JPH09247102A - 光線路の監視方法 - Google Patents
光線路の監視方法Info
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- JPH09247102A JPH09247102A JP8045004A JP4500496A JPH09247102A JP H09247102 A JPH09247102 A JP H09247102A JP 8045004 A JP8045004 A JP 8045004A JP 4500496 A JP4500496 A JP 4500496A JP H09247102 A JPH09247102 A JP H09247102A
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Abstract
された光線路を、OTDRで一括的に監視できるととも
に、破断箇所を確実に、かつ容易に検出できるようにし
た光線路の監視方法を提供する。 【解決手段】 1つの交換局1と複数の基地局5,6,
7とを光分岐デバイス12を介して光ファイバで結んで
なる複数の被監視線路21の線路長をそれぞれ異なる長
さとし、かつその線路長の差をOTDR2から出射され
る試験光のパルス幅に相当する長さの半分以上とする。
被監視線路21の交換局1側から試験光を入射させ、入
射端にもどってくる光の強度をOTDR2で経時的に測
定して得られる波形を、正常状態で得られる波形と比較
する。正常状態の波形との差により断線の発生および断
線位置を検知する。
Description
線路の監視方法に関し、特に分岐線路を有する光線路全
体を一括的に監視できるようにした方法に関する。
は、1つの交換局と複数の基地局(あるいは加入者宅)
とを光分岐デバイスを介して光ファイバで結んで、複数
系列の光伝送線路(被監視線路)を構築することが行わ
れている。例えば交換局とスターカプラとを1本の基幹
ファイバ(基幹線路)で結び、スターカプラの分岐端と
複数の基地局とを複数の分岐ファイバ(分岐線路)で結
ぶ構成とすることができる。このように光分岐デバイス
を用いて光線路を構築すれば、局内配線の合理化や光ケ
ーブルの細径化を図ることができる。
保するために、光線路に断線が生じた場合には直ちにそ
れを検知できるようにする必要がある。そのための装置
として、従来よりバックスキャタリング法を用いたOT
DR(Optical Time DomainReflectometer)が知られて
いる。OTDRは、被測定光ファイバに高出力、狭パル
ス幅のレーザ光を入射させると、被測定光ファイバ中で
生じる後方散乱光や、入射端面、出射端面、接続面、あ
るいは破断面等で生じる反射光等が入射端にもどってく
るので、もどってきた光信号の強度を測定して得られる
波形を観察することによって、被測定光ファイバに断線
が生じた場合には、その位置を検出できるようになって
いる。
たような分岐デバイスを用いて構築された光線路におい
ては、1本の基幹線路に複数の分岐線路が接続されるこ
とによって複数系列の被監視線路が構築されている。し
たがって、単に交換局内にOTDRを設置してここから
基幹線路に試験光を入射しても、複数の分岐線路からの
後方散乱光および反射光が光分岐デバイスで合波されて
もどってくるので、どの被監視線路で断線が生じたかを
特定するのが難しい。特に、分岐線路の数が増大する
と、OTDRで得られる後方散乱光および反射光の光信
号波形が複雑になり断線箇所を確実に検出することが非
常に困難となる。
で、光分岐手段を用いて複数の被監視線路が構築された
光線路を、OTDRで一括的に監視できるとともに、破
断箇所を確実に、かつ容易に検出できるようにした光線
路の監視方法を提供することを目的とする。
に本発明の請求項1記載の光線路の監視方法は、1つの
入射端と複数の出射端とを光分岐手段を介して光ファイ
バで結んでなる複数の被監視線路を、OTDRを用いて
監視する方法であって、前記複数の被監視線路の線路長
をそれぞれ異なる長さとし、かつその線路長の差をOT
DRから出射される試験光のパルス幅に相当する長さの
半分以上とすることを特徴とするものである。また請求
項2記載の光線路の監視方法は、請求項1記載の方法に
おいて、前記入射端に前記試験光を入射させたときに該
入射端にもどってくる光の強度を経時的に測定して得ら
れる波形を、正常状態で得られる波形と比較して、正常
状態の波形との差により断線の発生および断線位置を検
知することを特徴とするものである。
図1は本発明の光線路の監視方法の一実施例を示す光伝
送線路の概略構成図である。図中符号1は交換局、2は
OTDR、3は波長分割多重(WDM)カプラ、4は交
換局内送受信装置、5,6,7は基地局、8は基地局内
送受信装置、11は基幹線路,12は光分岐デバイス、
13は第1の分岐線路、14はダミーファイバ、15は
第2の分岐線路、16は第3の分岐線路、20は光線
路、21は被監視線路をそれぞれ示す。基幹線路11お
よび第1〜3の分岐線路13,15,16はそれぞれ光
ファイバケーブルで構成されている。
信された光信号(伝送光)が基幹線路11で伝送され、
光分岐デバイス12で複数に分岐され、分岐された伝送
光がそれぞれ第1〜3の分岐線路13,15,16で各
基地局5,6,7へ送られるように構成されている。ま
た基地局5,6,7から送信される光信号は、交換局1
から送信された光信号とは逆の方向に伝送されて交換局
1へ送られるようになっている。尚、ここでは1本の基
幹線路11と光分岐デバイス12と1本の分岐線路13
(または15,16)とで構成され、交換局(入射端)
1と基地局(出射端)5,6,7とを結ぶ1系列の光伝
送線路を被監視線路21という。図1には3系列の被監
視線路21が示されているが、被監視線路21の数はこ
れに限らず任意とすることができる。また、入射端を共
有する複数の被監視線路21で構成される光伝送路全
体、すなわち1本の基幹線路11と光分岐デバイス12
と複数の分岐線路13,15,16とで構成される光伝
送線路全体を光線路20という。
を備えており、送受信装置4から送信される伝送光、お
よびOTDR2から出射される試験光がそれぞれWDM
カプラ3を介して基幹線路11に入射されるように構成
されている。伝送光および試験光としては波長が異なる
光がそれぞれ用いられる。例えば、光線路20を石英系
光ファイバを用いて構成した場合には、伝送光として波
長1310nmの光を好適に用い、試験光として波長1
550nmの光を好適に用いることができる。光分岐デ
バイス12としては波長無依存型カプラ(WIC:Wave
length Insensitive Coupler)が用いられ、各種構成の
光分岐手段を用いることができる。例えば1:Nの双方
向用スターカプラを好適に用いることができる。この光
分岐デバイス12は通常クロージャ内に収納されてい
る。
1の分岐線路13がこの送受信装置8に接続されてい
る。また基地局5内において第1の分岐線路13には必
要に応じた長さのダミーファイバ14が挿入されてい
る。ダミーファイバ14は、第1の分岐線路13を含む
被監視線路21の線路長を調節するために必要に応じて
用いられるもので、被監視線路21を構成する光ファイ
バケーブルと同じものが使用される。ここで被監視線路
21の線路長とは、OTDR2における入射端から基地
局5内における出射端までの長さをいう。ダミーファイ
バ14は分岐線路13の任意の位置に挿入することがで
きるが、基地局5内で挿入する構成とすれば挿入時の作
業性や収納性の点で好ましい。基地局5内における被監
視線路21の出射端、すなわち被監視線路21と送受信
装置8との接続点は無反射であることが望ましく、分岐
線路13またはダミーファイバ14と送受信装置8との
接続は低反射コネクタ等の反射を抑える光部品(図示
略)を用いて行うことが好ましい。また他の基地局6,
7も同様に送受信装置(図示略)を備えた構成となって
おり、各基地局6,7内において、第2の分岐線路15
および第3の分岐線路16には必要に応じてダミーファ
イバ(図示略)が挿入されている。
複数の被監視線路21の線路長が、それぞれ異なる長さ
となるように構成される。また複数の被監視線路21の
線路長の差はOTDR2から出射される試験光のパルス
幅に相当する長さの半分以上とすることが必要である。
したがって、例えば各被監視線路21の線路長は、試験
光のパルス幅に相当する長さの半分の値を公差とする等
差数列的に増加するように設定することができる。尚、
試験光のパルス幅に相当する長さは、(光速/コアの屈
折率)×(OTDRから出射される試験光のパルス幅)
で求められる。よって、例えば(光速/コアの屈折率)
=0.2m/ns、試験光のパルス幅=50nsとする
と、このパルス幅に相当する線路長は約10mとなる。
よって、第1〜3の分岐線路13,15,16を構成し
ている光ファイバケーブルの長さがいずれも等しいとす
ると、第3の分岐線路16にはダミーファイバを挿入せ
ず、第2の分岐線路15には長さ5mのダミーファイバ
を挿入し、第1の分岐線路13には長さ10mのダミー
ファイバ14を挿入し…というように、ダミーファイバ
の長さを5mずつ長くすることによって、各被監視線路
21の長さを好ましく違えることができる。
は、理論的には上述の通りOTDR2から出射される試
験光のパルス幅に相当する長さの半分以上とすれば測定
可能であるが、実際には、使用するOTDR装置の分解
能によってはこれよりも長くすることが好ましい。すな
わち、OTDR2で得られる波形において、断線等によ
る後方散乱光への影響が後方散乱光の定常値から±0.
1dB以内に回復するのに必要な距離(アッテネーショ
ン)を考慮して、複数の被監視線路21の線路長の差
が、OTDR2から出射される試験光のパルス幅に相当
する長さの値以上となるようにするのが望ましい。この
ようにすれば現在市販されているOTDRによっても好
ましい分解能が得られ、断線位置等を容易かつ正確に検
出することができる。
視線路21の監視は次のようにして行うことができる。
まず、光線路20に異常がない状態で、交換局1内にお
いてOTDR2からの試験光を基幹線路11に入射させ
る。そして光線路20からOTDR2へもどってくる光
の強度を経時的に測定すれば、例えば図2に示すような
波形が得られるので、これを正常状態の波形としてメモ
リーする。図2の例は、第1の分岐線路13を含む被監
視線路21の線路長がL1、第2の分岐線路15を含む
被監視線路の線路長がL2、第3の分岐線路16を含む
被監視線路の線路長がL3(L1>L2>L3)で、L1と
L2との差およびL2とL3との差が、いずれも試験光の
パルス幅に相当する長さの半分以上とした場合に得られ
る波形である。この図において縦軸はOTDR2へもど
ってきた後方散乱光または反射光の強度を示す。また横
軸は時間軸であるが、光線路の各点のOTDR2からの
距離に換算して示している。この図の波形は、入射端、
出射端、あるいは接続点等における反射や接続損がない
と仮定した場合に理論的に得られる波形を示している。
この図に示されるように、複数の分岐線路13,15,
16からの後方散乱光が光分岐デバイス12で合波され
てOTDR2へもどってきても、各被監視線路の線路長
L1,L2,L3が異なり、かつその差が試験光のパルス
幅に相当する長さの半分以上となっているので、各分岐
線路13,15,16の出射端での後方散乱a,b,c
をそれぞれ認識することができる。尚、線路長S1の地
点で得られた立上り部は、光分岐デバイス12による後
方散乱を示している。
常時行い、正常状態の波形と比較して、正常状態の波形
との差を検出することによって、光線路における断線の
発生と断線位置を知ることができる。例えば光線路20
に断線が生じた場合には、図3(a)または(b)に示
すように、図2に示した正常状態の波形とは異なる波形
が得られる。図3(a)は、第2の分岐線路を含む被監
視線路(線路長L2)において、線路長L0(S1<L0<
L3)の位置で断線が発生した場合の波形を示し、図3
(b)は、線路長L0(L3<L0<L1)の位置で断線が
発生した場合の波形を示す。そして図3(a)(b)の
異常状態の波形と図2の正常状態の波形とを比較する
と、正常状態では距離L2で観察されていた後方散乱b
が異常状態の波形では観察されない。このことから線路
長L2の被監視線路、すなわち第2の分岐線路15を含
む被監視線路に断線が生じたことがわかる。そして断線
箇所では光ファイバの破断面によって試験光の反射が生
じるので、異常状態の波形にはこの破断面からの反射光
によるピークPが新たに観察されることになる。したが
って、このピークPの位置(L0)を算出することによ
って断線位置をほぼ正確に測定することができる。この
ように本実施例によれば、複数の分岐線路13,15,
16を有する光線路2の基幹線路11に試験光を入射さ
せることにより、この光線路20全体を一括的に監視す
ることができる。また断線等の異常が発生した場合に
は、OTDR2で測定される波形とメモリーされた正常
状態の波形との差を読み取ることにより、断線が生じた
被監視線路の特定し、かつ断線箇所を断定することがで
きる。
備えた光線路20について常時監視を行う方法を例に挙
げて説明したが、被監視線路21の数が増えても同様に
して常時監視を行うことができる。また本実施例におい
て、OTDR2で測定される波形は、負の傾きを有する
傾斜部分と、段差の立上り部a,b,cとから概略なっ
ており、各被監視線路の線路長の差は2つの立上り部の
間の距離に相当する。したがって各被監視線路の線路長
の差が大きい方が、立上り部a,b,cの間隔が大きく
なるので波形を観察する際に各被監視線路の出射端を認
識し易い。ただし被監視線路の数が多い場合には、各被
監視線路の線路長の差を大きくすると最長の被監視線路
の長さが長くなるため、伝送損失の増加等の問題が生じ
る恐れがある。よって、各被監視線路の線路長が、試験
光のパルス幅に相当する長さの半分の値、好ましくは試
験光のパルス幅に相当する長さの値を公差とする等差数
列的に増加するように設定すれば、被監視線路の数の増
加に好適に対応できる。また各被監視線路の線路長がい
ずれも等しくなるように設定すれば、立上り部が等間隔
に観察される波形が得られるので、視覚的に波形の変化
を観察し易い。
形を測定したときに、各被監視線路の出射端での後方散
乱が観察され、これによって各被監視線路を認識できる
ように構成されているが、被監視線路の出射端からの反
射光が観察されるように構成すれば、これによっても各
被監視線路を認識することが可能である。また光伝送線
路の構成は図1のものに限らず、各種の変形が可能であ
る。例えば基地局5,6,7は加入者宅であってもよ
い。あるいは1系列の被監視線路に対して2つ以上の光
分岐デバイスを用いて2段階に分岐させた構成の光線路
においても、各被監視線路の入射端から出射端までの線
路長を上記のように設定することによって、OTDRを
用いて同様に監視することが可能である。
果を明らかにする。以下の実施例において、測定には、
市販のOTDR(光ファイバアナライザAQ−7140
C、ANDO、安藤電気株式会社製)を使用した。 (実施例1)図4に示すような分岐線路を有する光伝送
線路を構成して、OTDRを用いた光線路の監視を行っ
た。図4において図1と同じ構成要素には同一符号を付
してその説明を簡略化する。本実施例の光伝送線路にお
いて、光分岐デバイス12としては波長無依存型の1×
2双方向用スターカプラを用いた。そして交換局1のO
TDR2から出射された試験光がWDMカプラ3を介し
て基幹線路11に入射され、スターカプラ12で2つに
分岐された後、第1の分岐線路31および第2の分岐線
路32にそれぞれ入射されて第1の送受信装置CS1お
よび第2の送受信装置CS2へそれぞれ出射されるよう
にした。第1の分岐線路31と第1の送受信装置CS1
との接続,および第2の分岐線路32と第2の送受信装
置CS2との接続には低反射コネクタ33,34をそれ
ぞれ用い、これによって第1の分岐線路31および第2
の分岐線路32の出射端における反射が抑えられるよう
にした。また基幹線路11および各分岐線路31,32
とスターカプラ12との接続は融着により行った。基幹
線路11および分岐線路31,32は石英系光ファイバ
で構成し、交換局1から出射される伝送光の波長は13
10nmとし、OTDRから出射される試験光の波長は
1550nmとした。試験光のパルス幅は1μmとし
た。またOTDR2から第1の送受信装置CS1までの
線路長の実測値は2712mであり、OTDR2から第
2の送受信装置CS2までの線路長の実測値は8561
mであった。
2による測定を行ったところ、図5に示すような波形が
得られた。これを正常状態の波形としてメモリーした。
この波形には、第1の送受信装置CS1での出射端から
の後方散乱a、および第2の送受信装置CS2での出射
端からの後方散乱bがそれぞれ観察される。図5の波形
を用いてOTDR2から第1の送受信装置CS1までの
線路長を算出したところ2710mであり、実測値との
誤差は2mであった。また図5の波形を用いてOTDR
2から第2の送受信装置CS2までの線路長を算出した
ところ8540mであり、実測値との誤差は21mであ
った。
ており(破断点A)、第2の分岐線路32には異常がな
い状態でOTDR2による測定を行ったところ、図6に
示すような波形が得られた。この波形には第2の送受信
装置CS2での出射端からの後方散乱bは観察される
が、第1の送受信装置CS1での出射端からの後方散乱
aは観察されない。その代わりに、正常状態では観察さ
れなかったピークP1が観察される。このピークP1のO
TDR2からの距離を算出したところ1062mであっ
た。また破断点AのOTDR2からの距離を実測したと
ころ1049mであった。測定により得られたピークP
1の位置と破断点Aの実測値との誤差は13mであり、
OTDR2を用いて破断点Aをほぼ正確に検出できるこ
とが認められた。
ており(破断点A)、また第2の分岐線路32も途中で
断線している(破断点B)状態でOTDR2による測定
を行ったところ、図7に示すような波形が得られた。こ
の波形においては、図6と同様に第1の送受信装置CS
1での出射端からの後方散乱aは観察されず、その代わ
りに、正常状態では観察されなかったピークP1が観察
される。それに加えて第2の送受信装置CS2での出射
端からの後方散乱bも観察されず、その代わりに、正常
状態では観察されなかったピークP2が観察される。こ
のピークP1およびピークP2のOTDR2からの距離を
算出したところ、それぞれ1062mおよび8193m
であった。また破断点Aおよび破断点BのOTDR2か
らの距離を実測したところ、それぞれ1049mおよび
8196mであった。測定により得られたピークP1の
位置と破断点Aの実測値との誤差は13mであり、測定
により得られたピークP2の位置と破断点Bの実測値と
の誤差は3mであった。このことからOTDR2を用い
て破断点Aおよび破断点Bをほぼ正確に検出できること
が認められた。
分岐線路を有する光線路を構成した。すなわち、基幹線
路11の一端をOTDR2に接続し、他端を1×8スプ
リッタ40に融着接続した。1×8スプリッタ40の8
つの分岐端に第1〜8の分岐線路41,42,43,4
4,45,46,47,48をそれぞれ融着接続した。
OTDR2の入射端から基幹線路11と1×8スプリッ
タ40との接続点までの実測距離は535m、基幹線路
11と1×8スプリッタ40との接続点から1×8スプ
リッタ40の分岐端までの実測距離は7.5mとし、第
1〜8の分岐線路には、約200mずつ長さが異なる光
ファイバケーブルをそれぞれ用いた。すなわち、第1の
分岐線路41の実測長は209m、第2の分岐線路42
の実測長は414m、第3の分岐線路43の実測長は6
12m、第4の分岐線路44の実測長は814m、第5
の分岐線路45の実測長は1014m、第6の分岐線路
46の実測長は1213m、第7の分岐線路47の実測
長は1414m、第8の分岐線路48の実測長は161
6mとした。また各分岐線路41,42,43,44,
45,46,47,48の出射端は直角クリープとし
た。基幹線路11および第1〜8の分岐線路41,4
2,43,44,45,46,47,48は石英系光フ
ァイバケーブルで構成した。
50nsの試験光を基幹線路2へ入射させて、各線路の
長手方向の伝搬光の強度変化を測定したところ、図9に
示すような波形が得られた。この波形では、第1〜8の
分岐線路の各出射端面での後方散乱光による8つの立上
り部〜がそれぞれ観察される。これらの立上り部
〜のOTDR2からの位置(測定長)をそれぞれ算出
したところ下記表1に示すような値が得られた。また表
1には第1〜8の分岐線路をそれぞれ含む被監視線路の
線路長(OTDR2から分岐線路の出射端までの長さ)
の実測値、および測定値と実測値との誤差を合わせて示
す。
DR2から出射される試験光のパルス幅を200nsと
した他は同様にして、各線路の長手方向の伝搬光の強度
変化を測定したところ、図10に示すような波形が得ら
れた。この波形で観察される立上り部〜のOTDR
2からの位置(測定長)をそれぞれ算出したところ下記
表2に示すような値が得られた。また表2には第1〜8
の分岐線路をそれぞれ含む被監視線路の線路長(OTD
R2から分岐線路の出射端までの長さ)の実測値、およ
び測定値と実測値との誤差を合わせて示す。
DR2から出射される試験光のパルス幅を1μsとした
他は同様にして、各線路の長手方向の伝搬光の強度変化
を測定したところ、図11に示すような波形が得られ
た。この波形では立上り部〜はなだらかになってい
た。各立上り部〜のOTDR2からの位置(測定
長)をそれぞれ算出したところ下記表3に示すような値
が得られた。また表3には第1〜8の分岐線路をそれぞ
れ含む被監視線路の線路長(OTDR2から分岐線路の
出射端までの長さ)の実測値、および測定値と実測値と
の誤差を合わせて示す。
DR2から出射される試験光のパルス幅を10μsとし
た他は同様にして、各線路の長手方向の伝搬光の強度変
化を測定したところ、図12に示すような波形が得られ
た。この波形では第1〜8の分岐線路の各出射端面での
後方散乱光による8つの立上り部を認識することができ
ず、線路長を測定できなかった。
8系統と多くなっても各分岐線路の出射端をそれぞれ認
識し、かつ各分岐線路を含む被監視線路の線路長をほぼ
正確に測定することができた。したがって、上記実施例
1と同様にして光線路の常時監視を行えば、断線が生じ
た場合にはそれを検知し、かつ破断している分岐線路を
特定し破断位置を断定することができる。また比較例
1,2では、OTDRから出射される試験光のパルス幅
(1μs,10μs)に相当する線路長が比較例1では
約205m、比較例2では約2050mであるのに対し
て、各分岐線路の線路長の差がこれよりも小さいため
に、各分岐線路の線路長を正確に測定することができな
かった。これらの結果より、スプリッタ40で分岐した
後の各分岐線路を容易かつ正確に見分けるためには、線
路長(ファイバ長)で試験光のパルス幅の1パルス分に
相当する長さ以上さがなければならないことが確認でき
た。
視方法は、1つの入射端と複数の出射端とを光分岐手段
を介して光ファイバで結んでなる複数の被監視線路を、
OTDRを用いて監視する方法であって、前記複数の被
監視線路の線路長をそれぞれ異なる長さとし、かつその
線路長の差をOTDRから出射される試験光のパルス幅
に相当する長さの半分以上とすることを特徴とするもの
である。したがって、複数の被監視線路から後方散乱光
や反射光が光分岐手段で合波されて1つの入射端へもど
ってきても、各被監視線路の出射端での後方散乱、ある
いは反射による光信号が重なり合うことがないので、こ
れら複数の被監視線路から入射端へもどってくる光をO
TDRで測定したときに、各被監視線路の出射端をそれ
ぞれ認識することができる。よって光分岐手段を用いて
複数系列の被監視線路が構築された光線路全体を、OT
DRを用いて一括的に監視することができる。そして前
記入射端に前記試験光を入射させたときに該入射端にも
どってくる光の強度を経時的に測定して得られる波形
を、正常状態で得られる波形と比較して、正常状態の波
形との差により断線の発生および断線位置を検知すれ
ば、断線が生じた被監視線路の特定および断線位置の断
定をほぼ正確に行うことができる。
光伝送線路の概略構成図である。
常状態の波形の例を示すグラフである。
常状態の波形の例を示すグラフである。
る。
る。
る。
地局(出射端)、11…基幹線路、12…光分岐デバイ
ス(光分岐手段)、13,15,16…分岐線路、21
…被監視線路、20…光線路、31…第1の分岐線路、
32…第2の分岐線路、40…1×8スプリッタ(光分
岐手段)、41…第1の分岐線路、42…第2の分岐線
路、43…第3の分岐線路、44…第4の分岐線路、4
5…第5の分岐線路、46…第6の分岐線路、47…第
7の分岐線路、48…第8の分岐線路。
Claims (2)
- 【請求項1】 1つの入射端(1)と複数の出射端(5,6,7)
とを光分岐手段(12)を介して光ファイバ(11,13,15,16)
で結んでなる複数の被監視線路(21)を、OTDR(2)を
用いて監視する方法であって、 前記複数の被監視線路の線路長をそれぞれ異なる長さと
し、かつその線路長の差をOTDRから出射される試験
光のパルス幅に相当する長さの半分以上とすることを特
徴とする光線路の監視方法。 - 【請求項2】 前記入射端に前記試験光を入射させたと
きに該入射端にもどってくる光の強度を経時的に測定し
て得られる波形を、正常状態で得られる波形と比較し
て、正常状態の波形との差により断線の発生および断線
位置を検知することを特徴とする請求項1記載の光線路
の監視方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04500496A JP3660043B2 (ja) | 1996-03-01 | 1996-03-01 | 光線路の監視方法および監視システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04500496A JP3660043B2 (ja) | 1996-03-01 | 1996-03-01 | 光線路の監視方法および監視システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09247102A true JPH09247102A (ja) | 1997-09-19 |
| JP3660043B2 JP3660043B2 (ja) | 2005-06-15 |
Family
ID=12707250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04500496A Expired - Lifetime JP3660043B2 (ja) | 1996-03-01 | 1996-03-01 | 光線路の監視方法および監視システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3660043B2 (ja) |
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- 1996-03-01 JP JP04500496A patent/JP3660043B2/ja not_active Expired - Lifetime
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