JPH0216473A - Mode setting circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はモード設定回路に関し、特に集積回路に内蔵さ
れ、集積回路の内部回路の動作モードを切替えるための
モード設定回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a mode setting circuit, and more particularly to a mode setting circuit built into an integrated circuit for switching the operating mode of an internal circuit of the integrated circuit.
従来、集積回路の動作をいくつかの動作モードに分け、
使用時の条件などによりその動作モードを切替えて使用
することが行われている。例えば、集積回路が正常に働
くかどうかをチエツクする必要がある場合には、通常の
使用状態における動作モードを停止させてテストモード
に切替え、その回路の動作状態を調べることができるよ
うに集積回路にテストモードが設定できるモード設定回
路が設けられている。そして必要の都度モード設定回路
を使用してその回路の動作状態を通常の動作モードから
テストモードに切替えテストを行っている。Traditionally, the operation of integrated circuits has been divided into several operating modes.
The operating mode of the device is changed depending on the conditions of use and the like. For example, if you need to check whether an integrated circuit is working properly, you can stop the operating mode under normal use and switch to test mode to check the operating status of the integrated circuit. A mode setting circuit is provided for setting a test mode. Then, whenever necessary, a mode setting circuit is used to switch the operating state of the circuit from the normal operating mode to the test mode and perform a test.
このモード設定回路の一例としては、入力する電圧値と
して3レベルの電圧信号(例えばOV。An example of this mode setting circuit is a three-level voltage signal (for example, OV) as the input voltage value.
+5v、+10V)を入力とする3値入力端子を設けた
ものがある。通常の使用状態における動作モードでは、
この入力端子に2値の電圧(例えばOV、+5V)を入
力して回路動作の切替えなどを行っているが、回路動作
の点検のためテストモードに切替えてテストを行いたい
ときには、入力端子に3値目の電圧(+10V)を入力
する。There is one that is provided with a three-value input terminal that receives input voltages (+5V, +10V). In the operating mode under normal usage conditions,
A binary voltage (for example, OV, +5V) is input to this input terminal to switch the circuit operation, but when you want to switch to the test mode and perform a test to check the circuit operation, you can input the 3-value voltage to the input terminal. Input the value voltage (+10V).
テストモード設定回路は3値目の電圧(+10■)が入
力されると、この電圧を他の電圧と識別することにより
、テストモード設定信号を集積回路の内部回路に送出し
、集積回路の内部回路をテストモード状態に切替えるこ
とができるようになっている。When the third value voltage (+10■) is input, the test mode setting circuit distinguishes this voltage from other voltages and sends a test mode setting signal to the internal circuit of the integrated circuit. It is now possible to switch the circuit to a test mode state.
上述した従来のモード設定回路は、モード切替えを行う
ため3値目の入力電圧を入力しているので、人力された
3値目の電圧(+10V)が外部ノイズなどにより他の
電圧(0■又は+5V)値に近い値に変化したときは誤
動作により目的のモード切替えを行うことができなかっ
たり、又、2値の電圧(OV、+5V)のいずれかを入
力して回路を動作させているときに、外部ノイズなどに
より3値目の電圧(+10V)に近い電圧が生じた場合
は、そのときの動作モードから別の動作モード(上記の
例ではテストモード)に切替わってしまうという問題点
があった。The conventional mode setting circuit described above inputs the third value input voltage in order to switch modes, so the manually input third value voltage (+10V) may change to other voltages (0 or 0V) due to external noise etc. +5V) If the voltage changes to a value close to +5V, the desired mode cannot be switched due to a malfunction, or if the circuit is operated by inputting either of the two voltages (OV, +5V). Another problem is that if a voltage close to the third value (+10V) is generated due to external noise, the current operating mode will switch to another operating mode (test mode in the above example). there were.
本発明の目的は、集積回路の内部回路が設定された動作
モードで回路動作を開始した後は、入力端子からのノイ
ズなどによりモード設定回路が誤動作し、内部回路の動
作モードが変化してしまうことのないモード設定回路を
提供することにある。The purpose of the present invention is to prevent the mode setting circuit from malfunctioning due to noise from the input terminal after the internal circuit of an integrated circuit starts operating in a set operating mode, and the operating mode of the internal circuit changes. The purpose of the present invention is to provide a mode setting circuit that never fails.
本発明のモード設定回路は、
(A)リセット信号入力端子から入力されたリセット信
号により動作状態を初期状態に制御され、クロック信号
を受信して前記クロック信号を計数し、前記クロック信
号の周波数を分周した出力信号を送出するカウンタ、
(B)前記リセット信号入力端子から入力されたリセッ
ト信号を受信して集積回路の内部回路をリセットするた
めの信号を集積回路の内部回路へ送出し、前記カウンタ
の出力信号を受信して集積回路の内部回路をリセットす
るための信号の送出を停止する内部リセット制御回路、
(C)前記クロック信号と前記カウンタの出力信号とを
受信し、前記カウンタの出力信号により前記クロック信
号の送出及び送出停止の制御を行うクロック制御回路、
(D)前記カウンタの出力信号をゲート信号として受信
し、モード設定入力端子から入力されたモード設定信号
の集積回路の内部回路への送出及び送出停止の制御を前
記カウンタの出力信号により行うトランスファゲート、
(E)前記リセット信号入力端子から入力されたリセッ
ト信号により動作状態をリセット状態に制御され、前記
トランスファゲートから送出されたモード設定信号を受
信して保持し、且つ集積回路の内部回路へ送出するラッ
チ回路、を備えて構成されている。(A) The mode setting circuit of the present invention is controlled to an initial state by a reset signal input from a reset signal input terminal, receives a clock signal, counts the clock signal, and calculates the frequency of the clock signal. (B) a counter that sends out a frequency-divided output signal; an internal reset control circuit that receives the output signal of the counter and stops sending out a signal for resetting internal circuitry of the integrated circuit;
(C) a clock control circuit that receives the clock signal and the output signal of the counter and controls sending and stopping the sending of the clock signal based on the output signal of the counter; (D) converting the output signal of the counter into a gate signal; a transfer gate that receives the mode setting signal input from the mode setting input terminal and controls sending the mode setting signal input to the internal circuit of the integrated circuit and stopping the sending using the output signal of the counter; (E) inputting from the reset signal input terminal; and a latch circuit that receives and holds the mode setting signal sent from the transfer gate, and sends the mode setting signal to the internal circuit of the integrated circuit. .
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention.
第1図のモード設定回路は、クロック信号を受信し計数
してクロック信号の周波数を分周した出力信号9を送出
するカウンタ2、リセット信号入力端子Rから入力され
たリセット信号を受信して集積回路の内部回路をリセッ
トするための集積回路内部リセット信号を集積回路の内
部回路へ送出し、カウンタ2の出力信号9を受信して集
積回路内部リセット信号の送出を停止するリセット制御
回路4、クロック信号とカウンタ2の出力信号9とを受
信し、カウンタ2の出力信号9によりクロック信号の送
出及び送出停止の制御を行うクロック制御回路5、カウ
ンタ2の出力信号9をゲート信号として受信し、モード
設定入力端子Pから入力されたモード設定信号の集積回
路の内部回路への送出及び送出停止の制御を前記カウン
タ2の出力信号9により行うP型トランスファゲート3
、P型トランスファゲート3から送出されたモード設定
信号を受信し保持して集積回路の内部回路へモード設定
信号を送出するラッチ回路1から構成される。The mode setting circuit shown in FIG. 1 includes a counter 2 that receives and counts a clock signal and sends out an output signal 9 obtained by dividing the frequency of the clock signal, and a reset signal that is input from a reset signal input terminal R and integrates the counter 2. A reset control circuit 4 that sends an integrated circuit internal reset signal to the internal circuit of the integrated circuit for resetting the internal circuit of the circuit, receives the output signal 9 of the counter 2, and stops sending out the integrated circuit internal reset signal, and a clock. A clock control circuit 5 receives the signal and the output signal 9 of the counter 2, and controls sending and stopping of the clock signal based on the output signal 9 of the counter 2, receives the output signal 9 of the counter 2 as a gate signal, and controls the mode. A P-type transfer gate 3 that controls sending of the mode setting signal input from the setting input terminal P to the internal circuit of the integrated circuit and stopping the sending of the mode setting signal using the output signal 9 of the counter 2.
, a latch circuit 1 that receives and holds a mode setting signal sent from a P-type transfer gate 3, and sends the mode setting signal to an internal circuit of the integrated circuit.
次に、動作を説明する。Next, the operation will be explained.
リセット入力端子Rに与えられるリセット信号はr L
o w 」レベル(以下「L」レベルという)で集積
回路の内部回路をリセッl−L、rHigh」レベル(
以下「H」レベルという)でリセット状態を解除する。The reset signal given to the reset input terminal R is rL
ow'' level (hereinafter referred to as ``L'' level) resets the internal circuit of the integrated circuit.
(hereinafter referred to as "H" level), the reset state is released.
又、モード設定入力端子Pに与えられるモード設定信号
は「L」レベルで集積回路の内部回路を通常の動作状態
とし、rH」レベルでテストモード状態にする。Further, the mode setting signal applied to the mode setting input terminal P puts the internal circuit of the integrated circuit into a normal operating state at the "L" level, and puts it into the test mode state at the "rH" level.
第2図は第1図の回路動作を示す波形図である。FIG. 2 is a waveform diagram showing the circuit operation of FIG. 1.
まず、外部からリセット信号がリセット信号入力端子R
を介して与えられると、リセット信号はJセット制御回
路4に入力される。このとき、リセット信号の信号レベ
ルを[LJレベルにして入力すると、NANDで構成さ
れるリセット制御回路4は集積回路内部リセット信号を
rH,レベルで出力し、集積回路の内部回路をリセット
状態とする。又、同時にリセット信号はカウンタ2のリ
セット端子及びラッチ回路1のリセット端子に入力され
、カウンタ2を構成する2分周回路6aの出力信号7,
2分周回路6bの出力信号8及びカウンタ2の出力信号
9は、すべてリセットされてrL、レベルとなり、ラッ
チ回路1の出力も「L」レベルとなる。First, an external reset signal is input to the reset signal input terminal R.
, the reset signal is input to the J set control circuit 4. At this time, when the signal level of the reset signal is set to [LJ level and input, the reset control circuit 4 composed of NAND outputs the integrated circuit internal reset signal at rH, level, and puts the internal circuit of the integrated circuit into the reset state. . At the same time, the reset signal is input to the reset terminal of the counter 2 and the reset terminal of the latch circuit 1, and the output signal 7 of the divide-by-2 circuit 6a constituting the counter 2,
The output signal 8 of the divide-by-2 circuit 6b and the output signal 9 of the counter 2 are all reset to the rL level, and the output of the latch circuit 1 also becomes the "L" level.
一方、クロック信号とカウンタ2の出力信号9がクロッ
ク制御回路5に入力されると、カウンタ2の出力信号9
は「L」レベルなので、クロック信号はそのまま出力さ
れ、インバータにより生成される逆相クロックとともに
カウンタ2に出力される。又、rl、レベルのカウンタ
2の出力信号9が入力されたP型トランスファゲート3
は導通状態となり、モード設定信号入力端子Pから入力
されたrH,レベル(モード設定を示す)のモード設定
信号がP型トランスファゲート3を介してラッチ回路1
に入力される。しかし、このときはまだラッチ回路1が
リセッl−されているのでrH,レベルのモード設定信
号をラッチせず、「L」レベルのままである。On the other hand, when the clock signal and the output signal 9 of the counter 2 are input to the clock control circuit 5, the output signal 9 of the counter 2
Since the clock signal is at the "L" level, the clock signal is output as is, and is output to the counter 2 together with the reverse phase clock generated by the inverter. Also, a P-type transfer gate 3 to which the output signal 9 of the rl and level counter 2 is inputted.
becomes conductive, and the mode setting signal of rH, level (indicating mode setting) input from the mode setting signal input terminal P is passed through the P-type transfer gate 3 to the latch circuit 1.
is input. However, at this time, since the latch circuit 1 is still reset, the mode setting signal of the rH level is not latched and remains at the "L" level.
次に、集積回路の内部回路のリセット状態を解除させる
ため、リセット入力端子Rに与えられるリセット信号を
「L」レベルから「I(」レベルに変えると、カウンタ
2はリセット状態から開放されクロック信号のカウント
を開始し、同様にリセ・ント状態から開放されたラッチ
回路1は、外部からモード設定信号入力端子Pを介して
与えられている「H」レベルのモード設定信号をラッチ
する。このため、ラッチ回路1の出力もrH,レベルと
なり、rH,レベルのモード設定信号が集積回路の内部
回路に送出される。モード設定信号が「H」レベルのと
き、動作モードがテストモードになるように集積回路の
内部回路が構成されていれば、この信号が送出された後
、集積回路の内部回路のリセット状態が集積回路内部リ
セット信号により解除されて集積回路の内部回路はテス
トモード状態になる。しかし、カウンタ2の出力信号9
が「L」レベルのままなので集積回路内部リセット信号
も「H」レベルのままであり、集積回路の内部回路のリ
セット状態は解除されない。Next, in order to release the reset state of the internal circuit of the integrated circuit, when the reset signal applied to the reset input terminal R is changed from the "L" level to the "I(" level), the counter 2 is released from the reset state and the clock signal is The latch circuit 1 starts counting and is similarly released from the reset state, and latches the "H" level mode setting signal that is externally applied via the mode setting signal input terminal P. , the output of the latch circuit 1 also becomes rH, level, and a mode setting signal of rH, level is sent to the internal circuit of the integrated circuit.When the mode setting signal is at "H" level, the operation mode becomes test mode. If the internal circuit of the integrated circuit is configured, after this signal is sent out, the reset state of the internal circuit of the integrated circuit is released by the integrated circuit internal reset signal, and the internal circuit of the integrated circuit enters the test mode state. However, the output signal 9 of counter 2
Since the integrated circuit internal reset signal remains at the "L" level, the integrated circuit internal reset signal also remains at the "H" level, and the reset state of the internal circuit of the integrated circuit is not released.
カウンタ2の計数が進み、カウンタ2の出力信号9、す
なわち2分周回路6cの正相出力がrH,レベルになる
と、クロック制御口F/+5の出力はrH,レベルとな
り、カウンタ2の計数が停止する。この状態になると、
リセット信号が再び「L」レベルになるまではカウンタ
2の出力信号9はrH,レベルのままの状態を続ける。When the count of the counter 2 progresses and the output signal 9 of the counter 2, that is, the positive phase output of the divide-by-2 circuit 6c, reaches the rH level, the output of the clock control port F/+5 becomes the rH level, and the count of the counter 2 increases. Stop. In this state,
The output signal 9 of the counter 2 continues to be at rH level until the reset signal becomes "L" level again.
又、モード設定信号がノイズによりrH,レベルから「
L」レベルに変化してもラッチ回路1の出力はrH」レ
ベルのままの状態を続ける。さらに、リセット制御回路
4はカウンタ2の「I(」レベルの出力信号9を受信し
、「L」レベルの集積回路内部リセット信号を出力して
内部回路のリセット状態を解除する。これによりモード
設定信号に従い内部回路はテストモード状態に入る。In addition, the mode setting signal may become rH due to noise, and the level may become
Even if the output changes to "L" level, the output of the latch circuit 1 continues to be at "rH" level. Furthermore, the reset control circuit 4 receives the output signal 9 of the "I(" level) of the counter 2, and outputs the integrated circuit internal reset signal of the "L" level to release the reset state of the internal circuit.This causes the mode setting. According to the signal, the internal circuit enters the test mode state.
−度テストモード状態に入ると、再度リセット及びリセ
ット状態の解除が行われるまではこの状態を持続する。- Once the test mode is entered, this state is maintained until it is reset again and the reset state is released.
モード設定を変更できるのは、リセット状態になってか
らリセット状態の解除が行われカウンタ2の出力信号9
がrH」レベルになるまでの時間内であり、この時間が
短ければそれだけノイズなどによる誤動作も少なくなる
。又、カウンタの2分周回路の段数をふやせば、モード
設定の変更可能時間を長くすることができる。The mode setting can be changed only after the reset state is entered and when the reset state is released and the counter 2 output signal 9
This is within the time it takes for the voltage to reach the rH level, and the shorter this time, the fewer malfunctions due to noise and the like will occur. Furthermore, by increasing the number of stages in the divide-by-2 circuit of the counter, the time during which mode settings can be changed can be extended.
このように、限られた一定時間だけモード設定入力がで
きるようにすることにより、集積回路の内部回路が設定
された動作モードで回路動作を開始した後は、入力端子
からのノイズによりモード設定回路が誤動作し、内部回
路の動作モードが変化してしまうことのないようにする
ことができる。In this way, by allowing the mode setting input for a limited fixed period of time, after the internal circuit of the integrated circuit starts operating in the set operating mode, the mode setting circuit will be affected by noise from the input terminal. It is possible to prevent the internal circuit from malfunctioning and changing the operating mode of the internal circuit.
以上説明したように、本発明は、クロック制御回路、内
部リセット制御回路、カウンタ、トラ〉′スフアゲート
を付加し、限られた一定時間だけモード設定入力ができ
るようにすることにより、集積回路の内部回路が設定さ
れた動作モードで回路動作を開始した後は、入力端子か
らのノイズによりモード設定回路が誤動作し、内部回路
の動作モードが変化してしまうことのないようにするこ
とができる効果を有する。As explained above, the present invention adds a clock control circuit, an internal reset control circuit, a counter, and a transistor sphere gate to enable mode setting input for a limited fixed period of time. After the circuit starts operating in the set operating mode, the mode setting circuit can be prevented from malfunctioning due to noise from the input terminal, and the operating mode of the internal circuit can be prevented from changing. have
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は第1図の
回路動作を示す波形図である。
■・・・・・・ラッチ回路、2・・・・・・カウンタ、
3・・・・・・P形トランスファゲート、4・・・・・
・リセット制御回路、5・・・・・・クロック制御回路
、6a〜6c・・・・・・2分周回路、7・・・・・・
カウンタ出力信号。
代理人 弁理士 内 原 音
l ラッチ回路
6a、6!+: z’a8腸
第1図FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a waveform diagram showing the circuit operation of FIG. 1. ■・・・Latch circuit, 2・・・Counter,
3...P-type transfer gate, 4...
・Reset control circuit, 5...Clock control circuit, 6a to 6c...2 frequency divider circuit, 7...
Counter output signal. Agent Patent Attorney Oto Hara latch circuit 6a, 6! +: z'a8 intestine diagram 1
Claims (1)
号により動作状態を初期状態に制御され、クロック信号
を受信して前記クロック信号を計数し、前記クロック信
号の周波数を分周した出力信号を送出するカウンタ、 (B)前記リセット信号入力端子から入力されたリセッ
ト信号を受信して集積回路の内部回路をリセットするた
めの信号を集積回路の内部回路へ送出し、前記カウンタ
の出力信号を受信して集積回路の内部回路をリセットす
るための信号の送出を停止する内部リセット制御回路、 (C)前記クロック信号と前記カウンタの出力信号とを
受信し、前記カウンタの出力信号により前記クロック信
号の送出及び送出停止の制御を行うクロック制御回路、 (D)前記カウンタの出力信号をゲート信号として受信
し、モード設定入力端子から入力されたモード設定信号
の集積回路の内部回路への送出及び送出停止の制御を前
記カウンタの出力信号により行うトランスファゲート、 (E)前記リセット信号入力端子から入力されたリセッ
ト信号により動作状態をリセット状態に制御され、前記
トランスファゲートから送出されたモード設定信号を受
信して保持し、且つ集積回路の内部回路へ送出するラッ
チ回路、 を備えたことを特徴とするモード設定回路。[Scope of Claims] (A) The operating state is controlled to an initial state by a reset signal input from a reset signal input terminal, receives a clock signal, counts the clock signal, and divides the frequency of the clock signal. (B) a counter that receives a reset signal input from the reset signal input terminal and sends a signal to the internal circuit of the integrated circuit to reset the internal circuit of the integrated circuit; an internal reset control circuit that receives an output signal and stops sending out a signal for resetting internal circuitry of the integrated circuit; (C) an internal reset control circuit that receives the clock signal and the output signal of the counter; a clock control circuit that controls sending and stopping the clock signal; (D) receiving the output signal of the counter as a gate signal and transmitting the mode setting signal input from the mode setting input terminal to the internal circuit of the integrated circuit; a transfer gate that controls transmission and transmission stop using an output signal of the counter; (E) a mode setting whose operating state is controlled to a reset state by a reset signal input from the reset signal input terminal and transmitted from the transfer gate; A mode setting circuit comprising: a latch circuit that receives and holds a signal and sends it to an internal circuit of an integrated circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63167525A JPH0216473A (en) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | Mode setting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63167525A JPH0216473A (en) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | Mode setting circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0216473A true JPH0216473A (en) | 1990-01-19 |
Family
ID=15851313
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63167525A Pending JPH0216473A (en) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | Mode setting circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0216473A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5767694A (en) * | 1994-12-28 | 1998-06-16 | Nec Corporation | Information processing apparatus with a mode setting circuit |
-
1988
- 1988-07-04 JP JP63167525A patent/JPH0216473A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5767694A (en) * | 1994-12-28 | 1998-06-16 | Nec Corporation | Information processing apparatus with a mode setting circuit |
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