JPH0218391A - ダイヤモンド薄膜の気相合成法 - Google Patents
ダイヤモンド薄膜の気相合成法Info
- Publication number
- JPH0218391A JPH0218391A JP16587488A JP16587488A JPH0218391A JP H0218391 A JPH0218391 A JP H0218391A JP 16587488 A JP16587488 A JP 16587488A JP 16587488 A JP16587488 A JP 16587488A JP H0218391 A JPH0218391 A JP H0218391A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- substrate
- diamond
- plasma flame
- raw material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 43
- 239000010432 diamond Substances 0.000 title claims abstract description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 38
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 title claims description 7
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 title description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 79
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 40
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 21
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims abstract description 8
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims description 26
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 23
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 18
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 5
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 abstract 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 abstract 1
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 17
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 13
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 10
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 8
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 7
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 7
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 6
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 5
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 5
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 5
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- ZSLUVFAKFWKJRC-IGMARMGPSA-N 232Th Chemical compound [232Th] ZSLUVFAKFWKJRC-IGMARMGPSA-N 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052776 Thorium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 3
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LSDPWZHWYPCBBB-UHFFFAOYSA-N Methanethiol Chemical compound SC LSDPWZHWYPCBBB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical compound CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 carbon ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 2-butoxyethanol Chemical compound CCCCOCCO POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N Ethane Chemical compound CC OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001273 butane Substances 0.000 description 1
- 238000003763 carbonization Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 1
- IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N n-butane Chemical compound CCCC IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N n-pentane Natural products CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000001294 propane Substances 0.000 description 1
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000035807 sensation Effects 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N tetrachloromethane Chemical compound ClC(Cl)(Cl)Cl VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、予め有機化合物単独あるいは水素ガスとの混
合ガスからなる原料ガス(以後単に有機化合物を含有す
る原料ガスと呼ぶ)を熱電子放射材で熱分解して活性化
し、一方不活性ガス及び水素ガスからなる混合ガスに非
移行式直流アーク放電させて発生させた高温プラズマ炎
によって、前記有機化合物を含有する原料ガスの活性状
態を維持して活性種を高濃度で基板に導くことによって
、膜質の良いダイヤモンド薄膜を高速でしかも安定して
形成する気相合成方法に関する。
合ガスからなる原料ガス(以後単に有機化合物を含有す
る原料ガスと呼ぶ)を熱電子放射材で熱分解して活性化
し、一方不活性ガス及び水素ガスからなる混合ガスに非
移行式直流アーク放電させて発生させた高温プラズマ炎
によって、前記有機化合物を含有する原料ガスの活性状
態を維持して活性種を高濃度で基板に導くことによって
、膜質の良いダイヤモンド薄膜を高速でしかも安定して
形成する気相合成方法に関する。
従来、低圧で気相からダイヤモンドを合成する方法とし
ては、次のような方法が知られている。
ては、次のような方法が知られている。
1)放電感=より炭素イオンあるいは炭化水素イオンを
造り、これを電位勾配によって加速し、基板表面基;衝
突させてダイヤモンドを析出させるイオンビーム法やイ
オンブレーティング法。
造り、これを電位勾配によって加速し、基板表面基;衝
突させてダイヤモンドを析出させるイオンビーム法やイ
オンブレーティング法。
2)炭化水素ガスと水素ガスからなる原料ガスを、低圧
で放電により低温プラズマを発生させて活性化し、該プ
ラズマ中で基板表面にダイヤモンドを析出させる気相合
成法。
で放電により低温プラズマを発生させて活性化し、該プ
ラズマ中で基板表面にダイヤモンドを析出させる気相合
成法。
3)炭化水素ガスと水素ガスからなる原料ガスを、加熱
した熱電子放射材で活性化し、基板表面にダイヤモンド
を析出させる気相合成法(例えば特開昭58−9110
0)。
した熱電子放射材で活性化し、基板表面にダイヤモンド
を析出させる気相合成法(例えば特開昭58−9110
0)。
4)炭化水素ガス、水素ガス及び不活性ガスから選ばれ
た単独ガスまたは混合ガスに、放電により高温プラズマ
を発生させて該高温プラズマ中で炭化水素を活性化し、
基板表面にダイヤモンドを析出させる気相合成法(例え
ば特開昭62−158195、及び第35回応用物理学
関係連合講演会予稿集、29a−T−7)。
た単独ガスまたは混合ガスに、放電により高温プラズマ
を発生させて該高温プラズマ中で炭化水素を活性化し、
基板表面にダイヤモンドを析出させる気相合成法(例え
ば特開昭62−158195、及び第35回応用物理学
関係連合講演会予稿集、29a−T−7)。
しかし、これらの方法にはそれぞれ次のような長所及び
今後解決すべき問題点がある。
今後解決すべき問題点がある。
1)の方法は、常温で各種材料の基板表面へダイヤモン
ド状炭素膜を析出させることができる長所があるが、加
速されたイオンを用いるため、析出したダイヤモンドに
欠陥が多く結晶性の良いダイヤモンドは得難く、またイ
オンビーム密度を高くできないので、析出速度が遅いと
いう問題点がある。
ド状炭素膜を析出させることができる長所があるが、加
速されたイオンを用いるため、析出したダイヤモンドに
欠陥が多く結晶性の良いダイヤモンドは得難く、またイ
オンビーム密度を高くできないので、析出速度が遅いと
いう問題点がある。
2)の方法は、各種材料の基板表面にダイヤモンド微結
晶を得ることができるが、グロー放電による低温プラズ
マを用いるため、ガス圧が通常0.3気圧以下と低くな
ければプラズマが発生せず、またイオン、ラジカル等の
活性種濃度も最大1096程度と低いため、ダイヤモン
ドの成長速度が遅い(最大数μm/h)という問題点が
ある。この低温プラズマでのガス(イオン、原子、分子
)温度は、およそ1.400℃以下である。
晶を得ることができるが、グロー放電による低温プラズ
マを用いるため、ガス圧が通常0.3気圧以下と低くな
ければプラズマが発生せず、またイオン、ラジカル等の
活性種濃度も最大1096程度と低いため、ダイヤモン
ドの成長速度が遅い(最大数μm/h)という問題点が
ある。この低温プラズマでのガス(イオン、原子、分子
)温度は、およそ1.400℃以下である。
3)の方法は、各種材料の基板表面Cニダイヤモンドの
微結晶を得ることができるが、熱電子放射材から基板(
−至る間でガス温度が低下し易く、ガス温度が低下する
と活性種濃度が低下するので、熱電子放射材と基板との
間隔を1〜5aaと極めて狭くする必要がある。そのた
め良質のダイヤモンド薄膜が得られる面積が極めて狭い
範囲に限定され、また成膜速度が数μm/hと遅いとい
う欠点がある。
微結晶を得ることができるが、熱電子放射材から基板(
−至る間でガス温度が低下し易く、ガス温度が低下する
と活性種濃度が低下するので、熱電子放射材と基板との
間隔を1〜5aaと極めて狭くする必要がある。そのた
め良質のダイヤモンド薄膜が得られる面積が極めて狭い
範囲に限定され、また成膜速度が数μm/hと遅いとい
う欠点がある。
また、この方法を改良した方法、即ち熱電子放射材に対
して基板を正として直流電圧を印加し、熱1与 電子放射材から放出された熱電子を基板に照射する方法
が提案されているが、この方法においても同様な問題が
依然として残されている。
して基板を正として直流電圧を印加し、熱1与 電子放射材から放出された熱電子を基板に照射する方法
が提案されているが、この方法においても同様な問題が
依然として残されている。
4)の方法は、高温プラズマを用いるから、低温プラズ
マを用いる方法よりも活性種濃度が高くダイヤモンド薄
膜を高速で合成でき、放電電力と有機化合物供給量を上
げることC:よって成膜速度を200μm/hと著しく
向上させることができる長所があるが、非移行式直流ア
ーク放電を利用する方法に限定してみれば、有機化合物
をプラズマ発生用ガスと共に供給すると、ガスの混合状
態の変動及び有機化合物の分解の際に電極が炭化される
こと等C二よって放電状態が変動して、ダイヤモンド薄
膜を安定して形成することが困難であること、また一定
の放電電力において成膜速度、を上げるためには有機化
合物供給量を上げて行く必要があり、この時有機化合物
を高温プラズマ中で分解するから分解効率が上がらず、
得られるダイヤモンド中の黒鉛状炭素含有率が増加して
ダイヤモンドの膜質が低下すること等の問題がある。
マを用いる方法よりも活性種濃度が高くダイヤモンド薄
膜を高速で合成でき、放電電力と有機化合物供給量を上
げることC:よって成膜速度を200μm/hと著しく
向上させることができる長所があるが、非移行式直流ア
ーク放電を利用する方法に限定してみれば、有機化合物
をプラズマ発生用ガスと共に供給すると、ガスの混合状
態の変動及び有機化合物の分解の際に電極が炭化される
こと等C二よって放電状態が変動して、ダイヤモンド薄
膜を安定して形成することが困難であること、また一定
の放電電力において成膜速度、を上げるためには有機化
合物供給量を上げて行く必要があり、この時有機化合物
を高温プラズマ中で分解するから分解効率が上がらず、
得られるダイヤモンド中の黒鉛状炭素含有率が増加して
ダイヤモンドの膜質が低下すること等の問題がある。
本発明は前記3)及び4)の方法Cおける問題点を改善
すべくなされたもので、その目的は、同じ放電電力で比
べたとき、黒鉛状炭素含有率が低く明確なダイヤモンド
の結晶形が見られる表面を有する良質のダイヤモンド薄
膜を高速でしかも安定して析出する方法を提供するため
になされたものである。
すべくなされたもので、その目的は、同じ放電電力で比
べたとき、黒鉛状炭素含有率が低く明確なダイヤモンド
の結晶形が見られる表面を有する良質のダイヤモンド薄
膜を高速でしかも安定して析出する方法を提供するため
になされたものである。
本発明は、非移行式直流アーク放電による高温プラズマ
を利用する方法を産業上応用することを目的として研究
に着手したが、なかなか安定した高温プラズマ炎が得ら
れず、この問題を解決するため、及びその際に新たに生
じた問題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、本発
明をなすに至った。先ずは、陰極形状及び陽極ノズル穴
形状の選定を行い、そして、プラズマ発生用ガスをアル
ゴンガスと水素ガスからなる混合ガスとして放電させて
高温プラズマ炎を発生させた後に、有機化合物を含有す
る原料ガスを該高温プラズマ炎に供給することS:よっ
て、やっとプラズマ炎を安定させることができた。しか
しこの段階では、得られるダイヤモンド中の黒鉛状炭素
含有率が高く、丸みを帯びてダイヤモンドの結晶形が見
られない薄膜しか得ることができなかった。そこで予め
有機化合物を含有する原料ガスを熱電子放射材で熱分解
して活性化した後に、高温プラズマ炎に供給するように
改善して初めて、ダイヤモンドの結晶形が明瞭に見られ
るダイヤモンド薄膜を安定して得ることができるように
なった。本発明は以上のような知見に基づいてなされた
ものであり、炭素の供給源である有機化合物を含有する
原料ガスの活性化は熱電子放射材によって行い、高温プ
ラズマ炎によって有機化合物を含有する原料ガスの活性
状態を維持して、活性種を高濃度で基板に導くことを特
徴とするものである。
を利用する方法を産業上応用することを目的として研究
に着手したが、なかなか安定した高温プラズマ炎が得ら
れず、この問題を解決するため、及びその際に新たに生
じた問題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、本発
明をなすに至った。先ずは、陰極形状及び陽極ノズル穴
形状の選定を行い、そして、プラズマ発生用ガスをアル
ゴンガスと水素ガスからなる混合ガスとして放電させて
高温プラズマ炎を発生させた後に、有機化合物を含有す
る原料ガスを該高温プラズマ炎に供給することS:よっ
て、やっとプラズマ炎を安定させることができた。しか
しこの段階では、得られるダイヤモンド中の黒鉛状炭素
含有率が高く、丸みを帯びてダイヤモンドの結晶形が見
られない薄膜しか得ることができなかった。そこで予め
有機化合物を含有する原料ガスを熱電子放射材で熱分解
して活性化した後に、高温プラズマ炎に供給するように
改善して初めて、ダイヤモンドの結晶形が明瞭に見られ
るダイヤモンド薄膜を安定して得ることができるように
なった。本発明は以上のような知見に基づいてなされた
ものであり、炭素の供給源である有機化合物を含有する
原料ガスの活性化は熱電子放射材によって行い、高温プ
ラズマ炎によって有機化合物を含有する原料ガスの活性
状態を維持して、活性種を高濃度で基板に導くことを特
徴とするものである。
本発明の方法は、まず反応容器内に有機化合物を含有す
る原料ガスの供給ノズルと熱電子放射材を設置し、この
原料ガスを熱電子放射材で熱分解して活性化し、他方前
記反応容器内に、非移行式直流アーク放電プラズマ発生
トーチを設置し、不活性ガス及び水素ガスからなる混合
ガスに放電させて高温プラズマ炎を発生させ、該高温プ
ラズマ炎の外周に沿って前記有機化合物を含有する原料
ガスの活性状態を維持して活性種を高濃度で基板に導く
ように改善したものである。
る原料ガスの供給ノズルと熱電子放射材を設置し、この
原料ガスを熱電子放射材で熱分解して活性化し、他方前
記反応容器内に、非移行式直流アーク放電プラズマ発生
トーチを設置し、不活性ガス及び水素ガスからなる混合
ガスに放電させて高温プラズマ炎を発生させ、該高温プ
ラズマ炎の外周に沿って前記有機化合物を含有する原料
ガスの活性状態を維持して活性種を高濃度で基板に導く
ように改善したものである。
本発明では、熱電子放射材として、タングステンあるい
はタンタル等が用いられる。
はタンタル等が用いられる。
上記熱電子放射材の温度は、1.000℃以上、好まし
くは1.500℃以上4800℃の範囲とすることが好
ましい。
くは1.500℃以上4800℃の範囲とすることが好
ましい。
本発明では、プラズマ発生用ガスとして、アルゴン、ヘ
リウム等の不活性ガス及び水素ガスからなる混合ガスが
用いられる。水素ガスの供給量は、有機化合物の供給量
に関係し、不活性ガスとの混合割合としては一義的に決
まらないが、プラズマを収縮させプラズマ温度を上げる
ために、不活性ガスに対しOli VOI 4以上とす
ることが好ましい。
リウム等の不活性ガス及び水素ガスからなる混合ガスが
用いられる。水素ガスの供給量は、有機化合物の供給量
に関係し、不活性ガスとの混合割合としては一義的に決
まらないが、プラズマを収縮させプラズマ温度を上げる
ために、不活性ガスに対しOli VOI 4以上とす
ることが好ましい。
有機化合物としては、メタン、エタン、プロパン、ブタ
ン、エチレン、ベンゼン等の炭化水素、メチルアルコー
ル、エテルアルコール、アセトン、ピリジン、メチルメ
ルカプタン等の分子中に酸素、窒素あるいは硫黄を含む
有機化合物、また四塩化炭素等のハロゲン化炭素が挙げ
られる。
ン、エチレン、ベンゼン等の炭化水素、メチルアルコー
ル、エテルアルコール、アセトン、ピリジン、メチルメ
ルカプタン等の分子中に酸素、窒素あるいは硫黄を含む
有機化合物、また四塩化炭素等のハロゲン化炭素が挙げ
られる。
反応容器内圧力は、10〜5X10atmの範囲まで用
いることができる。低い子方を維持するためには大がか
りな排ガス設備が必要となり、また高い圧力では圧力容
器が必要となり経済的ではない。このため10−2〜l
Qatmの範囲が好ましい。
いることができる。低い子方を維持するためには大がか
りな排ガス設備が必要となり、また高い圧力では圧力容
器が必要となり経済的ではない。このため10−2〜l
Qatmの範囲が好ましい。
非移行式直流アーク放電によりて発生させるプラズマ温
度は、熱電子放射材で熱分解して活性化した有機化合物
を含有する原料ガスを活性状態に維持したまま基板に導
く目的に対しては、1,500℃以上であればよいが、
活性種をより高濃度で基板に供給するために1.700
℃以上であることが好ましい。
度は、熱電子放射材で熱分解して活性化した有機化合物
を含有する原料ガスを活性状態に維持したまま基板に導
く目的に対しては、1,500℃以上であればよいが、
活性種をより高濃度で基板に供給するために1.700
℃以上であることが好ましい。
基板温度は、400〜1.700℃に維持することが好
ましい。400℃以下ではダイヤモンド中に黒鉛状炭素
の含有率が増加し、1.700℃以上となるとダイヤモ
ンドの析出がみられなくなる。
ましい。400℃以下ではダイヤモンド中に黒鉛状炭素
の含有率が増加し、1.700℃以上となるとダイヤモ
ンドの析出がみられなくなる。
本発明は、熱電子放射材によって有機化合物を含有する
原料ガスを熱分解することにより大量の活性種を発生さ
せ、そして非移行式直流アーク放電によって発生させた
高温プラズマ炎の温度を利用すること感二より、前記有
機化合物を含有する原料ガスの活性状態を維持して活性
種を高濃度で基板に導き、このとき予め有機化合物を含
有する原料ガスを熱電子放射材で活性化することによっ
て高温プラズマ炎が冷却されるのを回避するように改良
した発明であるから、従来の熱電子放射材を用いる方法
及び高温プラズマ炎中で有機化合物を分解する方法より
も、高速で膜質の良いダイヤモンド薄膜を安定して析出
することができる効果がある。
原料ガスを熱分解することにより大量の活性種を発生さ
せ、そして非移行式直流アーク放電によって発生させた
高温プラズマ炎の温度を利用すること感二より、前記有
機化合物を含有する原料ガスの活性状態を維持して活性
種を高濃度で基板に導き、このとき予め有機化合物を含
有する原料ガスを熱電子放射材で活性化することによっ
て高温プラズマ炎が冷却されるのを回避するように改良
した発明であるから、従来の熱電子放射材を用いる方法
及び高温プラズマ炎中で有機化合物を分解する方法より
も、高速で膜質の良いダイヤモンド薄膜を安定して析出
することができる効果がある。
以下に、本発明の実施例について説明する。
実施例1
第1図は本発明の実施例に用いられる反応装置の概略構
成図である。第1図において、反応容器1の内部シー、
外径が4鴫のトリウム含有タングステン電極2を陰極と
し外径が5mmのノズル穴を有する水冷銅トーチノズル
3を陽極とする市販の定電流非移行式直流アーク放電ト
ーチ(大阪電気株式会社製)4を設置し、それと向かい
合わせて水冷銅基板ホルダー5に、予め1μmのダイヤ
モンドペーストで傷を入れた(100)面を有するンリ
コンクエハ−(信越化学株式会社製)6を設置した。そ
して該基板6の裏面に接点が接するように熱電対7を設
置した。
成図である。第1図において、反応容器1の内部シー、
外径が4鴫のトリウム含有タングステン電極2を陰極と
し外径が5mmのノズル穴を有する水冷銅トーチノズル
3を陽極とする市販の定電流非移行式直流アーク放電ト
ーチ(大阪電気株式会社製)4を設置し、それと向かい
合わせて水冷銅基板ホルダー5に、予め1μmのダイヤ
モンドペーストで傷を入れた(100)面を有するンリ
コンクエハ−(信越化学株式会社製)6を設置した。そ
して該基板6の裏面に接点が接するように熱電対7を設
置した。
反応容器1を0.1■Hgまでガス排出口8から排気し
た後、アルゴンガスなアルゴンガス入口9からガスミキ
シングタンク10を通して151!/minの割合で供
給し、トリウム含有タングステン電極2と水冷銅トーチ
ノズル3との間で6OAの定電流直流アーク放電を開始
し高温プラズマ炎を発生させた。この時の高温プラズマ
炎の形状は、直径101、長さ50■であった。
た後、アルゴンガスなアルゴンガス入口9からガスミキ
シングタンク10を通して151!/minの割合で供
給し、トリウム含有タングステン電極2と水冷銅トーチ
ノズル3との間で6OAの定電流直流アーク放電を開始
し高温プラズマ炎を発生させた。この時の高温プラズマ
炎の形状は、直径101、長さ50■であった。
続いて水素ガスを水素ガス人口11からガスミキシング
タンク10を通して1.5 l!/ minの割合で供
給した。この時の高温プラズマ炎の形状は、直径5圓、
長さ30mmに収縮していた。
タンク10を通して1.5 l!/ minの割合で供
給した。この時の高温プラズマ炎の形状は、直径5圓、
長さ30mmに収縮していた。
そして水冷銅トーチノズル3の出口から50の位置に設
置した外径が0.5閣で長さが120m+のタングステ
ン線を加工して作った外径が31!ll11のコイル1
2に、交流電圧6■を印加して2,100℃とした。そ
してメタンガスをメタンガス人口13から667 /
minの割合で、そして水素ガスを水素ガス人口15か
ら5 Q d / minの割合で供給し、前記コイル
12で熱分解して活性 化した。そして該活性化したガ
スを前記高温プラズマ炎の外周に沿って基板6に導いた
。この時の高温プラズマ炎の状態は、直径10mm、長
さ60mmに膨らんでいた。
置した外径が0.5閣で長さが120m+のタングステ
ン線を加工して作った外径が31!ll11のコイル1
2に、交流電圧6■を印加して2,100℃とした。そ
してメタンガスをメタンガス人口13から667 /
minの割合で、そして水素ガスを水素ガス人口15か
ら5 Q d / minの割合で供給し、前記コイル
12で熱分解して活性 化した。そして該活性化したガ
スを前記高温プラズマ炎の外周に沿って基板6に導いた
。この時の高温プラズマ炎の状態は、直径10mm、長
さ60mmに膨らんでいた。
続いて水冷銅基板ホルダー5に固定した基板6をプラズ
マ炎中1.800℃の位置に押し込み、基板裏面温度が
430℃となるように冷却した。
マ炎中1.800℃の位置に押し込み、基板裏面温度が
430℃となるように冷却した。
反応容器1の内圧が250 tm Hgとなるように排
気量を調節しながら、20分間化学蒸着を行った。この
化学蒸着の間プラズマ炎の形状の変動はなく非常に安定
しており、基板裏面温度が±1℃の範囲内で一定してい
た。
気量を調節しながら、20分間化学蒸着を行った。この
化学蒸着の間プラズマ炎の形状の変動はなく非常に安定
しており、基板裏面温度が±1℃の範囲内で一定してい
た。
その結果として、化学蒸着を施した基板を走査型電子顕
微鏡で観察したところ、明確なダイヤモンドの結晶形が
見られる表面を有し、膜厚が9.0μmの良質の薄膜が
形成されていた。この時の表面写真を第2図シ:、そし
て断面写真を第3図に示す。
微鏡で観察したところ、明確なダイヤモンドの結晶形が
見られる表面を有し、膜厚が9.0μmの良質の薄膜が
形成されていた。この時の表面写真を第2図シ:、そし
て断面写真を第3図に示す。
またこの薄膜は、X線ω析により立方晶ダイヤモンド微
結晶で構成されていることが確認された。
結晶で構成されていることが確認された。
比較例1
本比較例は、本発明の方法と特開昭62−158195
の方法とを比較する目的で、熱電子放射材を用いなかっ
たこと以外は実施例1と同じ条件で化学蒸着を行った。
の方法とを比較する目的で、熱電子放射材を用いなかっ
たこと以外は実施例1と同じ条件で化学蒸着を行った。
本比較例では実施例1で用いた装置をそのまま用いた。
実施例1において、タングステン製コイル12に電圧を
印加することなく、メタンガスをメタンガス人口14か
らプラズマ発生用ガスと混合して供給した以外は実施例
1と全く同様にして化学蒸着を行った。この時のプラズ
マ炎の状態は、直径については実施例1と同様であった
が、長さについては化学蒸着の間非周期的な変動があり
、基板裏面温度が最大±20℃の範囲で振れた。
印加することなく、メタンガスをメタンガス人口14か
らプラズマ発生用ガスと混合して供給した以外は実施例
1と全く同様にして化学蒸着を行った。この時のプラズ
マ炎の状態は、直径については実施例1と同様であった
が、長さについては化学蒸着の間非周期的な変動があり
、基板裏面温度が最大±20℃の範囲で振れた。
その結果として、基板の表面の極一部が溶融していた。
化学蒸着を施した基板を走査型電子顕微鏡で観察したと
ころ、ダイヤモンドの結晶形が見られる表面を有し、膜
厚が3.0μmの薄膜が形成されていた。この時の表面
写真を第4図に、また断面写真を第5図に示す。
ころ、ダイヤモンドの結晶形が見られる表面を有し、膜
厚が3.0μmの薄膜が形成されていた。この時の表面
写真を第4図に、また断面写真を第5図に示す。
即ち、熱電子放射材を除く化学蒸着条件が同じであれば
、本発明の方法によって本比較例の方法よりも良質のダ
イヤモンド薄膜を3倍の成膜速度で安定して得ることが
できることが判る。
、本発明の方法によって本比較例の方法よりも良質のダ
イヤモンド薄膜を3倍の成膜速度で安定して得ることが
できることが判る。
比較例2
この比較例は、本発明の方法と第35会応用物理学関係
連合講演会予稿集、29a−T−7の方法とを比較する
目的で、熱電子放射材を用いながりたこと以外は実施例
1と同じ条件で化学蒸着を行った。
連合講演会予稿集、29a−T−7の方法とを比較する
目的で、熱電子放射材を用いながりたこと以外は実施例
1と同じ条件で化学蒸着を行った。
本比較例では実施例1で用いた装置をそのまま用いた。
実施例1において、タングステン製コイル12に電圧を
印加しなかったこと以外は、実施例1と全く同様にして
化学蒸着を行った。この時の高温プラズマ炎の状態は、
実施例1と同様であり、基板裏面温度も±1℃の範囲内
で一定していた。
印加しなかったこと以外は、実施例1と全く同様にして
化学蒸着を行った。この時の高温プラズマ炎の状態は、
実施例1と同様であり、基板裏面温度も±1℃の範囲内
で一定していた。
その結果として、化学蒸着を施した基板を走査型電子顕
微鏡で観察したところ、丸みを帯びてダイヤモンドの結
晶形の見られない表面を有し、膜厚が2.7μmの薄膜
が形成されていた。この時の表面写真を第6図に、そし
て断面写真を第7図に示す。
微鏡で観察したところ、丸みを帯びてダイヤモンドの結
晶形の見られない表面を有し、膜厚が2.7μmの薄膜
が形成されていた。この時の表面写真を第6図に、そし
て断面写真を第7図に示す。
即ち、熱電子放射材を除く化学蒸着条件が同じであれば
、本発明の方法によって本比較例の方法よ゛りも膜質の
良いダイヤモンドの薄膜を3倍の成膜速度で得ることが
できることが判る。
、本発明の方法によって本比較例の方法よ゛りも膜質の
良いダイヤモンドの薄膜を3倍の成膜速度で得ることが
できることが判る。
比較例3
本比較例は、プラズマ発生用ガス中の水素ガスのダイヤ
モンドの析出状態への影響をみる目的で、プラズマ発生
用ガスをアルゴンガス単独としたこと以外は実施例1と
同様な条件で化学蒸着を行りた。
モンドの析出状態への影響をみる目的で、プラズマ発生
用ガスをアルゴンガス単独としたこと以外は実施例1と
同様な条件で化学蒸着を行りた。
本比較例では実施例1で用いた反応装置をそのまま用い
た。実施例1において、プラズマ発生用ガスをアルゴン
ガス単独としてアルゴンガス入口9から供給し、そして
メタンガスをメタンガス人口13から60 m/ /
m”の供給速度で、水素ガスを水素ガス人口15から3
001nl/ minの供給速度で供給したこと以外は
実施例1と全く同様C二して化学蒸着を行った。この時
の高温プラズマ炎の状態は、直径8mm、長さ40mで
安定していた。
た。実施例1において、プラズマ発生用ガスをアルゴン
ガス単独としてアルゴンガス入口9から供給し、そして
メタンガスをメタンガス人口13から60 m/ /
m”の供給速度で、水素ガスを水素ガス人口15から3
001nl/ minの供給速度で供給したこと以外は
実施例1と全く同様C二して化学蒸着を行った。この時
の高温プラズマ炎の状態は、直径8mm、長さ40mで
安定していた。
しかし、プラズマ発生用ガスをアルゴンガス単独とした
場合、定電流値60Aではプラズマ炎温度が上らず、結
局基板裏面温度が340℃の条件で化学蒸着を終えた。
場合、定電流値60Aではプラズマ炎温度が上らず、結
局基板裏面温度が340℃の条件で化学蒸着を終えた。
その結果として、化学蒸着を施した基板を走査型電子顕
微鏡で観察したところ、丸みを帯びてダイヤモンドの結
晶形の見られない表面を有し、膜厚が25μmの薄膜が
形成されていた。この時の表面写真を第8図に、そして
断面写真を第9図に示す。
微鏡で観察したところ、丸みを帯びてダイヤモンドの結
晶形の見られない表面を有し、膜厚が25μmの薄膜が
形成されていた。この時の表面写真を第8図に、そして
断面写真を第9図に示す。
即ち、プラズマ発生用ガスをアルゴンガス単独として水
素ガスを併用しない場合には、プラズマ炎の温度が上が
らす膜質の良いダイヤモンド薄膜は得られなかった。
素ガスを併用しない場合には、プラズマ炎の温度が上が
らす膜質の良いダイヤモンド薄膜は得られなかった。
以上説明したように、プラズマ発生用ガスの組成及び混
合状態、反応装置形状そして放電電力等によりプラズマ
炎の状態は大きく変わり、ダイヤモンドの析出状態も大
きく影響を受ける。従って従来技術の方法と全く同一の
化学蒸着条件で比較するのは困難であるが、本願の実施
例の中で示したガス組成及び放電条件で比較すると、本
発明によれば、従来技術の方法である熱電子放射材によ
り有機化合物を含有する原料ガスを熱分解する方法及び
高温プラズマ炎の中で有機化合物を分解する方法よりも
、より明確なダイヤモンドの結晶形が見られる表面を有
する良質の薄膜をより高速でしかもより安定して形成す
ることができる。
合状態、反応装置形状そして放電電力等によりプラズマ
炎の状態は大きく変わり、ダイヤモンドの析出状態も大
きく影響を受ける。従って従来技術の方法と全く同一の
化学蒸着条件で比較するのは困難であるが、本願の実施
例の中で示したガス組成及び放電条件で比較すると、本
発明によれば、従来技術の方法である熱電子放射材によ
り有機化合物を含有する原料ガスを熱分解する方法及び
高温プラズマ炎の中で有機化合物を分解する方法よりも
、より明確なダイヤモンドの結晶形が見られる表面を有
する良質の薄膜をより高速でしかもより安定して形成す
ることができる。
第1図は本発明の実施例1で用いられたダイヤモンドを
合成するための反応装置の概略構成図、第2図は実施例
1で得た試料表面の倍率が4,000倍の走査型電子顕
微鏡写真、第3図は実施例1で得た試料断面の倍率が4
.000倍の走査型電子顕微鏡写真、第4図は比較例1
で得た試料表面の倍率が4.000倍の走査型電子顕微
鏡写真、第5図は比較例1で得た試料断面の倍率が4,
000倍の走査型電子顕微鏡写真、第6図は比較例2で
得た試料表面の倍率が4.000倍の走査型電子顕微鏡
写真、第7図は比較例2で得た試料断面の倍率が4、0
00倍の走査型電子顕微鏡写真、第8図は比較例3で得
た試料表面の倍率が4.000倍の走査型電子顕微鏡写
真、第9図は比較例3で得た試料表面の倍率が4.00
0倍の走査型電子顕微鏡写真である。 1・・・反応容器、2・・・トリウム含有タングステン
電極、3・・・水冷銅トーチノズル、4・・・定電流非
移行式直流アーク放電トーチ、5・・・水冷銅基板ホル
ダー 6・・・シリコンウェハー 7・・・熱電対、8
・・・ガス排出口、9・・・アルゴンガス入口、10・
・・ガスミキシングタンク、11・・・水素ガス入口、
12・・・タングステン製コイル、13・・・メタンガ
ス入口、14・・・メタンガス入口、15・・・水素ガ
ス入口、16・・・冷却水入口、17・・・冷却水出口
。 図 ノ%fL $/図 手、釉πン山正書 (方式) 昭和63年10月12日
合成するための反応装置の概略構成図、第2図は実施例
1で得た試料表面の倍率が4,000倍の走査型電子顕
微鏡写真、第3図は実施例1で得た試料断面の倍率が4
.000倍の走査型電子顕微鏡写真、第4図は比較例1
で得た試料表面の倍率が4.000倍の走査型電子顕微
鏡写真、第5図は比較例1で得た試料断面の倍率が4,
000倍の走査型電子顕微鏡写真、第6図は比較例2で
得た試料表面の倍率が4.000倍の走査型電子顕微鏡
写真、第7図は比較例2で得た試料断面の倍率が4、0
00倍の走査型電子顕微鏡写真、第8図は比較例3で得
た試料表面の倍率が4.000倍の走査型電子顕微鏡写
真、第9図は比較例3で得た試料表面の倍率が4.00
0倍の走査型電子顕微鏡写真である。 1・・・反応容器、2・・・トリウム含有タングステン
電極、3・・・水冷銅トーチノズル、4・・・定電流非
移行式直流アーク放電トーチ、5・・・水冷銅基板ホル
ダー 6・・・シリコンウェハー 7・・・熱電対、8
・・・ガス排出口、9・・・アルゴンガス入口、10・
・・ガスミキシングタンク、11・・・水素ガス入口、
12・・・タングステン製コイル、13・・・メタンガ
ス入口、14・・・メタンガス入口、15・・・水素ガ
ス入口、16・・・冷却水入口、17・・・冷却水出口
。 図 ノ%fL $/図 手、釉πン山正書 (方式) 昭和63年10月12日
Claims (1)
- 反応容器内に基板及び熱電子放射材を配置し、反応容
器内に有機化合物を含有する原料ガスを導入して、この
原料ガスを熱電子放射材で熱分解してラジカルあるいは
イオンなどの活性種を発生させ、該活性種を基板に導い
て基板表面にダイヤモンドを析出させるダイヤモンドの
気相合成法において、不活性ガス及び水素ガスからなる
混合ガスに非移行式直流アーク放電させて発生させた高
温プラズマ炎によって、前記有機化合物を含有する原料
ガスの活性状態を維持して活性種を高濃度で基板に導く
ことを特徴とするダイヤモンド薄膜の気相合成法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16587488A JPH0218391A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | ダイヤモンド薄膜の気相合成法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16587488A JPH0218391A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | ダイヤモンド薄膜の気相合成法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0218391A true JPH0218391A (ja) | 1990-01-22 |
Family
ID=15820622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16587488A Pending JPH0218391A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | ダイヤモンド薄膜の気相合成法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0218391A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5443861A (en) * | 1991-05-16 | 1995-08-22 | Utp Sshweissmaterial Gmbh & Co. Kg | Process for manufacture of synthetic diamond layers on substrates |
-
1988
- 1988-07-05 JP JP16587488A patent/JPH0218391A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5443861A (en) * | 1991-05-16 | 1995-08-22 | Utp Sshweissmaterial Gmbh & Co. Kg | Process for manufacture of synthetic diamond layers on substrates |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0286306B1 (en) | Method and apparatus for vapor deposition of diamond | |
| US5538765A (en) | DC plasma jet CVD method for producing diamond | |
| US4434188A (en) | Method for synthesizing diamond | |
| US4376740A (en) | Process for production fine metal particles | |
| US5094878A (en) | Process for forming diamond film | |
| RU2032765C1 (ru) | Способ нанесения алмазного покрытия из паровой фазы и устройство для его осуществления | |
| US20050227020A1 (en) | Method for carrying out homogeneous and heterogeneous chemical reactions using plasma | |
| Matsumoto | Development of diamond synthesis techniques at low pressures | |
| JPH04958B2 (ja) | ||
| JPH0477710B2 (ja) | ||
| JPH01242141A (ja) | 高気圧マイクロ波プラズマ反応装置 | |
| US4919779A (en) | Method for producing electrically conductive carbon film | |
| JPH0218391A (ja) | ダイヤモンド薄膜の気相合成法 | |
| JP2646439B2 (ja) | ダイヤモンドの気相合成方法および装置 | |
| JP2000273644A (ja) | プラズマcvd装置 | |
| JP2004292181A (ja) | カーボンナノチューブ成長方法 | |
| JPH0674199B2 (ja) | ダイヤモンドの合成方法 | |
| JPH05306192A (ja) | ダイヤモンド膜の合成方法および装置 | |
| JPH02160696A (ja) | ダイヤモンドの気相合成法 | |
| JPH02160695A (ja) | ダイヤモンドの気相合成法 | |
| JPS63277767A (ja) | 高圧相窒化ホウ素の気相合成法 | |
| JP2646438B2 (ja) | ダイヤモンド気相合成方法 | |
| JPH0449517B2 (ja) | ||
| JPH02133398A (ja) | ダイヤモンド薄膜の合成法及び装置 | |
| JPH01100092A (ja) | ダイヤモンドの気相合成方法及び装置 |