JPH0217403A - 埋設深度測定法 - Google Patents
埋設深度測定法Info
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- JPH0217403A JPH0217403A JP63165917A JP16591788A JPH0217403A JP H0217403 A JPH0217403 A JP H0217403A JP 63165917 A JP63165917 A JP 63165917A JP 16591788 A JP16591788 A JP 16591788A JP H0217403 A JPH0217403 A JP H0217403A
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Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 10
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
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- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＸ線そのた適宜の放射線を利用して、物体内に
おける空隙その他任意の異物の埋設深度を測定する方法
に関する。
おける空隙その他任意の異物の埋設深度を測定する方法
に関する。
Ｘ線その他の放射線を用いて物体内に埋設された異物の
埋設深度を測定する場合に、従来は異なった２方向から
Ｘ線等を入射させて２枚の写真を撮影し、表面または裏
面に設けた標点と異物の像との相対的位置の差から上記
深度を求める方法がとられていた。しかし写真撮影によ
るときは結果を得るまでに極めて長時間を要し、また電
子的撮影装置を用いると、中心と周辺との像の歪み等で
誤差を生ずる欠点がある。本発明はこのような欠点を伴
うことなく容易迅速に正確な測定を行うことのできる方
法を提供するものである。
埋設深度を測定する場合に、従来は異なった２方向から
Ｘ線等を入射させて２枚の写真を撮影し、表面または裏
面に設けた標点と異物の像との相対的位置の差から上記
深度を求める方法がとられていた。しかし写真撮影によ
るときは結果を得るまでに極めて長時間を要し、また電
子的撮影装置を用いると、中心と周辺との像の歪み等で
誤差を生ずる欠点がある。本発明はこのような欠点を伴
うことなく容易迅速に正確な測定を行うことのできる方
法を提供するものである。
本発明は異物が埋設された物体に、上記異物の埋設深度
を測定する基準面と平行に深度目盛板を重合して微小の
線源から放射線を照射し、観測面上における異物の放射
線像が目盛板の原点の像と一致するようにそれらの位置
調整を行って、つぎに上記原点と前記線源とを含む平面
内でこの原点を中心とし、前記物体と目盛板とを一体と
して所定の角度だけ回転することにより、その状態で異
物の像の位置を前記目盛板の像によって読み取り、この
値によって直接または換算表等を用いて異物の埋設深度
を求める乙のである。従って像を任Ｑの倍率で拡大して
正確な測定を行い得ると共に操作が極めて筒型容易であ
り、また特に目盛による位置の直読が可能で、このため
極めて迅速容易に測定を行うことができる。かつ目盛板
と物体とを一体として回転させるだけであるから、装置
の製作が簡単容易である。
を測定する基準面と平行に深度目盛板を重合して微小の
線源から放射線を照射し、観測面上における異物の放射
線像が目盛板の原点の像と一致するようにそれらの位置
調整を行って、つぎに上記原点と前記線源とを含む平面
内でこの原点を中心とし、前記物体と目盛板とを一体と
して所定の角度だけ回転することにより、その状態で異
物の像の位置を前記目盛板の像によって読み取り、この
値によって直接または換算表等を用いて異物の埋設深度
を求める乙のである。従って像を任Ｑの倍率で拡大して
正確な測定を行い得ると共に操作が極めて筒型容易であ
り、また特に目盛による位置の直読が可能で、このため
極めて迅速容易に測定を行うことができる。かつ目盛板
と物体とを一体として回転させるだけであるから、装置
の製作が簡単容易である。
以下図面によって、本発明の一実施例を説明する。すな
わちＸ線の通過孔１を有する基台２上に目盛板３を乗せ
て、更にその上に例えば板状の物体４を基準面が上記目
盛板と密着するように載置しである。また基台２の上方
ａの距離の位置に点または紙面に直角な線状のＸ線源Ｓ
を配置すると共に下方における任きの距離の位置に蛍光
板あるいは任意のＸ線像撮影装置における感光部５を配
置しである。なお上記基台２は、１」成板３の載置面に
おける点ｐを通って紙面に直角な直線を軸として鎖線の
ように、これを一定の角度θだけ傾斜させることができ
る。更に目盛板３はＸ線等が透過し易い例えば合成樹脂
の薄板に、その透過率の低い例えばタングステン線等を
埋め込んで目盛線６を形成した乙ので、この目盛りの原
点か前記点ｐと一致するように基台２の上に取り付けら
れる。
わちＸ線の通過孔１を有する基台２上に目盛板３を乗せ
て、更にその上に例えば板状の物体４を基準面が上記目
盛板と密着するように載置しである。また基台２の上方
ａの距離の位置に点または紙面に直角な線状のＸ線源Ｓ
を配置すると共に下方における任きの距離の位置に蛍光
板あるいは任意のＸ線像撮影装置における感光部５を配
置しである。なお上記基台２は、１」成板３の載置面に
おける点ｐを通って紙面に直角な直線を軸として鎖線の
ように、これを一定の角度θだけ傾斜させることができ
る。更に目盛板３はＸ線等が透過し易い例えば合成樹脂
の薄板に、その透過率の低い例えばタングステン線等を
埋め込んで目盛線６を形成した乙ので、この目盛りの原
点か前記点ｐと一致するように基台２の上に取り付けら
れる。
第２図は上記目盛板３の平面図の一例、第３図はそのＡ
−Ａ断面図で、目盛ｅは例えば前記傾斜角Ｏを２５度と
した場合、ｆは１５度とした場合であって、必要に応じ
ては目盛線の間隔の変化を適当に設定することにより、
物体に埋設された異物７の深度Ｘをこの目盛りで直読す
ることができる。
−Ａ断面図で、目盛ｅは例えば前記傾斜角Ｏを２５度と
した場合、ｆは１５度とした場合であって、必要に応じ
ては目盛線の間隔の変化を適当に設定することにより、
物体に埋設された異物７の深度Ｘをこの目盛りで直読す
ることができる。
上述の装置を用いて、まずＸ線源Ｓから物体４および目
盛板３？こ垂直に入射するＸ線が前記点ｐを通り、かつ
目盛板３に直角に入射するように装置を設定する。次に
物体４を上記Ｘ線に直角な平面内で移動させて、感光部
５に形成される異物７の像が点ｐにおけるタングステン
線６の像と重合するように調整する。この状態から、第
１図７こ鎖線で示したように基台２を一定の角度θ、例
えば２５度だけ点ｐを通り、かつ紙面に直角な直線を軸
として回転し、物体４および目盛板３を第１図に鎖線４
゛および３°で示したように傾斜させる。
盛板３？こ垂直に入射するＸ線が前記点ｐを通り、かつ
目盛板３に直角に入射するように装置を設定する。次に
物体４を上記Ｘ線に直角な平面内で移動させて、感光部
５に形成される異物７の像が点ｐにおけるタングステン
線６の像と重合するように調整する。この状態から、第
１図７こ鎖線で示したように基台２を一定の角度θ、例
えば２５度だけ点ｐを通り、かつ紙面に直角な直線を軸
として回転し、物体４および目盛板３を第１図に鎖線４
゛および３°で示したように傾斜させる。
従って異物７は７′の位置に移動して、感光面５上にお
ける像が点０からｑＬ：Ｄ動する。かつ同時に目盛板３
における各タングステン線６の像し移動して、これによ
る感光部５Ｌの目盛線がそれぞれ矢印の位置に形成され
る。その目盛線６′６・・によって上記点ｑの位置ｙを
読み取ることにより、異物７の深さＸを直読あるいは換
算表等で読み取るものである。
ける像が点０からｑＬ：Ｄ動する。かつ同時に目盛板３
における各タングステン線６の像し移動して、これによ
る感光部５Ｌの目盛線がそれぞれ矢印の位置に形成され
る。その目盛線６′６・・によって上記点ｑの位置ｙを
読み取ることにより、異物７の深さＸを直読あるいは換
算表等で読み取るものである。
すなわち基台２の面から線源Ｓまでの距離を＆、基台２
の面から異物７までの距離すなわち上記異物の存在する
深度をｘｌまた目盛板３および物体４を上述のように角
θだけ傾斜させた状態において異物７′を通過したＸ線
が目盛板３°を通過する位置ｙを感光部５における目盛
線６および５％物７°の像によって読み取り、その値を
図に示したようにｙとすると、図におけるΔＳ７°ｍお
よびΔＳＱＲの相似関係にもとすいて （ａ −ｘ ｊｃｏｓθ）／（ａ＋ｙ−ｓｉｎθ）＝
ｘ ｌｌ５ｉｎθ／ｙ・ｃｏＳθ が成１′１．する。従ってこれを変形することによりｘ
−ａＩＩｙ拳ｃｏｓＯ／（ｙ十ａ・５１ｎＯ）として、
深度Ｘを求めることができる。
の面から異物７までの距離すなわち上記異物の存在する
深度をｘｌまた目盛板３および物体４を上述のように角
θだけ傾斜させた状態において異物７′を通過したＸ線
が目盛板３°を通過する位置ｙを感光部５における目盛
線６および５％物７°の像によって読み取り、その値を
図に示したようにｙとすると、図におけるΔＳ７°ｍお
よびΔＳＱＲの相似関係にもとすいて （ａ −ｘ ｊｃｏｓθ）／（ａ＋ｙ−ｓｉｎθ）＝
ｘ ｌｌ５ｉｎθ／ｙ・ｃｏＳθ が成１′１．する。従ってこれを変形することによりｘ
−ａＩＩｙ拳ｃｏｓＯ／（ｙ十ａ・５１ｎＯ）として、
深度Ｘを求めることができる。
なお、１１１７記第２図、第３図は角度θを２５度およ
び１５度とする場合の目盛を一枚の板に設けたものであ
る。また、目盛板３には任αの直線１」盛を設けて計算
あるいは換算表等により、深度Ｘを求めることもできる
が、傾斜角θ並びに距離λを一定として、直接ｆｉ！度
目盛を設けるときは、深度の直読が可能である。更に他
の目盛板の羽面図およびそのＢ−Ｂ断面図を第４図、第
５図に示しである。このようにタングステン線６．６・
・・による目盛線を円形に形成するときは、角θの傾斜
方向を限定する必要が除かれる。なお目盛板３は、これ
を物体４の上面あるいは物体から一定の距離だけ離隔し
た位置に配置することもできる。
び１５度とする場合の目盛を一枚の板に設けたものであ
る。また、目盛板３には任αの直線１」盛を設けて計算
あるいは換算表等により、深度Ｘを求めることもできる
が、傾斜角θ並びに距離λを一定として、直接ｆｉ！度
目盛を設けるときは、深度の直読が可能である。更に他
の目盛板の羽面図およびそのＢ−Ｂ断面図を第４図、第
５図に示しである。このようにタングステン線６．６・
・・による目盛線を円形に形成するときは、角θの傾斜
方向を限定する必要が除かれる。なお目盛板３は、これ
を物体４の上面あるいは物体から一定の距離だけ離隔し
た位置に配置することもできる。
第１図は本発明の詳細な説明する断面図、第２図は第１
図における目盛板の平面図、第３図は第２図のＡ−Ａ断
面図、第４図は本発明の方法に用いることのできる他の
目盛板の平面図、第５図は第４図のＢ−Ｂ断面図である
。 なお図において、ｌはＸ線通過孔、２は基台、３は目盛
板、４は被観測物体、５はＸ線感光面、６はタングステ
ン線、７は深度を測定しようとする異物である。
図における目盛板の平面図、第３図は第２図のＡ−Ａ断
面図、第４図は本発明の方法に用いることのできる他の
目盛板の平面図、第５図は第４図のＢ−Ｂ断面図である
。 なお図において、ｌはＸ線通過孔、２は基台、３は目盛
板、４は被観測物体、５はＸ線感光面、６はタングステ
ン線、７は深度を測定しようとする異物である。
Claims (1)
- 異物が埋設された物体に深度目盛を有する目盛板を上記
物体の基準面と平行に重合して、点または直線状をなし
た微小線源からこれらに直角に放射線を照射すると共に
観測面上における上記異物の放射線像が目盛板の原点の
像と一致するようにそれらの位置を調整し、つぎに上記
原点と前記線源とを含む平面内でこの原点を中心として
前記物体と目盛板とを一体として所定の角度だけ回転し
た状態で前記異物の像の位置を目盛板における目盛の像
によって読み取ることを特徴とする埋設深度測定法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63165917A JPH0217403A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 埋設深度測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63165917A JPH0217403A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 埋設深度測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0217403A true JPH0217403A (ja) | 1990-01-22 |
Family
ID=15821468
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63165917A Pending JPH0217403A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 埋設深度測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0217403A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6902020B2 (en) * | 2002-07-29 | 2005-06-07 | Daimlerchrysler Corporation | Interior vehicle battery system and method |
| JP2009186270A (ja) * | 2008-02-05 | 2009-08-20 | Shimadzu Corp | Ｘ線検査装置 |
-
1988
- 1988-07-05 JP JP63165917A patent/JPH0217403A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6902020B2 (en) * | 2002-07-29 | 2005-06-07 | Daimlerchrysler Corporation | Interior vehicle battery system and method |
| JP2009186270A (ja) * | 2008-02-05 | 2009-08-20 | Shimadzu Corp | Ｘ線検査装置 |
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