JPH02173555A - シート紙の検査装置 - Google Patents
シート紙の検査装置Info
- Publication number
- JPH02173555A JPH02173555A JP33009988A JP33009988A JPH02173555A JP H02173555 A JPH02173555 A JP H02173555A JP 33009988 A JP33009988 A JP 33009988A JP 33009988 A JP33009988 A JP 33009988A JP H02173555 A JPH02173555 A JP H02173555A
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Links
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 17
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 2
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- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はシート状に製紙された用紙（シート紙）に製造
工程で発生する油じみ、異物、Ｉ！、目玉。
工程で発生する油じみ、異物、Ｉ！、目玉。
もつれ、折れ等の欠点を自動的に検査する装置に関する
ものである。
ものである。
従来、この種の装置としてはｒＯＭＲＯＮ ＴＥＣＨ
ＮＴＣ５Ｖｏｌ、７ Ｎｏ、４」の第２９５頁〜第３
０１頁に示されるものが知られている。
ＮＴＣ５Ｖｏｌ、７ Ｎｏ、４」の第２９５頁〜第３
０１頁に示されるものが知られている。
上記の装置は、シート紙に検査のための光線を照射する
光源部と、光線の反射光もしくは透過光を受光して電気
信号に変換する多数の光電素子およびそれらの個々もし
くは複数個単位に設けられた増幅・弁別回路を含む検査
部と、この検査部の結果に応してシート紙の処理工程を
制御する制御部と、各部に電源を供給する電源部とから
構成されていた。
光源部と、光線の反射光もしくは透過光を受光して電気
信号に変換する多数の光電素子およびそれらの個々もし
くは複数個単位に設けられた増幅・弁別回路を含む検査
部と、この検査部の結果に応してシート紙の処理工程を
制御する制御部と、各部に電源を供給する電源部とから
構成されていた。
従来の検査装置は上述したように構成されていたため、
欠点の検査の分解能を上げてより微小な欠点を検出した
い場合や、検査範囲を広げたい場合には、光電素子およ
び増幅・弁別回路をそれに応じて多く設けなければなら
ないため、装置規模が大きくなり、装置価格の増大を招
いたり、製造・調整において困難を伴う等の問題があっ
た。
欠点の検査の分解能を上げてより微小な欠点を検出した
い場合や、検査範囲を広げたい場合には、光電素子およ
び増幅・弁別回路をそれに応じて多く設けなければなら
ないため、装置規模が大きくなり、装置価格の増大を招
いたり、製造・調整において困難を伴う等の問題があっ
た。
本発明は上記の点に迄み提案されたものであり、その目
的とするところは、装置規模を大きくすることなく微小
な欠点の検出を広範囲にわたって行うことのできるシー
ト紙の検査装置を提供することにある。
的とするところは、装置規模を大きくすることなく微小
な欠点の検出を広範囲にわたって行うことのできるシー
ト紙の検査装置を提供することにある。
本発明は上記の目的を達成するため、シート紙を照明す
る光源と、 前記シート紙からの反射光を受光して電気的な画像信号
に変換する自己走査型光電変換検出器と、得られた画像
信号に対し光学系および光電変換系の感度不均一を補正
する感度補正回路と、補正後の画像信号から２Ｎ以上の
閾値信号を発生ずる自動閾値発生回路と、 画素単位の画像信号と第１の閾値信号とを比較してコン
トラストの高い欠点の存在の判定を行う比較判定回路と
、 画素単位の画像信号と他の閾値信号とを比較して淡い欠
点の存在を検出する比較回路と、この比較回路の出力信
号を走査方向と搬送方向とにつき別個に積和し、積和結
果の大小により淡くて広い欠点の存在を判定する一次元
積和判定回路と、 前記比較判定回路および前記一次元積和判定回路の各々
の出力結果により前記シート紙の良・不良を総合的に判
定する総合判定回路とを備えるようにしている。
る光源と、 前記シート紙からの反射光を受光して電気的な画像信号
に変換する自己走査型光電変換検出器と、得られた画像
信号に対し光学系および光電変換系の感度不均一を補正
する感度補正回路と、補正後の画像信号から２Ｎ以上の
閾値信号を発生ずる自動閾値発生回路と、 画素単位の画像信号と第１の閾値信号とを比較してコン
トラストの高い欠点の存在の判定を行う比較判定回路と
、 画素単位の画像信号と他の閾値信号とを比較して淡い欠
点の存在を検出する比較回路と、この比較回路の出力信
号を走査方向と搬送方向とにつき別個に積和し、積和結
果の大小により淡くて広い欠点の存在を判定する一次元
積和判定回路と、 前記比較判定回路および前記一次元積和判定回路の各々
の出力結果により前記シート紙の良・不良を総合的に判
定する総合判定回路とを備えるようにしている。
本発明のシート紙の検査装置にあっては、光源がシート
紙を照明し、自己走査型光電変換検出器が前記シート紙
からの反射光を受光して電気的な画像信号に変換し、得
られた画像信号に対し感度補正回路が光学系および光電
変換系の感度不均一を補正し、自動閾値発生回路が補正
後の画像信号から２種以上の閾値信号を発生し、比較判
定回路が画素単位の画像信号と第１の閾値信号とを比較
してコントラストの高い欠点の存在の判定を行い、比較
回路が画素単位の画像信号と他の閾値信号とを比較して
淡い欠点の存在を検出し、一次元積和判定回路が前記比
較回路の出力信号を走査方向と搬送方向とにつき別個に
積和すると共に積和結果の大小により淡くて広い欠点の
存在を判定し、総合判定回路が前記比較判定回路および
前記一次元積和判定回路の各々の出力結果により前記シ
ート紙の良・不良を総合的に判定する。
紙を照明し、自己走査型光電変換検出器が前記シート紙
からの反射光を受光して電気的な画像信号に変換し、得
られた画像信号に対し感度補正回路が光学系および光電
変換系の感度不均一を補正し、自動閾値発生回路が補正
後の画像信号から２種以上の閾値信号を発生し、比較判
定回路が画素単位の画像信号と第１の閾値信号とを比較
してコントラストの高い欠点の存在の判定を行い、比較
回路が画素単位の画像信号と他の閾値信号とを比較して
淡い欠点の存在を検出し、一次元積和判定回路が前記比
較回路の出力信号を走査方向と搬送方向とにつき別個に
積和すると共に積和結果の大小により淡くて広い欠点の
存在を判定し、総合判定回路が前記比較判定回路および
前記一次元積和判定回路の各々の出力結果により前記シ
ート紙の良・不良を総合的に判定する。
Ｃ実施例）
以下、本発明の実施例につき図面を参照して説明する。
第１図は本発明のシート紙の検査装置の一実施例を示す
構成図である。以下、重複を避けるため、各部の動作を
説明することにより、各部の構成および＃ｌ能の説明と
する。
構成図である。以下、重複を避けるため、各部の動作を
説明することにより、各部の構成および＃ｌ能の説明と
する。
矢印の方向に搬送されるシート紙１は光ｉｊＸ ２ ａ
。
。
２ｂにより照明され、その乱反射による反射光がＣＣＤ
等の自己走査型光電変換検出器４に入射し、シート紙ｌ
の幅方向（図面の紙面と垂直方向）の１列の画像が１走
査として画素単位で電気的な画像信号に変換される。な
お、光源２ａ、２ｂは電ａＳにより直流あるいは高周波
で点灯されるものである。
等の自己走査型光電変換検出器４に入射し、シート紙ｌ
の幅方向（図面の紙面と垂直方向）の１列の画像が１走
査として画素単位で電気的な画像信号に変換される。な
お、光源２ａ、２ｂは電ａＳにより直流あるいは高周波
で点灯されるものである。
自己走査型光電変換検出器４の出力信号である画像信号
には、光源２ａ、２ｂの照度ムラ等の光学系の不均一や
、自己走査型光電変換検出器４の画素単位の感度不均一
等により、同じ状態のシート紙１の表面を撮像したもの
であっても画素毎に異なるレベルの信号が得られるが、
これらの不均一は次段の感度補正回路５により取り除か
れ、シート紙１０表面の状態を正確に反映した画像信号
が得られる。すなわち、感度補正値記憶回路６には、予
め基準となるシート紙１の表面における自己走査型光電
変換検出器４の１走査分の画像信号が記憶されており、
演算増幅回路７では感度補正値記憶回路６の記憶内容に
従い、入力した画像信号に画素単位で補正を加えるもの
である。
には、光源２ａ、２ｂの照度ムラ等の光学系の不均一や
、自己走査型光電変換検出器４の画素単位の感度不均一
等により、同じ状態のシート紙１の表面を撮像したもの
であっても画素毎に異なるレベルの信号が得られるが、
これらの不均一は次段の感度補正回路５により取り除か
れ、シート紙１０表面の状態を正確に反映した画像信号
が得られる。すなわち、感度補正値記憶回路６には、予
め基準となるシート紙１の表面における自己走査型光電
変換検出器４の１走査分の画像信号が記憶されており、
演算増幅回路７では感度補正値記憶回路６の記憶内容に
従い、入力した画像信号に画素単位で補正を加えるもの
である。
次いで、感度補正回路５の出力信号である画像信号は比
較判定回路９と比較回路１０とに共通に加えられ、それ
ぞれ異なる閾値信号と比較される。
較判定回路９と比較回路１０とに共通に加えられ、それ
ぞれ異なる閾値信号と比較される。
なお、比較判定回路９および比較回路１０に与えられる
閾値信号は、自動閾値発生回路８が画像信号から生成す
るものである。すなわち、実際に得られた画像信号から
積分処理等の平均化処理を行うごとにより、光学系およ
び光電変換系の時間的な変動を打ち消すような適切な閾
値信号が得られるものである。なお、自動閾値発生回路
８を積分回路で構成した場合には、その積分定数は検出
の対象となる欠点のコントラストや大きさに応じて設定
されるものである。また、この実施例では自動閾値発生
回路８からＨｌの閾値信号を発生させているが、比較判
定回路９や比較回路１０を複数設ける場合には、それに
応じて発生ずる閾値信号の数も増えることになる。
閾値信号は、自動閾値発生回路８が画像信号から生成す
るものである。すなわち、実際に得られた画像信号から
積分処理等の平均化処理を行うごとにより、光学系およ
び光電変換系の時間的な変動を打ち消すような適切な閾
値信号が得られるものである。なお、自動閾値発生回路
８を積分回路で構成した場合には、その積分定数は検出
の対象となる欠点のコントラストや大きさに応じて設定
されるものである。また、この実施例では自動閾値発生
回路８からＨｌの閾値信号を発生させているが、比較判
定回路９や比較回路１０を複数設ける場合には、それに
応じて発生ずる閾値信号の数も増えることになる。
ところで、この種の検査装置において検出すべき欠点は
大別すると次の２通りとなる。
大別すると次の２通りとなる。
■大きさの大小にかかわらずコントラストの高い欠点＜
ｆａい汚れ等） ■コントラストは低く色は淡いが広い面積の欠点 しかして、比較判定回路９は上記の■の欠点の検出に対
応しており、比較的高いレベルの閾値信号を自動閾値発
生回路８から与えられ、感度補正回路５から出力される
画像信号を画素単位で閾値信号と比較して、それを越え
る場合に、コントラストの高い欠点が存在すると判定し
て信号を出力する。
ｆａい汚れ等） ■コントラストは低く色は淡いが広い面積の欠点 しかして、比較判定回路９は上記の■の欠点の検出に対
応しており、比較的高いレベルの閾値信号を自動閾値発
生回路８から与えられ、感度補正回路５から出力される
画像信号を画素単位で閾値信号と比較して、それを越え
る場合に、コントラストの高い欠点が存在すると判定し
て信号を出力する。
また、比較回路１０は上記の■の欠点の検出に対応して
おり、比較的低いレベルの閾値信号を自動閾値発生回路
８から与えられ、感度補正回路５から出力される画像信
号を画素単位で閾値信号と比較して、それを越える場合
に、画素単位で信号を出力する。なお、比較回路１０に
おいて閾値信号を越えるものの中には、シート紙１のバ
タッキ等による光量変化が検出されてしまったものや、
欠点の面積が小さく不良とする必要のないものも含まれ
、このようなものは検出すべき欠点ではないので、これ
らを識別するために２個の一次元積和判定回路１１．１
２が設けられている。
おり、比較的低いレベルの閾値信号を自動閾値発生回路
８から与えられ、感度補正回路５から出力される画像信
号を画素単位で閾値信号と比較して、それを越える場合
に、画素単位で信号を出力する。なお、比較回路１０に
おいて閾値信号を越えるものの中には、シート紙１のバ
タッキ等による光量変化が検出されてしまったものや、
欠点の面積が小さく不良とする必要のないものも含まれ
、このようなものは検出すべき欠点ではないので、これ
らを識別するために２個の一次元積和判定回路１１．１
２が設けられている。
一次元積和判定回路ＩＩでは自己走査型光電変換検出器
４の走査方向に対し°Ｃ比較回路１０の出力信号を積和
し、一定範囲内に所定の割合以上の検出部分が含まれて
いる場合には欠点が存在すると判定して信号を出力する
。また、一次元積和判定回路１２ではシート紙ｌの搬送
方向に対して比較回路１０の出力信号を積和し、一定範
囲内に所定の割合以上（例えば８０％以上）の検出部分
が含まれている場合には欠点が存在すると判定して信号
を出力する。
４の走査方向に対し°Ｃ比較回路１０の出力信号を積和
し、一定範囲内に所定の割合以上の検出部分が含まれて
いる場合には欠点が存在すると判定して信号を出力する
。また、一次元積和判定回路１２ではシート紙ｌの搬送
方向に対して比較回路１０の出力信号を積和し、一定範
囲内に所定の割合以上（例えば８０％以上）の検出部分
が含まれている場合には欠点が存在すると判定して信号
を出力する。
そして、総合判定回路１３では、比較判定回路９、一次
元積和判定回路１１．１２の出力信号を総合的に考慮し
、シート紙１を不良品として認めるべき基準に合致する
か否かを判定し、不良品と判定された場合には欠点信号
Ｅを出力する。
元積和判定回路１１．１２の出力信号を総合的に考慮し
、シート紙１を不良品として認めるべき基準に合致する
か否かを判定し、不良品と判定された場合には欠点信号
Ｅを出力する。
本発明のシート紙の検査装置は以上のように構成したの
で、 ■充電素子としてＣＯＤ等の自己走査型光電変換検出器
を用いているので、装置規模を大きくすることなく微小
な欠点の検出を広範囲にわたって行うことができる。
で、 ■充電素子としてＣＯＤ等の自己走査型光電変換検出器
を用いているので、装置規模を大きくすることなく微小
な欠点の検出を広範囲にわたって行うことができる。
■自己走査型光電変換検出器の出力信号である画像信号
を画素単位で補正しているため、光学系および光電変換
系の不均一が検査結果に影響しない。
を画素単位で補正しているため、光学系および光電変換
系の不均一が検査結果に影響しない。
■自動閾値発生回路により画像信号から比較の閾値信号
を発生しているので、光学系および光電変換系の感度が
時間的に変化するような場合でも検査結果に影響しない
。
を発生しているので、光学系および光電変換系の感度が
時間的に変化するような場合でも検査結果に影響しない
。
■コントラストの高い欠点の検査と淡く広い欠点の検査
とを分離して行い、その後に総合的に判定しているため
、検査の精度が高い。
とを分離して行い、その後に総合的に判定しているため
、検査の精度が高い。
等の効果がある。
第１図は本発明のシート紙の検査装置の一実施例を示す
構成図である。 図において、 １・・・・・・・・・・・・・・・シート紙２ａ、２ｂ
・・・光源 ３・・・・・・・・・・・・・・・電源４・・・・・・
・・・・・・・・・自己走査型光電変換検出器５・・・
・・・・・・・・・・・・感度補正回路６・・・・・・
・・・・・・・・−感度補正値記憶回路７・・・・・・
・・・・・・・・・演算増幅回路８・・・・・・・・・
・・・・・・自動閾値発生回路９・・・・・・・・・・
・・・・・比較判定回路１０・・・・・・・・・・・・
比較回路１１．１２・・・一次元積和判定回路
構成図である。 図において、 １・・・・・・・・・・・・・・・シート紙２ａ、２ｂ
・・・光源 ３・・・・・・・・・・・・・・・電源４・・・・・・
・・・・・・・・・自己走査型光電変換検出器５・・・
・・・・・・・・・・・・感度補正回路６・・・・・・
・・・・・・・・−感度補正値記憶回路７・・・・・・
・・・・・・・・・演算増幅回路８・・・・・・・・・
・・・・・・自動閾値発生回路９・・・・・・・・・・
・・・・・比較判定回路１０・・・・・・・・・・・・
比較回路１１．１２・・・一次元積和判定回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 シート紙を照明する光源と、 前記シート紙からの反射光を受光して電気的な画像信号
に変換する自己走査型光電変換検出器と、得られた画像
信号に対し光学系および光電変換系の感度不均一を補正
する感度補正回路と、補正後の画像信号から２種以上の
閾値信号を発生する自動閾値発生回路と、 画素単位の画像信号と第１の閾値信号とを比較してコン
トラストの高い欠点の存在の判定を行う比較判定回路と
、 画素単位の画像信号と他の閾値信号とを比較して淡い欠
点の存在を検出する比較回路と、 この比較回路の出力信号を走査方向と搬送方向とにつき
別個に積和し、積和結果の大小により淡くて広い欠点の
存在を判定する一次元積和判定回路と、 前記比較判定回路および前記一次元積和判定回路の各々
の出力結果により前記シート紙の良・不良を総合的に判
定する総合判定回路とを備えたことを特徴とするシート
紙の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33009988A JPH02173555A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | シート紙の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33009988A JPH02173555A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | シート紙の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02173555A true JPH02173555A (ja) | 1990-07-05 |
Family
ID=18228781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33009988A Pending JPH02173555A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | シート紙の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02173555A (ja) |
-
1988
- 1988-12-27 JP JP33009988A patent/JPH02173555A/ja active Pending
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