
が一定となり、弾性表面波素子1と接着部材11
との接着強度の分布は略1.2Kg乃至略2.4Kgとな
り接着強度1Kg以下の部位が全く存在しないため
である。さらに、接着部材11の厚さが一定とな
つたので、デバイス入力電極容量の分布におい
て、従来の弾性表面波デバイスと異なり、本考案
の弾性表面波デバイスの規格容量分布即ち規格容
量はその±10%に容易に管理することができる。
その上、ステム面33の円周部即ちシエルシーリ
ング部36が丸味を帯びないので、シエルを接合
するシエルシーリングの面積が従来の弾性表面波
デバイスに比べて略20%以上広くなり、シエル2
0とステム12との溶接強度が向上した。従来の
弾性表面波デバイスでは1万個あたりのリーク不
良が略0.02%乃至略0.05%発生するに対し、本考
案の弾性表面波デバイスのリーク不良の発生率は
0.00%であつた。
面33のうねりが略10μm以下とされているの
で、接着部材12の硬化後の厚さは略20μm乃至
略30μmが容易に得られる。また、うねりが略
10μmの部分がステム面33に発生しても接着部
材12の厚さは略10μm乃至略30μmにすぎない。
従つて、本考案の弾性表面波デバイス31では、
圧電性基板2内を伝播するスプリアス成分のバル
ク波は、接着部材11により均一に吸収される。
その上、振動などの要因によりステム面33から
弾性表面波素子1が乖離する現象はほとんど見ら
れなくなつた。この理由は、接着部材11の厚さ
が一定となり、弾性表面波素子1と接着部材11
との接着強度の分布は略1.2Kg乃至略2.4Kgとな
り接着強度1Kg以下の部位が全く存在しないため
である。さらに、接着部材11の厚さが一定とな
つたので、デバイス入力電極容量の分布におい
て、従来の弾性表面波デバイスと異なり、本考案
の弾性表面波デバイスの規格容量分布即ち規格容
量はその±10%に容易に管理することができる。
その上、ステム面33の円周部即ちシエルシーリ
ング部36が丸味を帯びないので、シエルを接合
するシエルシーリングの面積が従来の弾性表面波
デバイスに比べて略20%以上広くなり、シエル2
0とステム12との溶接強度が向上した。従来の
弾性表面波デバイスでは1万個あたりのリーク不
良が略0.02%乃至略0.05%発生するに対し、本考
案の弾性表面波デバイスのリーク不良の発生率は
0.00%であつた。
次に第4図a,bを参照して本考案の弾性表面
波デバイスの製造方法について説明する。
波デバイスの製造方法について説明する。
第4図aにおいて、ステム基板を矢印44の方
向から打ち抜きプレス製形しステム41を製造す
る。その際、アースピン用の凹部43と絶縁ピン
用の貫通孔42とを同時に形成する。また、一枚
のステム基板から多数のステム41を製造するこ
とも可能である。
向から打ち抜きプレス製形しステム41を製造す
る。その際、アースピン用の凹部43と絶縁ピン
用の貫通孔42とを同時に形成する。また、一枚
のステム基板から多数のステム41を製造するこ
とも可能である。
次に第4図bにおいて、アースピン51を銀ロ
ウ52を介してステム41に取着する。それと同
時に絶縁ピン53を絶縁ガラス54を介してステ
ム41に取着する。ステム面55の弾性表面波素
子56をマウントする部分に粘度120CPS乃至
150CPSの熱硬化型2液性エポキシ接着剤を弾性
表面波素子56と略同等の面積に略100μm乃至
略120μm程度の厚みにスピンコートする。その
後、接着剤塗膜上に弾性表面波素子56を載置さ
せる。次に1時間乃至2時間125℃乃至150℃で加
熱処理し接着剤を熱硬化させ、ステム面55に弾
性表面波素子56を接着固定させる。この時、硬
化後の接着剤(以下接着部材と称する)57は略
20μm乃至略30μmの厚みになる。次に、弾性表
面波素子56の入力電極のアース電極側をステム
面55に設けられた突起59にボンデイングワイ
ヤー58で電気的に接続する。また、弾性表面波
素子56の入力電極の反対側電極は、絶縁ピン5
3へボンデイングワイヤー58で電気的に接続す
る。これと同時に、出力電極の両側の電極は各々
ステム絶縁ピンとボンデイングワイヤーで電気的
に接続する。最後に、ステム面55の周縁部61
とシエル62とを溶接し気密封止する。このよう
にして、本考案の弾性表面波デバイス63は製造
される。
ウ52を介してステム41に取着する。それと同
時に絶縁ピン53を絶縁ガラス54を介してステ
ム41に取着する。ステム面55の弾性表面波素
子56をマウントする部分に粘度120CPS乃至
150CPSの熱硬化型2液性エポキシ接着剤を弾性
表面波素子56と略同等の面積に略100μm乃至
略120μm程度の厚みにスピンコートする。その
後、接着剤塗膜上に弾性表面波素子56を載置さ
せる。次に1時間乃至2時間125℃乃至150℃で加
熱処理し接着剤を熱硬化させ、ステム面55に弾
性表面波素子56を接着固定させる。この時、硬
化後の接着剤(以下接着部材と称する)57は略
20μm乃至略30μmの厚みになる。次に、弾性表
面波素子56の入力電極のアース電極側をステム
面55に設けられた突起59にボンデイングワイ
ヤー58で電気的に接続する。また、弾性表面波
素子56の入力電極の反対側電極は、絶縁ピン5
3へボンデイングワイヤー58で電気的に接続す
る。これと同時に、出力電極の両側の電極は各々
ステム絶縁ピンとボンデイングワイヤーで電気的
に接続する。最後に、ステム面55の周縁部61
とシエル62とを溶接し気密封止する。このよう
にして、本考案の弾性表面波デバイス63は製造
される。
本考案の弾性表面波デバイスは、弾性表面波素
子が載置固定されるステム面の凹凸を略10μm以
下にすることにより、弾性表面波素子とステムと
を接着する接着部材の厚さを一定にし、圧電性基
板内を伝播するスプリアス成分のバルク波を接着
部材により効果的に均一に吸音することができ
る。
子が載置固定されるステム面の凹凸を略10μm以
下にすることにより、弾性表面波素子とステムと
を接着する接着部材の厚さを一定にし、圧電性基
板内を伝播するスプリアス成分のバルク波を接着
部材により効果的に均一に吸音することができ
る。
第1図aは弾性表面波デバイスの原理構造を示
す模式平面図、第1図bは第1図aのXーX′断
面を示す断面図、第2図は従来の弾性表面波デバ
イスを示す断面図、第3図は本考案の弾性表面波
デバイスの実施例を示す模式断面図、第4図a,
bは本考案の弾性表面波デバイスの製造方法を説
明するための模式図である。 2……圧電性基板、3……入力電極、5……出
力電極、11,57……接着部材、12,41…
…ステム、22,33,55……ステム面、1
5,37……ステム裏面、18,32……丸味。
す模式平面図、第1図bは第1図aのXーX′断
面を示す断面図、第2図は従来の弾性表面波デバ
イスを示す断面図、第3図は本考案の弾性表面波
デバイスの実施例を示す模式断面図、第4図a,
bは本考案の弾性表面波デバイスの製造方法を説
明するための模式図である。 2……圧電性基板、3……入力電極、5……出
力電極、11,57……接着部材、12,41…
…ステム、22,33,55……ステム面、1
5,37……ステム裏面、18,32……丸味。
Claims (1)
- 圧電性基板の一主面にそれぞれ少なくとも入力
電極及び出力電極が形成された弾性表面波素子を
接着部材を介して基台に載置固定された弾性表面
波デバイスにおいて、前記弾性表面波素子が載置
固定された前記基台面の凹凸は略10μm以下であ
ることを特徴とする弾性表面波デバイス。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16111882U JPS5967028U (ja) | 1982-10-26 | 1982-10-26 | 弾性表面波デバイス |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16111882U JPS5967028U (ja) | 1982-10-26 | 1982-10-26 | 弾性表面波デバイス |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5967028U JPS5967028U (ja) | 1984-05-07 |
| JPH0215393Y2 true JPH0215393Y2 (ja) | 1990-04-25 |
Family
ID=30354181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16111882U Granted JPS5967028U (ja) | 1982-10-26 | 1982-10-26 | 弾性表面波デバイス |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5967028U (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5558540A (en) * | 1978-10-25 | 1980-05-01 | Nec Home Electronics Ltd | Manufacture of semiconductor device |
| JPS57156873A (en) * | 1981-03-23 | 1982-09-28 | Fujitsu Ltd | Manufacture of metallic stem |
-
1982
- 1982-10-26 JP JP16111882U patent/JPS5967028U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5967028U (ja) | 1984-05-07 |
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