JPH02156089A - プラズマ付着装置 - Google Patents

プラズマ付着装置

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JPH02156089A
JPH02156089A JP31238188A JP31238188A JPH02156089A JP H02156089 A JPH02156089 A JP H02156089A JP 31238188 A JP31238188 A JP 31238188A JP 31238188 A JP31238188 A JP 31238188A JP H02156089 A JPH02156089 A JP H02156089A
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plasma
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plasma chamber
chamber
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Morie Hayakawa
早川 盛衛
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、プラズマ付着装置に関し、特に半導体集積
回路における眉間絶縁膜や保護膜の成膜に使用されるE
 CR(Electron CyclotronRes
onance :電子サイクロトロン共鳴)プラズマC
VD装置に関するものである。
〔従来の技術〕
一般に、半導体集積回路の絶縁膜等を成膜する方法とし
て、従来よりプラズマCVD法が採用されているが、最
近、このプラズマCVD法の一種として、ECRプラズ
マCVD法が開発され、既に実用に供されている。
二〇ECRプラズマCVD法を用いた成膜装置(以下、
ECRプラズマCVD装置と記す)を第5図に示す0図
において、1はプラズマ室であり、このプラズマ室1は
導波管2を介して導入されるマイクロ波(周波数2. 
45 GHz)に対して空洞共振器の構造をなしている
。そしてプラズマ室1の周囲には、磁気回路としてのマ
グネット3が配設され、これにより前記プラズマ室l内
に875ガウスの磁場を形成するとともに、図中下方に
発散する発散磁界を形成するようにしている。したがっ
て、プラズマ室1内にマイクロ波及びプラズマ発生用の
ガスが導入され、マグネット3に通電されると、プラズ
マ室l内には電子サイクロトロン共鳴による放電が起こ
り、高密度のプラズマが発生するとともに、このプラズ
マは、前記発散磁界の磁力線4に沿ってプラズマ室1の
下方に設けられた試料室5内に引き出される。試料室5
内には反応ガスが導入されており、前記プラズマとの反
応により形成された反応物質が、この試料室5内の基板
ホルダ6上に配置された基板7上に堆積し、膜形成が行
われる。
〔発明が解決しようとする課題〕
前記ECRプラズマCVD法は、低温で成膜できること
及び成膜速度が高速であること等の利点を有するもので
ある。しかし、プラズマ室1内から基板7に照射される
プラズマは指向性が強く、このため基板7上に形成され
る膜は、照射プラズマと垂直な面は厚く、平行な面は薄
(なり、基板表面の段差パターンを均一な膜厚で覆うこ
とができない、即ち、ステップカバレージが悪いという
問題を有している。
例えば、第6図に示すような基板7上の電極8上に絶縁
膜9を形成する場合、照射プラズマと垂直な面8aと、
平行な面8bとが交差する部分Aの膜厚が薄くなってし
まう。したがって、この絶縁膜9上にさらに導電性の膜
10を形成した場合、前記膜厚の薄い部分Aが絶縁破壊
を起こしゃすくなるという問題が生じる。
この発明の目的は、ECRプラズマCVD装置において
、ステップカバレージを改善し、基板面内での膜厚分布
を均一化することのできるプラズマ付着装置を提供する
ことにある。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係るプラズマ付着装置は、ECRプラズマC
VD装置において、基板表面近傍にプラズマ室からのプ
ラズマ流と交差する方向の磁界を形成し、かつこの磁界
を前記プラズマ流と交差する方向の面内で回転させる回
転磁界発生手段を設けたものである。
〔作用〕
この発明においては、従来と同様な操作でプラズマ室内
にプラズマを発生させ、これを発散磁界に沿って基板上
に照射させる。このとき、回転磁界発生手段により、基
板表面近傍には、前記プラズマ室からのプラズマ流に対
して交差する方向、即ち基板とほぼ平行な方向に磁界が
形成されている。さらにこの磁界は基板の平行な面内で
回転している。したがって、前記プラズマ室からのプラ
ズマ流は、基板表面近傍で、進行してきた方向と直交す
る方向に力を受けて曲げられる。
これにより、従来のECRプラズマCVD装置に比較し
て、段差パターンの側壁部へ照射されるプラズマが増加
し、前記側壁部に形成される膜の厚さが厚くなる。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例によるプラズマ付着装置の断
面構成図である0図において、1は導入されるマイクロ
波に対して空洞共振器となるように構成さたプラズマ室
であり、このプラズマ室1ニハプラズマ発生用のガスを
導入するためのガス導入口1aが設けられるとともに、
マイクロ波導入のための導波管2が接続されている。ま
た、プラズマ室1には、図示しないが、マイクロ波導入
窓、プラズマ引き出し窓等が設けられている。前記プラ
ズマ室lの周囲には、プラズマ発生用磁気回路としての
電磁コイル3が配設されており、この電磁コイル3によ
る磁界の強度は、マイクロ波による電子サイクロトロン
共鳴の条件が前記プラズマ室lの内部で成立するように
決定される。また、前記電磁コイル3によって、下方に
向けて発散する発散磁界4が形成される。
前記プラズマ室1の下方には、試料室5が設けられてい
る。試料室5内には基板ホルダ6が配置されており、こ
の基板ホルダ6上には、前記プラズマ室1から引き出さ
れたプラズマ流が照射される基板7が載置されている。
そして、前記基板ホルダ6内には、基板表面近傍で、基
板に平行な方向の、かっこの平行な方向の面内で回転す
る磁界17を発生するための回転磁界発生手段20が構
成されている0回転磁界発生手段20は、第2図及びそ
の断面側面図である第3図で示すように、前記基板ホル
ダ6に埋設された複数の電磁石11,12,13.14
を有している。各電磁石は鉄心及びその周囲に巻がれた
コイルからなり、電磁石11と電磁石13とが1対とな
って対向して、また電磁石12と電磁石14とが1対と
なって対向して配設されている。そして、これらの各電
磁石は、90°の等間隔で配置されている。
第4図は前記電磁石の各コイルlla〜14aに電圧を
印加するための回路であり、電磁石用コイルlla、1
3aには第1の交流電源15が、また電磁石12a、1
4aには第2の交流電源16が接続されている。そして
、前記第1の交流電源15と、第2の交流電[16とは
90°の位相差を有している。
次に動作について説明する。
まず、プラズマ室1内に例えばOt 、Nz等のプラズ
マ発生用のガスを導入する。そしてプラズマ室1の周囲
に設けられた電磁コイル3に通電して、プラズマ室1内
の磁束密度が875ガウスになるようにする0次に導波
管2を介して周波数2゜45GHzのマイクロ波を前記
プラズマ室1に導入する。このような条件により、プラ
ズマ室1内においては、875ガウスの磁場により回転
する電子の周波数と、マイクロ波の周波数2.45G4
1zとが一致し、電子サイクロトロン共鳴を起こす。
したがって、電子はマイクロ波から効率よくエネルギを
吸収し、低ガス圧にて高密度のプラズマが発生されるこ
ととなる。そしてこのプラズマ室1内に発生したプラズ
マは、前記電磁コイル3によって形成される発散磁界の
磁力線4に沿って引き出される。
一方、試料室5内には反応ガスが導入されるとともに、
回転磁界発生手段20によって基板7表面近傍に、基板
7と平行な面内で回転する磁界が形成されている。即ち
、電磁石用コイルlla及び13aには第1の交流電源
15により電圧が印加され、また電磁石12a及び14
aには第2の交流電源16により電圧が印加されている
。そして、これらの各電源15.16は交流で、しかも
90°位相差を有しているので、磁界の方向は基板7と
平行な面内で回転することとなる。
したがって、前記プラズマ室1から発散磁界に沿って引
き出されたプラズマ流(そのうちの荷電粒子)は、ロー
レンツ力を受けてそれまでの進行方向と直交する方向に
曲げられる0、このような方向にプラズマ流が曲げられ
ることにより、基板表面の段差パターンの側壁(第6図
の電極側面8bに相当)に対して、プラズマ流の照射角
度が浅くなり、前記側壁部へ形成される膜の厚さが厚く
なる。
このように本実施例では、基板7に平行な磁界によって
プラズマの進行方向が曲げられるので、基板上の段差パ
ターンの側壁部への照射角度が浅くなり、前記側壁部へ
形成される膜の厚さが増し、基板7の表面全体に均一な
膜形成を行うことができる。
〔他の実施例〕
(a)  前記実施例では、4つの電磁石を90s間隔
で配置し、これらに位相差90@の第1、第2の交流電
源を接続したが、電磁石の個数は前記実施例に限定され
るものではない0例えば、6個の電磁石を60°等間隔
で配置し、これらに3相交流電源を接続してもよい。
Cb)前記実施例では、複数の電磁石を固定して配置し
、これらに交流電源を接続して回転磁界を発生するよう
にしたが、1対の電磁石を用い、これを基板と平行な面
内で回転させることにより回転磁界を形成してもよく、
前記実施例と同様の効果を奏する。
(C)  前記実施例では基板の中心を中心軸として、
4個ないし6個の電磁石を設置する例であるが、これら
4個の電磁石群を周囲に複数個設置することもでき、こ
の場合は非対称の基板成膜に有益である。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明によれば、ECRプラズマCVD
装置において、基板上の段差パターンの側壁部にもプラ
ズマが充分に照射されるようになり、ステップカバレー
ジを改善でき、基板に均一な厚さの膜形成を行うことが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例によるECRブラズマCVD
装置の断面構成図、第2図はこのECRプラズマCVD
装置に用いられる回転磁界発生手段の平面図、第3図は
その断面側面図、第4図は前記回転磁界発生手段の回路
図、第5図は従来のECRプラズマCVD装置の断面構
成図、第6図はその問題点を説明するための図である。 1・・・プラズマ室、2・・・導波管、3・・・電磁コ
イル、4・・・プラズマ流、5・・・試料室、6・・・
基板ホルダ、7・・・基板、11〜14・・・電磁石、
15.16・・・交流電源、20・・・回転磁界発生手
段。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)マイクロ波が導入されプラズマを発生するプラズ
    マ室と、このプラズマ室の周囲に配設されプラズマ室内
    に電子サイクロトロン共鳴条件を満たす磁界を形成する
    ための磁気回路と、内部に基板が配置された試料室と、
    前記基板表面近傍に前記プラズマ室からのプラズマ流と
    交差する方向の磁界を形成し、かつこの磁界を前記プラ
    ズマ流と交差する方向の面内で回転させる回転磁界発生
    手段とを備えたプラズマ付着装置。
JP63312381A 1988-12-09 1988-12-09 プラズマ付着装置 Expired - Lifetime JP2725327B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04235283A (ja) * 1990-12-31 1992-08-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 被膜形成装置及び被膜形成方法
KR20030069704A (ko) * 2002-02-22 2003-08-27 주식회사 아토 반도체소자 제조장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6186942A (ja) * 1984-10-03 1986-05-02 Anelva Corp 回転磁界を用いた放電反応装置
JPS63244614A (ja) * 1987-03-30 1988-10-12 Mitsubishi Electric Corp プラズマ処理装置

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