JPH0581697U - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置Info
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- JPH0581697U JPH0581697U JP2718392U JP2718392U JPH0581697U JP H0581697 U JPH0581697 U JP H0581697U JP 2718392 U JP2718392 U JP 2718392U JP 2718392 U JP2718392 U JP 2718392U JP H0581697 U JPH0581697 U JP H0581697U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 物品の被検査面を画像センサによって撮像
し、この画像センサの画像情報から得られた被検査面の
明度分布に基づいて、物品の外観不良を検査する外観検
査装置において、透明包装体等の外観検査を内容物表面
に影響を受けないように行なう。 【構成】 光源23から物品Wの透明フィルムの被検査
面Waに所定角度θで入射される光は、被検査面Waを
一様に光らせ、その正反射光は、画像センサ24に入射
される。画像センサ24で撮像された画像データはメモ
リ32に記憶され、明度分布演算手段34によって、そ
の画像データの明度分布が算出され、この明度分布の分
散が算出される。明度分布および分散が良品の分布パタ
ーンおよび良品範囲内にあれば、この物品の被検査面W
aは良品と判定され、分布パターンが異なるか、分散が
良品範囲内にない場合には、被検査面Waに外観不良が
あると判定される。
し、この画像センサの画像情報から得られた被検査面の
明度分布に基づいて、物品の外観不良を検査する外観検
査装置において、透明包装体等の外観検査を内容物表面
に影響を受けないように行なう。 【構成】 光源23から物品Wの透明フィルムの被検査
面Waに所定角度θで入射される光は、被検査面Waを
一様に光らせ、その正反射光は、画像センサ24に入射
される。画像センサ24で撮像された画像データはメモ
リ32に記憶され、明度分布演算手段34によって、そ
の画像データの明度分布が算出され、この明度分布の分
散が算出される。明度分布および分散が良品の分布パタ
ーンおよび良品範囲内にあれば、この物品の被検査面W
aは良品と判定され、分布パターンが異なるか、分散が
良品範囲内にない場合には、被検査面Waに外観不良が
あると判定される。
Description
【0001】
本考案は、例えばライン搬送される物品を画像センサで撮像し、この画像情報 に基づいて、物品の外観不良を検査する外観検査装置に関する。
【0002】
例えば、工場等の製品ラインでは、製品表面にキズや汚れあるいは欠損や欠品 等の外観上の不良がないか否かを、製品搬送中に自動判別するために従来より図 14に示す外観検査装置10が用いられている。
【0003】 この外観検査装置10は、コンベア1の両側に対向配置された投光器11、受 光器12と、CCDカメラ等の画像センサ13と、物品Wが投受光器間を通過し て、その被検査面Waが画像センサ13の前に達するタイミングに、画像センサ 13の画像データを取込んでデータ処理を行なうデータ処理部14と、データ処 理部14からの処理結果に基づいて、物品Wの被検査面Waに外観不良があるか 否かを判定する判定部15とを有している。
【0004】 データ処理部14は、取込んだ画像データの各画素の2値判定(例えば所定の 明るさより明るい画素には“1”、暗い画素には“0”のデータを割当てる)を 行ない、その“1”のデータ数を処理結果として判定部15へ出力する。
【0005】 判定部15は、この判定結果が、予め記憶されている良品の“1”のデータ数 と等しいか、あるいは良品範囲内にあれば、この物品Wを良品と判定し、良品デ ータ数と異なる場合、あるいは良品範囲外の場合には、不良と判定する。
【0006】 判定部15で不良と判定された物品は、後続ラインの選別機(図示せず)によ ってライン上から排除される。
【0007】 ところが、このような各画素の2値判定処理では、外光の変動を受けやすく、 正確な判別が困難である。
【0008】 このため、データ処理部14において画素の明度分布とその分散を求め、得ら れた分散値を良品の分散値と比較することによって良否の判定を行なう外観処理 装置(特開平3−280165)も本願出願人によって提案されている。
【0009】 この方法は、外光変動(図15では外光量の低化変動)があっても、画像デー タの明度分布特性Gは、図15に示すように平行にシフトするだけで、その分散 値が変化しないことを利用したものであり、外光変動に左右されない正確な良否 判別を行なうことができる。
【0010】
しかしながら、このような明度分布の分散によって物品の被検査面の外観の良 否を判定する外観検査装置であっても、透明フィルムで包装された物品の透明フ ィルム自身のキズや破れ等を検査することは困難であった。
【0011】 即ち、従来装置では、透明フィルムに破れや穴等があっても、その内容物表面 の画像データに対する影響が極めて少ないため、明度分布の変化が認められず良 品と判定してしまう。
【0012】 このため、このような物品に対するフィルム包装の検査は、人手による目視検 査にたよっているのが現状であった。
【0013】 本考案は、この課題を解決した外観検査装置を提供することを目的としている 。
【0014】
前記課題を解決するために、本考案の外観検査装置は、 物品の被検査面を画像センサによって撮像し、該画像センサからの画像情報か ら得られた前記被検査面の明度分布に基づいて、前記物品の外観不良を検査する 外観検査装置において、 前記被検査面に光を所定角度で照射する光源を有し、 前記画像センサを、前記光源による前記被検査面からの正反射光を受ける位置 に配置している。
【0015】
このように構成したため、本考案の外観検査装置では、物品の被検査体面に照 射された光源からの正反射光が画像センサで撮像されるため、被検査面が透明体 であっても、その外観の良否を判定することができる。
【0016】
以下、図面に基づいて本考案の一実施例を説明する。
【0017】 図1は、一実施例の外観検査装置20の正面図、図2はその側面図を示してい る。
【0018】 この外観検査装置20は、例えば透明フィルムで包装された物品Wの上面側を 被検査面Waとし、そのフィルムのキズや破れ等の有無を判別するためのもので あって、コンベア1の側方に筐体21の前面21aが近接するように配置されて いる。
【0019】 筐体21の搬入側の側面21bには、物品Wの通過を検出するための反射型の 通過センサ22が取付けられている。
【0020】 コンベア1の上方へ僅かに突出された上部前面21cには、光源23と、CC Dカメラ等の画像センサ24が取付けられている。
【0021】 光源23は、コンベア1上を搬送して筐体21の正面のほぼ中央に達した物品 Wの被検査面Waに対し、所定角度θで光を一様に照射する位置に予め固定され ている。
【0022】 一方、画像センサ24は、この物品Wの被検査面Waから同一角度θで反射す る光(正反射光)を受ける位置に予め固定されている。
【0023】 したがって、物品Wが良品の場合、図3に示すように、被検査面Waに照射さ れる光は、ほぼ均一に反射されるため、画像センサ24側からみた被検査面Wa は、フィルムの高い反射率によって全体が一様に光った状態となる。また、光源 23からの光の照射範囲は、被検査面Waより広い範囲に設定され、画像センサ 24の撮像範囲も、図4に示すように被検査面Waより広く設定されている。
【0024】 画像センサ24の画像信号は、図5に示すように、通過センサ22の出力とと もにデータ処理部30へ入力される。
【0025】 データ処理部30は、1つの被検査面の画像信号をA/D変換器31によって ディジタル値に変換して、1画素単位の画像データとして、メモリ32へ記憶さ せる。このデータの記憶はデータ取込み制御手段33によって、物品Wが通過セ ンサ22を通過してから筐体前面のほぼ中央位置に達したタイミングになされる 。
【0026】 明度分布演算手段34は、メモリ32に記憶された1画像分のデータのうち、 例えば図4に点線で示した範囲(データ処理範囲)の画像データを読出し、その 明度分布、即ち、各明度レベル毎の画素数を算出する。分散演算手段35は、算 出された明度分布の分散(標準偏差)σを算出する。
【0027】 図3に示したように被検査面Waに異常が無い場合、この明度分布G0 は、図 6に示すように、高い明度レベルの位置に集中した分布となり、その分散σ0 も 小さい。
【0028】 判定部36の分布比較手段37(図5参照)は、明度分布算出手段34によっ て算出され明度分布データと、予め記憶されている良品明度分布データ(図6) とをパターン比較し、算出された分布データのパターンが良品明度分布データと に対して異なる場合(例えば分布の集中箇所が複数ある場合等)、この物品Wと 不良と判定する。
【0029】 また、分散比較手段38は、分散演算手段35で算出された分散σを、予め決 められた上限値σU および下限σL と比較し、この範囲内にあれば良品と判定し 、範囲外にあれば不良品と判定する(σU >σ0 >σL )。
【0030】 総合判定手段39は、分布比較手段37と分散比較手段38の両方で良品と判 定されたとき、物品Wを良品と判定し、いずれか一方または両方が不良と判定さ れたとき、物品Wを不良と判定し、不良品を選別するための選別信号を後続ライ ンの選別機(図示せず)へ出力する。
【0031】 次に、この外観検査装置20の動作について説明する。
【0032】 透明フィルムFで包装された物品Wが、通過センサ22を通過して、筐体21 の中央正面に達したとき、被検査面Waで透明フィルムFによって反射された光 は、画像センサ24で撮像され、その1画像分のデータがメモリ32に記憶され る。
【0033】 この物品Wの被検査面Waに異常がなければ、データ処理範囲の明度分布は、 前述の図6に示した良品明度分布G0 とほぼ一致し、分散σも上限値σU と下限 値σL の範囲に入いるため、その物品Wは良品と判定されそのまま後続ラインへ 送られる。
【0034】 ところが、図7の(a)および(b)に示すように、透明フィルムFに穴40 があったり、汚れ41があると、被検査面Waからの反射光は、一様でなくなる 。
【0035】 例えば穴40から露出している物品Wの表面や汚れの(不良箇所)の反射率が 比較的低く一様であるとすると、その明度分布G1 は、図8に示すように、透明 フィルムFの反射による高い明度レベルの位置と不良箇所の反射による低い明度 レベルの位置にピークのある分布となる。
【0036】 このため、この物品は、たとえ分布G1 の分散σ1 が良品範囲内であっても、 判定部36の分布比較手段37によって不良品と判定される。
【0037】 また、不良箇所の反射率が透明フィルムFの反射率に比較的近い場合の明度分 布G2 は、図9に示すように、不良箇所の反射光の明度のバラツキの分拡がるた め、たとえ分布パターン比較で良品と同一パターンと判定されても、分散比較に よって不良品と判定される。
【0038】 このようにして、コンベア1上を通過する物品Wの包装に異常がないか否かが 次々と正確に判定され、不良品と判定された物品はライン上から排除される。
【0039】 なお、前記説明は、透明フィルムFで包装された物品の包装不良を検出する場 合について説明したが、不透明なフィルムは勿論、ガラス表面や金属表面等のよ うに、比較的反射率の高い被検査面に対しても同様の検査を行なうことができる 。
【0040】 例えば、図10に示すようなアンプルビン50の頭部50aの欠損の有無を検 査する場合、光源23から頭部50aの綾線Pに対して入射角θで光を照射し、 その正反射光を画像センサ24で受けるように構成する。
【0041】 頭部50aが欠損していない場合、その綾線P部分のみが明るくなり、他の部 分は曲面に応じて暗くなるため、その明度分布G3 は、そのデータ処理範囲を図 11に点線で囲んだ範囲に限定した場合、図12の(a)に示すように、非常に 広い分散σ3 をもつ。
【0042】 逆に頭部50aが欠損していると、ほぼ反射率が一様な搬送面等の反射光が画 像センサ24に入射されるため、その明度分布G4 の分散σ4 は、図12の(b )に示すように小さくなる。
【0043】 したがって、分散比較によって頭部50aの欠損の有無を正確に判定すること ができる。
【0044】 また、頭部50aにキズがあって異常に明るい部分が生じると、その明度分布 G5 は、図12の(c)に示すように、良品の分布パターンG3 と異なるため、 欠損だけでなくキズの有無も判定できる。
【0045】
なお、前記実施例では、画像センサ24を、光源23の正反射光を受ける位置 のみに配置していたが、図13に示すように、この正反射光を受けない位置に別 の画像センサ54を配置し、前述したようにフィルム包装の外観不良を検査する 場合には、正反射位置の画像センサ24を用い、他の物品あるいは内容物の検査 には正反射位置にない画像センサ54を用いるようにしてもよい。
【0046】 また、このように2つの画像センサ24、54を設けておけば、良品表面と不 良箇所の反射率の差に応じた使い分けも可能となる。
【0047】 例えば、鏡面のように極めて反射率の高い被検査面の極く小さなキズを検査す る場合、正反射位置の画像センサ24では、センサレンズの収差等によって、小 さなキズによる不良箇所の明度レベルが極端に明るい正常箇所からの反射光にマ スクされてしまい、不良箇所による明度分布をほとんど識別できなくなることが ある。
【0048】 このような物品の場合、正反射位置にない画像センサ54を用いれば、正常箇 所から画像センサ54への入射される光の明度レベルは大きく低下するため、キ ズによる不良箇所の明度分布を識別でき、不良判定を行なうことができる。
【0049】 また、このような明度の比較的高いキズだけでなく、明度が低い汚れ等の外観 をともに検査する場合には、2つの画像センサ24、54の画像情報をともに用 いるようにすればよい。
【0050】 また、前記実施例では、被検査面の明度分布の判定のみによって物品の外観検 査を行なう場合について説明したが、例えば前記した2つの画像センサを用いて 、従来の2値判定(面積判定)や重心判定等を同時に行なって、物品のフィルム 包装だけでなく、内容物の表面を検査するようにしてもよい。
【0051】 また、コンベア1の間欠駆動によって、物品が停止している状態で外観検査を 行なえる場合には、画像センサ24を正反射位置から非正反射位置へ移動できる ように移動機構を設け、包装や内容物の外観検査1つの画像センサ24によって 行なうようにしてもよく、逆に光源側を移動機構によって移動させてもよい。
【0052】
以上説明したように、本考案の外観検査装置は、光源から所定角度で被検査面 に照射された光をその正反射位置に配置した画像センサで受け、この画像情報の 明度分布に基づいて、物品の外観に不良があるか否かを判定している。
【0053】 このため、フィルム包装された物品の包装不良等を内容物表面に左右されず正 確に検査することができる。
【図1】本考案の実施例の正面図である。
【図2】一実施例の側面図である。
【図3】良品に対する一実施例の光の反射状態を示す図
である。
である。
【図4】一実施例の撮像範囲と、データ処理領域の関係
を示す図である。
を示す図である。
【図5】一実施例のデータ処理部および判定部の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図6】正常な検査面の明度分布を示す分布図である。
【図7】不良品に対する光の反射状態を示す図である。
【図8】不良品の明度分布を示す分布図である。
【図9】不良品の明度分布を示す分布図である。
【図10】他の物品を検査するときの光源と画像センサ
の位置関係を示す図である。
の位置関係を示す図である。
【図11】他の物品の被検査面と、データ処理範囲との
関係を示す図である。
関係を示す図である。
【図12】他の物品の被検査面の良否に応じた明度分布
を示す分布図である。
を示す分布図である。
【図13】本考案の他の実施例の概略図である。
【図14】従来装置の構成を示す図である。
【図15】従来装置の動作を説明するための分布図であ
る。
る。
1 コンベア 20 外観検査装置 21 筐体 22 通過センサ 23 光源 30 データ処理部 32 メモリ 34 明度分布演算手段 35 分散演算手段 36 判定部 37 分布比較手段 38 分散比較手段 39 総合判定手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G06F 15/62 400 9287−5L 15/64 J 9073−5L
Claims (1)
- 【請求項1】物品の被検査面を画像センサによって撮像
し、該画像センサからの画像情報から得られた前記被検
査面の明度分布に基づいて、前記物品の外観不良を検査
する外観検査装置において、 前記被検査面に光を所定角度で照射する光源を有し、 前記画像センサを、前記光源による前記被検査面からの
正反射光を受ける位置に配置したことを特徴とする外観
検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2718392U JPH0581697U (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2718392U JPH0581697U (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | 外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0581697U true JPH0581697U (ja) | 1993-11-05 |
Family
ID=12213967
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2718392U Pending JPH0581697U (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0581697U (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003010525A1 (en) * | 2001-07-27 | 2003-02-06 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Method for evaluating contamination of object surface and imaging box used for this method |
| JP2011112572A (ja) * | 2009-11-27 | 2011-06-09 | Nagoya Electric Works Co Ltd | 良否判定装置、良否判定方法および良否判定プログラム |
| JP2013073452A (ja) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | 箱詰め物検査方法および箱詰め物検査装置 |
| JP2020046270A (ja) * | 2018-09-18 | 2020-03-26 | 株式会社イシダ | 包装及び検査システム |
| JPWO2019112040A1 (ja) * | 2017-12-08 | 2020-11-26 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 検査システム、検査方法、プログラム、及び、記憶媒体 |
| CN115908328A (zh) * | 2022-11-21 | 2023-04-04 | 利多(香港)有限公司 | 一种检测包装盒内物料放置情况的方法 |
| JP2024522219A (ja) * | 2021-06-18 | 2024-06-11 | テトラ ラバル ホールディングス アンド ファイナンス エス エイ | パッケージ品質検査ステーション及びパッケージの品質検査方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52129545A (en) * | 1976-04-23 | 1977-10-31 | Nippon Steel Corp | Method and apparatus for measurement of uniformity in surface roughnes s |
| JPH03280165A (ja) * | 1990-03-29 | 1991-12-11 | Anritsu Corp | 外観検査装置 |
-
1992
- 1992-03-31 JP JP2718392U patent/JPH0581697U/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52129545A (en) * | 1976-04-23 | 1977-10-31 | Nippon Steel Corp | Method and apparatus for measurement of uniformity in surface roughnes s |
| JPH03280165A (ja) * | 1990-03-29 | 1991-12-11 | Anritsu Corp | 外観検査装置 |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003010525A1 (en) * | 2001-07-27 | 2003-02-06 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Method for evaluating contamination of object surface and imaging box used for this method |
| JPWO2003010525A1 (ja) * | 2001-07-27 | 2004-11-18 | 日本板硝子株式会社 | 対象物表面の汚れ評価方法およびこの方法に使用する撮影ボックス |
| US7343038B2 (en) | 2001-07-27 | 2008-03-11 | Nippon Sheet Glass Company, Limited | Method for evaluating contamination on surface of object and imaging box used for the method |
| JP2011112572A (ja) * | 2009-11-27 | 2011-06-09 | Nagoya Electric Works Co Ltd | 良否判定装置、良否判定方法および良否判定プログラム |
| JP2013073452A (ja) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | 箱詰め物検査方法および箱詰め物検査装置 |
| JPWO2019112040A1 (ja) * | 2017-12-08 | 2020-11-26 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 検査システム、検査方法、プログラム、及び、記憶媒体 |
| JP2023085360A (ja) * | 2017-12-08 | 2023-06-20 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 検査システム |
| US11727554B2 (en) | 2017-12-08 | 2023-08-15 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Inspection system, inspection method, program, and storage medium |
| JP2020046270A (ja) * | 2018-09-18 | 2020-03-26 | 株式会社イシダ | 包装及び検査システム |
| JP2024522219A (ja) * | 2021-06-18 | 2024-06-11 | テトラ ラバル ホールディングス アンド ファイナンス エス エイ | パッケージ品質検査ステーション及びパッケージの品質検査方法 |
| US12625084B2 (en) | 2021-06-18 | 2026-05-12 | Tetra Laval Holdings & Finance S.A. | Package quality inspection station and a method for inspecting quality of a package |
| CN115908328A (zh) * | 2022-11-21 | 2023-04-04 | 利多(香港)有限公司 | 一种检测包装盒内物料放置情况的方法 |
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