JPH03187039A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPH03187039A JPH03187039A JP32520889A JP32520889A JPH03187039A JP H03187039 A JPH03187039 A JP H03187039A JP 32520889 A JP32520889 A JP 32520889A JP 32520889 A JP32520889 A JP 32520889A JP H03187039 A JPH03187039 A JP H03187039A
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- JP
- Japan
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- magneto
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- optical recording
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- sin
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は光磁気記録媒体、特にはカー回転角が大きく、
光透過性がすぐれていてC/Nもよく、記録密度の向上
をはかることができる光磁気記録媒体に関するものであ
る。
光透過性がすぐれていてC/Nもよく、記録密度の向上
をはかることができる光磁気記録媒体に関するものであ
る。
[従来の技術]
近年、情報化社会の進展に伴なって書換可能な光磁気メ
モリが注目を集めており、この光磁気メモリ用磁性膜と
してはTbFeCoなどの希土類元素−遷移金属元素膜
が用いられているが、このものは得られるカー回転角が
あまり大きくないためにこれには再生信号のG/Nが十
分でないという欠点がある。
モリが注目を集めており、この光磁気メモリ用磁性膜と
してはTbFeCoなどの希土類元素−遷移金属元素膜
が用いられているが、このものは得られるカー回転角が
あまり大きくないためにこれには再生信号のG/Nが十
分でないという欠点がある。
[発明が解決しようとする課題)
そのため、この種の光磁気記録媒体については従来公知
の非晶質磁性体膜の表面にSin、 SiN。
の非晶質磁性体膜の表面にSin、 SiN。
^IN、 51に16Nなどの誘電体層(膜)を形成し
、その膜厚を入/4n(λはレーザー波長、nは屈折率
)とすることによって見かけのカー回転角を増大させ、
C/Nを大きくする(エンハンス効果)ことが行なわれ
ているが、これによる特性向上はまだ不十分であり、こ
の誘電体層(ついてはさらに高屈折率で透明性のよいも
のが求められている。
、その膜厚を入/4n(λはレーザー波長、nは屈折率
)とすることによって見かけのカー回転角を増大させ、
C/Nを大きくする(エンハンス効果)ことが行なわれ
ているが、これによる特性向上はまだ不十分であり、こ
の誘電体層(ついてはさらに高屈折率で透明性のよいも
のが求められている。
また、ここに使用されている非晶質磁性体膜は希土類金
属を含んでいるが、この希土類金属が極めて酸化され易
いものであるために、これには高温高湿下で簡単に磁気
特性が劣化するという難点があり、上記の誘電体層に保
護膜としての役割を負わせるという提案もあるが、Si
Oなとの酸化物では逆に希土類元素がSiを還元してし
まうためにその効果は十分なものではないし、SiN、
Ai’Nなどの窒化物には、このような反応性が小さい
ので耐蝕性向上という目的には適しているものの、これ
には樹脂基板などじ成膜するときにクラックが生じ易く
、機械的強度に問題がある。
属を含んでいるが、この希土類金属が極めて酸化され易
いものであるために、これには高温高湿下で簡単に磁気
特性が劣化するという難点があり、上記の誘電体層に保
護膜としての役割を負わせるという提案もあるが、Si
Oなとの酸化物では逆に希土類元素がSiを還元してし
まうためにその効果は十分なものではないし、SiN、
Ai’Nなどの窒化物には、このような反応性が小さい
ので耐蝕性向上という目的には適しているものの、これ
には樹脂基板などじ成膜するときにクラックが生じ易く
、機械的強度に問題がある。
なお、この誘電体膜についてはONを使用することも提
案されており[M、^5ano et al、 IEE
ETrans、 Magn、 MAG−23,2820
,(1987)参照]、これは屈折率が大きく、透明で
あり、誘電体膜としての特性もすぐれているが、これに
はスパッタリング法で成膜しても完全なアモルファス状
態で形成することが難しく、組成が不均一で表面に凹凸
が生じてしまい、耐久性の点に問題がある。
案されており[M、^5ano et al、 IEE
ETrans、 Magn、 MAG−23,2820
,(1987)参照]、これは屈折率が大きく、透明で
あり、誘電体膜としての特性もすぐれているが、これに
はスパッタリング法で成膜しても完全なアモルファス状
態で形成することが難しく、組成が不均一で表面に凹凸
が生じてしまい、耐久性の点に問題がある。
[課題を解決するための手段]
本発明はこのような課題を解決することのできる光磁気
記録媒体に関するもので、これは光の入射側に皺かれる
透明基板上に、誘電体層、磁性膜、反射膜を設けてなる
光磁気記録媒体において、誘電体層がSiCとSiNと
からなる非晶質材料から作られることを特徴とするもの
である。
記録媒体に関するもので、これは光の入射側に皺かれる
透明基板上に、誘電体層、磁性膜、反射膜を設けてなる
光磁気記録媒体において、誘電体層がSiCとSiNと
からなる非晶質材料から作られることを特徴とするもの
である。
すなわち、本発明者らはカー回転角が大きく、光透過性
がすぐれていてC/Nもよく、記録密度も向上した光磁
気記録媒体を開発すべく種々検討した結果、基体上に設
けられる誘電体層をSiCとSiNとからなる非晶質材
料(以下アモルファス5iC−5iN II!材料と略
記する)で作ると、l)従来の保FiwAにくらべてI
!Jliシ難く、この膜は機械的強度、耐久性にすぐれ
ている、2)従来用いられてきたSin、 SiN、
AINなどが屈折率1.4〜1.13であるのに比べて
、このアモルファス5iC−5iN膜は屈折率が1.7
0〜2.30であるために、大きなエンハンス効果をも
っており、これはまた光透過性がよく、特に可視〜赤外
領域で極めて高い透過性を有するので、C/Hの大きな
光磁気記録媒体を与える、3)アモルファス5iC−5
iN [lは熱伝導性が小さいために照射するレーザー
の熱拡散が小さく、記録ビット径の広がりを抑えること
ができるので、記録密度の向上をはかることができる、
という効果の得られることを見出し、このアモルファス
5iC−5iN膜の形成方法、sicとSiNとのモル
比組成などについての研究を行なって本発明を完成させ
た。
がすぐれていてC/Nもよく、記録密度も向上した光磁
気記録媒体を開発すべく種々検討した結果、基体上に設
けられる誘電体層をSiCとSiNとからなる非晶質材
料(以下アモルファス5iC−5iN II!材料と略
記する)で作ると、l)従来の保FiwAにくらべてI
!Jliシ難く、この膜は機械的強度、耐久性にすぐれ
ている、2)従来用いられてきたSin、 SiN、
AINなどが屈折率1.4〜1.13であるのに比べて
、このアモルファス5iC−5iN膜は屈折率が1.7
0〜2.30であるために、大きなエンハンス効果をも
っており、これはまた光透過性がよく、特に可視〜赤外
領域で極めて高い透過性を有するので、C/Hの大きな
光磁気記録媒体を与える、3)アモルファス5iC−5
iN [lは熱伝導性が小さいために照射するレーザー
の熱拡散が小さく、記録ビット径の広がりを抑えること
ができるので、記録密度の向上をはかることができる、
という効果の得られることを見出し、このアモルファス
5iC−5iN膜の形成方法、sicとSiNとのモル
比組成などについての研究を行なって本発明を完成させ
た。
以下にこれをさらに詳述する。
[作 用コ
本発明の光磁気記録媒体は透明基板上に誘電体層、磁性
膜、反射膜を設けてなる光磁気記録媒体における誘電体
層をアモルファス51に−3IN膜としたものである。
膜、反射膜を設けてなる光磁気記録媒体における誘電体
層をアモルファス51に−3IN膜としたものである。
この光磁気記録媒体の構成は公知のものであり、これは
例えば第1図に示したように、トラッキング用ガイドグ
ループが形成されたガラス、石英ガラス、ポリカーボネ
ート樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂などからなる
透明基板1の上に誘電体膜2、磁性WA3、誘電体WA
2と同質の誘電体膜4および反射膜5を順次積層された
ものであり、これは第2図に示したように透明基板7の
上に誘電体1118、磁性膜9、誘電体1110を順次
積層した3層構造のものであってもよく、これらにおい
てほこの透明基板1.7の光の入射側から光6.11が
入射すると光6は反射膜5で反射され、磁性膜の膜厚を
厚くした′s2図のものでは入射光11は磁性lll9
で反射される。
例えば第1図に示したように、トラッキング用ガイドグ
ループが形成されたガラス、石英ガラス、ポリカーボネ
ート樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂などからなる
透明基板1の上に誘電体膜2、磁性WA3、誘電体WA
2と同質の誘電体膜4および反射膜5を順次積層された
ものであり、これは第2図に示したように透明基板7の
上に誘電体1118、磁性膜9、誘電体1110を順次
積層した3層構造のものであってもよく、これらにおい
てほこの透明基板1.7の光の入射側から光6.11が
入射すると光6は反射膜5で反射され、磁性膜の膜厚を
厚くした′s2図のものでは入射光11は磁性lll9
で反射される。
本発明の光磁気記録媒体ではこの誘電体1112゜8お
よび/または4.10が前記したアモルファス5iC−
5iN fl!で形成されるのであるが、この誘電体膜
の形成はSiCとSiNとの混合物、SiとCとの混合
物、もしくはSiとSiCとの混合物をターゲットとし
たスパッタリング法で行えばよく、このスパッタリング
はこれらのターゲットが絶縁物であるので電源として高
周波を使用し、真空装置内を不活性ガ各雰囲気中(0、
01〜0,1トール)とする必要があるが、この雰囲気
はターゲットがSiCとSiNの混合物のときにはアル
ゴンガス雰囲気とし、これが51とCとの混合物、53
とSiCとの混合物のときにはアルゴン−窒素の混合ガ
ス雰囲気とし反応性スパッタリングによって基板上に成
膜させればよい。
よび/または4.10が前記したアモルファス5iC−
5iN fl!で形成されるのであるが、この誘電体膜
の形成はSiCとSiNとの混合物、SiとCとの混合
物、もしくはSiとSiCとの混合物をターゲットとし
たスパッタリング法で行えばよく、このスパッタリング
はこれらのターゲットが絶縁物であるので電源として高
周波を使用し、真空装置内を不活性ガ各雰囲気中(0、
01〜0,1トール)とする必要があるが、この雰囲気
はターゲットがSiCとSiNの混合物のときにはアル
ゴンガス雰囲気とし、これが51とCとの混合物、53
とSiCとの混合物のときにはアルゴン−窒素の混合ガ
ス雰囲気とし反応性スパッタリングによって基板上に成
膜させればよい。
また、このようにして形成した誘電体膜におけるSiC
とSiNとの組成比には特に制限はないが、このものは
その屈折率が1.70未満では媒体表面での光の多重反
射によるθにの見かけ上の増大(エンハンス効果)が期
待できず、2.30より大きくすると膜質が低下して機
械的強度や耐久性に悪影響が及ぼされるので、この屈折
率は1.70以上で2.30以下のものとすることが好
ましく、この観点からSiCとSiNとのモル組成比は
SiC: SiN −20〜80:80〜20の範囲と
することがよく、このSiNについてはその組成比であ
るSi:Nが0.6〜1.34のものとすることがよい
。
とSiNとの組成比には特に制限はないが、このものは
その屈折率が1.70未満では媒体表面での光の多重反
射によるθにの見かけ上の増大(エンハンス効果)が期
待できず、2.30より大きくすると膜質が低下して機
械的強度や耐久性に悪影響が及ぼされるので、この屈折
率は1.70以上で2.30以下のものとすることが好
ましく、この観点からSiCとSiNとのモル組成比は
SiC: SiN −20〜80:80〜20の範囲と
することがよく、このSiNについてはその組成比であ
るSi:Nが0.6〜1.34のものとすることがよい
。
なお、本発明の光磁気記録媒体は基体上に成膜されたこ
の誘電体層の上に磁性膜と反射膜を形成するのであるが
、これらはいずれも公知のものでよく、この磁性膜は希
土類元素−遷移金属元素膜からなるもの、したがってT
b、 Dy、 Gd、 Ndなどの希土類元素とFe、
Co、 Niなどの遷移金属元素からなる、例えばT
bFe、 TbFeCo、 GdTbFe、 GdDy
FeCoなどからなる非晶質金属膜を第1図の構造のも
のでは200〜500人、第2図の構造のものでは80
0〜1.000人程度の厚さでスパッタリング法で形成
すればよく、この反射層はAj、 Cu、 Au、 A
gなどの金属膜を厚さ200〜1,000人程度で設け
ればよい。
の誘電体層の上に磁性膜と反射膜を形成するのであるが
、これらはいずれも公知のものでよく、この磁性膜は希
土類元素−遷移金属元素膜からなるもの、したがってT
b、 Dy、 Gd、 Ndなどの希土類元素とFe、
Co、 Niなどの遷移金属元素からなる、例えばT
bFe、 TbFeCo、 GdTbFe、 GdDy
FeCoなどからなる非晶質金属膜を第1図の構造のも
のでは200〜500人、第2図の構造のものでは80
0〜1.000人程度の厚さでスパッタリング法で形成
すればよく、この反射層はAj、 Cu、 Au、 A
gなどの金属膜を厚さ200〜1,000人程度で設け
ればよい。
[実施例]
つぎに本発明の実施例、比較例をあげる。
実施例1〜3、比較例1〜2
スパッタリング装置にガラス基板をセットとして110
℃に加熱し、装置内にSiCと SiNの混合物をター
ゲットとして設置し、装置内を4 X 10−’ トー
ルのアルゴンガス雰囲気とし、ここに出力600Wの高
周波を印加してスパッタリングによってガラス基板上に
アモルファス5iC−5iNからなる非晶質の誘電体層
を膜厚0.2μmとなるように設け(実施例1.2)ま
たターゲットに51とCの混合物を用い、装置内をガス
圧8X10−”トールのA「80%−N220%の雰囲
気として同じくスパッタリングにより誘電体層を作製し
た(実施例3)。なお、比較のためにターゲットを窒化
はう素(BN)、二酸化けい素(Si(h)としてBN
(比較例1 ) 、 5t(h(比較例2)を誘電体層
とするものを作り、この誘電体層のモル組成比、屈折率
、透過率を測定したところ、第1表に示したとおりの結
果が得られた。
℃に加熱し、装置内にSiCと SiNの混合物をター
ゲットとして設置し、装置内を4 X 10−’ トー
ルのアルゴンガス雰囲気とし、ここに出力600Wの高
周波を印加してスパッタリングによってガラス基板上に
アモルファス5iC−5iNからなる非晶質の誘電体層
を膜厚0.2μmとなるように設け(実施例1.2)ま
たターゲットに51とCの混合物を用い、装置内をガス
圧8X10−”トールのA「80%−N220%の雰囲
気として同じくスパッタリングにより誘電体層を作製し
た(実施例3)。なお、比較のためにターゲットを窒化
はう素(BN)、二酸化けい素(Si(h)としてBN
(比較例1 ) 、 5t(h(比較例2)を誘電体層
とするものを作り、この誘電体層のモル組成比、屈折率
、透過率を測定したところ、第1表に示したとおりの結
果が得られた。
第 1 表
また、このアモルファス5iC−5INからなる誘電体
膜についてその膜厚と可視光線透過率との関係をしらべ
たところ、波長633naの光線透過率については第3
図に示したとおりの結果が得られ、この誘電体層におけ
るSiCとSiNとのモル比とその成膜速度をしらべた
ところ、第4図に示したとおりの結果が得られ、この結
果から光の透過率は膜厚の薄くなるほど増加すること、
成膜速度はSiC:5iN=50:50のものが早く、
量産化に有利であることが確認された。
膜についてその膜厚と可視光線透過率との関係をしらべ
たところ、波長633naの光線透過率については第3
図に示したとおりの結果が得られ、この誘電体層におけ
るSiCとSiNとのモル比とその成膜速度をしらべた
ところ、第4図に示したとおりの結果が得られ、この結
果から光の透過率は膜厚の薄くなるほど増加すること、
成膜速度はSiC:5iN=50:50のものが早く、
量産化に有利であることが確認された。
なお、この誘電体膜についてはSiCとSiNとのモル
比を50:5Qとしたもの、また、BN、 5ift膜
としたもめについて各種の膜厚のものを作り、この膜厚
とカー回転角との関係をしらべたところ、第5図に示し
たとおりの結果が得られ、膜厚dがd=λ/4nとなる
8Onm付近でθkが最大値2.0となり、十分なエン
ハンス効果を示すことが確認された。
比を50:5Qとしたもの、また、BN、 5ift膜
としたもめについて各種の膜厚のものを作り、この膜厚
とカー回転角との関係をしらべたところ、第5図に示し
たとおりの結果が得られ、膜厚dがd=λ/4nとなる
8Onm付近でθkが最大値2.0となり、十分なエン
ハンス効果を示すことが確認された。
つぎにこのようにして得た誘電体膜の上に、常法によっ
て膜厚20nmのTbFe磁性膜を、またこの上に上記
と同じ方法で膜厚2On鵬のアモルファスSl(ニーS
iN B電体膜を設け、さらにこの上に高周波出力20
0W、アルゴンガス圧7xlO−’トールの条件下での
スパッタリングによって膜厚40rvのアル主ニウム反
射膜を設けて第1図に示したような光磁気記録媒体を作
り、このものの85℃、85%RHでの耐久性試験を行
なったところ、その保持力変化と保持時間(hrs)に
ついて第6図に示したような結果が得られ、実施例とし
てのアモルファス5iC−5iN誘電体層のものは比較
例としてのBN、 5102を誘電体層とするものにく
らべてすぐれており、実施例のものが500時間経過後
も保持力が殆んど低下しないのに対し、BN、 Sin
、ではこれがかなり低下することが確認された。
て膜厚20nmのTbFe磁性膜を、またこの上に上記
と同じ方法で膜厚2On鵬のアモルファスSl(ニーS
iN B電体膜を設け、さらにこの上に高周波出力20
0W、アルゴンガス圧7xlO−’トールの条件下での
スパッタリングによって膜厚40rvのアル主ニウム反
射膜を設けて第1図に示したような光磁気記録媒体を作
り、このものの85℃、85%RHでの耐久性試験を行
なったところ、その保持力変化と保持時間(hrs)に
ついて第6図に示したような結果が得られ、実施例とし
てのアモルファス5iC−5iN誘電体層のものは比較
例としてのBN、 5102を誘電体層とするものにく
らべてすぐれており、実施例のものが500時間経過後
も保持力が殆んど低下しないのに対し、BN、 Sin
、ではこれがかなり低下することが確認された。
[発明め効果]
本発明は光磁気記録媒体に関するもので、これは前記し
たように基板に誘電体膜、磁性膜、反射膜を設けた光磁
気記録媒体において、この誘電体をSiCとSiNとか
らなる非晶質材料とするというものであり、これによれ
ばこの誘電体膜が屈折率1.70〜2.30のものとな
るので大きなエンハンス効果をもつものとなり、カー回
転角の増大がはかれるし、これはまた光透過性がすぐれ
ているのでC/Nが増大されるほか、この非晶質膜は膜
面が平滑で、機械的強度、耐久性がすぐれたものとなり
、熱伝導度が小さいのでレーザーの熱拡散が小さくなっ
て記録ビットの径の広がりが抑えられるので記録密度が
向上されるという有利性が与えられる。
たように基板に誘電体膜、磁性膜、反射膜を設けた光磁
気記録媒体において、この誘電体をSiCとSiNとか
らなる非晶質材料とするというものであり、これによれ
ばこの誘電体膜が屈折率1.70〜2.30のものとな
るので大きなエンハンス効果をもつものとなり、カー回
転角の増大がはかれるし、これはまた光透過性がすぐれ
ているのでC/Nが増大されるほか、この非晶質膜は膜
面が平滑で、機械的強度、耐久性がすぐれたものとなり
、熱伝導度が小さいのでレーザーの熱拡散が小さくなっ
て記録ビットの径の広がりが抑えられるので記録密度が
向上されるという有利性が与えられる。
第1図、第2図は光磁気記録媒体の構成図、第3図はア
モルファス5iC−5iN誘電体膜のSiCとSiNと
のモル比と可視光線透過率との関係グラフ、第4図は同
じくこのSiCとSiNのモル比と成膜速度との関係グ
ラフ、第5図は実施例、比較例における誘電体膜の膜厚
とカー回転角との関係グラフ、第6図は実施例、比較例
における保持時間と保磁力との関係グラフを示したもの
である。 図中の符号: 1.7・・・透明基板 2.4,8.10・ ・誘電体膜(層)3.9・・・磁
性膜 反射膜 5llN4 SiC+431.N4(モルシツ 第 図 +00 00 00 00 00 保持時間 (11) 第 図 カー回転角(度) □へ#速度(刃/今) 手続補正書 平成 2年10月16日 平成 1年特許願第325208号 2゜ 発明の名称 光磁気記録媒体 名 称 (206) 信越化学工業株式会社 4゜
モルファス5iC−5iN誘電体膜のSiCとSiNと
のモル比と可視光線透過率との関係グラフ、第4図は同
じくこのSiCとSiNのモル比と成膜速度との関係グ
ラフ、第5図は実施例、比較例における誘電体膜の膜厚
とカー回転角との関係グラフ、第6図は実施例、比較例
における保持時間と保磁力との関係グラフを示したもの
である。 図中の符号: 1.7・・・透明基板 2.4,8.10・ ・誘電体膜(層)3.9・・・磁
性膜 反射膜 5llN4 SiC+431.N4(モルシツ 第 図 +00 00 00 00 00 保持時間 (11) 第 図 カー回転角(度) □へ#速度(刃/今) 手続補正書 平成 2年10月16日 平成 1年特許願第325208号 2゜ 発明の名称 光磁気記録媒体 名 称 (206) 信越化学工業株式会社 4゜
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光の入射側に置かれる透明基板上に、誘電体層、磁
性膜、反射膜を設けて成る光磁気記録媒体において、誘
電体層がSiCとSiNとからなる非晶質材料で作られ
ることを特徴とする光磁気記録媒体。 2、非晶質材料がモル組成比でSiC:SiN=20〜
80:80〜20で、SiNがSiN=0.6〜1.3
4であるものとされる請求項1に記載の光磁気記録媒体
。 3、非晶質材料が屈折率(n)=1.70〜2.30の
ものとされる請求項1または2に記載の光磁気記録媒体
。 4、誘電体層がスパッタリング法によって形成される請
求項1、2または3に記載の光磁気記録媒体。 5、誘電体層がSiCとSiNの混合物をターゲットと
し、アルゴンガス雰囲気下でのスパッタリング法によっ
て形成される請求項1、2または3に記載の光磁気記録
媒体。 6、誘電体層がSiとCとの混合物をターゲットとし、
アルゴン−窒素混合ガス雰囲気下でのスパッタリング法
で形成される請求項1に記載の光磁気記録媒体。 7、誘電体層がSiとSiCの混合物をターゲットとし
、アルゴン−窒素混合ガス雰囲気下でのスパッタリング
法で形成される請求項1、2または3に記載の光磁気記
録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32520889A JPH03187039A (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32520889A JPH03187039A (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03187039A true JPH03187039A (ja) | 1991-08-15 |
Family
ID=18174235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32520889A Pending JPH03187039A (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03187039A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000069784A1 (en) * | 1999-05-18 | 2000-11-23 | Cardinal Ig Company | Hard, scratch-resistant coatings for substrates |
| US6964731B1 (en) | 1998-12-21 | 2005-11-15 | Cardinal Cg Company | Soil-resistant coating for glass surfaces |
| US6974629B1 (en) | 1999-08-06 | 2005-12-13 | Cardinal Cg Company | Low-emissivity, soil-resistant coating for glass surfaces |
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