JPH02156445A - 光磁気記録媒体およびその製法 - Google Patents

光磁気記録媒体およびその製法

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JPH02156445A
JPH02156445A JP31012688A JP31012688A JPH02156445A JP H02156445 A JPH02156445 A JP H02156445A JP 31012688 A JP31012688 A JP 31012688A JP 31012688 A JP31012688 A JP 31012688A JP H02156445 A JPH02156445 A JP H02156445A
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film
magneto
optical recording
coating film
recording medium
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JP31012688A
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Mutsumi Asano
睦己 浅野
Kiyoshi Kasai
笠井 清
Hidehiko Misaki
日出彦 三崎
Shinji Higuchi
樋口 眞次
Michie Ushio
牛尾 道江
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Tosoh Corp
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Tosoh Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光磁気記録媒体に関し、詳しくは基板上に光
磁気記録磁性膜と共に積層する被覆膜に関するものであ
る。
(従来の技術) 光記録媒体の中でも書き込み消去のできる書き換え可能
型として従来知られるものとして、相変化型、フォトク
ロミック型、光磁気型等の媒体がある。これらの書き換
え可能型の中でも光磁気型が書き込み速度や繰返し耐性
に優れており、注!1されている。
ところで、この光磁気型の光記録媒体の光磁気配Si磁
性膜(以下この膜を単に磁性膜という)には、例えば希
土類−遷移金属薄膜(以下、RET〜1膜という)ある
いはMnB1系薄膜を用いたものが従来提案されており
、このうちRE−TM股を用いたものが総合特性に優れ
ている。しかしながら、これら膜は耐食性に劣るという
欠点を有し、114食に伴い保磁力の変化、カー回転角
の減少、孔食の発生等の劣化を生じるために、記録媒体
としてC/N値(carrier to noise 
ratlo)の低下やにり率の増加につながる。
この対策としては被覆膜を磁性膜の両面あるいは11面
に形成して耐食性を向上させることが知られている。
上記m s膜を磁性膜の光入射側に設ける場合は、磁性
膜のカー回転角を大きくするカー効果エンハンスメント
の作用を持たせることができるが、力効果エンハンスメ
ントの機能を得るためには披瓜股の屈折率が大きいこと
が必要である。一方、光磁気記録媒体は合成樹脂やガラ
ス等を基板として用い、これに磁性膜と被覆膜を設けた
構造であるが、[膜には化学的に安定で、酸素や水分を
遮蔽し、基板や磁性膜との親和性が良いことが望まれ、
特に基板としてポリカーボネイトやアクリル樹脂等の合
成樹脂を用いた場合、基板や磁性膜との親和性かよく、
基板に含有されたあるいは基板を透過してくる酸素や水
分等を透過しないことが強く要求される。更に、保護膜
を磁性膜の光入射側に設ける場合は入射光が磁性膜に充
分に達するだけの透明性が必要である。
磁性膜保護とカー効果エンハンスメ′ントの機能の一つ
あるいは二つを有する被覆膜として従来、SiO、Al
2O3等の酸化物あるいはAIN。
Si3N4等の窒化物等が報告されている。しかし上記
のような被覆膜を磁性膜とともに積層した光磁気記録媒
体にも次のような欠点が指摘される。
すなわち、SiO、Al2O3等の酸化物を用いた光磁
気記録媒体は、酸化物が酸素を放出し、希土類金属を酸
化し易くなり、RE−TM膜の特性劣化が起り易いとい
う欠点があり、AINを用いたものは水分に対し安定性
に欠けるという問題を有し、SiNを用いたものは基板
との密着性が悪く剥離するという欠点がある。
(発明か解決しようとする課題) 本発明は上記の従来技術に鑑みなされたものであり、磁
性膜の腐蝕からの保護あるいはカー効果エンハンスメン
トの機能を備えた被覆膜で磁性膜を被覆してなる光磁気
記録媒体の提供を目的とするものである。
(課題を解決するための手段) 本発明音らは上記課題を解決するために鋭意検討をj゛
1なった結果、光磁気記録媒体における磁性膜の114
食からの保護あるいはカー効果エンハンスメントの機能
を備えた被覆膜を見出だし本発明を完成するに至った。
すなわち本発明は、基板上で、光磁気記録磁性膜と共に
その表裏面に磁性膜保護及び/又はカー効果エンハンス
メントのための被覆膜を積層して構成される光磁気記録
媒体であって、上記被覆膜の少なくとも一方が少なくと
もSi、C,N及びHを構成元素として含有することを
特徴とする光磁気記録媒体及びその製法である。
本発明の光磁気記録媒体における磁性膜としては、上記
したM n B i糸材料あるいはRE −T M膜を
挙げることができる。また、RE−TM膜としてはTb
FeCo系の膜やGdFeCo。
GdTbFe、TbCo、TbDyFeCo。
NdDyFeCo、DyFeCo等を例示することがで
きる。更に、プラスチック中のモノマーや水分、あるい
は外部からの水分等により劣化をうける記録材を用いた
他の記録材料、例えばWORM (write onc
e read many)用のカルコゲン等の全てにも
適用可能である。
基υにとしてはポリカーボネイト、ガラス、エポキン樹
脂等の透明な基板を用いることができ、記SiA媒体の
形状は一般的なディスク状のものの他、カード、テープ
、シート、ドラムその他任意の形状のものが採用され得
る。
本発明の光磁気記録媒体における被覆膜は、力効果エン
ハンスメントと磁性膜を腐蝕等から保護する機能の少な
くとも一方の効果を得る目的のためには磁性膜と基板と
の間に介挿され、また磁性膜を腐蝕等から保護する目的
のためには磁性膜背面に被覆される。例えば磁性膜がR
E−TM膜やM n B i系膜である場合には、基板
と磁性膜の間に介挿された股は上記2つの効果を満足さ
せる。
なお本発明の光磁気記録媒体は、前記構成元素を含Hす
る被覆膜が磁性膜の表裏両面に積層されるもの、敵性膜
の片側のみに形成され他側の面は被覆を施さない、ある
いは他の膜により被覆されるものを含む。
本発明の光磁気記録媒体における特徴的な要素は、被覆
膜が少なくとも構成元素としてSi、N。
C及びHの4つを含有することである。
被覆膜中にC原子が含有されることにより、被覆膜と基
板との親和性が良くなり密着性が向上するために、被覆
膜の剥離やクラックの発生が抑制される。特に、被覆膜
のC原子含有量が30原子%を越え、60原子%以下で
ある場合、被覆膜と基板との密着性が向上し、応力の低
減を図ることができる。また、SiとHが結合すること
によりSiの未結合手が結合され透明性が向上し、更に
被覆膜が水素を含むことにより基板との親和性が向上す
ると考えられる。上記被覆膜の基本的な骨格は安定なS
 i −N、 S i −C結合により構築され、化学
的に安定で酸素、水分の遮蔽にも優れたものである。
本発明の光磁気記録媒体の被覆膜は、構成元素として少
なくともSt、N、C及びHの4つを含有するものであ
るが、被覆膜の透明性は水素の自白°により向上してい
る。しかしながら、水素含有量が多い場合、屈折率は低
下するため、透明性を維持しつつ高い屈折率を得ること
が被覆膜のカー効果エンハンスメントの機能をもたせる
場合の一つのポイントとなる。本発明によれば、水素が
適度に被覆膜に導入されるために、透明性が高く、屈折
率の大きいカー効果エンハンスメントに適した被覆膜を
Hする光磁気記録媒体が?りられる。
本発明の媒体における被覆膜が基板と磁性膜の間′に介
挿される場合は、カー効果エンハンスメントを効果的に
利用するために被覆膜の厚みを60〜10 (l n 
mとすることが好ましく、また被覆膜が磁性11/Jの
背面保護として用いられる場合は、薄過ぎると保護効果
が低下し厚過ぎると成膜時間が長くなる等の問題から例
えば50〜150nm程度とすることが好ましい。
本発明の光磁気記録媒体の製法において、特に被覆膜を
形成する方法として、例えば金属シリコンをターゲット
とし不活性ガスにアンモニアと炭化水素ガス(好ましく
はメタンガス)、あるいはアンモニアと炭化水素(好ま
しくはメタンガス)と水素ガスを混合したガスを用いた
反応性スパッタリング法を挙げることができる。更にシ
ラン系ガス、アンモニアガス、炭化水素ガス(水素ガス
でfc釈してもよい)等を用いてCV D (cheI
licalvapor deposition)法によ
っても形成することができる。
反応性スパッタリングにより被覆膜を形成する場合、用
いる装置としては特に制限はないが、樹脂基板のときは
低温作製が必要であり、ガラス基板等において加熱を行
う場合にもスパッタリングによる温度上昇のないことが
好ましいことから、J!仮湿温度制御がし易すく、形成
速度が大きいマグネトロン装置が特に好ましく使用され
る。スパッタリングを行なう際の予備排気は残留ガスの
影響を除くためできるだけ高真空まで行うのがよい。
ターゲットとしては金属シリコンを用いるか、数96の
不純物が含まれていてもよい。また、仝スパッタガス圧
は0.15〜IPa、アンモニアガスの割合いは2〜4
0%、炭化水素ガスあるいは水素ガス割合は7〜40%
であることが好ましい。
この様に被覆膜を作製することにより、量産性か良好と
なり、密行性が強い被覆膜がiすられる。
(実施例) 以下本発明を図面を参照しつつ実施態様に基づいて説明
する。
第1図は、光磁気記録媒体の実施態様の概要をその厚み
断面で示した図であり、この図において1はガラス、ポ
リメチルメタアクリレート、ポリカーボネイト等で形成
された透明な基板を示している。この基板にはトラッキ
ング案内用の図示しない溝が形成される。
2はカー効果エンハンスメントと保護機能を兼ねて基板
1と磁性膜の間に介挿された第1の被覆膜てあり、3の
磁性膜は例えばTbFeCo系のRE−TM膜を示して
いる。
4は保護機能を持つ第2の(背面)保護膜である。
これらの第1の保護膜1および第2の保護膜4か、例え
ば構成元素に特徴をもつ被覆膜とされて本発明の光磁気
記録媒体が形成される。
第2図は光磁気記録媒体の他の実施態様の概要をその厚
み断面で示した図である。
この例では基板5と磁性膜8間の被覆膜を2層に形成さ
せており、例えばこれらの2層を保護作用を171的と
するS iO2膜6とカー効果エンハンスメント作用を
目的とするZnS膜7として形成することができる。8
は磁性膜、9は背面保護膜である。
実施例1〜8.比較例1 本発明の光磁気記録媒体の特徴的な被覆膜の特性を7I
I11定するため石英ガラス、円形カバーガラス、n型
シリコンウェハー基板の上に本発明による被覆膜と比較
のための本発明によらない被覆膜を約240nmの厚さ
に形成した。
なお、本発明の光磁気記録媒体における被覆膜を試料1
〜8(各々実施例1〜8に相当)及び比較のために本発
明の光磁気記録媒体と構成元素の異なる被覆膜を試料9
(比較例1に相当)として形成した。
被覆膜の形成は高周波電源(周波数13.56M Hz
 )と直流電源を有した2極マグネトロンスパッタ装置
(CFS−4ES徳111製作所)を用いて金属シリコ
ンをターゲットとして設置し、予備排気2X10−’P
a以下とし、基板を加熱なして2Or pmで回転して
、高周波スパッタリングにより電力300Wで、導入ガ
スを表1に示す条件て゛形成した。
シリコンウェハー上に形成した膜の組成をEPMA (
clcstron prove m1cro anal
ysis )により定量分tli した結果を表1に示
す。
表1より、メタンガス導入量が2secmを越えるとC
原子含a量が30原子%を越えることが4)かる。
また、第3図に触針式膜厚計で求めた試料1〜9の膜の
成膜速度をC原子含有量に対して示す。
同図より成膜速度はC原子が含有される場合は大きく、
試料9の5iNI1%に比べ1.7〜2倍程度になって
おり、特にC原子含有量が50原子%以上のものは大き
い値をもつことがわかる。この大きな成膜速度は媒体生
産の時間短縮に貢献することかできる。
シリコンウェハー基板上に形成した試料4の被覆膜の赤
外透過スペクトルをフーリエ変換赤外光度旧(J IR
−100日本電子(株)製)を用いて測定した。その結
果を第4図に示す。なお結果は基板のシリコンウェハー
の吸収を補正して示しである。同図より2170cm−
1近辺に5i−H結合、1160cm’近辺にN−H結
合による吸収が認められ、膜にHが含有されていること
がわかった。
第5図にシリコウェハー上に形成した膜の屈折率をエリ
プソメーターで測定した結果をC原子含h−量に対し示
す。同図より本発明の光磁気記録媒体に用いられる被覆
膜の屈折率は1.9以上あり、カー効果エンハンスメン
トの機能が期待できることがわかる。なお、石英ガラス
基板上に形成した1〜9の保護膜の透過率(波長830
nm)を分光光度計でall定した結果、全て90%以
上の透過率を示した。
第6図に円形カバーグラス上に膜を形成してカバーグラ
スの反り量の変化から算出した応力の値をC原子含有量
に対して示す。同図より、C原子含有量の増加により応
力は低下し、特に30原子%を越えると著しく小さい値
となることがわかる。
このことから、本発明の光磁気記録媒体に用いられる被
覆膜のうち、特にC原子含有量が30原子%を越えるも
のを用いることにより、被覆膜の剥離、クラックの発生
の抑制が期待されることがわかる。
実施例9〜13.比較例2.3 第1図に示した構成の光磁気記録媒体(試料10〜15
)をポリカーボネイト基板(直径13cm、llj厚1
.2mmの円盤、1.6μmピッチの案内溝付(溝幅0
.6μm)の上に、75nm厚のTb  Fe   C
o   磁性膜3と、この磁24   G4.5  1
1.5 性膜を挟む形態で本発明による保護膜を表裏面に積層し
て形成し製造した。
光磁気記録媒体の製造は、前記のスパッタリング装置を
用いて保錘膜は高周波スパッタにより、磁性膜は直流ス
パッタにより下記に従い行った。
保護膜の形成は表2に示す条件で行った。試料10〜1
5(各々実施例9〜13.比較例2に相当)の全てで保
護膜2の厚さは85nm、背面保1穫膜4の厚さは10
100n定とした。また試料16(比較例3に相当)は
保護膜2を設けておらず、背面保護膜4は試料15の条
件で形成し膜厚は1100nとした。
また磁性膜はターゲットをTbFeCoとし直流スパッ
タにより上記と同様の条件で形成した。
5・「価試験1 上記酸f、′110〜15の光磁気記録媒体について膜
の密6性を評価した。
密る性のΔp1定法は、背面保護膜の表面にナイフてl
rnm角のゴバンメを100個作り、そこにセロハンテ
ープを貼りつけ、ついで引き剥がすことにより、基板上
に残った部分の個数で表し、10回の測定の平均値を求
めた。その結果を表3に示す。同表より保護膜の密着性
はSiN膜より格段に優れるとともに、膜中のC原子含
有量の増大により被覆膜の密着性が向上し、特に30原
子%を越えると優れた密着性を有することがわかる。
表3 評価試験2 上記試料10〜16の光磁気記録媒体について、ドライ
ブ装置を用いてその記録再生特性を測定した。
使用したドライブ装置の諸元は、波長;830n m、
レンズのNA、0.5であり、測定条件は線速; 4 
m / s 、外部磁場; 5000e、記録周波数;
IMHz、デユーティ比;50%、リードパワー+0.
8mWとした。
記録パワーを3mWから8mWの範囲で0.211’l
XV間隔て変えて記録を行い第2高調波が最低となる時
のC/NUと最適記録パワーを求めた。その結果を表4
に示す。
本評価試験においてC/N値は試料10〜15の全てで
エンハンスメントの膜を持たない試1′416比べ4〜
5dB向上している。本発明の光磁気記録媒体のC/N
値はカー効果エンハンスメントの機能のため大きい値と
なっているが、特にC原子含a量が50原子%以上の試
料11と12は大きなC/ N 1lfiが得られてい
ることがわかる。従って本発明による保護膜のカー効果
エンハンスメントの機能は充分なものであることがわか
った。
また最適記録感度は試料10〜15においてカ効果エン
ハンスメントの膜を持たない試料16よりも向上してい
ることがわかり、最適記録感度は膜中にC原子を含んだ
膜の感度はSiN膜のものよりも向上していることがわ
かる。よって本発明の光磁気記録媒体は記録感度に優れ
たものであることがわかる。
表4 更に、記録感度の詳細な比較のために試料10(実施例
9)と試料15(比較例2)の媒体について、記録ビッ
ト長1.4μmと一定になるように線速と記録周波数を
変えて、線速と最適記録感度の関係を求めた。用いたド
ライブ装置、デユーティ−比は上記と同じとし、記録パ
ワーを3〜10mWの範囲で0.2mW間隔で変え、第
2高調波が最低となる記録パワーを最適記録感度とした
。その結果を第7図に示す。
同図より、本発明の媒体はSiN被覆膜を施した媒体と
比較して1〜1.5mW程度記録感度に優れ、線速が速
くなるに従い両者に差が広がることかわかる。
2000時間保持でも肉眼による観察では変化は認めら
れないが光学顕微鏡による観察で極住かの円周方向のク
ラックが確認された。また、試料10.11.12の光
磁気記録媒体は2000時間の保持でもクラック、剥離
や孔食が発生しなかった。
また孔食が発生せず反射率が変化していないことから、
本発明による保護膜は応力が小さく密着性に優れてクラ
ックや剥離の発生が抑制されているばかりか、水分や酸
素の遮蔽にも優れていることがわかる。
評価試験3 上記試料10〜15の光磁気記録媒体を65℃90%l
(Iλ・1湿度雰囲気に保持してその状態を観察した。
試料15(比較例2)のSiN膜を設けた光磁気記録媒
体は300時間の保持で膜に円周方向にクラックが発生
じた。試料13.14のC原子金白“量か30原子%以
下の被覆膜を設けた媒体は本発明の光磁気記録媒体の耐
久性は前記の密着性による違いと、応力の値によるもの
と考えられる。づまり、本発明の媒体における被覆膜は
SiとHの結合、NとHの結合により、StとNの未結
合手がHにより結合されることにより、より柔軟で応力
の小さい膜になって、密着性の向上と間伐ってクラック
や剥離の発生が起こらものであると考えられる。
(発明の効果) 以上述べたように、本発明の光磁気記録媒体は、その被
覆膜に特徴のあるものであり、その被覆膜は応力が小さ
く2JIMと磁性膜との密着性に優れ光磁気記録膜のI
i4蝕からの保護、及び/又は磁気光学エンハンスメン
トが得られ、信頼性に優れ、読みたし性能に優れたもの
となる。更に、本発明の光磁気記録媒体は記録感度に優
れたものとなる。
1:基板〜 第1図
【図面の簡単な説明】
図面第1図および第2図は本発明の対象である光磁気記
録媒体の構成概要を示した図、第3図は試料1〜9の薄
膜の成膜速度を膜のC含有量に対して示した図である。 第4図はシリコンウェハー上に形成した試料1の赤外透
過スペクトルを示す図、第5図は試料1〜9の屈折率を
膜のC含有量に対して示した図、第6図は試料1〜9の
膜の応力をC含有量に対して示した図、第7図は試料1
0と15の媒体の線速と最適記録感度の関係を示した図
である。 5〜 第2図 第3図 C含有量/原子0/。 第5図 C含有量/原子0/。 第6図 C含有量/原子”/e 第7図 線 速/m、s’1

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上で、光磁気記録磁性膜と共にその表裏面に
    磁性膜保護及び/又はカー効果エンハンスメントのため
    の被覆膜を積層して構成される光磁気記録媒体であって
    、上記被覆膜の少なくとも一方が少なくともSi、C、
    N及びHを構成元素として含有することを特徴とする光
    磁気記録媒体。
  2. (2)被覆膜のC原子含有量がHを除く構成元素の30
    原子%を越え、60原子%以下であることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項に記載の光磁気記録媒体。
  3. (3)被覆膜を、金属シリコンをターゲットとし、不活
    性ガスにアンモニアガスと炭化水素ガスを混合した雰囲
    気中で反応性スパッタリングを行ないして形成すること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項に記載
    の光磁気記録媒体の製法。
  4. (4)被覆膜を、金属シリコンをターゲットとし、不活
    性ガスにアンモニアガスと炭化水素ガスと水素ガスを混
    合した雰囲気中で反応性スパッタリングを行ない形成す
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項
    に記載の光磁気記録媒体の製法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05274730A (ja) * 1992-03-30 1993-10-22 Nec Corp 光磁気記録用単板光ディスクとその記録再生方法
US5577021A (en) * 1994-05-26 1996-11-19 Teijin Limited Optical and magnetooptical recording medium having a low thermal conductivity dielectric layer

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