JPH0216445B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0216445B2 JPH0216445B2 JP56028210A JP2821081A JPH0216445B2 JP H0216445 B2 JPH0216445 B2 JP H0216445B2 JP 56028210 A JP56028210 A JP 56028210A JP 2821081 A JP2821081 A JP 2821081A JP H0216445 B2 JPH0216445 B2 JP H0216445B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bearing
- shaft
- contact
- load
- driven lever
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
- G01B3/002—Details
- G01B3/008—Arrangements for controlling the measuring force
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Support Of The Bearing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はたとえばギヤポンプ、ロータリコン
プレツサ等の組立時における主・副軸受等の位置
を調整するための接触検出装置に関する。
プレツサ等の組立時における主・副軸受等の位置
を調整するための接触検出装置に関する。
ギヤポンプやロータリコンプレツサ等の組立作
業において、シヤフトに対して主軸受と副軸受と
を調整組立する場合、固定的に設けたシヤフトに
対して副軸受を嵌合し、この副軸受をパルスモー
タで駆動するテーブルに支持している。そして、
このテーブルの位置をたとえばマグネスケールな
どの位置検出器により監視しておき、パルスモー
タによつてテーブルを駆動させるようにしている
が、このときテーブルの位置が変化せず、位置検
出器からテーブルの位置に変化がないという応答
を持つてソフト的にシヤフトと副軸受とが接触し
ていることを検出するようになつている。
業において、シヤフトに対して主軸受と副軸受と
を調整組立する場合、固定的に設けたシヤフトに
対して副軸受を嵌合し、この副軸受をパルスモー
タで駆動するテーブルに支持している。そして、
このテーブルの位置をたとえばマグネスケールな
どの位置検出器により監視しておき、パルスモー
タによつてテーブルを駆動させるようにしている
が、このときテーブルの位置が変化せず、位置検
出器からテーブルの位置に変化がないという応答
を持つてソフト的にシヤフトと副軸受とが接触し
ていることを検出するようになつている。
しかしながら、上述のような接触検出装置は、
物体と物体とが当接してもパルスモータによつて
テーブルに駆動力が加わるため、各物体が剛性の
高いものであれば有効であるが、剛性の低いもの
では物体が変形することがある。また、接触位置
をミクロン単位で正確に計測しようとするときに
は外部からの振動等の影響によりテーブルの位置
検出器からの信号が取りにくくなり、検出のサイ
クルタイムが遅くなるという事情がある。
物体と物体とが当接してもパルスモータによつて
テーブルに駆動力が加わるため、各物体が剛性の
高いものであれば有効であるが、剛性の低いもの
では物体が変形することがある。また、接触位置
をミクロン単位で正確に計測しようとするときに
は外部からの振動等の影響によりテーブルの位置
検出器からの信号が取りにくくなり、検出のサイ
クルタイムが遅くなるという事情がある。
この発明は上記事情に着目してなされたもの
で、被検出物相互が接触したときに生じる荷重を
検出する荷重変換器により、正確かつ確実に接触
確認ができる接触検出装置を提供しようとするも
のである。
で、被検出物相互が接触したときに生じる荷重を
検出する荷重変換器により、正確かつ確実に接触
確認ができる接触検出装置を提供しようとするも
のである。
以下、この発明を図面に示す一実施例にもとづ
いて説明する。第１図中１は被検出物であるとこ
ろのロータリコンプレツサの圧縮機構で、これは
ロータ２を設けたシヤフト３と、シリンダ４およ
び上記シヤフト３を軸支する第１の軸受としての
主軸受５と第２の軸受としての副軸受６とから構
成されている。このように構成された圧縮機構１
の組立時において、シヤフト３と副軸受６との位
置を調節する場合には、第２図および第３図で示
すように構成された接触検出装置を用いる。
いて説明する。第１図中１は被検出物であるとこ
ろのロータリコンプレツサの圧縮機構で、これは
ロータ２を設けたシヤフト３と、シリンダ４およ
び上記シヤフト３を軸支する第１の軸受としての
主軸受５と第２の軸受としての副軸受６とから構
成されている。このように構成された圧縮機構１
の組立時において、シヤフト３と副軸受６との位
置を調節する場合には、第２図および第３図で示
すように構成された接触検出装置を用いる。
つぎに、その接触検出装置について説明する
と、７は支持台であり、この支持台７上には上記
圧縮機構１の主軸受５を支持する凹所８が設けら
れ、副軸受６を上部にしてシヤフト３を垂直状態
に支承している。支持台７と対向する上部にはフ
レーム９に沿つて移動するＹテーブル１０とこの
Ｙテーブル１０上を移動するＸテーブル１１とか
らなるXYテーブル１２が設けられている。
と、７は支持台であり、この支持台７上には上記
圧縮機構１の主軸受５を支持する凹所８が設けら
れ、副軸受６を上部にしてシヤフト３を垂直状態
に支承している。支持台７と対向する上部にはフ
レーム９に沿つて移動するＹテーブル１０とこの
Ｙテーブル１０上を移動するＸテーブル１１とか
らなるXYテーブル１２が設けられている。
そして、このXYテーブル１２の上記フレーム
９とＹテーブル１０との間にはＹ方向接触検出器
Ｙが設けられＹテーブル１０とＸテーブル１１と
の間にはＸ方向接触検出器Ｘが設けられている。
このＹ方向とＸ方向接触検出器Ｙ，Ｘは同一構造
であるため、便宜上Ｘ方向接触検出器Ｘのみにつ
いて説明する。
９とＹテーブル１０との間にはＹ方向接触検出器
Ｙが設けられＹテーブル１０とＸテーブル１１と
の間にはＸ方向接触検出器Ｘが設けられている。
このＹ方向とＸ方向接触検出器Ｙ，Ｘは同一構造
であるため、便宜上Ｘ方向接触検出器Ｘのみにつ
いて説明する。
上記XYテーブル１２のＸテーブル１１には上
記副軸受６を握持するチヤツク１３が固定されて
いる。上記Ｙテーブル１０の側面ににはモータブ
ラケツト１４が水平に突設され、この先端部には
正逆回転可能なモータ１５が取付けられている。
このモータ１５の回転軸１６は上記モータブラケ
ツト１４と一体に設けた軸受体１７，１７によつ
て支承されていて、これら軸受体１７，１７間に
位置する回転軸１６にはおねじからなる駆動ねじ
１８が刻設されている。さらに、この駆動ねじ１
８にはこれと螺合するめねじを有する従動体１９
が設けられ、この従動体１９は駆動ねじ１８の回
転に伴つてＸテーブル１１の移動方向と同方向に
移動するようになつている。また、従動体１９に
は挾持部２０が設けられ、この挾持部２０には上
記Ｘテーブル１１に突設された従動レバー２１の
折曲部２２が介在されている。さらに、上記挾持
部２０の内面には上記従動レバー２１の折曲部２
２に両面側から当接する半導体荷重変換器２３，
２３が取付けられている。この半導体荷重変換器
２３，２３は上記Ｘテーブル１１の移動に伴つて
副軸受６がシヤフト３に接触したときに生じる荷
重を従動レバー２１の折曲部２２を介して受け、
これを電気信号に変換して副軸受６とシヤフト３
との接触を検出するようになつている。
記副軸受６を握持するチヤツク１３が固定されて
いる。上記Ｙテーブル１０の側面ににはモータブ
ラケツト１４が水平に突設され、この先端部には
正逆回転可能なモータ１５が取付けられている。
このモータ１５の回転軸１６は上記モータブラケ
ツト１４と一体に設けた軸受体１７，１７によつ
て支承されていて、これら軸受体１７，１７間に
位置する回転軸１６にはおねじからなる駆動ねじ
１８が刻設されている。さらに、この駆動ねじ１
８にはこれと螺合するめねじを有する従動体１９
が設けられ、この従動体１９は駆動ねじ１８の回
転に伴つてＸテーブル１１の移動方向と同方向に
移動するようになつている。また、従動体１９に
は挾持部２０が設けられ、この挾持部２０には上
記Ｘテーブル１１に突設された従動レバー２１の
折曲部２２が介在されている。さらに、上記挾持
部２０の内面には上記従動レバー２１の折曲部２
２に両面側から当接する半導体荷重変換器２３，
２３が取付けられている。この半導体荷重変換器
２３，２３は上記Ｘテーブル１１の移動に伴つて
副軸受６がシヤフト３に接触したときに生じる荷
重を従動レバー２１の折曲部２２を介して受け、
これを電気信号に変換して副軸受６とシヤフト３
との接触を検出するようになつている。
このように構成されたＸ方向接触検出器ＸはＹ
方向接触検出器Ｙと平面的に90゜偏位して設定さ
れ、同時に作動するようになつているが、Ｘ方向
接触検出器Ｘについてのみ作用を説明する。
方向接触検出器Ｙと平面的に90゜偏位して設定さ
れ、同時に作動するようになつているが、Ｘ方向
接触検出器Ｘについてのみ作用を説明する。
すなわち、支持台７に支持された圧縮機構１の
副軸受６をＸテーブル１１に設けたチヤツク１３
によつて握持し、モータ１５を作動させると、回
転軸１６を介して駆動ねじ１８が回転する。した
がつて、この駆動ねじ１８に螺合している従動体
１９は一方向たとえば実線矢印方向に移動し、こ
の挾持部２０に挾持されている従動レバー２１を
介してＸテーブル１１が実線矢印方向に移動す
る。このとき、上記従動レバー２１には半導体荷
重変換器２３，２３が常に接触しているため、Ｘ
テーブル１１の摩擦抵抗によつて第４図で示すよ
うにわずかな出力変化を検出する。そして、Ｘテ
ーブル１１の移動に伴つてチヤツク１３に握持さ
れている副軸受６とが移動し、シヤフト３に接触
すると、従動レバー２１は一方の半導体荷重変換
器２３を押圧し、このときの荷重が半導体荷重変
換器２３によつて検出される。すなわち、第４図
で示すように副軸受６がシヤフト３に接触した時
点より急激な出力変化を示し、この出力変化によ
つて副軸受６とシヤフト３との接触位置を確認す
ることができる。また、モータ１５を逆転し、Ｘ
テーブル１１を破線矢印方向へ移動させたときに
は従動レバー２１を逆方向へ移動するため副軸受
６がシヤフト３に接触したときに生じる荷重は他
方の半導体荷重変換器２３によつて検出される。
副軸受６をＸテーブル１１に設けたチヤツク１３
によつて握持し、モータ１５を作動させると、回
転軸１６を介して駆動ねじ１８が回転する。した
がつて、この駆動ねじ１８に螺合している従動体
１９は一方向たとえば実線矢印方向に移動し、こ
の挾持部２０に挾持されている従動レバー２１を
介してＸテーブル１１が実線矢印方向に移動す
る。このとき、上記従動レバー２１には半導体荷
重変換器２３，２３が常に接触しているため、Ｘ
テーブル１１の摩擦抵抗によつて第４図で示すよ
うにわずかな出力変化を検出する。そして、Ｘテ
ーブル１１の移動に伴つてチヤツク１３に握持さ
れている副軸受６とが移動し、シヤフト３に接触
すると、従動レバー２１は一方の半導体荷重変換
器２３を押圧し、このときの荷重が半導体荷重変
換器２３によつて検出される。すなわち、第４図
で示すように副軸受６がシヤフト３に接触した時
点より急激な出力変化を示し、この出力変化によ
つて副軸受６とシヤフト３との接触位置を確認す
ることができる。また、モータ１５を逆転し、Ｘ
テーブル１１を破線矢印方向へ移動させたときに
は従動レバー２１を逆方向へ移動するため副軸受
６がシヤフト３に接触したときに生じる荷重は他
方の半導体荷重変換器２３によつて検出される。
なお、上記一実施例においては、半導体荷重変
換器によつて副軸受とシヤフトが接触したときに
生じる荷重を検出するようにしたが、この発明は
上記実施例に限定されず、つぎのように構成して
もよい。
換器によつて副軸受とシヤフトが接触したときに
生じる荷重を検出するようにしたが、この発明は
上記実施例に限定されず、つぎのように構成して
もよい。
すなわち、第５図中２４は従動体１９に設けた
押圧子で、この押圧子２４は従動レバー２１に設
けた検出器本体２５の凹陥部２６内に介在されて
いる。この凹陥部２６の互いに対向する両側には
チヤンバ２７，２８が設けられ、これらチヤンバ
２７，２８には上記押圧子２４と接触するダイヤ
フラム２９，３０が張設されている。さらに、上
記チヤンバ２７，２８内には非圧縮性の流体３
１，３２が封入され、この流体３１，３２の圧力
を圧力計P1，P2によつて検出するようになつて
いる。
押圧子で、この押圧子２４は従動レバー２１に設
けた検出器本体２５の凹陥部２６内に介在されて
いる。この凹陥部２６の互いに対向する両側には
チヤンバ２７，２８が設けられ、これらチヤンバ
２７，２８には上記押圧子２４と接触するダイヤ
フラム２９，３０が張設されている。さらに、上
記チヤンバ２７，２８内には非圧縮性の流体３
１，３２が封入され、この流体３１，３２の圧力
を圧力計P1，P2によつて検出するようになつて
いる。
しかして、従動体１９が矢印方向に移動し、こ
れに伴つて従動レバー２１を介してＸテーブル１
１が移動する。そして、副軸受６とシヤフト３と
が接触するとＸテーブル１１に反力が生じ、押圧
子２４は一方のダイヤフラム２９を押圧し、圧力
計P1はハイレベルに、圧力計P2はローレベルに
変化する。したがつて、圧力計P1とP2との差圧
をとれば圧力変化が倍となり、副軸受６とシヤフ
ト３との接触を確認することができる。
れに伴つて従動レバー２１を介してＸテーブル１
１が移動する。そして、副軸受６とシヤフト３と
が接触するとＸテーブル１１に反力が生じ、押圧
子２４は一方のダイヤフラム２９を押圧し、圧力
計P1はハイレベルに、圧力計P2はローレベルに
変化する。したがつて、圧力計P1とP2との差圧
をとれば圧力変化が倍となり、副軸受６とシヤフ
ト３との接触を確認することができる。
第６図中３３は従動体１９に設けた挾持部で、
この挾持部３３には従動レバー２１に設けた検出
レバー３４が介在されている。この検出レバー３
４の両側面に対向する上記従動レバー２１には検
出レバー３４に対してエヤーを噴出するノズル３
５，３６が設けられ、これらはエヤー通路３７，
３８を介して共通のエヤー供給源３９に接続され
ている。さらに、上記エヤー通路３７，３８の中
途部には抵抗器４０，４１およびエヤー出力検出
部４２，４３が設けられている。
この挾持部３３には従動レバー２１に設けた検出
レバー３４が介在されている。この検出レバー３
４の両側面に対向する上記従動レバー２１には検
出レバー３４に対してエヤーを噴出するノズル３
５，３６が設けられ、これらはエヤー通路３７，
３８を介して共通のエヤー供給源３９に接続され
ている。さらに、上記エヤー通路３７，３８の中
途部には抵抗器４０，４１およびエヤー出力検出
部４２，４３が設けられている。
しかして、従動体１９が矢印方向に移動し、こ
れに伴つて従動レバー２１を介してＸテーブル１
１が移動する。そして、副軸受６とシヤフト３と
が接触するとＸテーブル１１に反力が生じ、検出
レバー３４がたわむ。したがつて、ノズル３５，
３６から噴出するエヤー出力は変化し、このエヤ
ー出力をエヤー出力検出部４２，４３によつて検
出して両者の差圧を求めることにより、副軸受６
とシヤフト３との接触を確認することができる。
れに伴つて従動レバー２１を介してＸテーブル１
１が移動する。そして、副軸受６とシヤフト３と
が接触するとＸテーブル１１に反力が生じ、検出
レバー３４がたわむ。したがつて、ノズル３５，
３６から噴出するエヤー出力は変化し、このエヤ
ー出力をエヤー出力検出部４２，４３によつて検
出して両者の差圧を求めることにより、副軸受６
とシヤフト３との接触を確認することができる。
第７図中４４は従動体１９に設けた挾持部で、
この挾持部４４には従動レバー２１に設けた検出
レバー４５が介在されている。この検出レバー４
５の両側面には歪ゲージ４６，４７が取着されて
いる。
この挾持部４４には従動レバー２１に設けた検出
レバー４５が介在されている。この検出レバー４
５の両側面には歪ゲージ４６，４７が取着されて
いる。
しかして、従動体１９が矢印方向に移動し、こ
れに伴つて従動レバー２１を介してＸテーブル１
１が移動する。そして、副軸受６とシヤフト３と
が接触するとＸテーブル１１に反力が生じ、検出
レバー４５がたわむ。このたわみにより検出レバ
ー４５の歪は歪ゲージ４６，４７により検出さ
れ、この検出信号は電気信号に変換されることに
なる。したがつて歪ゲージ４６，４７からの出力
信号によつて副軸受６とシヤフト３との接触を確
認することができる。
れに伴つて従動レバー２１を介してＸテーブル１
１が移動する。そして、副軸受６とシヤフト３と
が接触するとＸテーブル１１に反力が生じ、検出
レバー４５がたわむ。このたわみにより検出レバ
ー４５の歪は歪ゲージ４６，４７により検出さ
れ、この検出信号は電気信号に変換されることに
なる。したがつて歪ゲージ４６，４７からの出力
信号によつて副軸受６とシヤフト３との接触を確
認することができる。
なお、上記各実施例においては、ロータリコン
プレツサにおける圧縮機構１の組立時におけるシ
ヤフト３と副軸受６との接触位置を検出する場合
について述べたが、これに限定されずギヤポン
プ、モータなどの組立時における位置決め確認に
応用できる。
プレツサにおける圧縮機構１の組立時におけるシ
ヤフト３と副軸受６との接触位置を検出する場合
について述べたが、これに限定されずギヤポン
プ、モータなどの組立時における位置決め確認に
応用できる。
この発明は以上説明したように、シヤフトと第
２の軸受相互が接触したときに生じる荷重を荷重
変換器によつて検出するようにしたから、機械的
に接触した位置を荷重の変化量として検出するこ
とができる。したがつて、接触位置を容易かつ確
実に検出することができるとともに、振動などの
外乱に影響されることなく正確に位置確認できる
という効果を奏する。
２の軸受相互が接触したときに生じる荷重を荷重
変換器によつて検出するようにしたから、機械的
に接触した位置を荷重の変化量として検出するこ
とができる。したがつて、接触位置を容易かつ確
実に検出することができるとともに、振動などの
外乱に影響されることなく正確に位置確認できる
という効果を奏する。
第１図は被検出物の縦断面図、第２図はこの発
明の一実施例を示す接触検出装置の縦断面図、第
３図は同じく要部の縦断面図、第４図は出力変化
を示すグラフ、第５図ないし第７図はこの発明の
それぞれ異なる実施例を示す要部の縦断面図であ
る。 １…圧縮機構（被検出物）、３…シヤフト、５
…主軸受、６…副軸受、７…支持台 １０…Ｙテ
ーブル、１１…Ｘテーブル、１３…チヤツク、１
５…モータ（駆動機構）、２１…従動レバー、２
３…荷重変換器、Ｘ…Ｘ方向接触検出器、Ｙ…Ｙ
方向接触検出器。
明の一実施例を示す接触検出装置の縦断面図、第
３図は同じく要部の縦断面図、第４図は出力変化
を示すグラフ、第５図ないし第７図はこの発明の
それぞれ異なる実施例を示す要部の縦断面図であ
る。 １…圧縮機構（被検出物）、３…シヤフト、５
…主軸受、６…副軸受、７…支持台 １０…Ｙテ
ーブル、１１…Ｘテーブル、１３…チヤツク、１
５…モータ（駆動機構）、２１…従動レバー、２
３…荷重変換器、Ｘ…Ｘ方向接触検出器、Ｙ…Ｙ
方向接触検出器。
Claims (1)
- １ 支持台上に支持された第１の軸受に一端部を
鉛直状に軸支され他端部を移動自在な第２の軸受
に軸支されたシヤフトとを有し、上記第２の軸受
を移動させこの軸受が上記シヤフトに接触したと
きを検出する接触検出装置において、フレーム
と、このフレームに設けられたＹテーブルと、こ
のＹテーブルに載置されたＸテーブルと、このＸ
テーブルに設けられ上記第２の軸受を固定するチ
ヤツクと、上記Ｘ，Ｙ両テーブルにそれぞれ設け
られた従動レバーと、上記従動レバーにそれぞれ
係合したＸ方向駆動機構およびＹ方向駆動機構
と、上記Ｘテーブルの従動レバーの上記Ｘ方向に
おける正方向および負方向の押当面にそれぞれ常
時接触して押当荷重を検出する一対の荷重変換器
と、上記Ｙテーブルの従動レバーの上記Ｙ方向に
おける正方向および負方向の押当面にそれぞれ常
時接触して押当荷重を検出する一対の荷重変換器
とを有していることを特徴とする接触検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2821081A JPS57142509A (en) | 1981-02-27 | 1981-02-27 | Detector for contacting |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2821081A JPS57142509A (en) | 1981-02-27 | 1981-02-27 | Detector for contacting |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57142509A JPS57142509A (en) | 1982-09-03 |
| JPH0216445B2 true JPH0216445B2 (ja) | 1990-04-17 |
Family
ID=12242283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2821081A Granted JPS57142509A (en) | 1981-02-27 | 1981-02-27 | Detector for contacting |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57142509A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55101001A (en) * | 1979-01-29 | 1980-08-01 | Sony Corp | Length measuring instrument |
-
1981
- 1981-02-27 JP JP2821081A patent/JPS57142509A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57142509A (en) | 1982-09-03 |
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