JPH02183794A - 多層セラミック基板の焼成方法及びその装置 - Google Patents
多層セラミック基板の焼成方法及びその装置Info
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- JPH02183794A JPH02183794A JP269989A JP269989A JPH02183794A JP H02183794 A JPH02183794 A JP H02183794A JP 269989 A JP269989 A JP 269989A JP 269989 A JP269989 A JP 269989A JP H02183794 A JPH02183794 A JP H02183794A
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- Japan
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- firing
- ceramic substrate
- multilayer ceramic
- oxygen
- gas
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要)
多層セラミック基板を焼成炉内に通して焼成する方法及
びその装置に関し、 多層セラミック基板に添加されているバインダーを効率
良くガス化して放出し、残留炭素による導体の膨れやセ
ラミック基板の膨れ及び層間剥離が生じることなく焼成
することを目的とし、第一の発明は、還元性ガスの供給
される焼成炉内で多層セラミック基板を焼成する方法に
おいて、焼成炉内を焼成温度帯域によって、前記還元性
ガス中の酸素を所要の濃度に制御して複数の焼成ゾーン
に分断し、前記多層セラミック基板を酸素濃度の異なる
前記焼成ゾーン内で移動させて焼成することを特徴とし
、 また第二の発明は、焼成炉と焼成炉内を移動するベルト
とよりなり、前記焼成炉内には前記ベルトの移動方向に
そって複数のガス供給部と、複数のガス排出部と、複数
の酸素供給部とを設け、かつ前記酸素供給部には供給量
を調節するフローコントローラをそれぞれ設け、酸素濃
度調節可能な焼成ゾーンを形成してなるように構成する
。
びその装置に関し、 多層セラミック基板に添加されているバインダーを効率
良くガス化して放出し、残留炭素による導体の膨れやセ
ラミック基板の膨れ及び層間剥離が生じることなく焼成
することを目的とし、第一の発明は、還元性ガスの供給
される焼成炉内で多層セラミック基板を焼成する方法に
おいて、焼成炉内を焼成温度帯域によって、前記還元性
ガス中の酸素を所要の濃度に制御して複数の焼成ゾーン
に分断し、前記多層セラミック基板を酸素濃度の異なる
前記焼成ゾーン内で移動させて焼成することを特徴とし
、 また第二の発明は、焼成炉と焼成炉内を移動するベルト
とよりなり、前記焼成炉内には前記ベルトの移動方向に
そって複数のガス供給部と、複数のガス排出部と、複数
の酸素供給部とを設け、かつ前記酸素供給部には供給量
を調節するフローコントローラをそれぞれ設け、酸素濃
度調節可能な焼成ゾーンを形成してなるように構成する
。
本発明は、多層セラミック基板を焼成炉内に通して焼成
する方法及びその装置に関するものである。
する方法及びその装置に関するものである。
多層セラミック基板を焼成する場合には、多層セラミッ
ク基板に形成されている導体が酸化しないように酸素濃
度10ppm以下の還元性ガス雰囲気中で焼成する必要
がある。しかし、多層セラミック基板を構成するグリー
ンシートに添加されているグリーンシートの材料となる
ガラス粉とアルミナ粉とを結合するバインダーはこのよ
うな還元性ガス雰囲気中ではガス化されに<<、解重合
されたバインダー中の炭素が残留炭素として多層セラミ
ック基板中に留まって単結晶化したり、高温域で低融点
ガラスが軟化した時にセラミック基板内部に炭酸ガス及
び残留炭素としてトラップされたりして、導体及びセラ
ミックの膨れや層間剥離の原因となっている。
ク基板に形成されている導体が酸化しないように酸素濃
度10ppm以下の還元性ガス雰囲気中で焼成する必要
がある。しかし、多層セラミック基板を構成するグリー
ンシートに添加されているグリーンシートの材料となる
ガラス粉とアルミナ粉とを結合するバインダーはこのよ
うな還元性ガス雰囲気中ではガス化されに<<、解重合
されたバインダー中の炭素が残留炭素として多層セラミ
ック基板中に留まって単結晶化したり、高温域で低融点
ガラスが軟化した時にセラミック基板内部に炭酸ガス及
び残留炭素としてトラップされたりして、導体及びセラ
ミックの膨れや層間剥離の原因となっている。
このような状況のもとで、バインダーを効率良(ガス化
して取り除き、しかも導体を酸化することのない多層セ
ラミック基板の焼成方法及びその装置が求められている
。
して取り除き、しかも導体を酸化することのない多層セ
ラミック基板の焼成方法及びその装置が求められている
。
従来、多層セラミック基板の焼成は第7図に示すような
焼成装置によって行われていた。
焼成装置によって行われていた。
すなわち、多層セラミック基板3をベルト4に治具を介
して載せて焼成炉20内を一定速度で通過させることに
よって焼成するもので、焼成炉20内には還元性雰囲気
に保つため、ガス供給部50からウェット窒素等の還元
性ガス1が供給され、ガス排出部60に向かって流動し
ており、焼成炉20の出入り口付近では外気の回り込み
を防ぐためのパージ部202からも同様の還元性ガスl
がエアーカーテン状に噴出するようになっている。
して載せて焼成炉20内を一定速度で通過させることに
よって焼成するもので、焼成炉20内には還元性雰囲気
に保つため、ガス供給部50からウェット窒素等の還元
性ガス1が供給され、ガス排出部60に向かって流動し
ており、焼成炉20の出入り口付近では外気の回り込み
を防ぐためのパージ部202からも同様の還元性ガスl
がエアーカーテン状に噴出するようになっている。
このような還元性雰囲気において、多層セラミック基板
3を加熱部203によって加熱焼成していた。
3を加熱部203によって加熱焼成していた。
しかしながら、多層セラミック基板3を構成するグリー
ンシートや導体に添加されているバインダーが熱分解し
て炭化するため、発生する炭素を酸化して炭酸ガスとし
て外部に放出し、残留炭素が多層セラミック基板3に留
まらないようにする必要があるが、焼成炉内の酸素濃度
を高めると多層セラミック基板の導体を構成する銅等が
酸化して品質が劣化するため、酸素濃度を高めることは
できなかった。
ンシートや導体に添加されているバインダーが熱分解し
て炭化するため、発生する炭素を酸化して炭酸ガスとし
て外部に放出し、残留炭素が多層セラミック基板3に留
まらないようにする必要があるが、焼成炉内の酸素濃度
を高めると多層セラミック基板の導体を構成する銅等が
酸化して品質が劣化するため、酸素濃度を高めることは
できなかった。
そのため従来の方法においては、焼成温度800〜10
00°Cの高温域において銅導体を酸化せずに焼成する
ためには酸素濃度を10ppm以下にしておく必要があ
ることが知られており、またバーンアウト時における残
留炭素と酸素濃度の関係は第6図に示すように酸素濃度
10ppm以下では急激に残留炭素の量が増加すること
が知られていることから、入口のパージ部202の流量
を調整したり、酸素供給部70より酸素を供給すること
によって、焼成炉20内の酸素濃度が全体で約10pp
mを保つように制御することによって残留炭素を減少さ
せるようにしている。
00°Cの高温域において銅導体を酸化せずに焼成する
ためには酸素濃度を10ppm以下にしておく必要があ
ることが知られており、またバーンアウト時における残
留炭素と酸素濃度の関係は第6図に示すように酸素濃度
10ppm以下では急激に残留炭素の量が増加すること
が知られていることから、入口のパージ部202の流量
を調整したり、酸素供給部70より酸素を供給すること
によって、焼成炉20内の酸素濃度が全体で約10pp
mを保つように制御することによって残留炭素を減少さ
せるようにしている。
しかしながら、バインダーの熱分解および酸化反応は2
00〜600°Cの温度帯域において活発に行われ、第
5図(a)および(b)に示すように、この温度帯域で
は10ppmより多量な酸素が必要であるため、この時
にガス化して放出されなかった残留炭素がセラミック中
に単結晶化したり、高温度帯域において溶融したガラス
と反応してセラミック内部でガス化してトラップされ、
導体やセラミック基板の膨れや層間剥離を生じるという
欠点があった。
00〜600°Cの温度帯域において活発に行われ、第
5図(a)および(b)に示すように、この温度帯域で
は10ppmより多量な酸素が必要であるため、この時
にガス化して放出されなかった残留炭素がセラミック中
に単結晶化したり、高温度帯域において溶融したガラス
と反応してセラミック内部でガス化してトラップされ、
導体やセラミック基板の膨れや層間剥離を生じるという
欠点があった。
本発明は、以上の欠点を解消すべくなされたものであっ
て、多層セラミック基板に添加されているバインダーを
効率良(ガス化して放出し、残留炭素によって導体の膨
れやセラミック基板の膨れ及び層間剥離が生じることな
く焼成することができる方法及びその装置を提供するこ
とを目的とする。
て、多層セラミック基板に添加されているバインダーを
効率良(ガス化して放出し、残留炭素によって導体の膨
れやセラミック基板の膨れ及び層間剥離が生じることな
く焼成することができる方法及びその装置を提供するこ
とを目的とする。
第一の発明の多層セラミック基板の焼成方法は、還元性
ガスIの供給される焼成炉2内で多層セラミック基板3
を焼成する方法において、焼成炉2内を焼成温度帯域に
よって供給される還元性ガスIに含まれる酸素量を制御
して酸素濃度の異なる焼成ゾーン21.21、…に分断
し、これらの温度及び酸素濃度の異なる焼成ヅーン21
に多層セラミック基板3を通過させることによって焼成
する。
ガスIの供給される焼成炉2内で多層セラミック基板3
を焼成する方法において、焼成炉2内を焼成温度帯域に
よって供給される還元性ガスIに含まれる酸素量を制御
して酸素濃度の異なる焼成ゾーン21.21、…に分断
し、これらの温度及び酸素濃度の異なる焼成ヅーン21
に多層セラミック基板3を通過させることによって焼成
する。
また第二の発明の多層セラミック基板の焼成装置は第一
の発明を実施するための装置であって、第1図及び第2
図に基づいて説明すると、焼成炉2と焼成炉2内を移動
して多層セラミック基板3を搬送するベルト4とよりな
り、焼成炉2内にはベルト4の移動方向にそって複数の
ガス供給部5.5、…と、複数のガス排出部6.6、…
と、複数の酸素供給部7.7、…とを設け、かつ前記酸
素供給部7.7、…にはそれぞれ酸素供給量を調節する
フローコントローラ71を設けて構成する。
の発明を実施するための装置であって、第1図及び第2
図に基づいて説明すると、焼成炉2と焼成炉2内を移動
して多層セラミック基板3を搬送するベルト4とよりな
り、焼成炉2内にはベルト4の移動方向にそって複数の
ガス供給部5.5、…と、複数のガス排出部6.6、…
と、複数の酸素供給部7.7、…とを設け、かつ前記酸
素供給部7.7、…にはそれぞれ酸素供給量を調節する
フローコントローラ71を設けて構成する。
第一の発明においては、焼成炉2内を焼成温度帯域によ
ってそれぞれ異なった酸素濃度の還元性ガス1を供給し
てなる複数の焼成ゾーン21.21、…に分断している
ので、第5図(a)及び(b)に示すような多層セラミ
ック基板の焼成に必要な温度及び酸素濃度の変位に合わ
せて温度帯域の異なる焼成ゾーン21.21、…の酸素
濃度を調節をすることができるため、焼成初期に通過す
る焼成ゾーン21では酸素濃度を高めてバインダーを熱
分解によって解重合された炭素の酸化を促進して炭酸ガ
スとして放出して、焼成後期に通過する焼成ゾーン21
では高温度帯域において酸素濃度を低くして、導体の酸
化を防止することができ、残留炭素による導体部の膨れ
、さらには、導体の酸化のない高品質な多層セラミック
基板を焼成することができる。
ってそれぞれ異なった酸素濃度の還元性ガス1を供給し
てなる複数の焼成ゾーン21.21、…に分断している
ので、第5図(a)及び(b)に示すような多層セラミ
ック基板の焼成に必要な温度及び酸素濃度の変位に合わ
せて温度帯域の異なる焼成ゾーン21.21、…の酸素
濃度を調節をすることができるため、焼成初期に通過す
る焼成ゾーン21では酸素濃度を高めてバインダーを熱
分解によって解重合された炭素の酸化を促進して炭酸ガ
スとして放出して、焼成後期に通過する焼成ゾーン21
では高温度帯域において酸素濃度を低くして、導体の酸
化を防止することができ、残留炭素による導体部の膨れ
、さらには、導体の酸化のない高品質な多層セラミック
基板を焼成することができる。
また、第二の発明においては、多層セラミック基板°3
の移動方向にそって複数のガス供給部5と複数のガス排
出部6と複数の酸素供給部7とを設けることによって、
それぞれ対応するガス供給部5とガス排出部6との間で
独立した雰囲気の焼成ゾーン21を形成することができ
、それぞれの焼成ゾーン21に酸素供給部7より所要の
酸素濃度となるようにフローコントローラ71によって
制御して酸素を供給することにより、各焼成ゾーン21
.21、…をそれぞれの温度帯域に適合する酸素濃度に
調節して、多層セラミック基板3のバインダーを効率良
(ガス化して取り除き、品質を高めることができる。
の移動方向にそって複数のガス供給部5と複数のガス排
出部6と複数の酸素供給部7とを設けることによって、
それぞれ対応するガス供給部5とガス排出部6との間で
独立した雰囲気の焼成ゾーン21を形成することができ
、それぞれの焼成ゾーン21に酸素供給部7より所要の
酸素濃度となるようにフローコントローラ71によって
制御して酸素を供給することにより、各焼成ゾーン21
.21、…をそれぞれの温度帯域に適合する酸素濃度に
調節して、多層セラミック基板3のバインダーを効率良
(ガス化して取り除き、品質を高めることができる。
以下、本発明の望ましい実施例を添付図面に基づいて詳
細に説明する。
細に説明する。
第1図は焼成装置の説明図であり、焼成炉2と焼成炉2
内を通って回転移動するベルト4とより構成されており
、多層セラミック基板3はベルト4上に図示しない治具
を介して載置され、焼成炉2内を一定速度で通過するよ
うになっている。
内を通って回転移動するベルト4とより構成されており
、多層セラミック基板3はベルト4上に図示しない治具
を介して載置され、焼成炉2内を一定速度で通過するよ
うになっている。
焼成炉2の入口22及び出口23にはそれぞれ還元性ガ
ス1をエアーカーテン状に噴出して外気の回り込みを遮
断するパージ部24.24が形成されている。
ス1をエアーカーテン状に噴出して外気の回り込みを遮
断するパージ部24.24が形成されている。
焼成炉2の内部においては加熱部25がベルト4にそっ
て形成されており、この加熱部25は多数のヒーター(
図示せず)によって構成され、ベルト4の移動時間に対
して第4図(a)に示すような焼成温度線図に基づいて
温度が変位するようにそれぞれのヒーターが設定されて
いる。
て形成されており、この加熱部25は多数のヒーター(
図示せず)によって構成され、ベルト4の移動時間に対
して第4図(a)に示すような焼成温度線図に基づいて
温度が変位するようにそれぞれのヒーターが設定されて
いる。
さらに、焼成炉2の内部にはベルト4の移動方向にそっ
て複数のガス供給部5と複数のガス排出部6とが設けら
れている。ガス供給部5はそれぞれ対応するガス排出部
6に向かって還元性ガスlを供給し、ガス排出部6で強
制排気することによって、独立した焼成ゾーン21を構
成しており、また焼成ゾーン21にはそれぞれガス検出
部8が設けられて、焼成時に多層セラミック基板3から
発生する有機ガス量及び酸素濃度を検出するようになっ
ている。また、26は焼成された多層セラミック基板3
を冷却する冷却部である。
て複数のガス供給部5と複数のガス排出部6とが設けら
れている。ガス供給部5はそれぞれ対応するガス排出部
6に向かって還元性ガスlを供給し、ガス排出部6で強
制排気することによって、独立した焼成ゾーン21を構
成しており、また焼成ゾーン21にはそれぞれガス検出
部8が設けられて、焼成時に多層セラミック基板3から
発生する有機ガス量及び酸素濃度を検出するようになっ
ている。また、26は焼成された多層セラミック基板3
を冷却する冷却部である。
さらに、ガス供給部5には第2図のブロック図に示すよ
うに、酸素タンク72から酸素供給部7がそれぞれ接続
され、焼成ゾーン21中に酸素を供給するように構成さ
れており、また酸素供給部7には酸素供給量を制御する
フローコントローラ71が設けられている。
うに、酸素タンク72から酸素供給部7がそれぞれ接続
され、焼成ゾーン21中に酸素を供給するように構成さ
れており、また酸素供給部7には酸素供給量を制御する
フローコントローラ71が設けられている。
フローコントローラ71は、ガス検出部8よりサンプリ
ングされた焼成ゾーン21のガスをガス濃度検出装置8
1で測定し、その結果を変換器82で変換した制御信号
によって酸素供給量を制御するようになっている。
ングされた焼成ゾーン21のガスをガス濃度検出装置8
1で測定し、その結果を変換器82で変換した制御信号
によって酸素供給量を制御するようになっている。
また、還元性ガスlは飽和水蒸気に窒素ガスを通してな
るウェット窒素叉はアルゴンガス等が用いられる。
るウェット窒素叉はアルゴンガス等が用いられる。
そして、焼成ゾーン21中の還元性ガス1はガス検出部
8よりサンプリングされて第3図に示すガス濃度検出装
置81の石英パイプ811を通過し、この時、光源81
2からレンズ813を通って照射されるビーム814を
透過させて、その透過率を受光部815で測定すること
によって、焼成ゾーン21内の還元性ガス1の濃度を検
出する。
8よりサンプリングされて第3図に示すガス濃度検出装
置81の石英パイプ811を通過し、この時、光源81
2からレンズ813を通って照射されるビーム814を
透過させて、その透過率を受光部815で測定すること
によって、焼成ゾーン21内の還元性ガス1の濃度を検
出する。
すなわち、多層セラミック基板3の焼成に伴ってバイン
ダーの熱分解により発生する有機ガスが焼成炉2内の雰
囲気を汚染してバインダーのガス化を妨げるため、この
ような有機ガスが有色であることから、焼成炉2内より
検出した還元性ガス1の透過率の低下を検出することに
よって汚染度を感知し、還元性ガスの供給量の増加を促
すものである。
ダーの熱分解により発生する有機ガスが焼成炉2内の雰
囲気を汚染してバインダーのガス化を妨げるため、この
ような有機ガスが有色であることから、焼成炉2内より
検出した還元性ガス1の透過率の低下を検出することに
よって汚染度を感知し、還元性ガスの供給量の増加を促
すものである。
焼成ゾーン21は第5図(a)及び(b)に示す焼成温
度及び酸素濃度に適合するように酸素濃度が設定されて
いる。すなわち、焼成時間はベルト4の移動速度によっ
て決定されており、焼成濃度は加熱部25によって第5
図(a)に示す温度線図に基づき、焼成炉2の入口側か
ら順に100〜600°Cの低温度帯域、600〜70
0°Cの中温度帯域、700〜800“Cの高温度帯域
となるように設定されている。そして酸素濃度は第5図
(b)に示すように焼成初期の低温度帯域によって多量
の酸素を必要とすることが知られているため、低温度帯
域に位置する第1及び第2焼成ゾーン211.212の
酸素濃度を20〜1100ppに設定し、中温度帯域に
位置する第3焼成ゾーン213の酸素濃度を10〜20
ppmに設定し、高温度帯域に位置する第4及び第5焼
成ゾーン214.215は導体酸化が生じないように酸
素濃度を10ppm以下に設定されている。この場合中
温皮帯域の第3焼成ゾーン213は低温度帯域と高温度
帯域との間の酸素の拡散を押さえる緩衝域として設定さ
れている。
度及び酸素濃度に適合するように酸素濃度が設定されて
いる。すなわち、焼成時間はベルト4の移動速度によっ
て決定されており、焼成濃度は加熱部25によって第5
図(a)に示す温度線図に基づき、焼成炉2の入口側か
ら順に100〜600°Cの低温度帯域、600〜70
0°Cの中温度帯域、700〜800“Cの高温度帯域
となるように設定されている。そして酸素濃度は第5図
(b)に示すように焼成初期の低温度帯域によって多量
の酸素を必要とすることが知られているため、低温度帯
域に位置する第1及び第2焼成ゾーン211.212の
酸素濃度を20〜1100ppに設定し、中温度帯域に
位置する第3焼成ゾーン213の酸素濃度を10〜20
ppmに設定し、高温度帯域に位置する第4及び第5焼
成ゾーン214.215は導体酸化が生じないように酸
素濃度を10ppm以下に設定されている。この場合中
温皮帯域の第3焼成ゾーン213は低温度帯域と高温度
帯域との間の酸素の拡散を押さえる緩衝域として設定さ
れている。
第4図は各焼成ゾーン21の酸素濃度の制御を示すフロ
ーチャートであり、多層セラミック基板3より発生する
有機ガスの濃度を検出部8から検出して測定し、基準値
より高い場合はフローコントローラ71によって酸素の
流量を増加させる。
ーチャートであり、多層セラミック基板3より発生する
有機ガスの濃度を検出部8から検出して測定し、基準値
より高い場合はフローコントローラ71によって酸素の
流量を増加させる。
この時焼成ゾーン21の温度を測定し、設定された焼成
温度から外れる場合には流量の変化を停止する。
温度から外れる場合には流量の変化を停止する。
〔発明の効果)
以上の説明から明らかなように、本発明による多層セラ
ミック基板の焼成方法及びその装置によれば、焼成する
多層セラミック基板に多量に添加されているバインダー
のガス化が進行する低温度帯域において、ガス・化に必
要な多量の酸素を供給して、バインダーを効率良くガス
化して取り除くことができ、さらに高温度帯域において
は、酸素濃度を低くして、導体が酸化しないようにして
、それぞれ異なる雰囲気で構成される複数の焼成ゾーン
に焼成炉内を分断しているので、多層セラミック基板中
の残留炭素が減少し、残留炭素によって生じるクラック
や膨れ、及び層間剥離を防止し、さらに導体の酸化を防
止して品質の良い多層セラミック基板を焼成することが
できる。
ミック基板の焼成方法及びその装置によれば、焼成する
多層セラミック基板に多量に添加されているバインダー
のガス化が進行する低温度帯域において、ガス・化に必
要な多量の酸素を供給して、バインダーを効率良くガス
化して取り除くことができ、さらに高温度帯域において
は、酸素濃度を低くして、導体が酸化しないようにして
、それぞれ異なる雰囲気で構成される複数の焼成ゾーン
に焼成炉内を分断しているので、多層セラミック基板中
の残留炭素が減少し、残留炭素によって生じるクラック
や膨れ、及び層間剥離を防止し、さらに導体の酸化を防
止して品質の良い多層セラミック基板を焼成することが
できる。
第1図は本発明の実施例を示す説明図、第2図は酸素濃
度の制御を示すブロック図、第3図はガス濃度検出装置
を示す説明図、第4図は酸素濃度の制御を示すフローチ
ャート、第5図(a)は焼成時間と焼成温度の相関を示
すグラフ、 第5図(b)は焼成時間と酸素濃度の相関を示すグラフ
、 第6図はバーンアウト時の酸素濃度と残留炭素濃度の相
関を示すグラフ、 第7図は従来例を示す説明図である。 21は焼成ゾーン、 3は多層セラミック基板、 4はベルト、 5はガス供給部、 6はガス排出部、 7は酸素供給部、 71はフローコントローラである。
度の制御を示すブロック図、第3図はガス濃度検出装置
を示す説明図、第4図は酸素濃度の制御を示すフローチ
ャート、第5図(a)は焼成時間と焼成温度の相関を示
すグラフ、 第5図(b)は焼成時間と酸素濃度の相関を示すグラフ
、 第6図はバーンアウト時の酸素濃度と残留炭素濃度の相
関を示すグラフ、 第7図は従来例を示す説明図である。 21は焼成ゾーン、 3は多層セラミック基板、 4はベルト、 5はガス供給部、 6はガス排出部、 7は酸素供給部、 71はフローコントローラである。
Claims (2)
- (1)、還元性ガス(1)の供給される焼成炉(2)内
で多層セラミック基板(3)を焼成する方法において、
焼成炉(2)内を焼成温度帯域によって前記還元性ガス
(1)中の酸素を所要濃度に制御して複数の焼成ゾーン
(21)、(21)、…に分断し、前記多層セラミック
基板(3)を酸素濃度の異なる前記焼成ゾーン(21)
、(21)、…内で移動させて焼成することを特徴とす
る多層セラミック基板の焼成方法。 - (2)、焼成炉(2)と焼成炉(2)内を移動するベル
ト(4)とよりなり、前記焼成炉(2)内には前記ベル
ト(4)の移動方向にそって複数のガス供給部(5)、
(5)、…と、複数のガス排出部(6)、(6)、…と
、複数の酸素供給部(7)、(7)、…とを設け、かつ
前記酸素供給部(7)には供給量を調節するフローコン
トローラ(71)をそれぞれ設け、酸素濃度調節可能な
焼成ゾーン(21)、(21)、…を形成してなること
を特徴とする多層セラミック基板の焼成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP269989A JPH02183794A (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 多層セラミック基板の焼成方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP269989A JPH02183794A (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 多層セラミック基板の焼成方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02183794A true JPH02183794A (ja) | 1990-07-18 |
Family
ID=11536528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP269989A Pending JPH02183794A (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 多層セラミック基板の焼成方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02183794A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05238849A (ja) * | 1991-09-23 | 1993-09-17 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | セラミツク複合構造及びその製造方法 |
| KR100686893B1 (ko) * | 2002-05-29 | 2007-02-27 | 에스펙 가부시키가이샤 | 가열장치 |
| CN119289682A (zh) * | 2024-12-12 | 2025-01-10 | 安徽陶芯科半导体新材料有限公司 | 一种应用于覆铜陶瓷基板生产的烘烤炉 |
-
1989
- 1989-01-11 JP JP269989A patent/JPH02183794A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05238849A (ja) * | 1991-09-23 | 1993-09-17 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | セラミツク複合構造及びその製造方法 |
| KR100686893B1 (ko) * | 2002-05-29 | 2007-02-27 | 에스펙 가부시키가이샤 | 가열장치 |
| CN119289682A (zh) * | 2024-12-12 | 2025-01-10 | 安徽陶芯科半导体新材料有限公司 | 一种应用于覆铜陶瓷基板生产的烘烤炉 |
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