JPH02184746A - 対象物における充填物の存在の検査方法とその装置 - Google Patents
対象物における充填物の存在の検査方法とその装置Info
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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-
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- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、対象物内に存在するガターの密封化合物での
充填などを検査するための方法とそのための装置に関す
る。
充填などを検査するための方法とそのための装置に関す
る。
（発明の目的）
本発明の目的は、対象物、例えば金属リッド、内に存在
するガターの密封化合物での充填などを検査するための
方法とそのための装置を提供することである。
するガターの密封化合物での充填などを検査するための
方法とそのための装置を提供することである。
（発明の構成）
本発明に係る対象物に存在するガターの密封化金物での
充填の検査方法は、（ａ）検査の対象物を用意するステ
ップと、（ｂ）その対象物に存在するガターに光ビーム
を向けるステップと、（ｃ）あらかじめ定めた標準を満
足する対象物の少なくとも上記のガターの反射像の形状
を決定するステップと、（ｄ）上記のガターの像を決定
するステップと、（ｅ）ステップ（ｄ）の結果を比較し
、検知された差が選択された許容範囲外にある場合に拒
絶信号を発生するステップからなる。
充填の検査方法は、（ａ）検査の対象物を用意するステ
ップと、（ｂ）その対象物に存在するガターに光ビーム
を向けるステップと、（ｃ）あらかじめ定めた標準を満
足する対象物の少なくとも上記のガターの反射像の形状
を決定するステップと、（ｄ）上記のガターの像を決定
するステップと、（ｅ）ステップ（ｄ）の結果を比較し
、検知された差が選択された許容範囲外にある場合に拒
絶信号を発生するステップからなる。
もし例えば発散ビームのみが使用されるならば、充填化
合物の局所的な欠除が検知手段により検出されない事が
起こり得る。なぜなら、陰効果の結果として、問題のゾ
ーンから検知手段の方向に反射が起こらないからである
。このことを考慮して、本発明によれば、好ましくは、
ステップ（ｂ）の実行において、ガターが２つの方向か
ら照らされ、この２方向は、上記のガターの軸に実質的
に直交していて、ガターの面とそれぞれ約４５°と９０
゜の間と約１３５°と９０°の間の角をなす。ここで２
つのビーム、即ち発散ビームと収斂ビームとがそれぞれ
使用される。
合物の局所的な欠除が検知手段により検出されない事が
起こり得る。なぜなら、陰効果の結果として、問題のゾ
ーンから検知手段の方向に反射が起こらないからである
。このことを考慮して、本発明によれば、好ましくは、
ステップ（ｂ）の実行において、ガターが２つの方向か
ら照らされ、この２方向は、上記のガターの軸に実質的
に直交していて、ガターの面とそれぞれ約４５°と９０
゜の間と約１３５°と９０°の間の角をなす。ここで２
つのビーム、即ち発散ビームと収斂ビームとがそれぞれ
使用される。
２本のビームを使用する場合、装置に備えた光源は、発
散ビームで検査される対象物のガターを直接照らし、対
象物に関して同軸に位置される実質的に円筒状のミラー
を介しての反射による収斂ビームで上記のガターを照ら
す。
散ビームで検査される対象物のガターを直接照らし、対
象物に関して同軸に位置される実質的に円筒状のミラー
を介しての反射による収斂ビームで上記のガターを照ら
す。
本発明に係る対象物に存在するガターの密封物での充填
の検査のための上記の方法を実行するための装置は、（
ａ）光源と、（ｂ）この光源から出射された光ビームを
方向づける指向手段と、（ｃ）あらかじめ決定された標
準を満足する対象物の少なくとも上記のガターの反射像
を格納する記憶手段と、（ｄ）上記のガターの像を決定
するための検知手段と、（ｅ）上記の検知手段の出力と
上記の記憶手段と出力とを比較し、決定された差が選択
された許容範囲外である場合に拒絶信号を発生する比較
手段とを備える。
の検査のための上記の方法を実行するための装置は、（
ａ）光源と、（ｂ）この光源から出射された光ビームを
方向づける指向手段と、（ｃ）あらかじめ決定された標
準を満足する対象物の少なくとも上記のガターの反射像
を格納する記憶手段と、（ｄ）上記のガターの像を決定
するための検知手段と、（ｅ）上記の検知手段の出力と
上記の記憶手段と出力とを比較し、決定された差が選択
された許容範囲外である場合に拒絶信号を発生する比較
手段とを備える。
（実施例）
以下、添付の図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は、ランプ１ （この場合は、ストロボスコープ
ランプ）を示す。ランプｌは、半透明ミラー２を介して
リッド４のガター３を照らす。ガター３には充填化合物
５が付着されている（第２図参照）。この充填物又は充
填化合物５が無い場所では、ガターの底による光の反射
は、充填化合物が存在する場合よりも強くなる。
ランプ）を示す。ランプｌは、半透明ミラー２を介して
リッド４のガター３を照らす。ガター３には充填化合物
５が付着されている（第２図参照）。この充填物又は充
填化合物５が無い場所では、ガターの底による光の反射
は、充填化合物が存在する場合よりも強くなる。
ビデオカメラ６は、半透明ミラー２をとおしての反射に
よりガター３を検知する。もしガター３が標準に対応し
て充填化合物５で充填されるならば、ビデオカメラ６は
、暗い環状のガターを検知する。充填化合物を欠く領域
は、このリング内での明るい点として検知できる。この
明るい点は、従来の像処理技術により直ちに検出できる
。
よりガター３を検知する。もしガター３が標準に対応し
て充填化合物５で充填されるならば、ビデオカメラ６は
、暗い環状のガターを検知する。充填化合物を欠く領域
は、このリング内での明るい点として検知できる。この
明るい点は、従来の像処理技術により直ちに検出できる
。
光の反射方向は、反射面の角度位置に依存する。
ランプｌから直接出射される光のガター３の内側からの
反射は、カメラの視角の外の方向に向くので、充填化合
物の無い事が検出される。
反射は、カメラの視角の外の方向に向くので、充填化合
物の無い事が検出される。
円筒状ミラー７により他の方向から上記の表面を照らす
ことにより、上記の而（この場合は、充環化合物５が無
い）は、ビデオカメラ６の方向に光を反射する。
ことにより、上記の而（この場合は、充環化合物５が無
い）は、ビデオカメラ６の方向に光を反射する。
ビデオカメラ６によって検知される端のゾーンの像に影
響するガター３の他の欠陥も、この配置により検出され
る。これは、例えば、ガター３の直立する端が低すぎる
場合である。
響するガター３の他の欠陥も、この配置により検出され
る。これは、例えば、ガター３の直立する端が低すぎる
場合である。
光学装置をほこり、水などの外部の影響から安全に保護
するために光学部品Ｌ ２．６．７は、閉じたハウジン
グ９によって囲まれる。ガラス板１０を通ってリッド４
が照らされ、検知される。
するために光学部品Ｌ ２．６．７は、閉じたハウジン
グ９によって囲まれる。ガラス板１０を通ってリッド４
が照らされ、検知される。
このガラス板ｌＯは、ガラス板１０によって反射される
光がビデオカメラ６に達することを避けるための角度で
配置される。
光がビデオカメラ６に達することを避けるための角度で
配置される。
信号処理ユニット１１は、ビデオカメラ６から、ガター
３の像に対応するビデオ信号を受信する。
３の像に対応するビデオ信号を受信する。
この信号処理ユニット１１は、メモリを備え、このメモ
リには、あらかじめ決定された標準を満足する場合のガ
ターの反射像の形状が前もって格納されている。また、
信号処理ユニット１１は、ビデオカメラ６の出力信号と
上記のメモリの内容とを比較するための比較手段を備え
る。この比較手段は、検出された差が選択された許容範
囲外にある場合に拒絶信号を発生する。この拒絶信号は
、出力１２を通して、図示しない排出手段に供給出来る
。排出手段は、リッドの連続的な流れから問題のリッド
４を排出するように適合されている。
リには、あらかじめ決定された標準を満足する場合のガ
ターの反射像の形状が前もって格納されている。また、
信号処理ユニット１１は、ビデオカメラ６の出力信号と
上記のメモリの内容とを比較するための比較手段を備え
る。この比較手段は、検出された差が選択された許容範
囲外にある場合に拒絶信号を発生する。この拒絶信号は
、出力１２を通して、図示しない排出手段に供給出来る
。排出手段は、リッドの連続的な流れから問題のリッド
４を排出するように適合されている。
リッドの連続的な流れは、本発明による装置により連続
的に検査される。
的に検査される。
そのような装置において、リッド４は、窓として役立つ
ガラス板ｌＯの下で矢印１４の方向にコンベア１３上で
搬送される。公知のように、例えば近接スイッチや他の
適当な検出スイッチが、す。
ガラス板ｌＯの下で矢印１４の方向にコンベア１３上で
搬送される。公知のように、例えば近接スイッチや他の
適当な検出スイッチが、す。
ド４の正しい位置への到達に対応してトリガーされる。
ストロボスコープランプｌは、それに対応してフラッシ
ュを放つ。このフラッシュは、上述のリッド４の照明と
りラド４のビデオ像の形成に役立つ。
ュを放つ。このフラッシュは、上述のリッド４の照明と
りラド４のビデオ像の形成に役立つ。
第２図において、光ビームが、非常に図式的であるが説
明のために示される。１５で示される光ビームは、ラン
プｌから直接に放射される。１６で示される光ビームは
、円筒状ミラー７から来る。
明のために示される。１５で示される光ビームは、ラン
プｌから直接に放射される。１６で示される光ビームは
、円筒状ミラー７から来る。
破線で示される反射ビーム１７は、ビデオカメラ６の視
角内に有り、一方、発散ビーム１８は、視角外にある。
角内に有り、一方、発散ビーム１８は、視角外にある。
従って、ビデオカメラ６が半透明ミラー２を介してリッ
ド４の全体の像を見ることができるようにビデオカメラ
が調節されるということが理解される。従って、反射ビ
ーム１８は、ビデオカメラの視野の外側にある。
ド４の全体の像を見ることができるようにビデオカメラ
が調節されるということが理解される。従って、反射ビ
ーム１８は、ビデオカメラの視野の外側にある。
第１図は、本発明に係る装置の図式的断面図である。
第２図は、第１図の！１の詳細な図である。
ｌ・・・ランプ、 ３・・・ガター ４・・・リッ
ド、５・・・充填化合物、 ６・・・ビデオカメラ、７
・・・ミラー １０・・・ガラス板、１１・・・信号
処理ユニット、 １３・・・コンベア、１５．１６．
１７．１８・・・光ビーム。 特許出願人 フーフトーコーリプラス・ベスロテン・ベ
ンノットジャツブ 代理人弁理士 青白 葆はか１名
ド、５・・・充填化合物、 ６・・・ビデオカメラ、７
・・・ミラー １０・・・ガラス板、１１・・・信号
処理ユニット、 １３・・・コンベア、１５．１６．
１７．１８・・・光ビーム。 特許出願人 フーフトーコーリプラス・ベスロテン・ベ
ンノットジャツブ 代理人弁理士 青白 葆はか１名
Claims (6)
- （１）（ａ）検査の対象物を用意するステップと、 （ｂ）その対象物に存在するガターに光ビームを向ける
ステップと、 （ｃ）あらかじめ定めた標準を満足する対象物の少なく
とも上記のガターの反射像の形状を決定するステップと
、 （ｄ）上記のガターの像を決定するステップと、（ｅ）
ステップ（ｄ）の結果を比較し、検知された差が選択さ
れた許容範囲外にある場合に拒絶信号を発生するステッ
プからなる、対象物のガターへの密封物による充填の検
査方法。 - （２）ステップ（ｂ）の実行において、ガターが二つの
方向から照らされ、この２方向は、上記のガターの軸に
実質的に直交していて、ガターの面とそれぞれ約４５°
と９０°の間と約１３５°と９０°の間の角をなすこと
を特徴とする請求項１に記載された方法。 - （３）（ａ）光源と、 （ｂ）この光源から出射された光ビームを方向づける指
向手段と （ｃ）あらかじめ決定された標準を満足する対象物の少
なくとも上記のガターの反射像を格納する記憶手段と、 （ｄ）上記のガターの像を決定するための検知手段と、 （ｅ）上記の検知手段の出力と上記の記憶手段と出力と
を比較し、決定された差が選択された許容範囲外である
場合に拒絶信号を発生する比較手段とを備える、対象物
のガターへの密封物による充填を検査するための装置。 - （４）上記の光源が二つの部分からなることを特徴とす
る請求項３に記載された装置。 - （５）上記の光源が第１と第２の光源からなり、これら
の光源がそれぞれ発散ビームと収斂ビームで上記のガタ
ーを照らすことを特徴とする請求項４に記載された装置
。 - （６）一つの光源が、検査するべき対象物のガターを直
接に発散ビームで照らすとともに、ミラー（円い対象物
の場合は実質的に円筒状で、対象物に関して同軸に位置
されたミラー）を介して収斂ビームにより上記ガターを
照らすことを特徴とする請求項５に記載された装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8802870 | 1988-11-21 | ||
| NL8802870 | 1988-11-21 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02184746A true JPH02184746A (ja) | 1990-07-19 |
Family
ID=19853263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1303052A Pending JPH02184746A (ja) | 1988-11-21 | 1989-11-21 | 対象物における充填物の存在の検査方法とその装置 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5011289A (ja) |
| EP (1) | EP0370569B1 (ja) |
| JP (1) | JPH02184746A (ja) |
| AU (1) | AU619362B2 (ja) |
| CA (1) | CA2003336A1 (ja) |
| DE (1) | DE68913011T2 (ja) |
| DK (1) | DK585289A (ja) |
| ES (1) | ES2064426T3 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB0919059D0 (en) * | 2009-10-30 | 2009-12-16 | Sencon Europ Ltd | Application and inspection system |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4037724A (en) * | 1975-05-20 | 1977-07-26 | Firma Up Geratebau-Und Vertriebs Gmbh | Method of and apparatus for measuring defects in sealings |
| JPS5243484A (en) * | 1975-10-03 | 1977-04-05 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | System for inspecting sealing compound of sealing covers |
| JPS5992333A (ja) * | 1982-11-19 | 1984-05-28 | Shinriyou Seikan Kk | 缶蓋シ−リングコンパウンドの塗布自動化装置 |
| JPS60201241A (ja) * | 1984-03-26 | 1985-10-11 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 缶蓋のシ−リングコンパウンド検査装置 |
| US4868404A (en) * | 1987-04-23 | 1989-09-19 | Hajime Industries, Ltd. | Surface inspection apparatus using a mask system to monitor uneven surfaces |
| US4873432A (en) * | 1988-08-25 | 1989-10-10 | American National Can Company | Compound application detector |
| JPH05243484A (ja) * | 1992-01-07 | 1993-09-21 | Nec Corp | 半導体装置の容量素子およびその製造方法 |
-
1989
- 1989-11-16 ES ES89202910T patent/ES2064426T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1989-11-16 EP EP89202910A patent/EP0370569B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-11-16 DE DE68913011T patent/DE68913011T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-11-20 CA CA002003336A patent/CA2003336A1/en not_active Abandoned
- 1989-11-20 US US07/439,543 patent/US5011289A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-11-21 DK DK585289A patent/DK585289A/da not_active Application Discontinuation
- 1989-11-21 JP JP1303052A patent/JPH02184746A/ja active Pending
- 1989-11-21 AU AU45400/89A patent/AU619362B2/en not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0370569A1 (en) | 1990-05-30 |
| DK585289A (da) | 1990-05-22 |
| EP0370569B1 (en) | 1994-02-09 |
| DK585289D0 (da) | 1989-11-21 |
| AU4540089A (en) | 1990-05-24 |
| DE68913011D1 (de) | 1994-03-24 |
| CA2003336A1 (en) | 1990-05-21 |
| DE68913011T2 (de) | 1994-08-25 |
| US5011289A (en) | 1991-04-30 |
| ES2064426T3 (es) | 1995-02-01 |
| AU619362B2 (en) | 1992-01-23 |
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