JPH02179452A - 米粒品位判別方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は玄米、白米又は籾米の品位を判定するための米
粒品位判別装置に関する。

〔従来の技術〕

米粒等の穀粒は、農産物検査法に基づく農産物規格規定
に従って検査され、標準品と比較して等級決定が行われ
るのであるが、この検査は農産物検査官によって実施さ
れる。検査官は穀類の検査に精通した人が専任され、常
に正しい等級決定が行えるように訓練されているが、目
視検査のため完璧とは言えない。

そこで、玄米の粉質判別装置として例えば特開昭５６−
１２５６６４＠公報があり、同方法として、特開昭５７
−１５３２４９号公報又は同６２−１５０１４１号公報
に開示されている。

すなわち、特開昭５６−１２５６６４号のものは、−粒
毎の玄米に可視光線を照射し、該光線の反射光と透過光
のＭを測定することにより、玄米の粉質である整粒、乳
白粒、青米、茶米又は北米に判別しようとする玄米の粉
質判別装置であり、特開昭５７−１５３２４９号のもの
は、玄米の一粒ずつに任意の波長の光線を照射して透過
率を測定し、該透過率と所定のしきい値とを比較して不
良粒であるか否かを判別する方法である。そして、特開
昭６２−１５０１４１号のものは、玄米−粒毎に光を照
射し、拡散透過光ω及び拡散反射光量と、拡散反射光中
任意の２波長の先組と、玄米−粒毎の２位置の透過光量
とをそれぞれ検知し、拡散透過光量と拡散反射光量の比
と、拡散反射光中任意の２波長の光量の比と、玄米１粒
毎の２位置の透過光量の比とをそれぞれ演算して各光量
の比を判定処理して玄米の品質である整粒、明白、乳白
粒、青未熟粒、胴割粒、被害粒、着色粒、青死および白
死粒の判別を行う方法ぐある。

（発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、これら従来の装置や方法では品位判定の
基準となる検出項目が反射光量及び透過光量の光量だけ
の単一データの要素であり、正確な判定ができなかった
。つまり、整粒（正常粒）であっても、品種、産地又は
生育条件により、反射光量および透過光量に差があるこ
とから、整粒として判別できないことがあり、高精度の
判定は期待し得ないものであった。例えば、異物、着色
粒、粉状質といった各品位の玄米の度数分布は第８図の
ように表され、各玄米はＸ軸方向（明るさ一反射光口）
に重なり合うので、どの位置に境界線を設けても各品位
別に正確に判定することは不可能である。

また、米粒の品位判定における透過光と反則光の計測は
米粒の流下または流動する装置の中の同位置で行うこと
が必要で、米粒の透過・反射のそれぞれの計測を異なる
位置で行うと、透過光小計測部と反射光ｍ計測点との間
で米粒の品位判定に関する粉質に変化が発生した場合対
応できないものである。

本発明は上記の点に鑑み、米粒の品位判別をより正確に
行うことのできる米粒品位判別装置を提供することを技
術的課題とする。

〔問題点を解決するための手段〕

前記問題点を解決するため、本発明の米粒品位判別装置
においては、米粒供給車ツバ−から供給した米粒を流動
する振動送穀樋と、該送穀樋に設けた送穀用条溝の底面
の進行方向に傾架する段差とにより米粒は整列流動し、
送穀樋のスリットを米粒が通過する際、可視光による反
射光ｍ計測点と赤外光による透過光小計測部は同位置で
米粒の反射・透過を測定し、該計測値を演算制御部でデ
ジタル処理し、１１ａ記処理で得られる反射光と透過光
のそれぞれのデジタル処理値により、平均透過光量、平
均反射光量、最も明るい点の光量、最も暗い点の光♀、
最も明るい点と最も暗い点の差の光量、前記平均透過光
にまたは平均反射光量より一定量以上明るい領域の面積
、同じく平均透過光量または平均反射光量より一定聞以
上暗い領域の面積、全般影面積及び楕円形状の各項目に
ついて計測・演算し、この計測・演算値の組み合せによ
って複数品位に判別することにより解決の手段とした。

また、光量計測部は可視光と赤外光の混在することから
反射光ｍ計測部に赤外光カットフィルターを、透過光量
計測部に可視光カットフィルクーを設けるか、または光
量計測部にダイクロイックミラーを設けて可視光と赤外
光を分離するかのどちらかの構成にすることにより問題
解決の手段とした。

〔作　用〕

振動送穀樋の送穀用条溝に段差を設けたことで？！２雑
な構造を用いず米粒を整列させることができ反射・透過
先回測定部へ一粒ごとに間隙をおいて流下させることが
できる。

反射光量計測部と透過光重計測部の８１測値の経時変化
する値つまり米粒が計測部を通過する時に計測部が計測
する波形を演算制御部でデジタル処理することは、微小
単位の波形の変化をその波形の特徴とし複数の情報とフ
ることができるが、アナログでは１つの波形を１つの情
報としか見ることができない。

さらに上記デジタル処理による複数の情報は演算処理さ
れて、平均透過先回、平均反射光量、最も明るい点の光
量、最も暗い点の光ω、最も明るい点と最も暗い点の差
の光ｍ、前記平均透過光量または平均反射光ωより一定
量以上明るい領域の面積、同じく平均透過光■または平
均反射先回より一定ｍ以上暗い領域の面積、全般形面積
及び楕円形状等が存在し、この多種類の情報の組み合せ
による判別を行うことで、米の等級判別の基礎となる肌
ずれ粒、未熟粒、被害粒、北米、着色粒、異物等を判別
すると共にその比率を求める際の精度の向上が計れる。

また、波長域の異なる２つの光源を用いることで米粒の
反射光量と透過光量の信号を同位置で取り込むことが可
能となった。

〔発明の効果〕

このように本発明によれば、波長域の異なる光源と、波
長域に対応するミラーまたはフィルター等の使用で、米
粒の透過光ｍまたは、反射光量の測定信号を送穀樋上の
同位置で取り込むことが可能である。つまり計測部の送
Ｉ２樋上の測定位置の前後において米粒品位に関する米
粒の変化が発生しても何ら計測値に影響することなく、
正確に判別することができる。また米粒品位判別装置の
心臓部とも言うべき計測部の信号は、デジタル処理によ
る複数の情報と更に反射・透過による２種の情報とによ
り倍加することで、従来の米粒全体として串−のデータ
による判別に比し非常に正確なものとなり、米の検査ｌ
による検査に代えて正確な等級判別を迅速に行うことが
可能となる。

〔実施例〕

本実施例の構成を第１図〜第３図、第７図および第１０
図により説明する。まず第１の実施例から説明する。

符号１は本発明の米粒品位判別装置である。

機枠１０上左側端の支持枠１１に支持したサンプル供給
ホッパー２１と該ホッパー下方にサンプルを適量ずつ放
出するバルブ２２を設け、該バルブの回転軸２３に軸装
するプーリー２４が、支持枠１１に支持する駆動モータ
２５の回転軸２６に軸装ケるプーリー２７と該プーリー
に巻装するタイミングベルト２８とにより連動すること
で、前記バルブ２２は駆動モータ２５により回転し前記
供給ホッパー２１と共にバルブユニット２０を形成する
。またバルブユニット２０内部の供給ホッパ−２１下部
から前記パルプ２２外周に周接するごとく飛散防止カバ
ー２９を設ける。前記バルブ２２にはサンプルを間欠放
出するようバルブ円周上の回転軸方向に任意間隔でｆＳ
３０を形成する。

前記バルブユニット２０から放出するサンプルは機枠１
０上に設けた複数の送穀用条溝４１を形成した振動送穀
樋（以下「送すフィーダ」と称する）４０の供給側に流
動し、送りフィーダ４０の排出側に関連的に連結する送
穀樋５０を設ける。このとき送穀樋５０上面には前記送
りフィーダ４０上の前記送穀用条溝４１と同数で送穀用
条溝４１の各々の幅より比較的大ぎい幅の送穀用条溝５
４を設ける。送穀樋５０を通過したサンプルは前記送り
フィーダ４０とは異なる前記送穀樋５０に関連的に連絡
した振動送ｒＱ樋（以下「選別用フィーダー」と称する
）６０に流動する。選別用フィーダ６０の任意位置には
低品位、たとえば肌ズレ粒、胴割粒、着色粒、北米等を
選別する選別装置８０を遊架する。

選別フィーダ６０により流動するサンプルは選別フィー
ダ６０の排出側の排出口８６より機外に排出される。ま
たサンプルのうち前記低品位のサンプルは選別装ｆｉ！
ｆｆ１８０で選別し、搬送管８３を通り前記フィーダ６
０の排出側とは異なる排出口（図示せず）から機外に排
出する。

前記送りフィーダ４０．選別フィーダ６０はそれぞれ防
振ゴム４２．６２を介在し、それぞれの基部４３．６３
と機枠１０に固設し、さらに送りフィーダ４０および選
別フィーダ６０には進行方向前方に傾架する段差部４５
．６５を１カ所または数カ所形成する。（第２図）次に
光量計測装置１２０について詳述する。

送穀樋５０上方には送穀樋５０に設けたスリット５３を
中心にその前後位置に可視光からなる光源９１と該光源
９１の上部外周にＦＡ設するスリット９２を開設したカ
バー９３とを設け、また送穀樋５０下方には送穀樋５０
に設けたスリット５３の下部に赤外光からなる光源１０
１を設ける。更に送穀樋面５２に対し前記スリット５３
と前記スリット９２の中心とを通る垂線上の任意延長上
に集光レンズ９４と、リニアイメージセンサ−から成る
反射光間検出素子９６と、前記垂線に対し直角方向にリ
ニアイメージセンサ−からなる透過光量検出素子１０６
と、反射光量検出素子９６には赤外光カットフィルター
９７と、透過光量検出素子１０６には可視光カットフィ
ルター１０７および前記垂線に対し粗４５°の傾きを持
ら、その中心を前記透過光ω検出素子１０６の光軸と前
記反射光間検出素子９６の光軸との交点に置くハーフミ
ラ−１０２とから成る光ｍ計測部９０を設ける。

また前記光量検出素子９６，１０６はリニアイメージセ
ンサ−を４０９６１ｊｌ並設したりニアイメージセンサ
−アレイを内蔵しており、送穀樋５０のスリット上を米
粒が通過する時の透過及び反射による米粒の性状がリニ
アイメージセンサ−上に結像される。

以上の光源９１と光源１０１および光量計測部９０で光
量計測装置１２０を形成する。

ここで集光レンズ９４は、前記送穀１５０の流下用条溝
５４と同数か、もしくは前記流下用条溝５４のうち複数
個に１個の割合で設けることもできる。

次に、選別装置８０について詳述する（第３図参照）。

選別装置８０は選別用フィーダ６０の各条溝上に吸引管
８１の吸引口８２を臨ませる。吸引管８１は選別用フィ
ーダ６０の搬送面に対して直角に垂下するごとく設ける
。各吸引管８１の上端は、はぼ水平状に横架した搬送管
８３に連結され、吸引管８１及び搬送管８３共に、米粒
が通過可能な内径とする。また、各搬送管８３の一端は
図外の空気圧縮機に接続するとともに、他端は機枠１０
内外の適宜な空間に載置した米粒受箱内に臨ませる。そ
して、各搬送管８３には、吸引管８１よりも空気圧縮機
側に電磁弁８４を介設し、各電磁弁８４は演算制御装置
１１３からの出力信号によって作動するように形成され
る。また、各搬送管８３内には、電磁弁８４の作動によ
って送風される圧縮空気が吸引管８１の取付は部に至る
直前部にノズル部８５を設けてエゼクタ（ｅｊｅｃｔｏ
ｒ　）を形成する。これにより、演算制御装置１１３が
光量計測装置１２０の計測値を分析し、ある米粒を低品
位粒と判別したときは、演算制御装置１１３からの信号
によって電磁弁８４が作動し、圧縮空気がノズル部８５
を通過する。このとぎ、吸引管８１内は低圧となり、当
該米粒を吸引口８２から吸い込み、搬送管８３によって
米粒受箱に搬送するものである。なお、選別用フィーダ
６０の各条溝底には多数の通気孔５１を設け、溝の下方
から空気を吸引させることにより、胴割粒以外の米粒を
吸引することのないようにするとよい。

次に演算制御装置の構成を第４図において説明する。反
射光量計測素子９６と透過光量計測素子１０６はそれぞ
れＡ／Ｄ変換１１１と微分回路１１２を介して演算制御
装置１１３に接続する。前記演算制御装置１１３とＡ／
Ｄ変換１１１及び微分回路１１２とにより演算制御部１
１０を成す。また演算制御装置１１３には選別装置８０
と供給バルブ２２の駆動モータ２５と送りフィーダ４０
および選別フィーダ６０を接続する。

ここで第１０図のブロック線図を参照しながら、Ａ／Ｄ
変換１１１について詳述すると、リニアイメージセンサ
−アレイ９０は、送穀樋５０のスリット５３上の米粒の
、ある瞬間における切断面を線状にとらえて全体の画像
を作るものであり、このリニアイメージセンサ−アレイ
９０は白さ測定用Ａ／Ｄ変換器７０と一般用Ａ／Ｄ変換
器７１とに接続され、白さ測定用Ａ／Ｄ変換器７０は画
像正常化装置７２を介して灰色値平均化装置７３に接続
され、一般用Ａ／Ｄ変換器７１は画像正常化装置７４を
介して一般用比較器７５に接続される。そして、この一
般用比較器７５と灰色値平均化装置７３とは符号器７６
を介して演算制御装置１１３に接続される。

以上の構成における作用を説明する。供給ホッパー２１
にサンプルを投入し演算制御装置１１３でバルブ２２と
送りフィーダ４０および選別フィーダ６０を起動する。

サンプルの米粒はパルプ２２の回転で送りフィーダ４０
の投入部に放出され送りフィーダ４０により光量計測装
置１２０に流動する。次に米粒を光量計測装置１２０の
送穀１ｉ１１５０に米粒を投入する。このとき送穀１５
０のスリット５３上を米粒が長手方向に通過する。この
とき要する時間を１０ｍ５とする。光量計測部１００は
計測を開始すると光■計測部に設けたスリット９２の透
過および反射の先回を光量計測部はあらかじめ決められ
た順序で各条溝を計測してゆく。ここで送穀樋５０と送
りフィーダ４０および選別用フィーダ６０それぞれに設
けられた条溝の数量により異−なるが、前記スリット９
２がら各条溝の光量をひと通り計測するに要する時間を
０．５ｍｓとする。つまり１つの米粒がスリット９２を
通過する１０ｍ５の間に各光量計測部は２０回の計測信
号を得ることができる。この２０回の計測信号を１つの
米粒の計測信号とするもので、公知の米粒品位判別装置
と大ぎく異なる点である。

さてスリット９２を通して得られる反射と透過の混在し
た光量は、ハーフミラ−１０２によって光軸方向と、光
軸の直角方向とに分割される。光軸方向に分割された光
量は赤外光カットフィルター９７により可視光のみ通過
し米粒の反射光量として反射光量検出素子９６に計測さ
れる。一方光軸の直角方向に分割された光量は可視光カ
ットフィルター１０７により赤外光のみ通過し、米粒の
透過光量として透過光量検出素子１０６に計測される。

ここで前記リニアイメージセンサ−アレイ５１によって
検出すべき項目について説明する。

まず反射光はＡ・・・平均反射光ｆｆ１１Ｂ・・・最も
明るい点の光量、Ｃ・・・最も暗い点の光量、Ｄ・・・
最も明るい点と最も暗い点の差の光量、Ｅ・・・平均反
射光量より一定量以上明るい領域の面積、Ｆ・・・平均
反射光ｍより一定量以上暗い領域の面積、Ｇ・・・全投
影面積及びＨ・・・楕円形状である。

また透過光はａ・・・平均透過光量、ｂ・・・最も明る
い点の光■、Ｃ・・・最も暗い点の光量、ｄ・・・最も
明るい点と最も暗い点の差の光量、ｅ・・・平均透過光
量より一定ｍ以上明るい領域の面積、ｆ・・・平均透過
光量より一定量以上暗い領域の面積、９・・・全投影面
積及びｈ・・・楕円形状である。

また、これらの検出値を組み合わせることによって得ら
れる米粒（玄米）品位判定用の分析区分は、■整粒・・
・完全良品であり、肌ずれしてないもの、■肌ずれ粒・
・・玄米の皮部が剥離又は遊離したものをいい、その面
積が１ｍｍ２以上で８ｍｍ２以下のもの（１粒の一側面
の面積は１４〜１５ｍｍ２である）、■未熟粒・・・中
心部に白色不透明部（粉状質）のある心白粒、腹部や背
部に白色不透明部がある腹白粒（いずれも粉状質の面積
は４ｎｕｅ２〜８＋１１１１２）又は粒の充実が不充分
で果実の部分が緑色を呈して粉状質のない青未熟粒、■
被害粒・・・後述する胴割粒以外の被害粒であり、虫害
粒、発芽粒、病吉粒、芽くされ粒、茶米、砕粒（整粒面
積に対し１／３〜２／３）等をいい、着色部の大きさが
０．５〜１．０ｍｍ２か、又は粒の大きざが整粒の１／
４〜２／３（４〜１０ｍｍ２）のもの、■北米・・・粉
状置部の大ぎさが粒の１／２　　（８ｍｍ２　）以上の
ものをいい、白死米及び青死米がある、■着色粒・・・
虫、熱、カビ又は菌によって粒の表面の全部又は一部が
褐色又は黒色を呈するものをいい、着色部の大きさがｌ
ｌｌ１ｍ２以上のもの又は反射光量が正常粒の７０％以
下（つまり、粒全体が着色したもの）のもの、■異物・
・・測定しようとする米粒以外の穀粒または土砂等、で
ある。

前記検出項目と分析区分との関係は第１表及び第２表に
示すとおりであり、整粒及び肌ずれ粒は前での検出項目
によって分析され、その他の分析区分は、検出項目を適
宜に組合わせて行うものである。

第１表 第２表 以上各々の光量計測素子がスリット９２から得た１つの
米粒の２０回の計測信号のうち１つの計測信号をデジタ
ル処理し横軸に時間ｔ、縦軸にｔ１１信号の信号レベル
ｖｔとって図示すると第５図のごとくなる。時間Ｔは米
粒の幅方向の長さによって１ｑられるものである。

図中表示ＴＯ時のＶｄはその部分だ【プ透過光量が減少
していることを示しているが、これだけでは肌ズレによ
るものか胴割か着色によるものか判別は不可間である。

ここでさらに同じ米粒から同時に得られた反射光量計測
信号を図示すると第６図■のごとくなる。図中表示ＴＯ
時のＶｅはその部分だけ反射光量が増加していることか
ら、その部分の米粒表面が他の米粒表面より白く見えて
いることが理解でき、透過光量の第５図と組み合わせて
この米粒は肌ズレ粒であることが判別できる。また同じ
反射光間計測部の信号が第６図■であったとすると、図
中１０時の部分は透過光量計測信号と同じ＜Ｖｆだけ反
射光量が減少していることが理解でき、透過光量の第５
図と組み合せてこの米粒は着色粒であることが判別でき
る。

以上の如く１つの米粒がスリットを通過する間に反射光
量計測信号と透過光量計測信号とによって１ｑられた信
号をそれぞれデジタル処理してその波形分析を行い２つ
の光量計測信号の組み合わせによる判別で米粒の品位判
別は容易かつ正確となる。

第６図に■整粒、■肌ズレ粒、■胴割粒、■着色粒それ
ぞれが通過した場合の反α１、透過光量の米粒の断面的
な計測信号の１例を図示した。

以上の説明のものはあくまで米粒を断面的にとらえたも
のであり、それぞれのリニアイメージセンサ−にとらえ
られた１米粒の２０回の信号を米粒全体のイメージとし
て処理するものが本発明の骨子である。つまり、第５図
に示す信号を１米粒分（ここでは２０回分）重ねて連続
して分析すると、米粒全体のどの部分に、どの位の肌ズ
レもしくは着色が存在するのか、また米粒全体の大きさ
、米粒全体の色などを信号から探ることができる。これ
はデジタル処理した信号を１つの画素としてどらえるこ
とで米粒全体をあたかも人間の目で見ているごとくセン
サーに写し、信号処理するからである。

上記光量計測で得られた信号を前述のごとく演算制御装
置１１３で処理し、米粒の品位判別を行うものである。

たとえば、平均反射光ｆｆ１（Ａ）の測定は、リニアイ
メージセンサ−アレイ９０からのデータを、白さ測定用
Ａ／Ｄ変換器７０及び画像正常化装置７２によって処理
した後、灰色性平均化装置７３によって平均化し、符号
器７６を介して演算制御装置１１３に入力され、米粒全
体の反射光量の平均が演算される。また、一般用Ａ／Ｄ
変換器７１及び画像正常化装置７４で処理された信号は
、一般用比較器７５においてはりニアイメージセンサ−
アレイ５１からのデータによって第１表中の分析区分を
刻々に処理し、演算制御装置１３によって当該米粒全体
の分析を行い、いずれかの分析区分に判別する。これら
は、リニアイメージセンサ−アレイ９０の走査と同じ速
度で処理される。

次にこの結果に基づき低品位と判別された米粒が前記選
別装置８０の下を通るとき通過する米粒の順序及び通過
平均時間が記憶されているために正確に該当する米粒を
前記演算制御装置１１３からの信号で電磁弁８４の作動
により低品位米粒は吸引口８２に吸引され搬送管８３に
よって米粒受箱に搬送する。

次に光量計測装置１２０の別の実施例について第９図に
より説明する。ただし第１の実施例と共通する部分につ
いては同符号で示し、第１の実施例と異な−る部分つま
り光Φ計測装置の構成と作用につき説明する。

まず、送穀樋５０上方には送穀樋５０に設けたスリット
５３を中心にその前後位置に可視光からなる光源９１と
該光源９１の上部外周に繞設するスリット９２を開設し
たカバー９３とを設け、また送穀樋５０下方には送穀樋
５０に設けたスリット５３の下部に赤外光からなる光源
１０１を設ける。更に傾斜面５２に対し前記スリット５
３と前記スリット９２の中心とを通る垂線上の任意延長
上に集光レンズ９４と、反射光量検出素子９６と、前記
垂線に対し直角方向に透過光量検出素子１０６および前
記垂線に対し粗４５°の傾きをもち、その中心を前記透
過光ω検出素子１０６の光軸と前記反射光量検出素子９
６の光軸との交点に置くダイクロイックミラー１０３と
から成る光量計測部１００を設ける。

以上の光源９１と光源１０１および光Ｄ計測部１００で
光量計測装置１２０を形成する。

次に第２の実施例における光ｍ計測装置１２０の作用に
ついて述べる。　　　ゝ スリット９２を通して得られる反射と透過の混在した光
量は、ダイクロイックミラー１０３によって光軸方向と
光軸の直角方向とに分割されるが、光軸方向にはたとえ
ば４００ｎｍ〜７００ｎｍの光が、一方光軸の直角方向
には１１０００ｎ〜１５００ｎｍの光がそれぞれ分割さ
れる。光軸方向に分割された光量は可視光であり、米粒
の反射光量として反射光量検出素子９６に計測される。

一方光軸の直角方向に分割された光量は赤外光であり、
米粒の透過光量として透過光量検出素子１０６に計測さ
れる。このように計測された反射・透過の各光量は、第
１の実施例と同様に演算処理装置により演算処理されて
品位判別を行うものとなる。

尚本発明に係る実施例において光ｆｆｉ　ｉｆ側部はハ
ーフミラ−やダイク０イツクミラーを使った集光レンズ
１つによる一体構成のものを示したが、送穀樋上の１つ
のポイントを透過用と反射用と別々の集光レンズを用い
て２ケ所から計測することも可能であることは言うまで
もない。

以上の構成、作用の米粒品位判別方法は米粒を品位判別
するためのデータを送穀樋上の同位置で数多く取り入れ
ることで判別の基準を多く設けることが可能となり、公
知の装置のように１米粒から１つの信号を取り入れて判
別する方法とは、その判別の精度が大きく向上したもの
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の構成図、第２図は送り、選別用フィー
ダの側面図、第３図は選別装置の斜視部分図、第４図は
ブロック図、第５図は透過光波形分析図、第６図は反射
光、透過光の組み合せによるパターン図、第７図は送り
、選別用フィーダのＡ−Ａ断面図、第８図は度数分布図
、第９図は第２の実施例の構成図、第１０図はＡ／Ｄ変
換の詳細ブロック図である。 １・・・米粒品位判別装置、１０・・・機枠、１１・・
・支持枠、２０・・・バルブユニット、２１・・・供給
ホッパー、２２・・・バルブ、２３．２６・・・回転軸
、２４．２７・・・プーリー　２５・・・駆動モータ、
２８・・・タイミングベルト、２つ・・・飛散防止カバ
ー３０・・・溝、４０・・・送りフィーダ、４１．６１
・・・送穀用条溝、４２．６２・・・防振ゴム部、４３
゜６３・・・基部、４５．６５・・・段差、５０・・・
送ＩＱ樋、５１・・・通気孔、５２・・・送穀樋面、５
３・・・スリット、５４・・・流下条溝、６０・・・選
別用フィーダ、７０・・・白さ測定用Ａ／Ｄ変換器、７
１・・・一般用Ａ／Ｄ変換器、７２・・・画像正常化装
置、７３・・・灰色値平均化装置、７４・・・画像正常
化装置、７５・・・一般用比較器、７６・・・符号器、
８０・・・選別装置、８１・・・吸引管、８２・・・吸
引口、８３・・・搬送管、８４・・・電磁弁、８５・・
・ノズル部、８６・・・排出口、９０・・・光量計測部
、９１．１０１・・・光源、９２・・・スリット、９３
・・・カバー　９４・・・集光レンズ、９６・・・反…
光量検出素子、９７・・・赤外光カットフィルター　１
００・・・光量計測部、１０２・・・ハーフミラ−１１
０３・・・ダイクロイックミラー、１０６・・・透過光
量検出素子、１０７・・・可視光カットフィルター、１
１０・・・演算制御部、１１１・・・’Ａ　／　Ｄ変換
、１１２・・・微分回路、１１３・・・演算制御装置、
１２０・・・光ω計測装置。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）、米粒を流動する送穀用条溝を設けた振動送穀樋
   を横架状に設置し、前記振動送穀樋の供給側に米粒供給
   部を設けて該送穀樋にスリットを設け、該スリットに関
   連して前記送穀樋上部の前後位置に米粒に送穀樋上方よ
   り照射する可視光からなる光源と、前記送穀樋の下方に
   米粒に送穀樋下方よりスリットを通して照射する赤外光
   からなる光源と、前記送穀樋のスリットに関連して送穀
   樋上部に反射光量計測部と透過光量計測部とを備える光
   量計測部および、前記計測部それぞれの測定値を演算処
   理し米粒を複数品位に判別する演算制御部とを備えた米
   粒品位判別装置において前記送穀樋により順次搬送され
   る米粒に光を照射するとともに、光間計測部のリニアイ
   メージセンサーを米粒の搬送方向に直交する方向に線状
   に走査し、平均透過先量、平均反射光量、最も明るい点
   の光量、最も暗い点の光量、最も明るい点と暗い点の差
   の光量、前記平均透過先量または平均反射光量より一定
   量以上明るい領域の面積、同じく平均透過光量または平
   均反射光量より一定量以上暗い領域の面積、全般影面積
   及び楕円形状の各項目について計測・演算し、これらの
   計測・演算値を適宜組み合わせるこによつて品位判定の
   基となる判定区分毎の分析を行い、この分析結果により
   当該サンプルの品位判定を行うことを特徴とする米粒品
   位判別方法。
2. （２）、演算制御部は、反射光量計測部と透過光量計測
   部のそれぞれの信号の経時変化を、それぞれデジタル処
   理し、該デジタル処理した値により米粒品位の複数品位
   判別を行うものである。請求項（１）記載の米粒品位判
   別方法。