JPH02176535A - 光線路監視装置 - Google Patents
光線路監視装置Info
- Publication number
- JPH02176535A JPH02176535A JP33405788A JP33405788A JPH02176535A JP H02176535 A JPH02176535 A JP H02176535A JP 33405788 A JP33405788 A JP 33405788A JP 33405788 A JP33405788 A JP 33405788A JP H02176535 A JPH02176535 A JP H02176535A
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- JP
- Japan
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- wavelength
- optical fiber
- light
- monitoring device
- optical
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- Pending
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、光フアイバ線路の状態を遠方から監視する
ための光線路監視装置に関する。
ための光線路監視装置に関する。
【従来の技術１
光フアイバ線路の状態を遠方から監視するため、従来よ
り、０ＴＤＲ（０ｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ−Ｄｏｍａ
ｉｎＲｅｆ ｌｅｃｔｍｅｔｒｙ ）法による監視装置
が広く用いられている。これは、被測定光ファイバ線路
の一端に光パルスを入射し、その一端に戻ってくる反射
光を検出し、反射光出力の時間変化を捉えることにより
、線路長さ方向各位型での後方散乱光のレベルを知ろう
とするもので、これにより光フアイバ線路の各位置での
損失の測定、結合状態の監視ができる。 【発明が解決しようとする課題】 しかしながら、従来の０ＴＤＲ法による光フアイバ線路
の監視は、単に通信状態の品位の確認、あるいは線路の
損失の確認だけにとどまるものであって、線路状態が今
後どのように変化するがの予防保全は難しいという問題
がある。すなわち、通常の０ＴＤＲ法では損失変化を高
感度に測定することができないため、地盤沈下あるいは
管路の崩壊等による線路にかかる側圧の変化、光ファイ
バの捩れなどに起因する微小な変化は測定できないから
である。 この発明は、線路状態の監視を遠方から行なうことがで
きるとともに、線路保全を予防的に行なうための高感度
の監視をも行なうことができる、光線路監視装置を提供
することを目的とする。
り、０ＴＤＲ（０ｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ−Ｄｏｍａ
ｉｎＲｅｆ ｌｅｃｔｍｅｔｒｙ ）法による監視装置
が広く用いられている。これは、被測定光ファイバ線路
の一端に光パルスを入射し、その一端に戻ってくる反射
光を検出し、反射光出力の時間変化を捉えることにより
、線路長さ方向各位型での後方散乱光のレベルを知ろう
とするもので、これにより光フアイバ線路の各位置での
損失の測定、結合状態の監視ができる。 【発明が解決しようとする課題】 しかしながら、従来の０ＴＤＲ法による光フアイバ線路
の監視は、単に通信状態の品位の確認、あるいは線路の
損失の確認だけにとどまるものであって、線路状態が今
後どのように変化するがの予防保全は難しいという問題
がある。すなわち、通常の０ＴＤＲ法では損失変化を高
感度に測定することができないため、地盤沈下あるいは
管路の崩壊等による線路にかかる側圧の変化、光ファイ
バの捩れなどに起因する微小な変化は測定できないから
である。 この発明は、線路状態の監視を遠方から行なうことがで
きるとともに、線路保全を予防的に行なうための高感度
の監視をも行なうことができる、光線路監視装置を提供
することを目的とする。
上記目的を達成するため、この発明による光線路監視装
置においては、波長の異なる光パルスを発生し、被測定
光ファイバ線路に入射する第１、第２の光源と、該被測
定光ファイバ線路中を伝搬してきた反射光を、上記波長
ごとに受光する受光器と、該波長ごとの反射光出力の時
間変化を計測する回路とが備えられ、上記第１の光源か
らの光の波長を、単一モード光ファイバのセカンドモー
ドの遮断波長よりも短波長側で且つその近傍の波長とし
、第２の光源からの光の波長を遮断波長から離れた波長
としたことが特徴となっている。
置においては、波長の異なる光パルスを発生し、被測定
光ファイバ線路に入射する第１、第２の光源と、該被測
定光ファイバ線路中を伝搬してきた反射光を、上記波長
ごとに受光する受光器と、該波長ごとの反射光出力の時
間変化を計測する回路とが備えられ、上記第１の光源か
らの光の波長を、単一モード光ファイバのセカンドモー
ドの遮断波長よりも短波長側で且つその近傍の波長とし
、第２の光源からの光の波長を遮断波長から離れた波長
としたことが特徴となっている。
【作 用】
単一モード光フ・ｒイバの遮断波長より短波長側ではセ
カンドモードはクラッドにはみ出して伝播しており、遮
断波長の近傍の波長では少しの曲がりでも放射損失は大
きく現われる。 これに対し、遮断波長から離れた波長では、放射損失は
小さく、そのため長距離からの後方散乱光を測定できる
。 そこで、これら２つの波長の光パルスを発生する第１、
第２の光源を用い、これらの光の反射光をｏＴＤＲ法に
より測定すれば、第１の光源からの光により微小な損失
変化の測定ができ、これにより地磐沈下あるいは管路の
崩壊等による線路にかかる側圧の変化、光ファイバの捩
れなどが検出でき、線路の予防保全が可能となる。 他方、この第１の光源からの光による測定は上記のよう
に非常に高感度であるため、途中に少しでも損失増大要
因が存在するとそれより遠方に関する測定ができなくな
る。そこで、第２の光源からの光を用いることにより長
距離の光フアイバ線路全長での監視を行なうこととして
いる。 このように２波長の光源を用いて０ＴＤＲ測定を行なう
ことにより、高感度な測定による予防保全的な線路の監
視と、長距離測定による全長での通信状態の品位の確認
等との両方を行なうことができる。
カンドモードはクラッドにはみ出して伝播しており、遮
断波長の近傍の波長では少しの曲がりでも放射損失は大
きく現われる。 これに対し、遮断波長から離れた波長では、放射損失は
小さく、そのため長距離からの後方散乱光を測定できる
。 そこで、これら２つの波長の光パルスを発生する第１、
第２の光源を用い、これらの光の反射光をｏＴＤＲ法に
より測定すれば、第１の光源からの光により微小な損失
変化の測定ができ、これにより地磐沈下あるいは管路の
崩壊等による線路にかかる側圧の変化、光ファイバの捩
れなどが検出でき、線路の予防保全が可能となる。 他方、この第１の光源からの光による測定は上記のよう
に非常に高感度であるため、途中に少しでも損失増大要
因が存在するとそれより遠方に関する測定ができなくな
る。そこで、第２の光源からの光を用いることにより長
距離の光フアイバ線路全長での監視を行なうこととして
いる。 このように２波長の光源を用いて０ＴＤＲ測定を行なう
ことにより、高感度な測定による予防保全的な線路の監
視と、長距離測定による全長での通信状態の品位の確認
等との両方を行なうことができる。
つぎにこの発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。第１図はこの発明の一実施例にかかる光線路
監視装置２０を示すもので、発振波長の異なる２つのレ
ーザダイオード１．２が備えられており、これらはパル
ス駆動回路３によってパルス駆動されて、パルス光を発
生する。これらの波長λ１、λ２のパルス光は結合器４
により結合されて波長多重化された後、分岐器５を介し
て被測定光ファイバ６の一端に入射される。なお、この
ように波長λ１、＾２のパルス光を波長多重するために
は結合器４以外に回折格子、ジオデシックレンズ等も用
いることができる。 そして、この被測定光ファイバ線路６の一端に戻ってく
る反射光は分岐器５を経て、回折格子などの分波器７に
導かれ、波長λ１と、λ２の光に分波され、それぞれ受
光器８．９に送られる。これら受光器８．９の出力は信
号処理回路１０に送られ、反射光出力の時間変化が求め
られる。制御回路１１はパルス駆動回路３や信号処理回
路１０にタイミング信号等の制御信号を送る。 このような２波長＾１、λ２の光パルスを用いた０ＴＤ
Ｒの構成により、被測定光ファイバ線路６のレイリー散
乱による後方散乱光の測定を行なう。この実施例では、
被測定光ファイバ線路６として、外径１２５μｍ、コア
径１０μｍ、比屈折率差０．２８％の単一モード光ファ
イバをシリコーンコートして外径４００μｍとしたもの
を用いた。この単一モード光ファイバの場合、セカンド
モードの遮断波長は１．１８−であった。そこで、第１
のレーザダイオード１の発振波長を０．９μｍ、第２の
レーザダイオード２の発振波長を０，８５μｍとした。 この０，９μｍの波長は遮断波長より短波長側で且つそ
の近傍であるため、曲げによる損失が大きく現われる。 そのため、レーザダ・ｆオード１からのこの波長のパル
スレーザにより、０．９μｍの波長でのレイリー散乱に
よる損失変化を０ＴＤＲ法により捉えることによって被
測定光ファイバ線路６でのわずかなひずみの変化をも高
感度に検出することができた。たとえば、被測定光ファ
イバ線路６を形成する上記の単一モード光ファイバ（長
さ２００ｍ）を直径３００Ｍにコイル状に巻いて束ね、
これに側圧を加えたところ２ｄＢ以上の損失変化が現れ
、これの検出ができた。また、この単一モード光ファイ
バを１／１６ピツチで捩りを加えた（長さ５ｍ当り２２
．５°の捩りを与えた）ところ、１．６ｄＢの損失変化
が現われ、これの検出もできた。他方、第２のレーザダ
イオード２からの波長０．８５μｍのパルスレーザの場
合、遮断波長から離れた波長であるため、放射損失は大
きくは現われず、通常の０ＴＤＲ法と同様に被測定光フ
ァイバ線路６である単一モード光ファイバの損失の大き
な変化のみを検出することができた。 なお、一般に用いられている波長１．３μｍ用単−単一
ド光ファイバでは、遮断波長は１．１μｍ〜１．２μｍ
程度の波長にあり、この波長より短波長側で且つ０．８
μｍよりも長い波長域で曲げによる損失が大きく現われ
るので、高感度な障害点検出を行なうための波長（上記
の実施例ではレーザダイオード１の発振波長）はこの範
囲とする必要がある。他方、もう一方の波長（上記の実
施例ではレーザダイオード２の発振波長）は通常の０Ｔ
ＤＲと同様に被測定光ファイバ線路全長での大きな損失
のみを捉えようとするものであるから、上記の第１の波
長よりは遮断波長から離れた波長とし、曲げによる損失
がより小さい波長域に設定する必要がある。上記の実施
例では遮断波長よりも短波長側に設定したが、長波長側
に設定することもできる。また、遮断波長は被測定光フ
ァイバ線路６をなす単一モード光ファイバにより多少異
なるため、これに応じて用いる２つの波長を変化させる
ことが望ましい。 第２図は、この第１図の光線路監視装置２ｏを電話局２
１に設置した例を示すものである。この図に示すように
電話局２１では外部に布設された光フアイバ線路２２が
分配回路パネル２４を介して中継系２３に接続されてい
るので、これに光線路監視装置２０を結合させる。
説明する。第１図はこの発明の一実施例にかかる光線路
監視装置２０を示すもので、発振波長の異なる２つのレ
ーザダイオード１．２が備えられており、これらはパル
ス駆動回路３によってパルス駆動されて、パルス光を発
生する。これらの波長λ１、λ２のパルス光は結合器４
により結合されて波長多重化された後、分岐器５を介し
て被測定光ファイバ６の一端に入射される。なお、この
ように波長λ１、＾２のパルス光を波長多重するために
は結合器４以外に回折格子、ジオデシックレンズ等も用
いることができる。 そして、この被測定光ファイバ線路６の一端に戻ってく
る反射光は分岐器５を経て、回折格子などの分波器７に
導かれ、波長λ１と、λ２の光に分波され、それぞれ受
光器８．９に送られる。これら受光器８．９の出力は信
号処理回路１０に送られ、反射光出力の時間変化が求め
られる。制御回路１１はパルス駆動回路３や信号処理回
路１０にタイミング信号等の制御信号を送る。 このような２波長＾１、λ２の光パルスを用いた０ＴＤ
Ｒの構成により、被測定光ファイバ線路６のレイリー散
乱による後方散乱光の測定を行なう。この実施例では、
被測定光ファイバ線路６として、外径１２５μｍ、コア
径１０μｍ、比屈折率差０．２８％の単一モード光ファ
イバをシリコーンコートして外径４００μｍとしたもの
を用いた。この単一モード光ファイバの場合、セカンド
モードの遮断波長は１．１８−であった。そこで、第１
のレーザダイオード１の発振波長を０．９μｍ、第２の
レーザダイオード２の発振波長を０，８５μｍとした。 この０，９μｍの波長は遮断波長より短波長側で且つそ
の近傍であるため、曲げによる損失が大きく現われる。 そのため、レーザダ・ｆオード１からのこの波長のパル
スレーザにより、０．９μｍの波長でのレイリー散乱に
よる損失変化を０ＴＤＲ法により捉えることによって被
測定光ファイバ線路６でのわずかなひずみの変化をも高
感度に検出することができた。たとえば、被測定光ファ
イバ線路６を形成する上記の単一モード光ファイバ（長
さ２００ｍ）を直径３００Ｍにコイル状に巻いて束ね、
これに側圧を加えたところ２ｄＢ以上の損失変化が現れ
、これの検出ができた。また、この単一モード光ファイ
バを１／１６ピツチで捩りを加えた（長さ５ｍ当り２２
．５°の捩りを与えた）ところ、１．６ｄＢの損失変化
が現われ、これの検出もできた。他方、第２のレーザダ
イオード２からの波長０．８５μｍのパルスレーザの場
合、遮断波長から離れた波長であるため、放射損失は大
きくは現われず、通常の０ＴＤＲ法と同様に被測定光フ
ァイバ線路６である単一モード光ファイバの損失の大き
な変化のみを検出することができた。 なお、一般に用いられている波長１．３μｍ用単−単一
ド光ファイバでは、遮断波長は１．１μｍ〜１．２μｍ
程度の波長にあり、この波長より短波長側で且つ０．８
μｍよりも長い波長域で曲げによる損失が大きく現われ
るので、高感度な障害点検出を行なうための波長（上記
の実施例ではレーザダイオード１の発振波長）はこの範
囲とする必要がある。他方、もう一方の波長（上記の実
施例ではレーザダイオード２の発振波長）は通常の０Ｔ
ＤＲと同様に被測定光ファイバ線路全長での大きな損失
のみを捉えようとするものであるから、上記の第１の波
長よりは遮断波長から離れた波長とし、曲げによる損失
がより小さい波長域に設定する必要がある。上記の実施
例では遮断波長よりも短波長側に設定したが、長波長側
に設定することもできる。また、遮断波長は被測定光フ
ァイバ線路６をなす単一モード光ファイバにより多少異
なるため、これに応じて用いる２つの波長を変化させる
ことが望ましい。 第２図は、この第１図の光線路監視装置２ｏを電話局２
１に設置した例を示すものである。この図に示すように
電話局２１では外部に布設された光フアイバ線路２２が
分配回路パネル２４を介して中継系２３に接続されてい
るので、これに光線路監視装置２０を結合させる。
この発明の光線路監視装置によれば、２波長の光による
０ＴＤＲ測定を行なうことにより、光フアイバ線路全長
での損失確認に加えて、非常に高感度な障害点探索がで
き、予防保全的な監視が可能である。
０ＴＤＲ測定を行なうことにより、光フアイバ線路全長
での損失確認に加えて、非常に高感度な障害点探索がで
き、予防保全的な監視が可能である。
第１図はこの発明の一実施例にかがる光線路監視装置を
示すブロック図、第２図は第１図の光線路監視装置を電
話局内に設置した例を示すブロック図である。 １．２・・・光源、３・・・パルス駆動回路、４・・・
結合器、５・・・分岐器、６・・・被測定光ファイバ線
路、７・・・分波器、８．９・・・受光器、１ｏ・・・
信号処理回路、１１・・・制御回路、２０・・・光線路
監視装置、２１・・・電話局、２２・・・光フアイバ線
路、２３・・・中継系、２４・・・分配回路パネル。
示すブロック図、第２図は第１図の光線路監視装置を電
話局内に設置した例を示すブロック図である。 １．２・・・光源、３・・・パルス駆動回路、４・・・
結合器、５・・・分岐器、６・・・被測定光ファイバ線
路、７・・・分波器、８．９・・・受光器、１ｏ・・・
信号処理回路、１１・・・制御回路、２０・・・光線路
監視装置、２１・・・電話局、２２・・・光フアイバ線
路、２３・・・中継系、２４・・・分配回路パネル。
Claims (1)
- （１）波長の異なる光パルスを発生し、被測定光ファイ
バ線路に入射する第１、第２の光源と、該被測定光ファ
イバ線路中を伝搬してきた反射光を、上記波長ごとに受
光する受光器と、該波長ごとの反射光出力の時間変化を
計測する回路とを有し、上記第１の光源からの光の波長
を、単一モード光ファイバのセカンドモードの遮断波長
よりも短波長側で且つその近傍の波長とし、第２の光源
からの光の波長を遮断波長から離れた波長としたことを
特徴とする光線路監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33405788A JPH02176535A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 光線路監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33405788A JPH02176535A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 光線路監視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02176535A true JPH02176535A (ja) | 1990-07-09 |
Family
ID=18273026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33405788A Pending JPH02176535A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 光線路監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02176535A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0619657A1 (en) * | 1993-04-08 | 1994-10-12 | Koninklijke KPN N.V. | Optical circuit for measuring the reflection sensitivity of an optical transmission system |
| JP2007139433A (ja) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Yokogawa Electric Corp | 光ファイバ測定装置 |
| JP2009216626A (ja) * | 2008-03-12 | 2009-09-24 | National Taiwan Univ Of Science & Technology | 受動光線路網の破断点検出システム |
| JP2012506171A (ja) * | 2008-10-17 | 2012-03-08 | エクスフォ インコーポレイティッド | ２波長ｏｔｄｒを使用する光学ネットワーク内の光路および波長依存性反射要素のパラメータを導出する方法および装置 |
-
1988
- 1988-12-28 JP JP33405788A patent/JPH02176535A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0619657A1 (en) * | 1993-04-08 | 1994-10-12 | Koninklijke KPN N.V. | Optical circuit for measuring the reflection sensitivity of an optical transmission system |
| NL9300618A (nl) * | 1993-04-08 | 1994-11-01 | Nederland Ptt | Optisch circuit voor een meetsysteem voor het meten van de reflectiegevoeligheid van een optisch transmissiesysteem. |
| US5455671A (en) * | 1993-04-08 | 1995-10-03 | Koninklijke Ptt Nederland N.V. | Optical circuit for a measuring system for measuring the reflection sensitivity of an optical transmission system |
| JP2007139433A (ja) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Yokogawa Electric Corp | 光ファイバ測定装置 |
| JP2009216626A (ja) * | 2008-03-12 | 2009-09-24 | National Taiwan Univ Of Science & Technology | 受動光線路網の破断点検出システム |
| JP2012506171A (ja) * | 2008-10-17 | 2012-03-08 | エクスフォ インコーポレイティッド | ２波長ｏｔｄｒを使用する光学ネットワーク内の光路および波長依存性反射要素のパラメータを導出する方法および装置 |
| US8687957B2 (en) | 2008-10-17 | 2014-04-01 | Exfo Inc. | Method and apparatus for deriving parameters of optical paths in optical networks using two-wavelength OTDR and a wavelength-dependent reflective element |
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