JPH02179877A - ダイヤモンド薄膜を有する物品 - Google Patents

ダイヤモンド薄膜を有する物品

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JPH02179877A
JPH02179877A JP33231888A JP33231888A JPH02179877A JP H02179877 A JPH02179877 A JP H02179877A JP 33231888 A JP33231888 A JP 33231888A JP 33231888 A JP33231888 A JP 33231888A JP H02179877 A JPH02179877 A JP H02179877A
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JP
Japan
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base material
zirconium boride
diamond
layer
diamond film
Prior art date
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Pending
Application number
JP33231888A
Other languages
English (en)
Inventor
Teruichiro Matsumura
松村 輝一郎
Yoshihiko Ueda
上田 佳彦
Tomohiko Ogata
知彦 尾形
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Toray Industries Inc
Original Assignee
Toray Industries Inc
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Publication date
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  • Cutting Tools, Boring Holders, And Turrets (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、ダイヤモンド薄膜を有する物品に関し、特に
、切削工具、耐摩耗性材料等のいわゆるトライポロジー
分野、あるいは、放熱板、ヒートシンク等としてのエレ
クトロニクス分野、さらには、高い熱伝導率と高い硬度
が要求される、LSI等の素子に熱圧着法等によりリー
ド線を取り付けるための工具として好適に使用される。
[従来の技術] 従来ダイヤモンドは、硬度が高く、熱伝導率が大きい物
質として知られており、そのような特徴を生かすべく以
下に示すような種々の分野において検討されている。
例えば、その高い硬度を生かして、トライポロジー分野
においては、粒子状のダイヤモンドが工具として使用さ
れてきたが、大きい面積のものが得られず、また複雑な
形状のものが得られないため、最近、CVD法(Cht
micxl  Vxpot Deposition=化
学気相析出法)により基材上に薄膜状のダイヤモンドを
設けたものの使用が検討されている。
また、エレクトロニクス分野において、CVD法により
得られたダイヤモンドを金属等の熱伝導率の高い基材上
に設けて、放熱板として使用する技術が望まれている。
さらに、LSI等の素子に、熱圧着法によりリード線を
取り付ける工具として、金属等にダイヤモンドを取りつ
けた工具が望まれている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、ダイヤモンドと基材との接着強度が低い
ため、かかる分野における前記のような用途において実
用化できないといった状況にある。
本発明は、かかる分野において実質的に使用することが
できる、ダイヤモンドと基材とが強固に接着したダイヤ
モンド薄膜を有する物品を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明は、上記目的を達成するために下記の構成を有す
る。
[(1)基材上にジルコニウムボライドからなる層を有
し、さらに、その上にダイヤモンド薄膜を有してなるこ
とを特徴とするダイヤモンド薄膜を有する物品。
■ ジルコニウムボライドからなる層の上に、ダイヤモ
ンド薄膜を有してなることを特徴とするダイヤモンド薄
膜を有する物品。」 本発明においては、基材とダイヤモンド薄膜との間に、
ジルコニウムボライドからなる層を設けることによって
、あるいは、直接基材としてジルコニウムボライドを用
いることによって、従来の、基材とダイヤモンド薄膜の
熱膨脹率の差等に起因するものと考えられる不十分な接
着強度を強化するものであり、ジルコニウムボライドか
らなる層は、緩衝層としての役割をするものと考えられ
る。
本発明において、ジルコニウムボライドとは、ジルコニ
ウムとボロンとの反応物であり、その化学組成は、1≦
Bの原子数/Zrの原子数≦2で表わされるものである
が、なかでもB / Z r = 2、すなわち、Zr
B2の化学式で示される化合物が最も好ましい。
本発明における、かかるジルコニウムボライドの基材上
への形成方法としては、種々挙げられるが、その1つと
してジルコニウムボライドをターゲットとして、スパッ
タ法により形成する方法が挙げられる。スパッタ法とし
ては、従来公知の種々の方法が可能であり、いわゆる直
流、高周波、二極、三極、四極、マグネトロンなどいず
れも可能である。また、反応条件としては、通常アルゴ
ンガス雰囲気下で、0.001〜0.ITorr程度の
減圧下で行なわれ、また、基材は必要に応じ加熱するこ
とが好ましい。
また、別の方法としては、CVD法が挙げられる。CV
D法においては、通常、四塩化ジルコニウム等のジルコ
ニウムのハロゲン化物と、三塩化ホウ素等のホウ素の塩
化物とが原料として好ましく用いられるが、ジルコニウ
ムテトラヒドロボレイト(Zr (BH4) 4)等も
好適に用いることができる。本発明においては、一般に
用いられる熱CVD法、rfプラズマCVD法、マイク
ロ波CVD法等の種々の活性化によるCVD法が適用で
きる。CVD温度は、活性化の方法にもよるが、200
℃〜1000℃程度の範囲で、好ましく選択される。圧
力は、通常、常圧から10To r r程度の範囲で好
ましく選択される。
基材として、後述するZrO2または金属ジルコニウム
を用いる場合には、基材表面をホウ素のノ)ロゲン化物
またはジルコニウムテトラヒドロボレイト等によりホウ
素化して、表面にジルコニラボライド層を形成すること
ができる。
これらのジルコニウムボライドからなる層は、熱膨脹率
の差を緩和するため、500人〜5μの厚さを有するこ
とが好ましい。基材とダイヤモンドとの熱膨脹率の差が
小さい場合、すなわちその差が3ppm未満の場合、か
かる層は、基材表面の化学的性質を変えるだけで良く、
1000Å以下程度の厚さでよい。また、基材とダイヤ
モンドとの熱膨脹率の差が大きい場合、すなわち、31
1p11程度以上である場合、かかる層は、熱膨張によ
る歪を緩和するため、1000人程度以上の厚さを有す
ることが好ましい。
本発明において、基材としては種々の基板を用いること
ができるが、例えば、トライポロジー分野における用途
の場合には高い硬度を有する基板が、またヒートシンク
の分野においては熱伝導率の高い基板が好ましく用いら
れる。具体的には、A/203 、Z r02 、T 
i02 、MgOなどの金属酸化物、S i3 Na 
、AIN、Ti3 Na、立方晶BN、Zr3Na等の
金属窒化物、WC。
SiC,TiC5ZrC等の金属炭化物、ZrB2、T
iB2等のポライド、B4Si3などのケイ化物等のセ
ラミックス、Mo、Cu。
Fe、SUS、Zr%N15TaSTiSNb。
Hf等の金属などを用いることができる。この中でも基
材として、ジルコニウムボライドを用いる場合は、粉末
状ジルコニウムボライドを焼結して、基材とする。焼結
は、次の方法で行なうことができる。まず、ジルコニウ
ムボライドに焼結助剤として、金属または金属炭化物を
加える。助剤の量は、通常10vo1%以下とする。次
いで、ジルコニウムボライドと焼結助剤との混合物を、
エチルアルコール、イソプロピルアルコールなどの有機
溶媒中で、アトリションミル等により良く混合、粉砕す
る。次いで、ロータリーエバポレーター等で、減圧乾燥
することにより、ジルコニウムボライドと助剤が均一に
分散した粒子を得る。このようにして得られた粒子を次
いで焼結するが、焼結方法の1つとしては、ホットプレ
スを用いて、粒子をカーボン製ダイスの中に充填し、数
百気圧に印加しながら、昇温し焼結体を得る方法が挙げ
られる。また別の方法としては、粒子を、1〜10トン
の圧力で冷間加圧して成型し、次いで、加圧または減圧
下で2000℃前後の温度で焼結する方法が挙げられる
本発明においてダイヤモンドを合成する方法としては、
種々公知の方法を用いることができ、例えば、熱CVD
法、rf(ラジオ波)プラズマ法、マイクロ波プラズマ
法、直流プラズマ法などを用いることができる。熱CV
D法、すなわち熱的に励起する方法では、熱フィラメン
トの温度は1900℃以上2500℃未満程度の高温に
設定することが好ましい。rfプラズマ法、すなわちラ
ジオ波で励起する場合には、結合は誘導的でも、容量的
でも良く、この場合の周波数および電力は広い範囲で選
択可能であり、例えば、102〜10’ Hz、300
W 〜5kWの範囲で好ましく選択可能である。また、
必要に応じ基材にバイアス電圧をかけることもでき、バ
イアス電圧は通常1kV以下である。マイクロ波プラズ
マ法においては、マイクロ波の電力および周波数は広い
範囲で選択することができ、300W〜5kW。
108〜1011にわたる範囲で好適に選択可能である
。基材は、マイクロ波の中に置くことも外に置くことも
可能であり、また、基材はマイクロ波により熱せられ温
度が上がるが、別の手段で、熱し、または冷却しても良
い。
原料としては、一般にダイヤモンドの生成に用いられる
化合物を用いることができ、メタン、エタン、プロパン
などの低級炭化水素、メタノール、エタノールなどの低
級アルコール、アセトンなどの低級ケトン、さらにシア
ノアセチレン、アクリロニトリル、ニトロメタン、メチ
ルメルカプタン、メチルアミン、ヨウ化メチル等のへテ
ロ原子を含む化合物などが挙げられる。これらは、通常
水素を用いて、0.3%程度から10%程度に希釈され
て反応系に供給される。反応圧力は、活性化の方法にも
よるが、常圧程度以下の範囲で選択可能であるが、中で
も1〜100Torr程度の低圧であることが好ましい
。また、本発明においては、基材表面をダイヤモンド等
の粉末でこすることにより、格子欠陥を生成させること
が、ダイヤモンドの生成速度の向上に有効である。
[実施例] 実施例1 一次粒子の大きさが平均5μmである市販のジルコニウ
ムボライド(シュバルク社製)に、−次位子が平均2〜
3μmの炭化ケイ素粉末を5v。
1%の割合で混合した。これを直径3mmの炭化ケイ素
ボールを混合メディアとするアトリエーシタンミルにて
、エタノール中で6時間粉砕、混合した。次いで、1w
t%のポリエチレンアミンのエタノール溶液に50wt
%の割合で分散した繊維状の炭化ケイ素を、前記の混合
物に対して5マ01%混合し、ボールミルで12時間粉
砕した。このようにして得た混合物をロータリーエバポ
レータにて減圧乾燥した後、1900℃で、60分間2
0MPaでホットプレスし、焼結体を得た。これから1
mmの厚さの板を5mmX5mmに切出し、基材とした
マイクロ波発振装置(2,5GHz、1.2kW)で発
生した電磁波を直径40mmの石英反応間に導いた。反
応管の内部に基材を保持し、0゜5%のメタンを含む水
素ガスを40cnf/a+inで流した。1時間反応後
、基材を取り出し、表面に生成したダイヤモンドを評価
した。試料のラマンスペクトルは1334cm−1にダ
イヤモンドに帰属されるラマン線を示し、SEM像はダ
イヤモンドに特有の自形面を示した。
レス力(株)製スクラッチ試験機C3R−01によりこ
のようにして得られ試料のダイヤモンド薄膜の剥離強度
を測定した。臨界剥離強度は3゜51gfであり、ダイ
ヤモンド薄膜は強固に基材に付着していた。
実施例2 厚さ1mm、5mm角の金属ジルコニウムを石英製の反
応管に入れ、反応管を600℃に加熱した。これにジル
コニウムテトラハイドロボレイドを5%含む水素ガスを
30cnJ/minで流し、240分間反応させた。反
応後試料表面をオージェ法により分析した。表面から2
μまではB/Zrが1.9のジルコニウムボライドが生
成していた。
この試料を用い、実施例1と同様の方法でダイヤモンド
をジルコニウムボライドの表面に作製した。試料のラマ
ンスペクトルは1334cm−1にダイヤモンドに帰属
されるラマン線を示し、SEM像はダイヤモンドに特有
の自形面を示した。
実施例1と同様にして得られた試料のダイヤモンド薄膜
の剥離強度を測定した。臨界剥離強度は2.9kgfで
あり、ダイヤモンド薄膜は強固に基材に付着していた。
比較例1 ジルコニウムボライドを生成する工程を省略する以外は
、実施例2と同様に行なったところ、ダイヤモンドは基
材上に生成したが、基材から剥離していた。
実施例3 厚さ1mm、5mm角の金属ニッケル基材をガラス製の
反応管に入れ、反応管を300℃に加熱した。これにジ
ルコニウムテトラノ1イドロボレイドを4%含む水素ガ
スを30a+t/minで流し、300分間反応させた
。反発後基材表面をオージェ法により分析した。表面か
ら3μまではB/Zrが1.8のジルコニウムボライド
が生成していた。
この基材を石英製の反応管に保持し、試料から5mmの
位置に2300℃に加熱したWフィラメントを設置した
。系の圧力を30Torrとし、試料の温度を900℃
とし、これにメタンを0゜5%含む水素ガスを20cn
/minで導入し、ダイヤモンドを基材の上に作製した
3時間後、基材を取り出しラマンスペクトルとSEM像
を測定した。試料のラマンスペクトルは、1334cm
−’にダイヤモンドに帰属されるラマン線を示し、SE
M像はダイヤモンド特有の自形面を示した。
実施例1と同様にして得られた試料のダイヤモンド薄膜
の剥離強度を測定した。臨界剥離強度は3.1kgfで
あり、ダイヤモンド薄膜は強固に基材に付着していた。
比較例2 ジルコニウムボライドを生成する工程を省略する以外は
、実施例3と同様に行ったところ、ダイヤモンドは基材
上に生成したが、基材から剥離していた。
実施例4 厚さ1mm、5mm角のアルミナ基材をガラス製の反応
管に入れ、反応管を300℃に加熱した。
これにジルコニウムテトラハイドロボレイドを2%含む
水素ガスを30cal/minで流し、300分間反応
させた。反発後基材表面をオージェ法により分析した。
表面から3μまでは、B/Zrが2.0のジルコニウム
ボライドが生成していた。
この基材上に実施例3と同様の方法で、ダイヤモンドを
作製した。3時間後、基材を取り出しラマンスペクトル
とSEM像を測定した。試料のラマンスペクトルは13
34cm−1にダイヤモンドに帰属されるラマン線を示
し、SEM像はダイヤモンドに特有の自形面を示した。
実施例1と同様にして得られた試料のダイヤモンド薄膜
の剥離強度を測定した。臨界剥離強度は2.8kgfで
あり、ダイヤモンド薄膜は強固に基材に付着していた。
比較例3 ジルコニウムボライドを生成する工程を省略する以外は
、実施例4と同様にして、アルミナ基村上に直接ダイヤ
モンド薄膜を合成した。
実施例1と同様にして得られた試料のダイヤモンド薄膜
の剥離強度を測定したところ、臨界剥離強度は、0,5
kgfであり、ダイヤモンド薄膜の付着強度は低いもの
であった。
[発明の効果] 本発明により、ダイヤモンド薄膜と基材との付着強度を
大幅に向上することができ、得られた物品は、トライポ
ロジー分野、エレクトロニクス分野など種々の分野で好
適に利用することができる。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基材上にジルコニウムボライドからなる層を有し
    、さらに、該ジルコニウムボライドからなる層上にダイ
    ヤモンド薄膜を有してなることを特徴とするダイヤモン
    ド薄膜を有する物品。
  2. (2)ジルコニウムボライドからなる層の上に、ダイヤ
    モンド薄膜を有してなることを特徴とするダイヤモンド
    薄膜を有する物品。
JP33231888A 1988-12-28 1988-12-28 ダイヤモンド薄膜を有する物品 Pending JPH02179877A (ja)

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