JPH0216768A - 密着型イメージセンサ - Google Patents
密着型イメージセンサInfo
- Publication number
- JPH0216768A JPH0216768A JP63167465A JP16746588A JPH0216768A JP H0216768 A JPH0216768 A JP H0216768A JP 63167465 A JP63167465 A JP 63167465A JP 16746588 A JP16746588 A JP 16746588A JP H0216768 A JPH0216768 A JP H0216768A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- receiving element
- optical fiber
- substrate
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、密着型イメージセンサに関し、例えばファク
シミリ装置や文字・画像読取入力装置等に利用される。
シミリ装置や文字・画像読取入力装置等に利用される。
(従来の技術)
従来、画像の読み取りにはCCDセンサやMO8型セン
サ等の縮小結像型イメージセンサが用いられていた。し
かし、これらの縮小結像型イメージセンサでは、センサ
部が2〜4. cmと小さいためにI/、〜I/、。程
度の縮小を行わなければならず、このため原稿からセン
サ部までの光路長を長くする必要があった。また、縮小
率が大きくなるに従ってレンズの収差が問題となり、光
学系の設計精度が装置全体の性能を決定する大きな要因
となっていた。
サ等の縮小結像型イメージセンサが用いられていた。し
かし、これらの縮小結像型イメージセンサでは、センサ
部が2〜4. cmと小さいためにI/、〜I/、。程
度の縮小を行わなければならず、このため原稿からセン
サ部までの光路長を長くする必要があった。また、縮小
率が大きくなるに従ってレンズの収差が問題となり、光
学系の設計精度が装置全体の性能を決定する大きな要因
となっていた。
このような縮小結像型イメージセンサに対し、近年原稿
幅と同じ長さの長尺センサを用い、この長尺センサの受
光面にオプティカルファイバーレンズアレイを通して等
倍結像させる構造の密着型イメージセンサの開発が活発
に行われている。ごのような密着型イメージセンサに用
いられる受光素子として、Cd5Se系薄膜、a−3i
薄膜等の薄膜を用いたものと、CCDセンサ、バイポー
ラICセンサ、M OS型センサ等のICセンサを複数
個長手方向に並べて原稿幅と同程度の長さとしたマルチ
チップ型のものとがある。また、光学系もオプティカル
ファイバーレンズアレイに代わるものとしてオプティカ
ルファイバーの一端にセンサ部を作製したものがある。
幅と同じ長さの長尺センサを用い、この長尺センサの受
光面にオプティカルファイバーレンズアレイを通して等
倍結像させる構造の密着型イメージセンサの開発が活発
に行われている。ごのような密着型イメージセンサに用
いられる受光素子として、Cd5Se系薄膜、a−3i
薄膜等の薄膜を用いたものと、CCDセンサ、バイポー
ラICセンサ、M OS型センサ等のICセンサを複数
個長手方向に並べて原稿幅と同程度の長さとしたマルチ
チップ型のものとがある。また、光学系もオプティカル
ファイバーレンズアレイに代わるものとしてオプティカ
ルファイバーの一端にセンサ部を作製したものがある。
第7図にオプティカルファイバーレンズアレイを用いた
密着型イメージセンサの一例を、また第8図にオプティ
カルファイバーを用いた密着型イメージセンサの一例を
示す。
密着型イメージセンサの一例を、また第8図にオプティ
カルファイバーを用いた密着型イメージセンサの一例を
示す。
すなわち、オプティカルファイバーレンズアレイを用い
た密着型イメージセンサは、光源aによって原稿すを照
射し、その反射光をオプティカルファイバーレンズアレ
イCを通して受光素子d上に等倍圧立像を結像させるも
のであり、また、オプティカルファイバーを用いた密着
型イメージセンサは、光源eによって原稿fを照射し、
その反射光を導光性基板gに埋め込んだオプティカルフ
ァイバーhを通して該オプティカルファイバーhの端面
に形成した受光素子i上に導くものである。
た密着型イメージセンサは、光源aによって原稿すを照
射し、その反射光をオプティカルファイバーレンズアレ
イCを通して受光素子d上に等倍圧立像を結像させるも
のであり、また、オプティカルファイバーを用いた密着
型イメージセンサは、光源eによって原稿fを照射し、
その反射光を導光性基板gに埋め込んだオプティカルフ
ァイバーhを通して該オプティカルファイバーhの端面
に形成した受光素子i上に導くものである。
しかしながら、オプティカルファイバーレンズアレイC
を用いた場合には、 オプティカルファイバーレンズアレイCの共役長が現在
のところ15〜401程度であり、原稿すと受光素子d
との間にこの共役長の長さ分をとる必要がある。オプテ
ィカルファイバーレンズアレイCの焦点深度が浅いため
生産過程において調整行程が必要となり、生産性が低い
。明るさの明るいオプティカルファイバーレンズを使用
した場合色収差が問題となるので、カラーセンサの場合
には共役長が長くしかも暗いオプティカルファイバーレ
ンズを用いなければならない。オプティカルファイバー
レンズアレイCのコストが高い。
を用いた場合には、 オプティカルファイバーレンズアレイCの共役長が現在
のところ15〜401程度であり、原稿すと受光素子d
との間にこの共役長の長さ分をとる必要がある。オプテ
ィカルファイバーレンズアレイCの焦点深度が浅いため
生産過程において調整行程が必要となり、生産性が低い
。明るさの明るいオプティカルファイバーレンズを使用
した場合色収差が問題となるので、カラーセンサの場合
には共役長が長くしかも暗いオプティカルファイバーレ
ンズを用いなければならない。オプティカルファイバー
レンズアレイCのコストが高い。
等の問題があった。
また、オプティカルファイバーhを用いた場合には、
オプティカルファイバーhの端面と受光素子iの受光面
との距離を大きく取れない。オプティカルファイバーh
の端面に直接受光素子iを形成する場合には、その形成
材料が薄膜に限定され、また基板コストが高くなる。1
回のプロセスで作製できるセンサ数が限定され、生産性
が悪い。
との距離を大きく取れない。オプティカルファイバーh
の端面に直接受光素子iを形成する場合には、その形成
材料が薄膜に限定され、また基板コストが高くなる。1
回のプロセスで作製できるセンサ数が限定され、生産性
が悪い。
等の問題があった。
そこで、本発明者らは、これらの問題を解決するために
、オプティカルファイバーhを埋め込んだ導光性基板g
の受光素子iと対向する面に電極配線を形成し、この電
極配線と受光素子iの電極とを接続する構成をすでに提
案している。
、オプティカルファイバーhを埋め込んだ導光性基板g
の受光素子iと対向する面に電極配線を形成し、この電
極配線と受光素子iの電極とを接続する構成をすでに提
案している。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、このような構成としても、以下に示す問
題点が残されている。
題点が残されている。
■ 大型のオプティカルファイバーを埋め込んだ基板上
に直接配線パターンを形成するため、パターン不良を生
じた場合、高価なオプティカルファイバー埋め込み基板
も同時に不良扱いになり基板コストが高くつく。
に直接配線パターンを形成するため、パターン不良を生
じた場合、高価なオプティカルファイバー埋め込み基板
も同時に不良扱いになり基板コストが高くつく。
■ 受光素子は、一般に長尺型のものが多く、受光面と
オプティカルファイバーの光出射面との距離を一定に保
つためには、受光素子上にバランス良く電極を配置する
必要があるため、ダミー電極を設ける必要があるが、受
光素子(シリコンチップ)とオプティカルファイバーを
埋め込んだ基板との熱膨張率の差に起因する熱応力が大
きく、接続の信頬性が懸念される。
オプティカルファイバーの光出射面との距離を一定に保
つためには、受光素子上にバランス良く電極を配置する
必要があるため、ダミー電極を設ける必要があるが、受
光素子(シリコンチップ)とオプティカルファイバーを
埋め込んだ基板との熱膨張率の差に起因する熱応力が大
きく、接続の信頬性が懸念される。
(課題を解決するための手段)
本発明は係る実情に鑑みてなされたもので、読み取るべ
き原稿を照射する光源と、この原稿からの反射光を電気
信号に変換する受光素子と、この受光素子と前記原稿と
の間に配置された光ファイバーを組み込んだ基板とを備
えた密着型イメージセンサにおいて、前記光ファイバー
の光出射面側である前記基板の上面に光透過性フィルム
基板が接着されるとともに、該光透過性フィルム基板の
上面に配線電極が形成され、一方、前記受光素子の受光
面側には電極が形成され、かつこの受光素子の電極と前
記光透過性フィルム基板の配線電極とが対向して配置さ
れ、この状態において対向する前記配線電極と受光素子
の電極とが電気的に接続されたものである。
き原稿を照射する光源と、この原稿からの反射光を電気
信号に変換する受光素子と、この受光素子と前記原稿と
の間に配置された光ファイバーを組み込んだ基板とを備
えた密着型イメージセンサにおいて、前記光ファイバー
の光出射面側である前記基板の上面に光透過性フィルム
基板が接着されるとともに、該光透過性フィルム基板の
上面に配線電極が形成され、一方、前記受光素子の受光
面側には電極が形成され、かつこの受光素子の電極と前
記光透過性フィルム基板の配線電極とが対向して配置さ
れ、この状態において対向する前記配線電極と受光素子
の電極とが電気的に接続されたものである。
(作用)
光ファイバーを組み込んだ基板(光フアイバー基板)の
光出射面上に配置した光透過性フィルム基板と対向させ
て受光素子の受光面を配し、受光面側に形成した電極と
前記光透過性フィルム基板上に形成した配線電極とを、
例えばフェイスダウン状態にてボンディングする。
光出射面上に配置した光透過性フィルム基板と対向させ
て受光素子の受光面を配し、受光面側に形成した電極と
前記光透過性フィルム基板上に形成した配線電極とを、
例えばフェイスダウン状態にてボンディングする。
この際、光フアイバー基板の光出射面と受光素子の受光
面との距離は、光透過性フィルム基板が薄膜であるため
、必要とする分解能と同程度がそれ以下になるように近
接して設けることができる。
面との距離は、光透過性フィルム基板が薄膜であるため
、必要とする分解能と同程度がそれ以下になるように近
接して設けることができる。
また、フレキシブルな光透過性フィルム基板を介してフ
ェイスダウンボンディングすることにより長尺型の受光
素子のフェイスダウンボンディングでは不可避となる電
極接続部の熱応力をも緩和する。
ェイスダウンボンディングすることにより長尺型の受光
素子のフェイスダウンボンディングでは不可避となる電
極接続部の熱応力をも緩和する。
そして、受光素子を接続した光透過性フィルム基板を前
記光フアイバー基板に接着する。
記光フアイバー基板に接着する。
この際、受光素子は光透過性フィルム基板に接続した後
、該光)1過性フイルム基板を光フアイバー基板に接着
するので、光透過性フィルム基板と受光素子との接続状
態のよい良品のみを選択して光フアイバー基板に接着す
ることができる。
、該光)1過性フイルム基板を光フアイバー基板に接着
するので、光透過性フィルム基板と受光素子との接続状
態のよい良品のみを選択して光フアイバー基板に接着す
ることができる。
(実施例)
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の密着型イメージセンサの断面図、第
2図は同平面図をそれぞれ示している。
2図は同平面図をそれぞれ示している。
同図において、1は原稿、2は光源、3は多数の光ファ
イバー4a、4a・・・を帯状に収束した光フアイバー
アレイ4を組み込んだ基板(光フアイバー基板)、5は
この基板3の上面3aに光硬化性接着剤6により接着さ
れた光透過性フィルム基板、7はこの光透過性フィルム
基板5の上面に形成された配線電極、8は前記光ファイ
バーアレイ4の光出射面4bと光透過性フィルム基板5
を介して対向して配置された受光素子、9は前記配線電
極7と受光素子8の受光面8a側に形成された電極10
a(第4図参照)とを接続する半田突起電極、11は受
光素子8を封止するキャンプ、12はキャンプ11の底
部(下面)に配された受光素子8を固定するためのソフ
トレジン、13はキャンプ11を固定する光硬化性樹脂
である。
イバー4a、4a・・・を帯状に収束した光フアイバー
アレイ4を組み込んだ基板(光フアイバー基板)、5は
この基板3の上面3aに光硬化性接着剤6により接着さ
れた光透過性フィルム基板、7はこの光透過性フィルム
基板5の上面に形成された配線電極、8は前記光ファイ
バーアレイ4の光出射面4bと光透過性フィルム基板5
を介して対向して配置された受光素子、9は前記配線電
極7と受光素子8の受光面8a側に形成された電極10
a(第4図参照)とを接続する半田突起電極、11は受
光素子8を封止するキャンプ、12はキャンプ11の底
部(下面)に配された受光素子8を固定するためのソフ
トレジン、13はキャンプ11を固定する光硬化性樹脂
である。
受光素子8は基板3の長手方向に原稿10幅とほぼ同じ
長さとなるように横一列に配置されている。本例では、
受光素子8の受光面8aに形成された電極10aと光透
過性フィルム基板5の上面に形成された配線電極7とを
半田突起電極9を用いて接続しており、しかも受光素子
8と基板3との間に光透過性フィルム基板5を配置して
いるため、受光面8aと基板3の上面3aとの間に若干
の距離を有することになる。この距離は、長くなると隣
接する光ファイバー4aの光と重なって分解能が低下す
ることになるので、必要とする分解能と同程度かもしく
はそれ以下となるように設定する。
長さとなるように横一列に配置されている。本例では、
受光素子8の受光面8aに形成された電極10aと光透
過性フィルム基板5の上面に形成された配線電極7とを
半田突起電極9を用いて接続しており、しかも受光素子
8と基板3との間に光透過性フィルム基板5を配置して
いるため、受光面8aと基板3の上面3aとの間に若干
の距離を有することになる。この距離は、長くなると隣
接する光ファイバー4aの光と重なって分解能が低下す
ることになるので、必要とする分解能と同程度かもしく
はそれ以下となるように設定する。
第3図は光ファイバー4aの光出射面4bから受光素子
8の受光面8aまでの距離dに対する分解能(MTF)
特性を示している。同図より、距離dが大きるなるにつ
れてMTFが急激に低下することが分かる。従って、例
えば8本/龍の分解能(空間周波数 44!p/am)
に対し40%以上のMTFを得るためには、距離dを1
50μm以下に押さえる必要がある。
8の受光面8aまでの距離dに対する分解能(MTF)
特性を示している。同図より、距離dが大きるなるにつ
れてMTFが急激に低下することが分かる。従って、例
えば8本/龍の分解能(空間周波数 44!p/am)
に対し40%以上のMTFを得るためには、距離dを1
50μm以下に押さえる必要がある。
次に、上記構成の密着型イメージセンサの製造方法を説
明する。
明する。
本例では、受光素子8として8本/ mlの分解能を持
ち、約70鰭の長さに形成した第4図(al、 (b)
に示す構造のCCDセンサを用いている。すなわち、受
光面8aには、受光素子8の継目部分における分解能の
低下を防ぐため、受光部14aと転送部14bをCCD
端部付近まで形成する。そして、その幅方向に沿う側縁
の適当箇所に電極10aを形成するわけであるが、1チ
ツプ内の接続電極が存在する領域はできるだけ小さい方
が好ましく、従って受光素子8の駆動に必要な電極はで
きるだけ近接して設けることが良い。しかしながら、こ
のような考えのちとに電極を形成すると、場合によって
は電極の位置は受光素子8の周辺の一部の領域に偏って
しまう。例えば、受光素子8の駆動に必要な電極10a
のみで後述するフェイスダウンボンディングを行うと、
受光素子8は傾きを生じ、特性上好ましくない場合が多
い。そこで、このように駆動に必要な電極10aが偏在
する場合には、受光面8aとそれが対向する光出射面4
bが均等な間隔をもって配置されるようにするために、
ダミー電110bを受光素子8上の必要な位置に設ける
ことが望ましい〔第4図(a)参照〕。
ち、約70鰭の長さに形成した第4図(al、 (b)
に示す構造のCCDセンサを用いている。すなわち、受
光面8aには、受光素子8の継目部分における分解能の
低下を防ぐため、受光部14aと転送部14bをCCD
端部付近まで形成する。そして、その幅方向に沿う側縁
の適当箇所に電極10aを形成するわけであるが、1チ
ツプ内の接続電極が存在する領域はできるだけ小さい方
が好ましく、従って受光素子8の駆動に必要な電極はで
きるだけ近接して設けることが良い。しかしながら、こ
のような考えのちとに電極を形成すると、場合によって
は電極の位置は受光素子8の周辺の一部の領域に偏って
しまう。例えば、受光素子8の駆動に必要な電極10a
のみで後述するフェイスダウンボンディングを行うと、
受光素子8は傾きを生じ、特性上好ましくない場合が多
い。そこで、このように駆動に必要な電極10aが偏在
する場合には、受光面8aとそれが対向する光出射面4
bが均等な間隔をもって配置されるようにするために、
ダミー電110bを受光素子8上の必要な位置に設ける
ことが望ましい〔第4図(a)参照〕。
そして、受光部14aと転送部14bを含む受光素子8
の上面に薄膜技術を用いてS s X N +−x +
5iOz等からなるパッシベーション膜15〔第4図(
b)参照〕を形成し、また電極10aとダミー電極10
bとの上に半田突起電極9,9を形成している。
の上面に薄膜技術を用いてS s X N +−x +
5iOz等からなるパッシベーション膜15〔第4図(
b)参照〕を形成し、また電極10aとダミー電極10
bとの上に半田突起電極9,9を形成している。
また、光透過性フィルム基板5としては、例えばポリイ
ミドフィルムを用いる。第5図は照度100ルクスのL
EDランプを光源としてポリイミドフィルムを照射した
場合のフィルム厚さに対する実使用光の透過率を示す。
ミドフィルムを用いる。第5図は照度100ルクスのL
EDランプを光源としてポリイミドフィルムを照射した
場合のフィルム厚さに対する実使用光の透過率を示す。
例えば、CCDセンサを1ライン当りの読み取り速度1
msで駆動する場合に必要な光量は、市販のCCDデバ
イスを用いて実験したところ約10ルクスである。従っ
て、第5図よりポリイミドフィルムの厚さは125μm
゛以下であれば問題はない。本例では75μm゛の厚さ
のポリイミドフィルムを用いた。そして、このポリイミ
ドフィルム基板5の上面に配線電極7の引出電極部7a
及び半田突起電極9と接続する接続電極部7bをメツキ
技術やフォトリソグラフィ技術などを用いて形成する。
msで駆動する場合に必要な光量は、市販のCCDデバ
イスを用いて実験したところ約10ルクスである。従っ
て、第5図よりポリイミドフィルムの厚さは125μm
゛以下であれば問題はない。本例では75μm゛の厚さ
のポリイミドフィルムを用いた。そして、このポリイミ
ドフィルム基板5の上面に配線電極7の引出電極部7a
及び半田突起電極9と接続する接続電極部7bをメツキ
技術やフォトリソグラフィ技術などを用いて形成する。
ここで、受光素子8のダミー電極l。
b上の半田突起電極9に対応するフィルム基板5上には
電極を設けないか、もしくはハンダと接合しない材料を
配する。また、第2図に示す如(、本実施例では、1枚
のポリイミドフィルム基板5は1個の受光素子8が配置
されるようにしており、その長さは、1個の受光素子8
の長さより数百ミクロンメートル短くしている。
電極を設けないか、もしくはハンダと接合しない材料を
配する。また、第2図に示す如(、本実施例では、1枚
のポリイミドフィルム基板5は1個の受光素子8が配置
されるようにしており、その長さは、1個の受光素子8
の長さより数百ミクロンメートル短くしている。
一方、光ファイバー4aとしては石英系あるいは多成分
系のガラスファイバーを用いる。この光ファイバー4a
を多数本帯状に収束して光フアイバーアレイ4を形成し
、この光フアイバーアレイ4を両側から挟み込むように
して基板3を形成している。
系のガラスファイバーを用いる。この光ファイバー4a
を多数本帯状に収束して光フアイバーアレイ4を形成し
、この光フアイバーアレイ4を両側から挟み込むように
して基板3を形成している。
上記した各構成部材(受光素子8、光透過性フィルム基
板5、及び基板3)を用いて密着型イメージセンサを作
製する。
板5、及び基板3)を用いて密着型イメージセンサを作
製する。
受光素子8の駆動に必要な電極10a上に形成した半田
突起電極9を、ポリイミドフィルム基板5の上面に形成
された接続電極部7bに対向させて配置する。次に、こ
の状態で、受光素子8とポリイミドフィルム基板5とを
加熱炉内で加熱することにより、半田突起電極9を溶融
して、電極10aと接続電極部7bとを接続する。接続
は加熱ツールにより半田突起電極9を溶融して行っても
よい。また、本実施例では、半田突起電極9による接続
法を用いているが、フェイスダウンボンディングが可能
な手法であればそれを用いてもよい。
突起電極9を、ポリイミドフィルム基板5の上面に形成
された接続電極部7bに対向させて配置する。次に、こ
の状態で、受光素子8とポリイミドフィルム基板5とを
加熱炉内で加熱することにより、半田突起電極9を溶融
して、電極10aと接続電極部7bとを接続する。接続
は加熱ツールにより半田突起電極9を溶融して行っても
よい。また、本実施例では、半田突起電極9による接続
法を用いているが、フェイスダウンボンディングが可能
な手法であればそれを用いてもよい。
以上のような手法により、接続の信頼性を向上できると
ともに、受光面8aと光出射面4bを均等な距離に配す
ることができる。
ともに、受光面8aと光出射面4bを均等な距離に配す
ることができる。
次に、このようにして接続された複数のポリイミドフィ
ルム基板5付受光素子8を、例えば第6図に示す様な配
列治具16によりポリイミドフィルム基板5が上面とな
るように1列に配列する。
ルム基板5付受光素子8を、例えば第6図に示す様な配
列治具16によりポリイミドフィルム基板5が上面とな
るように1列に配列する。
第6図において、16aは配列治具のフレーム、16b
、16cは各々受光素子8を1列に配列するためのガイ
ド部である。まず、複数のポリイミドフィルム基板5付
受光素子8をポリイミドフィルム基板が上面となるよう
に配列治具16の受光素子配列部Bに略々−列になるよ
うに配列する。
、16cは各々受光素子8を1列に配列するためのガイ
ド部である。まず、複数のポリイミドフィルム基板5付
受光素子8をポリイミドフィルム基板が上面となるよう
に配列治具16の受光素子配列部Bに略々−列になるよ
うに配列する。
次に、配列用ガイド部16b、16cが図中の矢印方向
に移動することにより、受光素子8が一例に精度よく配
列される。
に移動することにより、受光素子8が一例に精度よく配
列される。
一方、光ファイバーを埋め込んだ基板3は、その光出射
面側3aに光硬化性接着剤6を薄く均一に塗布する。そ
して、この光フアイバー基板3の光硬化性接着剤6の塗
布面と、先に一列に配列した配列治具16上のポリイミ
ドフィルム基板5とを対向して配置し、基板3の光フア
イバーアレイ4とフィルム基板5上の受光素子8とが一
列に重なるようにして密着する。
面側3aに光硬化性接着剤6を薄く均一に塗布する。そ
して、この光フアイバー基板3の光硬化性接着剤6の塗
布面と、先に一列に配列した配列治具16上のポリイミ
ドフィルム基板5とを対向して配置し、基板3の光フア
イバーアレイ4とフィルム基板5上の受光素子8とが一
列に重なるようにして密着する。
次に、基板3の光入射面側より紫外線を照射し、光硬化
性接着剤6を硬化することにより、ポリイミドフィルム
基板5を基板3上に接続する。
性接着剤6を硬化することにより、ポリイミドフィルム
基板5を基板3上に接続する。
このようにして作製した密着型イメージセンサでは、受
光素子8の受光面8aと光ファイバー4aの光出射面4
bとの距離は120μm以下であり、MTFは4βp/
龍の空間周波数において50%以上の値が得られた。
光素子8の受光面8aと光ファイバー4aの光出射面4
bとの距離は120μm以下であり、MTFは4βp/
龍の空間周波数において50%以上の値が得られた。
また、この製造方法によれば、半田突起電極9の接続に
よる自己整合効果を利用できるため、単純な治具を使用
するだけで、長尺状の受光素子8を高精度に生産性よく
配列することができる。さらに、この製造方法によれば
、基板3上に直接高精度な微細配線を形成する必要がな
く、しかも基板3を加熱することなく、受光素子8を半
田突起電極9によって接続できるため、耐熱性の低い安
価な光フアイバー基板の使用が可能である。
よる自己整合効果を利用できるため、単純な治具を使用
するだけで、長尺状の受光素子8を高精度に生産性よく
配列することができる。さらに、この製造方法によれば
、基板3上に直接高精度な微細配線を形成する必要がな
く、しかも基板3を加熱することなく、受光素子8を半
田突起電極9によって接続できるため、耐熱性の低い安
価な光フアイバー基板の使用が可能である。
なお、上記実施例では、受光素子8としてCCDセンサ
を用いているが、センサの種類はこれに限定されるもの
ではなく、他のICセンサや′4膜センサ等であっても
本発明が適用できることは当然である。また、上記実施
例では、光透過性フィルム基板5としてポリイミドフィ
ル基板を用いているが、透過率が10%以上の他の有機
フィル基板を用いることも可能である。また、光透過性
フィルム基板5上への配線電極7の形成方法としてメツ
キ法とりソグラフィ法を用いているが、従来の薄膜形成
技術を用いることも可能である。
を用いているが、センサの種類はこれに限定されるもの
ではなく、他のICセンサや′4膜センサ等であっても
本発明が適用できることは当然である。また、上記実施
例では、光透過性フィルム基板5としてポリイミドフィ
ル基板を用いているが、透過率が10%以上の他の有機
フィル基板を用いることも可能である。また、光透過性
フィルム基板5上への配線電極7の形成方法としてメツ
キ法とりソグラフィ法を用いているが、従来の薄膜形成
技術を用いることも可能である。
このようにして、受光素子8、光透過性フィルム基板5
、光ファイバー埋め込み基板3が一体化された後、受光
素子8が次のようにしてキャプシュレーションされる。
、光ファイバー埋め込み基板3が一体化された後、受光
素子8が次のようにしてキャプシュレーションされる。
すなわち、第1図に示すように、金属又は樹脂等で形成
されたキャップ11の底部にシリコンレジンのようなソ
フトなレジン12を配し、このレジン12を介して受光
素子8を上方から加圧した状態のまま、キャップ11と
光透過性フィルム基Fi5との間に配した光硬化性樹脂
13を光硬化する。これにより、受光素子8は確実に固
定されるとともに、振動、湿度に対して強いものとなる
。特に、本実施例のように、電極接続の信頼性を上げる
ため、受光素子8の駆動に必要な電極10aのみを接続
し、他のダミー電極10bを接続しないようにした場合
には、このようなシーリングを兼ねた固定法は有効であ
る。
されたキャップ11の底部にシリコンレジンのようなソ
フトなレジン12を配し、このレジン12を介して受光
素子8を上方から加圧した状態のまま、キャップ11と
光透過性フィルム基Fi5との間に配した光硬化性樹脂
13を光硬化する。これにより、受光素子8は確実に固
定されるとともに、振動、湿度に対して強いものとなる
。特に、本実施例のように、電極接続の信頼性を上げる
ため、受光素子8の駆動に必要な電極10aのみを接続
し、他のダミー電極10bを接続しないようにした場合
には、このようなシーリングを兼ねた固定法は有効であ
る。
また、キャプシュレーションの他にも、受光素子8とそ
れが対面する光透過性フィルム基板5との間に樹脂を注
入・硬化することにより受光素子8を固定するとともに
シーリングする方法をとることもできる。
れが対面する光透過性フィルム基板5との間に樹脂を注
入・硬化することにより受光素子8を固定するとともに
シーリングする方法をとることもできる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明に係る密着型イメージセン
サによれば、以下に示す種々の優れた効果を発揮する。
サによれば、以下に示す種々の優れた効果を発揮する。
■ フレキシブルなフィルム基板上に受光素子を接続す
るため、接続部の熱応力の緩和が可能となり、信頼性の
向上を図ることができる。
るため、接続部の熱応力の緩和が可能となり、信頼性の
向上を図ることができる。
■ 光ファイバーを組み込んだ基板が加熱工程を経ない
ため、耐熱性の低い安価な基板を用いることができ、生
産コストの低減を図ることができる。
ため、耐熱性の低い安価な基板を用いることができ、生
産コストの低減を図ることができる。
■ 良品の受光素子を良品の光透過性フィルム基板にそ
れぞれ1対1で搭載し、良品のみを光ファイバーを組み
込んだ基板に搭載できるので、歩留の向上を図ることが
できる。
れぞれ1対1で搭載し、良品のみを光ファイバーを組み
込んだ基板に搭載できるので、歩留の向上を図ることが
できる。
■ 光ファイバーを用いるため光路長を自由に選択する
ことができるので、センサの小型化が図れる。
ことができるので、センサの小型化が図れる。
■ 光ファイバーを組み込んだ基板と受光素子とを一体
化しているので、従来のようにレンズの焦点調整が不要
となり、生産性の向上と生産コストの低減を図ることが
できる。
化しているので、従来のようにレンズの焦点調整が不要
となり、生産性の向上と生産コストの低減を図ることが
できる。
■ 受光素子の受光面と光ファイバーの光出射面との距
離を短くすることができるので、高分解能で読み取れる
密着型イメージセンサを提、供できる。
離を短くすることができるので、高分解能で読み取れる
密着型イメージセンサを提、供できる。
第1図ないし第6図は本発明の図面を示し、第1図は密
着型イメージセンサの断面図、第2図は同センサの平面
図、第3図は光ファイバーと受光素子との距離と分離能
との関係を示す曲線図、第4図(a)及び(b)は受光
素子の平面図及び縦断面図、第5図はポリイミドフィル
ムの厚さと透過率との関係を示す曲線図、第6図(81
及び(b)は受光素子を1列に配列するための配列治具
の概略構成を示す平面図及び縦断面図、第7図及び第8
図は従来の密着型イメージセンサの概略構成図である。 1・・・原稿 3・・・基板 5・・・光透過性フ 7・・・配線電極 10a・・・電極 12・・・レジン 2・・・光源 4a・・・光ファイバー イルム基板 8・・・受光素子 11・・・キャップ 第3図 7と開側波数C1p1mm) 第1図 第2図 第4図 (Q) 第4図 (b) 第5図 フィルノ、厚さ ioo 125 (μm+) 第6図 (a) 第6図 (b)
着型イメージセンサの断面図、第2図は同センサの平面
図、第3図は光ファイバーと受光素子との距離と分離能
との関係を示す曲線図、第4図(a)及び(b)は受光
素子の平面図及び縦断面図、第5図はポリイミドフィル
ムの厚さと透過率との関係を示す曲線図、第6図(81
及び(b)は受光素子を1列に配列するための配列治具
の概略構成を示す平面図及び縦断面図、第7図及び第8
図は従来の密着型イメージセンサの概略構成図である。 1・・・原稿 3・・・基板 5・・・光透過性フ 7・・・配線電極 10a・・・電極 12・・・レジン 2・・・光源 4a・・・光ファイバー イルム基板 8・・・受光素子 11・・・キャップ 第3図 7と開側波数C1p1mm) 第1図 第2図 第4図 (Q) 第4図 (b) 第5図 フィルノ、厚さ ioo 125 (μm+) 第6図 (a) 第6図 (b)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)読み取るべき原稿を照射する光源と、この原稿から
の反射光を電気信号に変換する受光素子と、この受光素
子と前記原稿との間に配置された光ファイバーを組み込
んだ基板とを備えた密着型イメージセンサにおいて、 前記光ファイバーの光出射面側である前記 基板の上面に光透過性フィルム基板が接着されるととも
に、該光透過性フィルム基板の上面に配線電極が形成さ
れ、一方、前記受光素子の受光面側には電極が形成され
、かつこの受光素子の電極と前記光透過性フィルム基板
の配線電極とが対向して配置され、この状態において対
向する前記配線電極と受光素子の電極とが電気的に接続
されたことを特徴とする密着型イメージセンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63167465A JPH0216768A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 密着型イメージセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63167465A JPH0216768A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 密着型イメージセンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0216768A true JPH0216768A (ja) | 1990-01-19 |
Family
ID=15850182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63167465A Pending JPH0216768A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 密着型イメージセンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0216768A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04334072A (ja) * | 1991-05-10 | 1992-11-20 | Sharp Corp | 光結合装置およびその製造方法 |
| US5359208A (en) * | 1993-02-26 | 1994-10-25 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Chip package with microlens array |
| US5497465A (en) * | 1992-03-25 | 1996-03-05 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Parallel digital processing system using optical interconnection between control sections and data processing sections |
| US6112901A (en) * | 1998-06-30 | 2000-09-05 | Nec Corporation | Holding case capable of holding IC card certainly |
-
1988
- 1988-07-05 JP JP63167465A patent/JPH0216768A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04334072A (ja) * | 1991-05-10 | 1992-11-20 | Sharp Corp | 光結合装置およびその製造方法 |
| US5497465A (en) * | 1992-03-25 | 1996-03-05 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Parallel digital processing system using optical interconnection between control sections and data processing sections |
| US5359208A (en) * | 1993-02-26 | 1994-10-25 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Chip package with microlens array |
| US6112901A (en) * | 1998-06-30 | 2000-09-05 | Nec Corporation | Holding case capable of holding IC card certainly |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5138145A (en) | Method for producing image sensors with current flow into chip and with simplified chip mounting | |
| EP0561964B1 (en) | Optoelectronic device component package and method of making the same | |
| US7675016B2 (en) | Solid-state image pickup device and method of producing the same | |
| US4942481A (en) | Contact-type image sensor | |
| JP3173586B2 (ja) | 全モールド型固体撮像装置およびその製造方法 | |
| JPH021179A (ja) | 光電変換装置の製造方法 | |
| JP2001345391A (ja) | 電子部品及びその製造方法 | |
| JPH0216768A (ja) | 密着型イメージセンサ | |
| US5266828A (en) | Image sensors with an optical fiber array | |
| US4939591A (en) | Contact-type image sensor | |
| JPH0316466A (ja) | 密着型イメージセンサ | |
| JP3260021B2 (ja) | 完全密着型イメージセンサ | |
| US20250324152A1 (en) | Image capturing module for reducing overall thickness and portable electronic device for using the same | |
| JPH06350800A (ja) | 光ファイバアレイを有する基板の認識方法及びその基板を用いた半導体装置 | |
| JP3238256B2 (ja) | 半導体装置、イメージセンサ装置及びそれらの製造方法 | |
| JPH0511825B2 (ja) | ||
| JP3551173B2 (ja) | イメージセンサユニット | |
| JPH01228178A (ja) | 固体撮像装置 | |
| JPH05303058A (ja) | 光ファイバアレイ基板および光ファイバアレイ基板を用いた完全密着型イメージセンサ | |
| JP3055382B2 (ja) | 完全密着型イメージセンサ及びユニット | |
| JPH0693504B2 (ja) | イメージセンサの製造方法 | |
| JPH03142880A (ja) | 半導体装置とそれを用いたイメージセンサ及びイメージセンサユニット | |
| JPH05244342A (ja) | 密着型イメージセンサ | |
| JPH088625B2 (ja) | イメージセンサ | |
| JPH02203561A (ja) | 半導体装置の製造方法 |