JPH02163622A - フーリエ変換赤外分光光度計 - Google Patents
フーリエ変換赤外分光光度計Info
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- JPH02163622A JPH02163622A JP31926288A JP31926288A JPH02163622A JP H02163622 A JPH02163622 A JP H02163622A JP 31926288 A JP31926288 A JP 31926288A JP 31926288 A JP31926288 A JP 31926288A JP H02163622 A JPH02163622 A JP H02163622A
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光源、干渉計、干渉計駆動回路、試料室、検
出器等から成る分析部と、その分析部から出力されるイ
ンターフェログラムを加算平均する加算平均回路、その
加算平均回路からの出力データにフーリエ変換処理を施
すフーリエ変換回路そのフーリエ変換回路からの出力デ
ータに基いて測定対象に関するスペクトルを演算するス
ペクトル演算回路等から成るデータ処理部とを備えてい
るフーリエ変換赤外分光光度針（一般ムこＦＴ−ＮＲと
称される）に係り、特に、そのＦＴ−ＩＨにおける新規
なデータザンプリング技術に関する。
出器等から成る分析部と、その分析部から出力されるイ
ンターフェログラムを加算平均する加算平均回路、その
加算平均回路からの出力データにフーリエ変換処理を施
すフーリエ変換回路そのフーリエ変換回路からの出力デ
ータに基いて測定対象に関するスペクトルを演算するス
ペクトル演算回路等から成るデータ処理部とを備えてい
るフーリエ変換赤外分光光度針（一般ムこＦＴ−ＮＲと
称される）に係り、特に、そのＦＴ−ＩＨにおける新規
なデータザンプリング技術に関する。
従来一般のフーリエ変換赤外分光光度計は、第６図の全
体概略ブロック回路構成図に示すように、干渉計１に対
して赤外光を発する光源２．その干渉計１を駆動するた
めのモーター等から成る干渉計駆動回路３．前記干渉計
１から照射されて試料室４を通過した赤外光を検出する
だめの検出器５等から成る分析部へと、その分析計Ａに
おける検出器５から出力される測定データ（一般にイン
ターフェログラムと称される）を加算平均するだめの加
算平均回路６と、その加算平均回路６から出力されるデ
ータ（加算平均されたインターフェログラム）にフーリ
エ変換処理を施すための高速フーリエ変換回路７ （一
般にＦＦＴと称される）およびそのフーリエ変換回路７
による処理データに基いて測定対象に関するスペクトル
を得るためのスペクトル演算回路８等で構成されるデー
タ処理部Ｂと、前記分析部Ａにおける干渉計駆動回路３
および前記データ処理部Ｂにおける加算平均回路６、フ
ーリエ変換回路７．スペクトル演算回路８等を所定のシ
ーケンスで制御するシーケンサ−Ｃとで構成されている
。
体概略ブロック回路構成図に示すように、干渉計１に対
して赤外光を発する光源２．その干渉計１を駆動するた
めのモーター等から成る干渉計駆動回路３．前記干渉計
１から照射されて試料室４を通過した赤外光を検出する
だめの検出器５等から成る分析部へと、その分析計Ａに
おける検出器５から出力される測定データ（一般にイン
ターフェログラムと称される）を加算平均するだめの加
算平均回路６と、その加算平均回路６から出力されるデ
ータ（加算平均されたインターフェログラム）にフーリ
エ変換処理を施すための高速フーリエ変換回路７ （一
般にＦＦＴと称される）およびそのフーリエ変換回路７
による処理データに基いて測定対象に関するスペクトル
を得るためのスペクトル演算回路８等で構成されるデー
タ処理部Ｂと、前記分析部Ａにおける干渉計駆動回路３
および前記データ処理部Ｂにおける加算平均回路６、フ
ーリエ変換回路７．スペクトル演算回路８等を所定のシ
ーケンスで制御するシーケンサ−Ｃとで構成されている
。
上記したような従来構成のフーリエ変換赤外分光光度針
においては、分析計Ａにおける検出器５から出力される
測定データ（インターフェログラム）が全てデータ処理
部Ｂにおける加算平均回路６へ入力されて加算平均処理
されるように構成されていたために、次のような問題が
あった。
においては、分析計Ａにおける検出器５から出力される
測定データ（インターフェログラム）が全てデータ処理
部Ｂにおける加算平均回路６へ入力されて加算平均処理
されるように構成されていたために、次のような問題が
あった。
即ち、例えば、測定中に装置本体に物体が直接接触して
衝撃が加わったり、あるいは、装置本体を支持している
台や床に何らかの原因で振動が生してその振動が装置本
体に伝達されたりすると、分析部Ａ（特に干渉計１）が
その影響を受けて検出器５から出力されるインターフェ
ログラムが一時的に乱れるが、その乱れたインターフェ
ログラムも加算平均回路６へ入力されてカロ算平均処理
されるため、爾後それに基いて得られるフーリエ変換結
果ならびにスペクトルも乱れ−ζし７まい、測定結果の
Ｓ／Ｎ比、安定性および再現性の劣化を招くことになる
。
衝撃が加わったり、あるいは、装置本体を支持している
台や床に何らかの原因で振動が生してその振動が装置本
体に伝達されたりすると、分析部Ａ（特に干渉計１）が
その影響を受けて検出器５から出力されるインターフェ
ログラムが一時的に乱れるが、その乱れたインターフェ
ログラムも加算平均回路６へ入力されてカロ算平均処理
されるため、爾後それに基いて得られるフーリエ変換結
果ならびにスペクトルも乱れ−ζし７まい、測定結果の
Ｓ／Ｎ比、安定性および再現性の劣化を招くことになる
。
従って、測定の途中で１＝記のような振動が作用したこ
とが判明した場合には、測定を最初からやり直す必要が
あるが、１回の測定には数回ないし数百回分のインター
フェログラムの加算平均を行うのが普通であるため、非
常に大きな時間の無駄が生してしまう。
とが判明した場合には、測定を最初からやり直す必要が
あるが、１回の測定には数回ないし数百回分のインター
フェログラムの加算平均を行うのが普通であるため、非
常に大きな時間の無駄が生してしまう。
そして、このような問題は、上記のような一時的な振動
が装置本体に作用した場合のみならず、干渉計駆動回路
３に一時的に過大な電流が流れた場合や、検出器５に一
時的にパルス状のノイズが発生した場合など、つまり、
分析部に一時的な異常が発生した場合には共通に生しる
ものであり、そのような不都合な事態が発生する可能性
はかなり大きい。
が装置本体に作用した場合のみならず、干渉計駆動回路
３に一時的に過大な電流が流れた場合や、検出器５に一
時的にパルス状のノイズが発生した場合など、つまり、
分析部に一時的な異常が発生した場合には共通に生しる
ものであり、そのような不都合な事態が発生する可能性
はかなり大きい。
本発明は、上記従来実情に鑑みてなされたものであって
、その目的は、たとえ分析部に一時的な異常が発生した
としても、その異常が測定結果には影響しないようにせ
んとすることにある。
、その目的は、たとえ分析部に一時的な異常が発生した
としても、その異常が測定結果には影響しないようにせ
んとすることにある。
」１記目的を達成するために、本発明によるフーリエ変
換赤外分光光度計は、冒頭に記載したような基本的構成
を有するものにおいて、 前記分析部に発生した異常を検出するための異常検出回
路を設けると共に、その異常検出回路が前記分析部の異
常を検出したときには、そのときに前記分析部から出力
されるインターフェログラムを前記データ処理部におけ
る加算平均回路へ供給しないように構成しである、 という特徴を備えている。
換赤外分光光度計は、冒頭に記載したような基本的構成
を有するものにおいて、 前記分析部に発生した異常を検出するための異常検出回
路を設けると共に、その異常検出回路が前記分析部の異
常を検出したときには、そのときに前記分析部から出力
されるインターフェログラムを前記データ処理部におけ
る加算平均回路へ供給しないように構成しである、 という特徴を備えている。
かかる特徴ある手段を採用したことにより発揮される作
用は次の通りである。
用は次の通りである。
即ち、上記本発明によるフーリエ変換赤外分光光度計に
よれば、後述する実施例の記載からもより一層明らかと
なるように、振動その他の原因により分析部に一時的な
異常が発生したことが検出された場合には、そのときの
乱れたインターフェログラムは従来構成のもののように
データ処理部における加算平均回路へは供給されずに、
無視ないしは棄却され、加算平均回路においては乱れの
ない本来のデータのみの加算平均が行われることになり
、従って、爾後それに基いて得られるフーリエ変換結果
ならびに最終測定結果としてのスペクトルのＳ／Ｎ比、
安定性および再現性の向上を達成することができる。
よれば、後述する実施例の記載からもより一層明らかと
なるように、振動その他の原因により分析部に一時的な
異常が発生したことが検出された場合には、そのときの
乱れたインターフェログラムは従来構成のもののように
データ処理部における加算平均回路へは供給されずに、
無視ないしは棄却され、加算平均回路においては乱れの
ない本来のデータのみの加算平均が行われることになり
、従って、爾後それに基いて得られるフーリエ変換結果
ならびに最終測定結果としてのスペクトルのＳ／Ｎ比、
安定性および再現性の向上を達成することができる。
また、測定の途中で分析部に振動等による−時的な異常
が発生したとしても、そのときの乱れたインターフェロ
グラムが自動的に無視ないしは棄却されるので、必要が
あればそれを補う回ｖｌ（例えば１〜２回）だけのイン
ターフェログラムの加算平均回路への供給を追加するだ
けで１シリーズの測定を完了することができ、従来のよ
うに最初から測定をやり直す必要はなく、非常に効率的
な測定を行うことができる。
が発生したとしても、そのときの乱れたインターフェロ
グラムが自動的に無視ないしは棄却されるので、必要が
あればそれを補う回ｖｌ（例えば１〜２回）だけのイン
ターフェログラムの加算平均回路への供給を追加するだ
けで１シリーズの測定を完了することができ、従来のよ
うに最初から測定をやり直す必要はなく、非常に効率的
な測定を行うことができる。
（実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面（第１図ないし第５図）
に基いて説明する。
に基いて説明する。
第１図は本発明の実施例に係るフーリエ変換赤外分光光
度計の全体概略プロ、り回路構成図を示し、この第１図
において、Ａは分析部であって、干渉計１に対して赤外
光を発する光源２．その干渉計１を駆動するためのモー
ター等から成る干渉計駆動回路３．前記干渉計１から照
射されて試料室４を通過した赤外光を検出するための検
出器５等から構成され、また、Ｂはデータ処理部であっ
て、前記分析計Ａにおける検出器５から出力される測定
データ（インターフェログラム）を−回分づつ記憶する
バッファメモリー９と、後で詳述するように０Ｎ１０Ｆ
ＦＩＩＩＩ？卸されるゲートスイッチ１０と、そのデー
ｌ−スイッチ１０がＯＮ制御されたときに前記バッファ
メモリー９から入力供給されるインターフェログラムを
加算平均するための加算平均回路６と、その加算平均回
路６から出力されるデータ（加算平均されたインターフ
ェログラム）にフーリエ変換処理を施すための高速フー
リエ変換回路７ （ＦＦＴ）およびそのフーリエ変換回
路７による処理データに基いて測定対象に関するスペク
トルを得るためのスペクトル演算回路８等から構成され
ている。
度計の全体概略プロ、り回路構成図を示し、この第１図
において、Ａは分析部であって、干渉計１に対して赤外
光を発する光源２．その干渉計１を駆動するためのモー
ター等から成る干渉計駆動回路３．前記干渉計１から照
射されて試料室４を通過した赤外光を検出するための検
出器５等から構成され、また、Ｂはデータ処理部であっ
て、前記分析計Ａにおける検出器５から出力される測定
データ（インターフェログラム）を−回分づつ記憶する
バッファメモリー９と、後で詳述するように０Ｎ１０Ｆ
ＦＩＩＩＩ？卸されるゲートスイッチ１０と、そのデー
ｌ−スイッチ１０がＯＮ制御されたときに前記バッファ
メモリー９から入力供給されるインターフェログラムを
加算平均するための加算平均回路６と、その加算平均回
路６から出力されるデータ（加算平均されたインターフ
ェログラム）にフーリエ変換処理を施すための高速フー
リエ変換回路７ （ＦＦＴ）およびそのフーリエ変換回
路７による処理データに基いて測定対象に関するスペク
トルを得るためのスペクトル演算回路８等から構成され
ている。
更に、前記分析部へには、その内部に発生した異常（例
えば−時的な振動が干渉計１に作用したり、干渉計駆動
回路３に一時的に過大な電流が流れたり、検出器５に一
時的にパルス状のノイズが発生したり、といったように
インターフェログラムの乱れの原因となる異常）を検出
するための異常検出回路Ｘが設けられており、その異常
検出回路Ｘが前記分析部Ａの異常を検出したときには、
前記分析部Ａにおける干渉計駆動回路３および前記デー
タ処理部Ｂにおけるバッファメモリー９ゲートスイツチ
１０．加算平均回路６．フーリエ変換回路７．スペクト
ル演算回路８等を所定のシーケンスで制御するシーケン
ザーＣへ、異常信号を送信するように構成されている。
えば−時的な振動が干渉計１に作用したり、干渉計駆動
回路３に一時的に過大な電流が流れたり、検出器５に一
時的にパルス状のノイズが発生したり、といったように
インターフェログラムの乱れの原因となる異常）を検出
するための異常検出回路Ｘが設けられており、その異常
検出回路Ｘが前記分析部Ａの異常を検出したときには、
前記分析部Ａにおける干渉計駆動回路３および前記デー
タ処理部Ｂにおけるバッファメモリー９ゲートスイツチ
１０．加算平均回路６．フーリエ変換回路７．スペクト
ル演算回路８等を所定のシーケンスで制御するシーケン
ザーＣへ、異常信号を送信するように構成されている。
そして、そのような異常信号がシーケンサ−Ｃへ入力さ
れると、シーケンサ−Ｃは前記ゲートスイッチ１０をＯ
ＦＦ状態に維持させるように制御することによって、そ
のときに分析部Ａから出力される乱れたインターフェロ
グラムがデータ処理部Ｂにおける加算平均回路６へ供給
されないように構成されている。
れると、シーケンサ−Ｃは前記ゲートスイッチ１０をＯ
ＦＦ状態に維持させるように制御することによって、そ
のときに分析部Ａから出力される乱れたインターフェロ
グラムがデータ処理部Ｂにおける加算平均回路６へ供給
されないように構成されている。
上記のように構成されたフーリエ変換赤外分光光度計に
おいては、分析部Ａが正常に作動している（異常がない
）かぎり、検出器５から得られるインターフェログラム
が一旦バソファメモリー９にストアされ、ゲートスイッ
チ１０がＯＦＦ状態からＯＮ状態に切り換えられて、前
記バッファメモリー９にストアされているそのときのイ
ンタフエログラムが、データ処理部Ｂにおける加算平均
回路６へ供給され、しかる後、前記バッファメモリー９
がりセットされると共に、前記ゲートスイッチ１０もリ
セットされてＯＦＦ状態に切り換えられる、という動作
が１回分の所定スキャン回数（例えば１０００回）だけ
繰り返されるのであるが、測定途中において前述したよ
うな一時的な異常が発生したことが前記異常検出回路Ｘ
により検出された場合には、前記ゲートスイッチＩＯが
強制的にＯＦＦ状態に維持させられるので、そのスキャ
ンの乱れたインターフェログラムはデータ処理部Ｂにお
ける加算平均回路６へは供給されずに棄却されることに
なる。
おいては、分析部Ａが正常に作動している（異常がない
）かぎり、検出器５から得られるインターフェログラム
が一旦バソファメモリー９にストアされ、ゲートスイッ
チ１０がＯＦＦ状態からＯＮ状態に切り換えられて、前
記バッファメモリー９にストアされているそのときのイ
ンタフエログラムが、データ処理部Ｂにおける加算平均
回路６へ供給され、しかる後、前記バッファメモリー９
がりセットされると共に、前記ゲートスイッチ１０もリ
セットされてＯＦＦ状態に切り換えられる、という動作
が１回分の所定スキャン回数（例えば１０００回）だけ
繰り返されるのであるが、測定途中において前述したよ
うな一時的な異常が発生したことが前記異常検出回路Ｘ
により検出された場合には、前記ゲートスイッチＩＯが
強制的にＯＦＦ状態に維持させられるので、そのスキャ
ンの乱れたインターフェログラムはデータ処理部Ｂにお
ける加算平均回路６へは供給されずに棄却されることに
なる。
なお、上記のような一時的な異常によりインターフェロ
グラムが棄却された場合には、その棄却された分のスキ
ャン回数だけ測定を追加（補足）する必要があるが、定
常的なあるいは大きな振動などが作用したときには補足
スキャンが長時間継続してしまうことが考えられるため
、予め補足測定回数の上限を設定しておくことにより、
ある程度で測定を中止させるようにしておくのが望まし
い。
グラムが棄却された場合には、その棄却された分のスキ
ャン回数だけ測定を追加（補足）する必要があるが、定
常的なあるいは大きな振動などが作用したときには補足
スキャンが長時間継続してしまうことが考えられるため
、予め補足測定回数の上限を設定しておくことにより、
ある程度で測定を中止させるようにしておくのが望まし
い。
第２図ないし第５図は、前記異常検出回路Ｘの具体的な
一構成例を示している。
一構成例を示している。
即ち、第２図は装置（特に干渉計１）に作用した振動が
設定値を越える過大なものであったときに異常信号を発
するように構成された過大振動検出回路ａを示し、これ
は、干渉計１に付設されたピエゾ式加速度計などの振動
センサ１１ （第１図を参照）と、それに対するプリア
ンプＩ２と、そのプリアンプ１２からの出力を平均化す
る平滑回路１３と、その平滑回路１３からの出力電圧■
と設定電圧ＶＣＣとを比較してＶ＞Ｖｃｃとなったとき
に異常信号を発するコンパレータ１４とで構成されてい
る。
設定値を越える過大なものであったときに異常信号を発
するように構成された過大振動検出回路ａを示し、これ
は、干渉計１に付設されたピエゾ式加速度計などの振動
センサ１１ （第１図を参照）と、それに対するプリア
ンプＩ２と、そのプリアンプ１２からの出力を平均化す
る平滑回路１３と、その平滑回路１３からの出力電圧■
と設定電圧ＶＣＣとを比較してＶ＞Ｖｃｃとなったとき
に異常信号を発するコンパレータ１４とで構成されてい
る。
また、第３図は干渉計駆動回路３に過大な電流が流れた
ときに異常信号を発するように構成された過大電流検出
回路すを示している。これは、通常の干渉計駆動回路３
には、駆動用モーター１５の制御電流が過大になったと
きにその電流を遮断するために、モーター駆動用回路１
６とそれにより制御される過大電流防止用リレー１７と
が設けられているのを利用して、前記過大電流防止用リ
レー１７に対するモーター駆動用回路１６からの制御信
号をそのまま異常信号としても取り出すように構成した
ものである。
ときに異常信号を発するように構成された過大電流検出
回路すを示している。これは、通常の干渉計駆動回路３
には、駆動用モーター１５の制御電流が過大になったと
きにその電流を遮断するために、モーター駆動用回路１
６とそれにより制御される過大電流防止用リレー１７と
が設けられているのを利用して、前記過大電流防止用リ
レー１７に対するモーター駆動用回路１６からの制御信
号をそのまま異常信号としても取り出すように構成した
ものである。
更乙こ 第４図は検出器５からパルス状のノイズなどの
過大な電圧が出力されたときに異常信号を発するように
構成された過大出力検出回路Ｃを示し、これは、検出器
５に対して設けられたプリアンプ１８と、そのプリアン
プ１８からの出力を調整するゲイン調整アンプ１９と、
通常時におけるそのゲイン調整アンプ１９からの出力電
圧の最大波高値の平均値を記憶する波高値記憶回路２０
と、前記ゲイン調整アンプ１９からの出力電圧が波高値
記憶回路２０からの出力電圧よりも大きくなったときに
異常信号を発するコンパレータ２１とで構成されている
。
過大な電圧が出力されたときに異常信号を発するように
構成された過大出力検出回路Ｃを示し、これは、検出器
５に対して設けられたプリアンプ１８と、そのプリアン
プ１８からの出力を調整するゲイン調整アンプ１９と、
通常時におけるそのゲイン調整アンプ１９からの出力電
圧の最大波高値の平均値を記憶する波高値記憶回路２０
と、前記ゲイン調整アンプ１９からの出力電圧が波高値
記憶回路２０からの出力電圧よりも大きくなったときに
異常信号を発するコンパレータ２１とで構成されている
。
そして、第５図に示すように、異常検出回路Ｘ】 ２
全体としては、前記過大振動検出回路ａ、過大電流検出
回路すおよび過大出力検出回路ＣがＯＲ回路２２により
接続されており、それらのうち何れか一つでも異常信号
を発した場合には、シーケンサ−Ｃへ異常信号が送信さ
れるように構成されている。
回路すおよび過大出力検出回路ＣがＯＲ回路２２により
接続されており、それらのうち何れか一つでも異常信号
を発した場合には、シーケンサ−Ｃへ異常信号が送信さ
れるように構成されている。
以上詳述したところから明らかなように、本発明に係る
フーリエ変換赤外分光光度計によれば、分析部に発生し
た異常を検出するための異常検出回路を設けると共に、
その異常検出回路が前記分析部の異常を検出したときに
は、そのときに前記分析部から出力されるインターフェ
ログラムを前記データ処理部における加算平均回路へ供
給しないように構成しであるから、振動その他の原因に
より分析部に一時的な異常が発生したとしても、そのと
きの乱れたインターフェログラムは従来構成のもののよ
うにデータ処理部における加算平均回路へは供給されず
に、無視ないしは棄却され、加算平均回路においては乱
れのない本来のデータのみの加算平均が行われることに
なり、従って、爾後それに基いて得られるフーリエ変換
結果ならびに最終測定結果としてのスペクトルのＳ／Ｎ
比５比定安定性び再現性の向上を達成することができる
と共に、従来のように最初から測定をやり直す必要なく
非常に効率的な測定を行える、という顕著な効果が発揮
されるに至った。
フーリエ変換赤外分光光度計によれば、分析部に発生し
た異常を検出するための異常検出回路を設けると共に、
その異常検出回路が前記分析部の異常を検出したときに
は、そのときに前記分析部から出力されるインターフェ
ログラムを前記データ処理部における加算平均回路へ供
給しないように構成しであるから、振動その他の原因に
より分析部に一時的な異常が発生したとしても、そのと
きの乱れたインターフェログラムは従来構成のもののよ
うにデータ処理部における加算平均回路へは供給されず
に、無視ないしは棄却され、加算平均回路においては乱
れのない本来のデータのみの加算平均が行われることに
なり、従って、爾後それに基いて得られるフーリエ変換
結果ならびに最終測定結果としてのスペクトルのＳ／Ｎ
比５比定安定性び再現性の向上を達成することができる
と共に、従来のように最初から測定をやり直す必要なく
非常に効率的な測定を行える、という顕著な効果が発揮
されるに至った。
第１図は本発明に係るフーリエ変換赤外分光光度計の全
体概略ブロック回路構成図を示し、第２図、第３図、第
４図および第５図は夫々その要部の概略回路図である。 そして、第６図は本発明の技術的背景ならびに従来技４
４ｊの問題点を説明するためのものであって、従来構成
のフーリエ変換赤外分光光度計の全体概略ブロック回路
構成図を示している。 」 ４ Ａ・・・・・・分析部、 １・・・・・・干渉計、 ２・・・・・・光源、 ３・・・・・・干渉針駆動回路、 ４・・・・・・試料室、 ５・・・・・・検出器、 Ｂ・・・・・・データ処理部、 ６・・・・・・加算平均回路、 ７・・・・・・フーリエ変換回路、 ８・・・・・スペクトル演算回路、 Ｘ・・・・・・異常検出回路。
体概略ブロック回路構成図を示し、第２図、第３図、第
４図および第５図は夫々その要部の概略回路図である。 そして、第６図は本発明の技術的背景ならびに従来技４
４ｊの問題点を説明するためのものであって、従来構成
のフーリエ変換赤外分光光度計の全体概略ブロック回路
構成図を示している。 」 ４ Ａ・・・・・・分析部、 １・・・・・・干渉計、 ２・・・・・・光源、 ３・・・・・・干渉針駆動回路、 ４・・・・・・試料室、 ５・・・・・・検出器、 Ｂ・・・・・・データ処理部、 ６・・・・・・加算平均回路、 ７・・・・・・フーリエ変換回路、 ８・・・・・スペクトル演算回路、 Ｘ・・・・・・異常検出回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光源、干渉計、干渉計駆動回路、試料室、検出器等から
成る分析部と、その分析部から出力されるインターフェ
ログラムを加算平均する加算平均回路、その加算平均回
路からの出力データにフーリエ変換処理を施すフーリエ
変換回路、そのフーリエ変換回路からの出力データに基
いて測定対象に関するスペクトルを演算するスペクトル
演算回路等から成るデータ処理部とを備えているフーリ
エ変換赤外分光光度計において、 前記分析部に発生した異常を検出するための異常検出回
路を設けると共に、その異常検出回路が前記分析部の異
常を検出したときには、そのときに前記分析部から出力
されるインターフェログラムを前記データ処理部におけ
る加算平均回路へ供給しないように構成してあることを
特徴とするフーリエ変換赤外分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31926288A JPH02163622A (ja) | 1988-12-17 | 1988-12-17 | フーリエ変換赤外分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31926288A JPH02163622A (ja) | 1988-12-17 | 1988-12-17 | フーリエ変換赤外分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02163622A true JPH02163622A (ja) | 1990-06-22 |
Family
ID=18108233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31926288A Pending JPH02163622A (ja) | 1988-12-17 | 1988-12-17 | フーリエ変換赤外分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02163622A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017179520A1 (ja) * | 2016-04-14 | 2017-10-19 | コニカミノルタ株式会社 | 光学測定装置、故障判断システム、故障判断方法、および故障判断プログラム |
-
1988
- 1988-12-17 JP JP31926288A patent/JPH02163622A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017179520A1 (ja) * | 2016-04-14 | 2017-10-19 | コニカミノルタ株式会社 | 光学測定装置、故障判断システム、故障判断方法、および故障判断プログラム |
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