JPH02176872A - シート紙の検査装置 - Google Patents
シート紙の検査装置Info
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- JPH02176872A JPH02176872A JP63330101A JP33010188A JPH02176872A JP H02176872 A JPH02176872 A JP H02176872A JP 63330101 A JP63330101 A JP 63330101A JP 33010188 A JP33010188 A JP 33010188A JP H02176872 A JPH02176872 A JP H02176872A
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 30
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 15
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 7
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野］
本発明はシート状に製紙された用紙（シート紙）に製造
工程で発生する油じみ、異物、塵、目玉もつれ、折れ等
の欠点を自動的に検査する装置に関するものである。
工程で発生する油じみ、異物、塵、目玉もつれ、折れ等
の欠点を自動的に検査する装置に関するものである。
従来、この種の装置としては’ＯＭＲＯＮ ＴＥＣＨ
ＮＩＣ３Ｖｏｌ、７ Ｎｏ、４Ｊの第２９５頁〜第３
０１頁に示されるものが知られている。
ＮＩＣ３Ｖｏｌ、７ Ｎｏ、４Ｊの第２９５頁〜第３
０１頁に示されるものが知られている。
上記の装置は、シート紙に検査のための光線を照射する
光源部と、光線の反射光もしくは透過光を受光して電気
信号に変換する多数の光電素子およびそれらの個々もし
くは複数個単位に設けられた増幅・弁別回路を含む検査
部と、この検査部の結果に応じてシート紙の処理工程を
制御する制御部と、各部に電源を供給する電源部とから
構成されていた。
光源部と、光線の反射光もしくは透過光を受光して電気
信号に変換する多数の光電素子およびそれらの個々もし
くは複数個単位に設けられた増幅・弁別回路を含む検査
部と、この検査部の結果に応じてシート紙の処理工程を
制御する制御部と、各部に電源を供給する電源部とから
構成されていた。
従来の検査装置は上述したように構成されていたため、
欠点の検査の分解能を上げてより微小な欠点を検出した
い場合や、検査範囲を広げたい場合には、光電素子およ
び増幅・弁別回路をそれに応じて多く設けなければなら
ないため、装置規模が大きくなり、装置価格の増大を招
いたり、製造・調整において困難を伴う等の問題があっ
た。
欠点の検査の分解能を上げてより微小な欠点を検出した
い場合や、検査範囲を広げたい場合には、光電素子およ
び増幅・弁別回路をそれに応じて多く設けなければなら
ないため、装置規模が大きくなり、装置価格の増大を招
いたり、製造・調整において困難を伴う等の問題があっ
た。
本発明は上記の点に鑑み提案されたものであり、その目
的とするところは、装置規模を大きくすることなく微小
な欠点の検出を広範囲にわたって行うことのできるシー
ト紙の検査装置を提供することにある。
的とするところは、装置規模を大きくすることなく微小
な欠点の検出を広範囲にわたって行うことのできるシー
ト紙の検査装置を提供することにある。
（課題を解決するための手段〕
本発明は上記の目的を達成するため、シート紙を照明す
る光源と、 前記シート紙からの反射光を受光して電気的な画像信号
に変換する自己走査型光電変換検出器と、得られた画像
信号に対し光学系および光電変換系の感度不均一を補正
する感度補正回路と、補正後の画像信号から２種以上の
閾値信号を発生する自動閾値発生回路と、 画素単位の画像信号と第１の閾値信号とを比較してコン
トラス（・の高い欠点の存在の判定を行う比較判定回路
と、 画素単位の画像信号と他の閾値信号とを比較して淡い欠
点の存在を検出する比較回路と、この比較回路の出力信
号を走査方向および搬送方向の二次元方向に積和し、積
和結果の大小により淡くて広い欠点の存在を判定する二
次元積和判定回路と、 前記比較判定回路および前記二次元積和判定回路の各り
の出力結果により前記シート紙の良・不良を総合的に判
定する総合判定回路とを備えるようにしている。
る光源と、 前記シート紙からの反射光を受光して電気的な画像信号
に変換する自己走査型光電変換検出器と、得られた画像
信号に対し光学系および光電変換系の感度不均一を補正
する感度補正回路と、補正後の画像信号から２種以上の
閾値信号を発生する自動閾値発生回路と、 画素単位の画像信号と第１の閾値信号とを比較してコン
トラス（・の高い欠点の存在の判定を行う比較判定回路
と、 画素単位の画像信号と他の閾値信号とを比較して淡い欠
点の存在を検出する比較回路と、この比較回路の出力信
号を走査方向および搬送方向の二次元方向に積和し、積
和結果の大小により淡くて広い欠点の存在を判定する二
次元積和判定回路と、 前記比較判定回路および前記二次元積和判定回路の各り
の出力結果により前記シート紙の良・不良を総合的に判
定する総合判定回路とを備えるようにしている。
〔作用］
本発明のシート紙の検査装置にあっては、光源がシート
紙を照明し、自己走査型光電変換検出器が前記シート紙
からの反射光を受光して電気的な画像信号に変換し、得
られた画像信号に対し感度補正回路が光学系および光電
変換系の感度不均一を補正し、自動閾値発生回路が補正
後の画像信号から２種以上の閾値信号を発生し、比較判
定回路が画素単位の画像信号と第１の閾Ｗ信号とを比較
してコントラストの高い欠点の存在の判定を行い、比較
回路が画素単位の画像信号と他の閾値信号とを比較して
淡い欠点の存在を検出し、二次元積和判定回路が前記比
較回路の出力信号を走査方向および搬送方向の二次元方
向に積和すると共に積和結果の大小により淡くて広い欠
点の存在を判定し、総合判定回路が前記比較判定回路お
よび前記二次元積和判定回路の各々の出力結果により前
記シート紙の良・不良を総合的に判定する。
紙を照明し、自己走査型光電変換検出器が前記シート紙
からの反射光を受光して電気的な画像信号に変換し、得
られた画像信号に対し感度補正回路が光学系および光電
変換系の感度不均一を補正し、自動閾値発生回路が補正
後の画像信号から２種以上の閾値信号を発生し、比較判
定回路が画素単位の画像信号と第１の閾Ｗ信号とを比較
してコントラストの高い欠点の存在の判定を行い、比較
回路が画素単位の画像信号と他の閾値信号とを比較して
淡い欠点の存在を検出し、二次元積和判定回路が前記比
較回路の出力信号を走査方向および搬送方向の二次元方
向に積和すると共に積和結果の大小により淡くて広い欠
点の存在を判定し、総合判定回路が前記比較判定回路お
よび前記二次元積和判定回路の各々の出力結果により前
記シート紙の良・不良を総合的に判定する。
〔実施例コ
以下、本発明の実施例につき図面を参照して説明する。
第１図は本発明のシート紙の検査装置の一実施例を示す
構成図である。以下、重複を避けるため、各部の動作を
説明することにより、各部の構成および機能の説明とす
る。
構成図である。以下、重複を避けるため、各部の動作を
説明することにより、各部の構成および機能の説明とす
る。
矢印の方向に搬送されるシート紙１は光Ｂ２ａ２ｂによ
り照明され、その乱反射による反射光がＣＣＤ等の自己
走査型光電変換検出器４に入射し、シート紙ｌの幅方向
（図面の紙面と垂直方向）の１列の画像が１走査として
画素単位で電気的な画像信号に変換される。なお、光源
２ａ、２ｂｌ！電源３により直流あるい：よ高周波で点
灯されるものである。
り照明され、その乱反射による反射光がＣＣＤ等の自己
走査型光電変換検出器４に入射し、シート紙ｌの幅方向
（図面の紙面と垂直方向）の１列の画像が１走査として
画素単位で電気的な画像信号に変換される。なお、光源
２ａ、２ｂｌ！電源３により直流あるい：よ高周波で点
灯されるものである。
自己走査型光電変換検出器４の出力信号である画像信号
には、光源２ａ、２ｂの照度ムラ等の光学系の不均一や
、自己走査型光電変換検出器４の画素単位の感度不均一
等により、同じ状態のシート紙１０表面を描像したもの
であっても画素毎に異なるレベルの信号が得られるが、
これらの不均一は次段の感度補正回路５により取り除か
れ、シート紙ｌの表面の状態を正確に反映した画像信号
が得られる。すなわち、感度補正値記憶回路６には、予
め基準となるシート紙ｌの表面における自己走査型光電
変換検出器４の１走査分の画像信号が記憶されており、
演算増幅回路７では感度補正値記憶回路６の記憶内容に
従い、入力した画像信号に画素単位で補正を加えるもの
である。
には、光源２ａ、２ｂの照度ムラ等の光学系の不均一や
、自己走査型光電変換検出器４の画素単位の感度不均一
等により、同じ状態のシート紙１０表面を描像したもの
であっても画素毎に異なるレベルの信号が得られるが、
これらの不均一は次段の感度補正回路５により取り除か
れ、シート紙ｌの表面の状態を正確に反映した画像信号
が得られる。すなわち、感度補正値記憶回路６には、予
め基準となるシート紙ｌの表面における自己走査型光電
変換検出器４の１走査分の画像信号が記憶されており、
演算増幅回路７では感度補正値記憶回路６の記憶内容に
従い、入力した画像信号に画素単位で補正を加えるもの
である。
次いで、感度補正回路５の出力信号である画像（３号は
比較判定回路９と比較回路１０とに共通に加えられ、そ
れぞれ異なる閾値信号と比較される。
比較判定回路９と比較回路１０とに共通に加えられ、そ
れぞれ異なる閾値信号と比較される。
なお、比較判定回路９および比較回路１０に与えられる
閾値信号は、自動閾値発生回路８が画像信号から生成す
るものである。すなわち、実際に得られた画像信号から
積分処理等の平均化処理を行うことにより、光学系およ
び光電変換系の時間的な変動を打ち消すような適切な閾
値信号が得られるものである。なお、自動閾値発生回路
８を積分回路で構成した場合には、その積分定数は検出
の対象となる欠点のコントラストや大きさに応じて設定
されるものである。また、この実施例では自動閾値発生
回路８から２種の閾値信号を発生させているが、比較判
定口８９や比較回路１０を複数設ける場合には、それに
応して発生する閾値信号の数も増えることになる。
閾値信号は、自動閾値発生回路８が画像信号から生成す
るものである。すなわち、実際に得られた画像信号から
積分処理等の平均化処理を行うことにより、光学系およ
び光電変換系の時間的な変動を打ち消すような適切な閾
値信号が得られるものである。なお、自動閾値発生回路
８を積分回路で構成した場合には、その積分定数は検出
の対象となる欠点のコントラストや大きさに応じて設定
されるものである。また、この実施例では自動閾値発生
回路８から２種の閾値信号を発生させているが、比較判
定口８９や比較回路１０を複数設ける場合には、それに
応して発生する閾値信号の数も増えることになる。
ところで、この種の検査装置において検出すべき欠点は
大別すると次の２通りとなる。
大別すると次の２通りとなる。
■大きさの大小にかかわらずコントラストの高い欠点（
濃い汚れ等） ■コントラストは低く色は淡いが広い面積の欠点 しかして、比較判定回路９は上記の■の欠点の検出に対
応しており、比較的高いレベルの閾値信号を自動閾値発
生回路８から与えられ、感度補正回路５から出力される
画像信号を画素単位で閾値信号と比較して、それを越え
る場合に、コントラストの高い欠点が存在すると判定し
て信号を出力する。
濃い汚れ等） ■コントラストは低く色は淡いが広い面積の欠点 しかして、比較判定回路９は上記の■の欠点の検出に対
応しており、比較的高いレベルの閾値信号を自動閾値発
生回路８から与えられ、感度補正回路５から出力される
画像信号を画素単位で閾値信号と比較して、それを越え
る場合に、コントラストの高い欠点が存在すると判定し
て信号を出力する。
また、比較回路１０は上記の■の欠点の検出に対応して
おり、比較的低いレベルの閾値信号を自動閾値発生回路
８から与えられ、感度補正回路５から出力される画像信
号を画素単位で閾値（２号と比較して、それを越える場
合に、画素単位で信号を出力する。なお、比較回路ＩＯ
において閾値信号を越えるものの中には、ノート祇ｌの
しわ、浮き等による光量変化が検出されてしまったもの
や、欠点の面積が小さく不良とする必要のないものも含
まれ、このようなものは検出すべき欠点ではないので、
これａを識別するために二次元積和判定回路１１が設け
られている。
おり、比較的低いレベルの閾値信号を自動閾値発生回路
８から与えられ、感度補正回路５から出力される画像信
号を画素単位で閾値（２号と比較して、それを越える場
合に、画素単位で信号を出力する。なお、比較回路ＩＯ
において閾値信号を越えるものの中には、ノート祇ｌの
しわ、浮き等による光量変化が検出されてしまったもの
や、欠点の面積が小さく不良とする必要のないものも含
まれ、このようなものは検出すべき欠点ではないので、
これａを識別するために二次元積和判定回路１１が設け
られている。
二次元積和判定回路１１では自己走査型光！変換検出器
４の走査方向およびシート紙ｌの搬送方向の二次元方向
に対して比較回路１０の出力信号を積和Ｌ７、一定範囲
（例えば５×５画素）内に所定の数似上の検出画素が含
まれている場合には欠点が存在すると判定して信号を出
力する。
４の走査方向およびシート紙ｌの搬送方向の二次元方向
に対して比較回路１０の出力信号を積和Ｌ７、一定範囲
（例えば５×５画素）内に所定の数似上の検出画素が含
まれている場合には欠点が存在すると判定して信号を出
力する。
そして、総合判定回路１２では、比較判定回路９、二次
元積和判定回路１１の出力信号を総合的に考慮し、シー
ト紙１を不良品として認めるべき基準に合致するか否か
を判定し、不良品と判定された場合には欠点信号Ｅを出
力する。
元積和判定回路１１の出力信号を総合的に考慮し、シー
ト紙１を不良品として認めるべき基準に合致するか否か
を判定し、不良品と判定された場合には欠点信号Ｅを出
力する。
本発明のシート紙の検査装置は以上のように構成したの
で、 ■光電素子としてＣＣＤ等の自己走査型光電変換検出器
を用いているので、装置規模を大きくすることなく微小
な欠点の検出を広範囲にわたって行うことができる。
で、 ■光電素子としてＣＣＤ等の自己走査型光電変換検出器
を用いているので、装置規模を大きくすることなく微小
な欠点の検出を広範囲にわたって行うことができる。
■自己走査型光電変換検出器の出力信号である画像信号
を画素単位で補正しているため、光学系および光電変換
系の不均一が検査結果に影響しない。
を画素単位で補正しているため、光学系および光電変換
系の不均一が検査結果に影響しない。
■自動閾値発生回路により画像信号から比較の閾値信号
を発生しているので、光学系および光電変換系の感度が
時間的に変化するような場合でも検査結果に影響しない
。
を発生しているので、光学系および光電変換系の感度が
時間的に変化するような場合でも検査結果に影響しない
。
■コントラストの高い欠点の検査と淡く広い欠点の検査
とを分離して行い、その後に総合的に判定しているため
、検査の精度が高い。
とを分離して行い、その後に総合的に判定しているため
、検査の精度が高い。
等の効果がある。
第１図は本発明のシート紙の検査装置の一実施例を示す
構成図である。 図において、 １・・・・・・・・・・・・・・・シート紙２ａ、２ｂ
・・・光源
構成図である。 図において、 １・・・・・・・・・・・・・・・シート紙２ａ、２ｂ
・・・光源
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 シート紙を照明する光源と、 前記シート紙からの反射光を受光して電気的な画像信号
に変換する自己走査型光電変換検出器と、得られた画像
信号に対し光学系および光電変換系の感度不均一を補正
する感度補正回路と、補正後の画像信号から２種以上の
閾値信号を発生する自動閾値発生回路と、 画素単位の画像信号と第１の閾値信号とを比較してコン
トラストの高い欠点の存在の判定を行う比較判定回路と
、 画素単位の画像信号と他の閾値信号とを比較して淡い欠
点の存在を検出する比較回路と、 この比較回路の出力信号を走査方向および搬送方向の二
次元方向に積和し、積和結果の大小により淡くて広い欠
点の存在を判定する二次元積和判定回路と、 前記比較判定回路および前記二次元積和判定回路の各々
の出力結果により前記シート紙の良・不良を総合的に判
定する総合判定回路とを備えたことを特徴とするシート
紙の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63330101A JPH02176872A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | シート紙の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63330101A JPH02176872A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | シート紙の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02176872A true JPH02176872A (ja) | 1990-07-10 |
Family
ID=18228805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63330101A Pending JPH02176872A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | シート紙の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02176872A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013096740A (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | West Nippon Expressway Engineering Shikoku Co Ltd | 構造物調査装置及び構造物調査方法 |
-
1988
- 1988-12-27 JP JP63330101A patent/JPH02176872A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013096740A (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | West Nippon Expressway Engineering Shikoku Co Ltd | 構造物調査装置及び構造物調査方法 |
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